第5章-非平衡载流子课件.ppt
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- 平衡 载流子 课件
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1、1物理与光电工程学院第五章 非平衡载流子 2物理与光电工程学院5.1 5.1 非平衡载流子与准费米能级非平衡载流子与准费米能级1.1.半导体的热平衡态与非平衡态半导体的热平衡态与非平衡态非平衡态:半导体中载流子浓度随时间变化的状态。非平衡态:半导体中载流子浓度随时间变化的状态。如何定义?如何定义?都不严格!都不严格!平衡态:半导体中载流子浓度不随时间变化的状态。平衡态:半导体中载流子浓度不随时间变化的状态。3物理与光电工程学院载流子的产生率:载流子的产生率:单位时间单位体积内产单位时间单位体积内产生的电子生的电子-空穴对数。空穴对数。载流子的复合率:载流子的复合率:单位时间单位体积内复合单位时
2、间单位体积内复合掉的电子掉的电子-空穴对数。空穴对数。4物理与光电工程学院 在热平衡状态半导体中在热平衡状态半导体中,载流子的产生和复合的过程载流子的产生和复合的过程保持动态平衡,从而使载流子浓度保持定值。这时的载流保持动态平衡,从而使载流子浓度保持定值。这时的载流子浓度称为平衡载流子浓度子浓度称为平衡载流子浓度。平衡载流子浓度平衡载流子浓度:若用若用n n0 0和和p p0 0分别表示平衡电子浓度和平衡空穴浓度,分别表示平衡电子浓度和平衡空穴浓度,在非简并情况下,有:在非简并情况下,有:TEENTEENVFVFCC0000kexpp;kexpn5物理与光电工程学院 对于给定的半导体,本征载流
3、子浓度对于给定的半导体,本征载流子浓度n ni i只是温度的函只是温度的函数。无论掺杂多少,平衡载流子的浓度数。无论掺杂多少,平衡载流子的浓度n n0 0和和p p0 0必定满足上必定满足上式。上式也是非简并半导体处于热平衡状态的判据。式。上式也是非简并半导体处于热平衡状态的判据。2i0g00nexppnTKENNVC它们乘积满足它们乘积满足:上式也是非简并半导体处于热平衡状态的判据。上式也是非简并半导体处于热平衡状态的判据。6物理与光电工程学院非平衡载流子及其产生:非平衡载流子及其产生:*非平衡态非平衡态:当半导体受到外界作用:当半导体受到外界作用(如:光照等如:光照等)后后,载流子分布将与
4、平衡态相偏离载流子分布将与平衡态相偏离,此时的半导体此时的半导体状态称为状态称为非平衡态非平衡态。n=n n=n0 0+n;p=pn;p=p0 0+p.p.且且 n=n=p p(为什么?)(为什么?)非平衡态的载流子浓度为:非平衡态的载流子浓度为:7物理与光电工程学院*非平衡载流子:非平衡载流子:n n 和和 p p(过剩载流子)(过剩载流子)产生非平衡载流子的过程称为产生非平衡载流子的过程称为非平衡载流子注入非平衡载流子注入p 光注入p 电注入 p 高能粒子辐照 p *非平衡载流子注入条件:非平衡载流子注入条件:当非平衡载流子的浓度n(或 p)复合率复合率n n、p p 稳定稳定注入撤销注入
5、撤销产生率产生率 pp0 0),则有,则有nr01在小注入下,当温度和掺杂一定时,寿命是一个在小注入下,当温度和掺杂一定时,寿命是一个常数。寿命与多数载流子浓度成反比,即电导率常数。寿命与多数载流子浓度成反比,即电导率越高,寿命越短。越高,寿命越短。讨论:讨论:结论:结论:42物理与光电工程学院(2)(2)大注入条件下,即大注入条件下,即pnp001r p结论结论 :寿命不再是常数,依赖于非平衡载流子浓度:寿命不再是常数,依赖于非平衡载流子浓度理论计算获得室温下本征硅和锗的参数为:理论计算获得室温下本征硅和锗的参数为:11310/3.5rcmss1436.5 10/0.3rcmss硅:硅:锗:
6、锗:实际硅、锗的寿命只有几毫秒,说明什么?实际硅、锗的寿命只有几毫秒,说明什么?43物理与光电工程学院间接复合:非平衡载流子通过复合中心能级间接复合:非平衡载流子通过复合中心能级E Et t而进而进行的复合。行的复合。3 3、间接复合、间接复合实验表明,半导体中杂质越多、晶格缺陷越多,载实验表明,半导体中杂质越多、晶格缺陷越多,载流子寿命越短。流子寿命越短。复合中心:促进复合过程的杂质和缺陷。复合中心:促进复合过程的杂质和缺陷。44物理与光电工程学院(1)(1)间接复合的四个微观过程:间接复合的四个微观过程:甲:俘获电子。复合中心能级从导带俘获一个电子;甲:俘获电子。复合中心能级从导带俘获一个
7、电子;乙:发射电子。复合中心能级上的电子被激发到导带;(甲的逆过程)乙:发射电子。复合中心能级上的电子被激发到导带;(甲的逆过程)丙:俘获空穴。电子由复合中心落入价带与空穴复合。丙:俘获空穴。电子由复合中心落入价带与空穴复合。丁:发射空穴。价带电子被激发到复合中心能级。(丙的逆过程)丁:发射空穴。价带电子被激发到复合中心能级。(丙的逆过程)甲:俘获电子;乙:发射电子;丙:俘获空穴;丁:发射空穴。甲:俘获电子;乙:发射电子;丙:俘获空穴;丁:发射空穴。甲甲乙乙丙丙丁丁乙乙甲甲丙丙丁丁过程前过程前过程后过程后45物理与光电工程学院N Nt t :复合中心的浓度:复合中心的浓度 n nt t:复合中
8、心能级:复合中心能级EtEt上的电子浓度上的电子浓度N Nt t-n-nt t :未被电子占据的复合中心的浓度:未被电子占据的复合中心的浓度定义:定义:(a)(a)电子俘获电子俘获 电子俘获率电子俘获率R Rn n:单位体积单位时间内被复合中心俘单位体积单位时间内被复合中心俘 获的电子数。获的电子数。(r(rn n为电子俘获系数为电子俘获系数)导带电子越多,空的复合中心越多,电子被复合中导带电子越多,空的复合中心越多,电子被复合中心俘获的几率越大,因此电子俘获率与导带电子浓心俘获的几率越大,因此电子俘获率与导带电子浓度度n n和空复合中心浓度(和空复合中心浓度(N Nt t-n-nt t)成正
9、比:)成正比:)nN(nrRttnn46物理与光电工程学院(b b)电子发射)电子发射tnnsG(非简并情况,导带基本空着)非简并情况,导带基本空着)s s-:电子发射系数:电子发射系数电子产生率电子产生率G Gn n:单位体积单位时间内复合中心向导带:单位体积单位时间内复合中心向导带 发射的电子数。发射的电子数。平衡态时,上述两个微观过程必然互相抵消:平衡态时,上述两个微观过程必然互相抵消:000tttnns)nN(nr(下角标下角标”0 0“表示平衡态时的值表示平衡态时的值)47物理与光电工程学院若忽略分布函数中的简并因子,则复合中心中的电子若忽略分布函数中的简并因子,则复合中心中的电子分
10、布可用费米分布表示,即:分布可用费米分布表示,即:10t0exp1nTkEENFttTkEENFCC00expn在非简并条件下:在非简并条件下:代入后可得:代入后可得:10-expsnrTkEENrntCCn48物理与光电工程学院n n1 1恰好等于费米能级与复合中心能级重合时导带的平恰好等于费米能级与复合中心能级重合时导带的平衡电子浓度。衡电子浓度。tntnnnrnsG1电子产生率又可改写为:电子产生率又可改写为:表明表明,电子发射系数和电子俘获系数是有内在联系的电子发射系数和电子俘获系数是有内在联系的.TkEENtCC01expn式中式中1-snrn49物理与光电工程学院s s+:空穴发射
11、系数:空穴发射系数 (c c)空穴俘获)空穴俘获 r rp p为空穴俘获系数,为空穴俘获系数,p p为价带中空穴浓度为价带中空穴浓度 只有被电子占据的复合中心能级才能俘获空穴,因此只有被电子占据的复合中心能级才能俘获空穴,因此空穴俘获率空穴俘获率R Rp p:pnrRtpp(d d)空穴发射)空穴发射只有空的复合中心才能向价带发射空穴,因此在非简并只有空的复合中心才能向价带发射空穴,因此在非简并(一个复合中心只接受一个电子)情况下,空穴产生率(一个复合中心只接受一个电子)情况下,空穴产生率为为G Gp p:)nN(sGttp50物理与光电工程学院类似地,在平衡状态下,上述两个过程必须相互抵消:
12、类似地,在平衡状态下,上述两个过程必须相互抵消:000pnr)nN(stptt把把p p0 0和和n nt0t0的表达式代入得到:的表达式代入得到:1sprpTkEENVtV01expp式中式中)nN(prGttpp1此时空穴产生率可改写为:此时空穴产生率可改写为:上式也表明空穴的发射系数与空穴俘获系数有内在的联系上式也表明空穴的发射系数与空穴俘获系数有内在的联系.51物理与光电工程学院间接复合的四个微观过程小结间接复合的四个微观过程小结:1nrsn-TkEENtCC01expn1sprpTkEENVtV01expp)nN(nrRttnn电子俘获率电子俘获率电子俘获系数电子俘获系数tnnsG电
13、子产生率电子产生率电子发射系数电子发射系数pnrRtpp空穴俘获率空穴俘获率空穴俘获系数空穴俘获系数)nN(sGttp空穴产生率空穴产生率空穴发射系数空穴发射系数52物理与光电工程学院作业:作业:1.什么是间接复合?什么是直接复合?什么是间接复合?什么是直接复合?2.证明:证明:说明空穴的发射系数与空穴的俘获系数的说明空穴的发射系数与空穴的俘获系数的这种关联性产生的原因。这种关联性产生的原因。1sprp53物理与光电工程学院(2)(2)载流子的净复合率及非平衡载流子寿命:载流子的净复合率及非平衡载流子寿命:甲过程甲过程+丙过程丙过程载流子复合载流子复合乙过程乙过程+丁过程丁过程载流子产生载流子
14、产生甲甲乙乙丙丙丁丁乙乙甲甲丙丙丁丁过程前过程前过程后过程后54物理与光电工程学院电子俘获率电子俘获率(甲甲)+)+空穴发射率空穴发射率(丁丁)电子产生电子产生电子消失电子消失=电子发射率电子发射率(乙乙)+)+空穴俘获率空穴俘获率(丙丙)考虑考虑稳态复合稳态复合(复合中心上的电子浓度保持不变复合中心上的电子浓度保持不变),),要求要求:pnrRtpp)(1ttppnNprG)nN(nrRttnntnnnnrG1把把代入上式得代入上式得:pnrnnrnNprnNnrtptnttpttn11)()(55物理与光电工程学院解得解得:)()()(111pprnnrrpnrNnpnpntt电子俘获率电
15、子俘获率(甲甲)-)-电子发射率电子发射率(乙乙)=空穴俘获率空穴俘获率(丙丙)-)-空穴发射率空穴发射率(丁丁)复合中心电子浓度不变的条件也可改写成复合中心电子浓度不变的条件也可改写成:即即:导带中电子数的减少等于价带中空穴的减少导带中电子数的减少等于价带中空穴的减少.-稳态复合时稳态复合时,复合中心的电子浓度复合中心的电子浓度.56物理与光电工程学院非平衡载流子净复合率非平衡载流子净复合率U U=电子俘获率电子俘获率(甲甲)-)-电子发射率电子发射率(乙乙)=空穴俘获率空穴俘获率(丙丙)-)-空穴发射率空穴发射率(丁丁)容易理解容易理解:稳态复合时稳态复合时,此式为通过复合中心复合的稳态复
16、合率的普遍表达式。此式为通过复合中心复合的稳态复合率的普遍表达式。)nN(nrRttnntnnnnrG1把把、代入上式得代入上式得:和和)()()(111pprnnrrpnrNnpnpntt)()()(112pprnnrnnprrNGRUpnipntnn57物理与光电工程学院显然,热平衡时,显然,热平衡时,U U=0=0;在非平衡态时,在非平衡态时,U U 0.0.非平衡载流子的平均寿命为:非平衡载流子的平均寿命为:)()()(001010ppnrrNppprpnnrUppntpn n=n0+n;p=p0+p.且且 n=p把把代入代入U的表达式解得的表达式解得:p)(p)(r)ppp(Uppr
17、nnpnrrNpnpnt101020058物理与光电工程学院而且对于一般的复合中心而且对于一般的复合中心,r,rn n和和r rp p相差不是太大相差不是太大,所以所以小注入条件下的寿命小注入条件下的寿命:pnp00对于小注入条件下对于小注入条件下)()()(001010pnrrNpprnnrpntpn即小注入条件下即小注入条件下,非平衡载流子寿命取决于非平衡载流子寿命取决于n n0 0、p p0 0、n n1 1和和p p1 1,而与非平衡载流子的浓度无关。与而与非平衡载流子的浓度无关。与N Nt t成反比成反比.59物理与光电工程学院注意到注意到:TkEENFCC00expnTkEENVF
18、V00exppTkEENVtV01exppTkEENtCC01expn显然,显然,n n0 0、p p0 0、n n1 1和和p p1 1的大小主要取决于的大小主要取决于(E(Ec c-E-EF F)、(、(E EF F-E EV V)、()、(E EC C-E-Et t)及()及(E Et t-E-EV V).若若k k0 0T T比这些能量间隔小比这些能量间隔小得多时,得多时,n n0 0、p p0 0、n n1 1和和p p1 1的值往往大小悬殊,因此实际的值往往大小悬殊,因此实际上平均寿命表达式中只需要考虑最大者。上平均寿命表达式中只需要考虑最大者。60物理与光电工程学院 小注入下的小
19、注入下的“强强n n型型”半导体半导体对对n n型半导体,考虑能级型半导体,考虑能级E Et t靠近价带的复合中心。靠近价带的复合中心。设相对于禁带中心与设相对于禁带中心与 E Et t对称的能级为对称的能级为Et(下图(下图a a)E Et tEt(E(EC C+E+EV V)/2)/2E EV VE EC CE EF F(a a)强)强n n型区型区61物理与光电工程学院若若EF比比Et更接近更接近EC,称之为,称之为“强强n型区型区”。显然在强显然在强n型区,型区,n0、p0、n1和和p1中中n0最大,则小最大,则小注入条件下的寿命可以写成注入条件下的寿命可以写成:rNpnrrNpprn
20、nrptpntpn1)()()(001010寿命取决于复合中心对少子空穴的俘获系数寿命取决于复合中心对少子空穴的俘获系数,而与电而与电子俘获系数无关子俘获系数无关.62物理与光电工程学院这是由于在重掺杂的这是由于在重掺杂的n型半导体中型半导体中,EF远在远在Et之上之上,所以所以复合中心的能级基本被填满复合中心的能级基本被填满,相当于复合中心俘获电子相当于复合中心俘获电子的过程总是迅速完成的过程总是迅速完成,因而因而,约约Nt个被电子填满的复合中个被电子填满的复合中心对空穴的俘获率决定了非平衡载流子的寿命心对空穴的俘获率决定了非平衡载流子的寿命.rNptp1即在重掺杂的即在重掺杂的n型半导体中
21、,型半导体中,小注入条件下,通过小注入条件下,通过电子深能级杂质(或空穴浅能级杂质)复合的非电子深能级杂质(或空穴浅能级杂质)复合的非平衡载流子寿命为:平衡载流子寿命为:63物理与光电工程学院所以寿命为:所以寿命为:nrNppnrrNpprnnrntpntpn010010101.)()()(*小注入,小注入,n型半导体的型半导体的“高阻区高阻区”若若EF在在Et与与Et之间,称之间,称之为高阻区。如图(之为高阻区。如图(b)此时,此时,n0、p0、n1和和p1中中p1最大最大.即在高阻区,寿命与多数载流子浓度成反比,即在高阻区,寿命与多数载流子浓度成反比,也即与电导率成反比。也即与电导率成反比
22、。EtEt(b)高阻区)高阻区EF(EC+EV)/264物理与光电工程学院)()(112ppnnnnpUnpirNptp1rNntn1令令)()()(112pprnnrnnprrNUpnipnt代入代入得得:利用利用TkEEniti01expnTkEEntii01expp有效复合中心:有效复合中心:65物理与光电工程学院expexp002TkEEnpTkEEnnnnpUtiinitipi对一般的复合中心对一般的复合中心,近似取近似取:rrrpnrNtpn1则则TkEEnpnnnprNUitiit02ch2)(2chxxxee66物理与光电工程学院.,效的复合中心心附近的深能级是最有即位于禁带中
23、有极大值时当UEEit67物理与光电工程学院4 4、表面复合、表面复合表面越粗糙表面越粗糙,载流子寿命越短载流子寿命越短.机理机理:表面越粗糙表面越粗糙,表面包含的杂质或缺陷越多表面包含的杂质或缺陷越多,它们它们在禁带中形成复合中心能级在禁带中形成复合中心能级(表面电子能级表面电子能级),),促进间促进间接复合接复合.考虑到表面复合后的总复合几率:考虑到表面复合后的总复合几率:sv111设设 V V、S S分别为体内复合的寿命和表面复合的寿命分别为体内复合的寿命和表面复合的寿命实验现象实验现象:68物理与光电工程学院SSUpS(p)p)S S 为为表面处非平衡载流子浓度;表面处非平衡载流子浓度
24、;S S为常数,称为常数,称之为表面复合速度。之为表面复合速度。实验表明:实验表明:定义表面复合率定义表面复合率U US S:单位时间内通过单位表面积:单位时间内通过单位表面积复合掉的电子复合掉的电子-空穴对数。空穴对数。69物理与光电工程学院5.俄歇复合俄歇复合载流子复合时,其产生的能量载流子复合时,其产生的能量 传递给另一个载流子,传递给另一个载流子,使这个载流子激发到更高的能级。当此载流子重新使这个载流子激发到更高的能级。当此载流子重新回到低能级时,把能量传递给晶格,即以声子的形回到低能级时,把能量传递给晶格,即以声子的形式释放能量。式释放能量。70物理与光电工程学院6.俘获截面俘获截面
25、*假设复合中心为截面积假设复合中心为截面积 为的球体为的球体,则俘获系数与俘获截面的关系为:则俘获系数与俘获截面的关系为:TTvrvrpn设,设,-为电子俘获截面,为电子俘获截面,+为空穴俘获截面为空穴俘获截面 的意义:复合中心俘获载流子的本领的意义:复合中心俘获载流子的本领 效质量的差异)(不计电子和空穴的有速率为电子或空穴的热运动其中,*03mTkvT71物理与光电工程学院作业作业:P178 7,872物理与光电工程学院复习复习:非平衡载流子的复合的方式非平衡载流子的复合的方式:直接复合直接复合:载流子的产生率和复合率载流子的产生率和复合率Rrnpr r为电子为电子-空穴复合几率空穴复合几
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