材料测试与分析技术-32-X射线衍射仪课件.ppt
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- 材料 测试 分析 技术 32 射线 衍射 课件
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1、 3.1 3.1 粉末照相法粉末照相法3.2 X3.2 X射线衍射仪射线衍射仪X X射线衍射仪是根据晶体对射线衍射仪是根据晶体对X X射线衍射的几何原理设计射线衍射的几何原理设计制造的衍射实验仪器。制造的衍射实验仪器。19121912年布拉格年布拉格(W.H.BraggW.H.Bragg)最先使用电离室探测最先使用电离室探测X X射线射线信息的装置,即最原始的信息的装置,即最原始的X X射线衍射仪。射线衍射仪。19431943年弗里德曼年弗里德曼(H.FridmanH.Fridman)设计出近代设计出近代X X射线衍射仪。射线衍射仪。5050年代年代X X射线衍射仪得到了普及应用。射线衍射仪得
2、到了普及应用。随着科学技术的发展,衍射仪向高稳定、高分辨、多随着科学技术的发展,衍射仪向高稳定、高分辨、多功能、全自动的联合组机方向发展。功能、全自动的联合组机方向发展。衍射仪由四个衍射仪由四个基本部分组成:基本部分组成:X X射线发生部分、射线发生部分、测角仪、测角仪、强度测量装置、强度测量装置、和计算机部分和计算机部分。X X射线衍射仪的原理射线衍射仪的原理在测试过程,由在测试过程,由X X射线管发射出的射线管发射出的X X射线照射到试射线照射到试样上产生衍射现象;样上产生衍射现象;用辐射探测器接收衍射线的用辐射探测器接收衍射线的X X射线光子,经测量射线光子,经测量电路放大处理后在显示或
3、记录装置上给出精确的电路放大处理后在显示或记录装置上给出精确的衍射线位置、强度和线形等衍射信息;衍射线位置、强度和线形等衍射信息;这些衍射信息作为各种实际应用问题的原始数据。这些衍射信息作为各种实际应用问题的原始数据。1.)1.)测角仪的构造测角仪的构造测角仪的工作原理测角仪的工作原理 入射线从入射线从X X射线管射线管焦点焦点S S发出,经入发出,经入射光阑系统射光阑系统A A、DSDS投射到试样表面产投射到试样表面产生衍射,衍射线经生衍射,衍射线经接收光阑系统接收光阑系统B B、F F进入计数器进入计数器G G。测角仪构造示意图测角仪构造示意图FG 2.)2.)测角仪的衍射几何测角仪的衍射
4、几何按按Bragg-BrentanoBragg-Brentano聚焦原理,聚焦原理,图中除图中除X X射线管焦点射线管焦点F F之外,聚之外,聚焦圆与测角仪只能有一点相交。焦圆与测角仪只能有一点相交。聚焦圆半径聚焦圆半径r r与与角关系为:角关系为:sin2Rr(3-2)测角仪的这种结构配置可实现两个很重要的作用:测角仪的这种结构配置可实现两个很重要的作用:其一,完全实现衍射条件,可以对所有衍射线的其一,完全实现衍射条件,可以对所有衍射线的衍射角或掠射角衍射角或掠射角(布拉格角布拉格角)进行测量。进行测量。其二,可以实现衍射线的其二,可以实现衍射线的“聚焦聚焦”。测角仪要求与测角仪要求与射线管
5、的线焦斑联接使用,射线管的线焦斑联接使用,线焦斑的长边与测角仪中心轴平行。线焦斑的长边与测角仪中心轴平行。采用狭缝光阑和梭拉光阑组成的联合光阑。采用狭缝光阑和梭拉光阑组成的联合光阑。线线焦焦点点发发散散狭狭缝缝接接收收狭狭缝缝梭拉狭缝梭拉狭缝梭拉狭缝梭拉狭缝样品样品防散射狭缝防散射狭缝狭缝光阑狭缝光阑DSDS的作用是控制入射线的能量和发散度;的作用是控制入射线的能量和发散度;狭缝光阑狭缝光阑SSSS的作用是挡住衍射线以外的寄生散射,的作用是挡住衍射线以外的寄生散射,宽度应稍大于衍射线束的宽度。宽度应稍大于衍射线束的宽度。狭缝光阑狭缝光阑F F是用来控制衍射线进入计数器的能量。是用来控制衍射线进
6、入计数器的能量。梭拉光阑梭拉光阑S S1 1、S S2 2由一组互相平行、间隔很密的重由一组互相平行、间隔很密的重金属金属(Ta(Ta或或Mo)Mo)薄片组成。安装时要使薄片与测角薄片组成。安装时要使薄片与测角仪平面平行。可将垂直测角仪平面方向的仪平面平行。可将垂直测角仪平面方向的X X射线射线发散度控制在发散度控制在1.51.5左右。左右。4.)4.)测量与记录系统测量与记录系统探探测测器器脉脉冲冲放放大大器器脉脉冲冲高高度度分分析析器器计计数数率率计计定定标标器器打印机打印机数码显示数码显示记录仪记录仪X-YX-Y绘图仪绘图仪磁盘记录磁盘记录显示部分显示部分计计算算机机数据柜数据柜计算机计
7、算机计算机计算机5.)X5.)X射线衍射谱射线衍射谱2025303540455055602-Theta(02505007501000Intensity(Counts)6.raw 7在测角仪上的探测器内装有计数管。计数管再加上其供电在测角仪上的探测器内装有计数管。计数管再加上其供电线路和检测线路构成了线路和检测线路构成了X X射线强度测量装置。射线强度测量装置。常用的探测器是基于常用的探测器是基于X X射线能使原子电离的特性而制造的。射线能使原子电离的特性而制造的。常常用用探探测测器器闪烁计数器:闪烁计数器:X X射线电离固体(射线电离固体(NaI(TlNaI(Tl)等)等)盖革计数器:盖革计数
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