《材料分析测试技术》试卷(答案)剖析.doc
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1、材料分析测试技术试卷(答案)一、 填空题:(20分,每空一分)1. X射线管主要由 阳极 、 阴极 、和 窗口 构成。2. X射线透过物质时产生的物理效应有: 散射 、 光电效应 、 透射X射线 、和 热 。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有: 正装 、 反装 和 偏装 三种。4. X射线物相分析方法分: 定性 分析和 定量 分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的 定量 分析方法。5. 透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。6. 今天复型技术主要应用于 萃取复型 来揭取第二相微小颗粒进行分析。7. 电子探针包括 波谱仪 和 能谱仪 成分分析仪器。8. 扫描
2、电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子。二、 选择题:(8分,每题一分)1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。a 劳厄法;b粉末多晶法;c周转晶体法。2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是( b )。aCo ;b. Ni ;c. Fe。3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。a哈氏无机数值索引 ;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是( b )。 a第二聚光镜光阑 ;b. 物镜光阑 ;c. 选区光阑。5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。a球差 ;b. 像散 ;c. 色
3、差。6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a )。a高阶劳厄斑点 ;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是( b )。a背散射电子;b.俄歇电子 ;c. 特征X射线。8. 中心暗场像的成像操作方法是( c )。a以物镜光栏套住透射斑;b以物镜光栏套住衍射斑;c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。三、 问答题:(24分,每题8分)1. X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么?答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是
4、样品有一个最佳厚度(t = 2. 分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些?它有哪些功能?在材料科学中有什么应用?答:透射电子显微镜的主要组成部分是:照明系统,成像系统和观察记录系统。透射电镜有两大主要功能,即观察材料内部组织形貌和进行电子衍射以了解选区的晶体结构。分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线探头、二次电子探头等以增加成分分析和表面形貌观察功能。改变样品台可以实现高温、低温和拉伸状态下进行样品分析。透射电子显微镜在材料科学研究中的应用非常广泛。可以进行材料组织形貌观察、研究材料的相变规律、探索晶体缺陷对材料性能的影响、分析材料失效原因、剖析材料成分、组成及经过的加工工艺等。3. 什么
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