SPC统计过程控制第二版讲义资料课件.ppt
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1、Statistical Process Control统计过程控制TS16949五大工具培训教材系列五内容提要内容提要SPC的基本原理的基本原理控制图控制图过程能力研究过程能力研究直方图、柏拉图、散布图直方图、柏拉图、散布图直通率、直通率、DPMO分析分析SPC简介简介专业工具书简介IATFAIAG官方正版识别如右图:1.中英文对照 2.封面没有打孔 3.16开本 4.封面覆膜网上销售地址:淘宝唯一授权旗舰店:http:/ SPCl Statistical:(统计)以概率统计学为基(统计)以概率统计学为基础,用科学的方法分析数据、得出结论;础,用科学的方法分析数据、得出结论;l Process
2、:(过程)有输入(过程)有输入-输出的一系列输出的一系列的活动;的活动;l Control:(控制)事物的发展和变化是(控制)事物的发展和变化是可预测的;可预测的;SPC的基本原理 波动无处不在波动无处不在 正常波动和异常波动正常波动和异常波动 通过保持过程受控和稳态提高过程能力和品通过保持过程受控和稳态提高过程能力和品质水平质水平3 原理 X SPC的意义全面、及时了解质量信息,信息共享全面、及时了解质量信息,信息共享有效监测和预防,提高生产率有效监测和预防,提高生产率提高客户满意度,提高客户满意度,赢得更多客户赢得更多客户保持产品和服务质量的稳定性及进一步的持续保持产品和服务质量的稳定性及
3、进一步的持续改进改进降低总的质量成本降低总的质量成本SPC的意义有效监测与预防管理控制图实际的变化发生在此处将导致在此处耗费时间查找原因USLUCLv“SPC就像房屋中的烟雾探测器:只要这种装置就像房屋中的烟雾探测器:只要这种装置备有电池,并且被正确安置以及旁边有人监听,备有电池,并且被正确安置以及旁边有人监听,那么它就可以提前发出警报使你有足够时间阻止那么它就可以提前发出警报使你有足够时间阻止房屋起火房屋起火”v6 Sigma管理法管理法 追求卓越的阶梯追求卓越的阶梯内容提要内容提要SPC的基本原理的基本原理控制图控制图过程能力研究过程能力研究直方图、柏拉图、散布图直方图、柏拉图、散布图直通
4、率、直通率、DPMOSPC简介简介控制图I.质量特性的分类质量特性的分类II.控制图的分类控制图的分类III.控制图的构成控制图的构成IV.控制图应用的二个阶段控制图应用的二个阶段V.控制限的计算控制限的计算VI.判异准则判异准则质量特性分类v 计量型:用各种计量仪器测出、以数值:用各种计量仪器测出、以数值形式表现的测量结果,包括用量仪和检形式表现的测量结果,包括用量仪和检测装置测的零件直径、长度、形位误差测装置测的零件直径、长度、形位误差等,也包括在制造过程状态监控测得的等,也包括在制造过程状态监控测得的切削力、压力、温度、浓度等。切削力、压力、温度、浓度等。v 计数型:通常是指不用仪器即可
5、测出的:通常是指不用仪器即可测出的数据。数据。计件如不合格件数;如不合格件数;计点如如PCB上的漏焊数、溢胶数等上的漏焊数、溢胶数等计量型计量型计数型计数型计件型计件型计点型计点型 II.控制图的构成+31234567891018171615141312111098765-3 Average点落在该区间的概率为点落在该区间的概率为99.7%Components of Every Control Chart:1.Data Points3.Upper Control Limit2.Center Line 4.Lower Control L控制图的要素纵坐标:数据(质量特性值或其统计量)纵坐标:数据
6、(质量特性值或其统计量)横坐标:按时间顺序抽样的样本编号横坐标:按时间顺序抽样的样本编号上虚线:上控制界限上虚线:上控制界限UCL下虚线:下控制界限下虚线:下控制界限LCL中实线:中心线中实线:中心线CL控制界限=平均值控制图原理:v1 1)3 3 原理:原理:若变量若变量X X服从正态分布服从正态分布,那么那么,在在 3 范围范围内包含了内包含了99.73%99.73%的数值。的数值。v2 2)中心极限定理:中心极限定理:无论产品或服务质量水平的总体分布是什么,无论产品或服务质量水平的总体分布是什么,其其 的分布(每个的分布(每个 都是从总体的一个抽样的都是从总体的一个抽样的均值)在当样本容
7、量逐渐增大时将趋向于正态分均值)在当样本容量逐渐增大时将趋向于正态分布。布。III.控制图的分类计量型控制图计数型控制图计量型控制图 均值均值-极差控制图极差控制图()均值均值-标准差控制图标准差控制图()单值单值-移动极差控制图移动极差控制图()SRX RX SX MRX 计数型控制图不良率控制图(P图)不良品数控制图(Pn图)缺陷数控制图(C图)单位缺陷数控制图(U图)计量型数据吗?性质上是否均匀或不能按子组取样?关心的是不合格品率吗?样本容量是否恒定?样本容量是否恒定?子组容量 9?MRX sx Rx np或p图p图C或U图U图是否是是是是是否否否否否关心的是单位零件缺陷数吗?是选择合适
8、的控制图计量型控制图计数型控制图v分析阶段分析阶段v控制阶段控制阶段IV.控制图应用的二个阶段分析阶段v在控制图的设计阶段使用在控制图的设计阶段使用,主要用以确定主要用以确定合理的控制界限合理的控制界限;v每一张控制图上的控制界限都是由该图上每一张控制图上的控制界限都是由该图上的数据计算出来的数据计算出来;从分析阶段转入控制阶段v在什么条件下分析阶段确定的控制限可以转入在什么条件下分析阶段确定的控制限可以转入控制阶段使用:控制阶段使用:控制图是受控的 过程能力能够满足生产要求控制阶段v控制图的控制界限由分析阶段确定控制图的控制界限由分析阶段确定;v控制图上的控制界限与该图中的数据无必然控制图上
9、的控制界限与该图中的数据无必然联系联系;v使用时只需把采集到的样本数据或统计量在使用时只需把采集到的样本数据或统计量在图上打点就行图上打点就行;何时应该重新计算控制界限1.控制图是根据稳定状态下的条件(人员、设备、原控制图是根据稳定状态下的条件(人员、设备、原材料、工艺方法、测量系统、环境)来制定的。如材料、工艺方法、测量系统、环境)来制定的。如果上述条件变化,则必须重新制定控制图果上述条件变化,则必须重新制定控制图.2.一定时间后检验控制图还是否适用;一定时间后检验控制图还是否适用;3.过程能力值有大的变化时。过程能力值有大的变化时。1.计算各组样本统计量,如样本平均值、极差及总平均计算各组
10、样本统计量,如样本平均值、极差及总平均值:值:nxxxxxn.321minmaxxxRkxxxxxk.321kRRRRRk.321控制图的控制限计算Rx V.控制限的计算方法2.计算控制界限:计算控制界限:控制图的控制限计算Rx X控制图R控制图 xCLxRCLRRAxUCLx2RDUCLR4RAxUCLx2RDUCLR移动极差v移动极差是指一个测定值移动极差是指一个测定值 xi 与紧邻的测定值与紧邻的测定值xi+1 之差的绝对值,记作之差的绝对值,记作MR,MR=|xi-xi+1|(i=1,2,k-1)其中:其中:k为测定值的个数为测定值的个数;k个测定值有个测定值有k-1个移动极差个移动极
11、差,每个移动极差值相当与样本每个移动极差值相当与样本大小大小n=2时的极差值时的极差值1 计算总平均数计算总平均数:2 计算移动极差平均数计算移动极差平均数:kiikxkkxxxx1211.11)1(21111.kiikMRkkMRMRMRR控制图的控制限计算MRx 3 计算控制界限计算控制界限:RMxLCLxCLRMxUCL66.266.2控制图的控制限MRx X控制图MR控制图RMCLRRMUCLR267.30RLCLP控制图的控制限计算)1(13)1(13PPnPLCLPPnPUCLPCL计算总平均不良率和上下控制界限:kknnnnpnpnpp 2121在实际应用中在实际应用中,当各组容
12、量与其平均值相差不超过正负当各组容量与其平均值相差不超过正负25%时时,可可用平均样本容量用平均样本容量()来计算控制限来计算控制限U控制图的控制限计算计算单位缺陷数和上下控制界限:计算单位缺陷数和上下控制界限:nuuLCLnuuUCLncuCL33kknnnCCCu VI.判异准则及判异准则及SPC的颜色管理的颜色管理 在控制图上的正常表现为:在控制图上的正常表现为:(1 1)所有样本点都在控制界限之内;)所有样本点都在控制界限之内;(2 2)样本点均匀分布,位于中心线两侧的样)样本点均匀分布,位于中心线两侧的样 本点约各占本点约各占1/21/2;(3 3)靠近中心线的样本点约占)靠近中心线
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