WAT测量项目开发以及检验方法课件.ppt
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- 关 键 词:
- WAT 测量 项目 开发 以及 检验 方法 课件
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1、上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing CorporationWAT 测量项目以及测试方法测量项目以及测试方法TD/DTD/DD:Sutter Dai2008/03/07上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing CorporationWAT Introduction1.WAT是什么2.WAT系统介绍3.WAT测试项目及方法上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing
2、 CorporationWafer Acceptance Test(晶片允收测试)半导体硅片在完成所有制程工艺后,针对硅片上的各种测试结构所进行的电性测试。通过对WAT数据的分析,我们可以发现半导体制程工艺中的问题,帮助制程工艺进行调整。WAT是是什么什么?上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing CorporationWAT系统介绍Manual ProberAgilent 4284A CV MeterAgilent 4156A IV MeterCascade Manual Prober上海宏力半导体制造有限公司上海
3、宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing CorporationWAT系统介绍Agilent 4070 systemTEL P8XLAgilent 4070上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing CorporationWAT系统介绍HP 4070 ServerAgilent 81110A Pulse Generator Agilent 4284A CV MeterAgilent E4411B Spectrum AnalyzerAgilent 4070 内部结构内部结构
4、Agilent 3458ADigit Multimeter上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing CorporationWaferAuto-ProberRelay MetricServerEDA ServerTest KeyProbe cardSMUPIN NoDataDataProduct informationTest ProgramControl commandDC testerCV Meter4070ServerWAT 流程图上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semicondu
5、ctor Manufacturing CorporationWAT测试项目1.MOS device2.Field Device3.Junction4.Gate Oxide5.Resistor6.Bipolar Device7.Layout Rule Check常见的几种器件结构常见的几种器件结构上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing Corporation1.MOS Device上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing Corporati
6、on上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing CorporationItem nameMethod of measurementIdsVd=Vg=Vdd,Vs=Vb=0,measure Id,Ids=Id/WidthVt0Vd=0.1V,Vs=Vb=0,sweep Vg from 0V to 3V,use maximum slope method,Vt0=Xintercept 1/2*VdVt1Vd=0.1V,Vs=Vb=0,sweep Vg from 0V to 2V,measureId,Vt1=VgId=0.1u
7、A*Width/LengthIsubVd=Vdd,Vs=Vg=0,sweep Vg from 0 to Vdd to get maximum Isub currentIoffVd=1.1Vdd,Vg=Vs=Vb=0,measure Id,Ioff=Id/WidthBvdVg=Vs=Vb=0,sweep Vd from 0V to Vdstop(3Vdd),measure Id,Bvd=VdId=0.1uA/um以以 NMOS 为例:为例:上海宏力半导体制造有限公司上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing Corporation2.Field
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