Rietveld-结构精修原理与应用课件.ppt
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- 关 键 词:
- Rietveld 结构 原理 应用 课件
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1、主要内容1.原理2.精修步骤与策略3.结构精修1.原理技术方法:(1)单晶衍射技术 得到上千个数据,通过傅里叶转换得到电子云密度图(直接法,patterson 法)优点:方法简单,结果可信度高缺点:但是经常很难得到足够大的单晶(0.10.2mm)来测试分析(2)粉末衍射技术:三维空间数据被压缩成一维,数据太少,无法得到电子云密度图,因此很难解出结构。缺点:方法很复杂1966年,荷兰科学家Hugo M Rietveld 采用拟合整个衍射图谱(峰位、强度、线形等)来精修晶体结构,最初用于中子粉末衍射。某衍射峰(hkl)的衍射净强度:Yhkl=Ghkl*IhklGhkl为峰形函数:Gauss,Lor
2、entz,Viogt,Pearson-,Pseudo-Voigt;Ihkl为某hkl衍射峰的积分强度而Ihkl=SMhklLhkl|Fhkl|2S:标度因子,Mhkl:衍射线hkl的多重因子,Lhkl洛伦兹因子,Fhkl 结构因子Fhkl 计算公式:Xj,Yj,Zj是原子j的原子坐标;hkl是产生衍射的晶面指数;fj是j原子的散射因子。衍射图上任何一处(2)的计算强度:Y(2)c为计算强度值,Y(2)b为背景强度,Ghkl*Ihkl为衍射峰强度。w2为权重因子,Y(2)O 为观测的强度,Y(2)c计算的强度 不断的调整峰形参数和晶体结构参数,并采用最小二乘法使计算谱拟合实测谱。当差值(M)达到
3、最小值,即精修结构完成。Rietveld 方法就是利用电子计算机程序逐点比较衍射强度的计算值和实测值,用最小二乘法调节结构原子参数和峰形参数,使计算峰形和实测峰型符合。在最小二乘方法精修过程中,要达到最小化的量值称为残差 M:判别拟合好坏的R因子Rp 全谱因子Rwp加权的全谱因子Rexp期望因子2拟合度因子wi为统计权重因子;yio为点 i 处的实测(毛)强度值;yic是点 i 处的计算强度值;N 为衍射图谱数据点的数目;P 为拟合中的可变参数的数目。2.精修步骤与策略(1)高质量衍射数据的获取中子衍射 中子与原子核相互作用,适合于确定点阵中轻元素的位置和值邻近元素的位置。同步辐射 波长连续可
4、调,高强度,光性单一 X射线衍射 扫描范围尽可能的宽,以获取高角度部分的数据;步进扫描,步长一般为半高宽的1/51/8(0.02或者0.01)停留时间1秒以上;最高峰强度应至少在背景的50倍以上。(2)CIF数据American Mineralogist Crystal structure DatabaseICSD数据库Crystallograpgy Open DatabaseFindit(3)精修软件GSAS,Topas,fullprof,Jana2006,MDI Jade,Maud,DBWS(4)精修策略(GSAS为例)第一类:峰形(profile)取决于样品和仪器。包括:峰形函数、峰形参
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