《红外系统》课件第3章-红外探测器.pptx
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1、第3章 红外探测器3.1 红外探测器的分类3.2 红外探测器的性能参数3.3 噪声源3.4 红外探测器制冷器3.5 典型的红外探测器第3章 红外探测器3.1 红外探测器的分类第3章 红外探测器3.1.1 热探测器探测器材料吸收红外辐射后产生温升,然后伴随着发生某些物理性质的变化,测量这 些物理性质的变化,就可以测量出它吸收的能量或功率,这类探测器就是热探测器。根据 热致物理性质变化的不同,热探测器可进一步分为测辐射热电偶和热电堆、测辐射热计、热释电探测器、气动探测器以及双材料探测器等。3.1.2 光子探测器光子探测器吸收光子后,探测器材料的电子状态会发生改变,从而引起光电效应。光 电效应可以再
2、分成内光电效应和外光电效应两类。在内光电效应中,光子所激发的载流子仍保留在样品内部;外光电效应也称为光电子发射效应,是入射光子引起光 吸收物质表面发射电子的效应。通过测量光电效应的大小可以测定被吸收 的光子数。利用光电效应制成的探测器称为光子探测器。3.1.3 辐射场探测器利用红外辐射场与物质相互作用时所呈现的某些特性,进行红外辐射探测的探测器称为辐射场探测器。由于辐射场探测器常有一个天线,因此也称为天线耦合探测器。在天线耦合探测器中,入射辐射直接与天线作用,从而在天线内产生高频谐振电流,该电流与传感元件进行耦合,并根据传感元件的作用机理完成辐射探测。第3章 红外探测器3.1.4 热探测器与光
3、子探测器的比较热探测器利用的是热效应,热效应的主要特点有:热吸收与入射辐射的波长分布无关;热敏单元的温度变化较慢;通常情况下,室温环境下 即可观测到热敏单元的温度变化。光子探测器利用的是光子效应,光子效应的主要特点 是:入射光子能量要大于一定值时才能产生光电效应;光电效应是半导体中电子直接吸收 光子而产生的效应;通常情况下,必须将光敏单元冷却到较低温度才能观测到光电效应。由于热探测器和光子探测器的工作机理不同,因此这两类探测器有很大的差别,一般 地讲,主要体现在以下三个方面。(1)热探测器对各种波长的红外辐射均有响应,是无选择性的探测器;光子探测器只 对小于或等于特定波长的入射红外辐射才有响应
4、,是有选择性的探测器。(2)热探测器的灵敏度较低,响应速度较慢;而光子探测器的灵敏度比热探测器高 12 个数量级,响应速度比热探测器的快得多。(3)热探测器一般在室温下工作,不需要制冷设备;多数光子探测器必须工作在低温 条件下才具有优良的性能。第3章 红外探测器3.2 红外探测器的性能参数第3章 红外探测器3.2.1 主要工作条件红外探测器的性能参数与探测器的具体工作条件有关,因此,在给出探测器的性能参 数时,必须注明探测器的工作条件。主要的探测器工作条件有以下几个方面。1.辐射源的光谱分布2.工作温度3.光敏面积和形状4.探测器的偏置条件5.电路的频率范围6.特殊工作条件3.2.2 主要性能
5、参数探测器的性能指标可分为实际性能指标与参考性能指标两种。实际性能指标是指对每 个实际探测器直接测量出来的指标。参考性能指标则是对某类探测器折合到标准条件时的 指标值。第3章 红外探测器1.响应度 R响应度R 是探测器的输出信号S 与探测器的输入量X 的商,即换句话说,探测器的输出S 正比于输入X,即式中,比例常数R 即为响应度。2.噪声等效功率 NEP由于探测器存在噪声,因此不能无限制地测量很小的辐射信号,当辐射小到它在探测器 上产生的信号完全被探测器噪声所淹没时,探测器就无法肯定是否有辐射投射在探测器上,即探测器探测辐射的能力有一个下限,通常,我们用噪声等效功率来表征探测器的这个特征。当辐
6、射在探测器上产生的信号电压US 恰好等于探测器自身的噪声电压un(即信号噪 声比为1)时,所需投射到探测器上的辐射功率为P,这个辐射功率称为噪声等效功率,以 NEP表示,即第3章 红外探测器3.比探测率 D*用 NEP基本上能描述探测器的性能。但是,一方面由于它是以探测器能探测到的最 小功率来表示的,NEP越小表示探测器的性能越好,这与人们的习惯不一致;另一方面,在辐射能量的较大范围内,红外探测器的响应度并不与辐照能量成线性关系,从较弱辐照 下测得的响应度不能外推出较强辐照下应产生的信噪比。为了克服上述两方面存在的问 题,引入另一个性能参数探测率,它被定义为 NEP的倒数,以D 表示,即探测率
7、D 的单位为 W-1,它表示辐照在探测器上的单位辐射功率所获得的信噪比。这 样,探测率 D 越大,表示探测器的探测能力越强,所以在对探测器性能进行相互比较时,用探测率D 比用 NEP更合适些。4.响应时间探测器的响应时间(也称时间常数)表征探测器对交变辐射响应的快慢。由于红外探测 器有惰性,对红外辐射的响应不是瞬时的,而是存在一定的滞后。探测器对辐射的响应速 度有快有慢,以时间常数来区分。第3章 红外探测器为了说明响应的快慢,假定在t=0时刻以恒定的辐射强度照射探测器,探测器的输出信号从零开始逐渐上升,经过一定时间后达到一稳定值。若达到稳定值后停止辐照,探测 器的输出信号不是立即降到零,而是逐
8、渐下降到零,如图3 4所示。这个上升或下降的快 慢反映了探测器对辐射响应的速度。5.频率响应探测器的响应度随调制频率变化的关系称为频率响应。当一定振幅的正弦调制辐射照 射到探测器上时,如果调制频率很低,则输出的信号与频率无关,当调制频率升高时,由 于在光子探测器中存在载流子的复合时间或寿命,在热探测器中存在着热惰性或电时间常 数,响应跟不上调制频率的迅速变化,从而导致高频响应下降。第3章 红外探测器对于大多数探测器来说,响应率R 随频率f 的变化(如图3 5所示)如同一个低通滤波器,可表示为3.2.3 多元及焦平面探测器的品质参数为了达到特定的红外探测和成像目的,人们研制出了不同形式的多元探测
9、器,其中使用较多的是线列型和阵列型。利用微电子工艺 和集成电路技术制作的大规模线列型和阵列型红外探测器,既可完成光电转化功能,又能 实现信号处理功能。由于这种红外探测器主要放置在光学系统的焦平面上,所以常称为红 外焦平面阵列(IRFPA)。第3章 红外探测器多元及焦平面阵列探测器实质上是由多个单元探测器组成的,对其像元(对应每一个 单元)品质因素的表征可借用单元探测器的性能参数及定义。另外,多元探测器,特别是焦 平面探测器的像元数众多,各像元的信号又不能直接读出,因而对探测器品质因素的表征 又与单元探测器并不完全相同。为了更好地表征多元和焦平面红外探测器的品质因素,需 要增加一些性能参数。1.
10、有效像元率2.平均响应度3.响应度的不均匀性4.平均噪声电压5.平均比探测率6.噪声等效温差7.占空比8.串音第3章 红外探测器3.3 噪 声 源第3章 红外探测器3.3.1 探测器中的噪声实际探测器的最高性能水平往往与其具体的噪声机理有关,这是因为,一个实际探测 器的性能既取决于它对外来辐射的响应,又取决于它的固有噪声。探测器固有噪声的定量 描述是比较复杂的,只有当探测器的制作工艺十分完备时,它才可以由某些确定的噪声机 理来评估。1.热噪声不论是金属、半导体或其他材料组成的电阻,由于材料内部的热运动,都会导致电阻 内载流子运动的起伏,由此产生的噪声称为热噪声。2.电流噪声或1/f噪声许多半导
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