数字电路验证方法课件.ppt
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- 数字电路 验证 方法 课件
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1、数字集成电路可测性软件数字集成电路可测性软件设计及验证平台设计及验证平台2013年年4月月25日日2023-2-14共102页2主要内容主要内容n可测性基础可测性基础n可测性设计工具可测性设计工具n验证的必要性验证的必要性n验证方法学介绍验证方法学介绍n验证工具介绍验证工具介绍2023-2-14共102页3主要内容主要内容n可测性基础可测性基础n可测性设计工具可测性设计工具n验证的必要性验证的必要性n验证方法学介绍验证方法学介绍n验证工具介绍验证工具介绍可测性基础可测性基础n什么是可测性设计?什么是可测性设计?n物理瑕疵及故障模型物理瑕疵及故障模型n单一故障模型:单一故障模型:SAF Mode
2、ln可测性设计常用方法可测性设计常用方法n检测检测SAF的算法:的算法:D算法算法n测试矢量集测试矢量集n故障覆盖率故障覆盖率2023-2-14共102页42023-2-14共102页5什么是可测性设计?什么是可测性设计?n可测性设计可测性设计,Design For Test,即即DFT。为了测试所设计为了测试所设计IC有没有被正确的制造出来有没有被正确的制造出来(测试半导体生产处理过程中的瑕疵,不是测(测试半导体生产处理过程中的瑕疵,不是测试芯片设计的对错试芯片设计的对错)。DFT=增加芯片逻辑增加芯片逻辑+生成测试矢量集(供测试生成测试矢量集(供测试设备用)设备用)2023-2-14共10
3、2页6物理瑕疵和故障模型物理瑕疵和故障模型 1.开路和短路开路和短路 2.金属线之间的电桥金属线之间的电桥 3.漏源穿通漏源穿通CMOS反相器反相器中的物中的物理缺陷理缺陷2023-2-14共102页7物理故障物理故障 逻辑故障逻辑故障 封装引脚间的漏电或短路封装引脚间的漏电或短路 单一固定故障单一固定故障芯片焊接点到管脚连线断裂芯片焊接点到管脚连线断裂 延时故障延时故障表面玷污、含湿气表面玷污、含湿气 短路或者开路故障短路或者开路故障金属层迁移、应力、脱皮金属层迁移、应力、脱皮 金属层开路、短路金属层开路、短路 2023-2-14共102页8 固定固定1故障:故障:U0的输入端的输入端A固定
4、接在高固定接在高 电平上,其值一直为电平上,其值一直为“1”固定固定0故障:故障:U1的输出端的输出端Y固定接在固定接在 低电平上,其值一直为低电平上,其值一直为“0”单一固定故障:单一固定故障:stuck-at fault2023-2-14共102页9DFT常用方法常用方法n功能点测试功能点测试 需在每个测试点增加可控的输入和输出,需在每个测试点增加可控的输入和输出,I/O增加增加n扫描测试扫描测试(基于(基于D算法)算法)结构化的结构化的DFT技术,全扫描和部分扫描技术,全扫描和部分扫描n内建自测试内建自测试 消除了对消除了对ATE的存储能力和频率的限制,更具发的存储能力和频率的限制,更具
5、发展潜力展潜力2023-2-14共102页10D算法算法 D算法是算法是20世纪世纪60年代年代IBM提出测试提出测试SAF(stuck-at fault model,简称,简称SAF模型模型)的,)的,D算法在没有故障和算法在没有故障和有故障的电路之间产生了逻辑的差异(有故障的电路之间产生了逻辑的差异(Discrepancy),),D为为Discrepancy缩写,缩写,D算法即为差异算法。算法即为差异算法。n经典的经典的D算法如下:算法如下:1、瞄准特定的、瞄准特定的SAF。2、驱动故障节点为反向值。、驱动故障节点为反向值。3、把错误传送到输出端口。、把错误传送到输出端口。4、记录测试向量
6、,减掉已测试过的故障。、记录测试向量,减掉已测试过的故障。2023-2-14共102页11D算法算法n第一步:是把某个节点作为测试目标,我们把第一步:是把某个节点作为测试目标,我们把U1的输出的输出端作为测试的目标,探测它有无端作为测试的目标,探测它有无SA0的故障。的故障。2023-2-14共102页12D算法算法n第二步:是通过驱动该节点为相反的值以激活第二步:是通过驱动该节点为相反的值以激活(activate)目标的故障。)目标的故障。输入端口输入逻辑输入端口输入逻辑“0”,如,如U1输出没有输出没有SA0的故的故障,其逻辑障,其逻辑“1”;如;如U1输出有输出有SA0的故障,其逻的故障
7、,其逻辑为辑为“0”。可以通过测试其逻辑值来判断值该节点是否有可以通过测试其逻辑值来判断值该节点是否有SA0的故障。的故障。2023-2-14共102页13D算法算法n第三步:是把故障效应传送到输出端口,可以在输出端口第三步:是把故障效应传送到输出端口,可以在输出端口观测到其逻辑值,有故障节点的逻辑值通过组合电路后可观测到其逻辑值,有故障节点的逻辑值通过组合电路后可能会反向,但是差异还保留着。能会反向,但是差异还保留着。2023-2-14共102页14D算法算法n第四步:记录向量。成功的测试向量被记录在内第四步:记录向量。成功的测试向量被记录在内存里,已测试的故障从目标故障的清单里减掉。存里,
8、已测试的故障从目标故障的清单里减掉。2023-2-14共102页15可测试的触发器有两种模式:可测试的触发器有两种模式:正常模式正常模式在这种模式下,所设计芯片以设计的原来在这种模式下,所设计芯片以设计的原来功能工作;功能工作;测试模式测试模式在这种模式下,所设计芯片进行生产测试。在这种模式下,所设计芯片进行生产测试。扫描测试扫描测试2023-2-14共102页16扫描测试扫描测试标准标准D触发器触发器与标准与标准D触发器等触发器等效的扫描触发器效的扫描触发器2023-2-14共102页17 使用扫描触发器,会增加设计的面积,增加了路径使用扫描触发器,会增加设计的面积,增加了路径的延迟,增大了
9、触发器的输出负载和电路的功耗。的延迟,增大了触发器的输出负载和电路的功耗。SMIC0.18m工艺库工艺库AREA(m2)FFDQRHDLX63.2FFSDQRHDLX79.83增加百分比增加百分比26.3%扫描测试扫描测试2023-2-14共102页18扫描测试流程扫描测试流程2023-2-14共102页19测试矢量集(测试矢量集(Test Pattern)由一个或多个测试序列组成的测试矢量,测试矢量包含输由一个或多个测试序列组成的测试矢量,测试矢量包含输入激励和预期的输出响应,以测试一个目标的故障。入激励和预期的输出响应,以测试一个目标的故障。2023-2-14共102页20n以二输入与非门
10、为例,假设输以二输入与非门为例,假设输入为入为A,B,输出为,输出为Y,Y=(A*B);ABYA/1A/0B/1B/0Y/0Y/1001111101011011101101110101110010101n测试矢量为:测试矢量为:00 1,01 1,10 1,11 0 输入激励输入激励 输出响应输出响应2023-2-14共102页21故障覆盖率故障覆盖率 可以测试到的故障占总故障的比例。可以测试到的故障占总故障的比例。如果电路的每个节点既可以控制如果电路的每个节点既可以控制(controllable),又可观测又可观测(observable),那么电路的测试覆盖率就,那么电路的测试覆盖率就高。高
11、。可控,可测可控,可测 可控,不可测可控,不可测不可控点:冗余电路,门控时钟不可控点:冗余电路,门控时钟2023-2-14共102页22业界产品测试方法业界产品测试方法ATE:Automatic Test Equipment2023-2-14共102页232023-2-14共102页24主要内容主要内容n可测性基础可测性基础n可测性设计工具可测性设计工具n验证的必要性验证的必要性n验证方法学介绍验证方法学介绍n验证工具介绍验证工具介绍2023-2-14共102页25DFT CompilernSynopsys公司的集成于公司的集成于Design Compiler的的先进测试综合工具先进测试综合工
12、具n独创的独创的“一遍测试综合一遍测试综合”技术技术n功能强大的扫描式可测性设计分析、综合和验功能强大的扫描式可测性设计分析、综合和验证技术证技术n支持支持RTL级、门级的扫描测试设计规则检查,级、门级的扫描测试设计规则检查,以及给予约束的扫描链插入和优化以及给予约束的扫描链插入和优化n启动命令启动命令source/opt/demo/synopsys.env design_vision&2023-2-14共102页26设计流程设计流程2023-2-14共102页271.Scan-Ready SynthesisDFT Compiler2023-2-14共102页282.Set ATE Confi
13、guration2023-2-14共102页29n即测试时钟周期为即测试时钟周期为100ns,输入端口的数据输入到达时间,输入端口的数据输入到达时间为为5ns,双向端口的数据输入到达时间为,双向端口的数据输入到达时间为55ns,输出端口,输出端口的数据程序采样(的数据程序采样(strobe)时间为)时间为40ns。n 测试时间参数的设置一般放在测试时间参数的设置一般放在.synopsys_dc.setup文件文件中,也可以包含在中,也可以包含在DC综合脚本文件里。综合脚本文件里。n测试时钟定义了驱动所有扫描触发器的时钟,测试时钟一测试时钟定义了驱动所有扫描触发器的时钟,测试时钟一般与电路的工作
14、时钟不同,它是由般与电路的工作时钟不同,它是由ATE提供的,只在测试提供的,只在测试时使用。时使用。DFTC进行设计时,假设进行设计时,假设ATE对芯片做测试的所对芯片做测试的所有时钟周期是相同的,等于有时钟周期是相同的,等于test_default _period。2.Set ATE Configuration2023-2-14共102页303.Pre-Scan Checkn执行执行create_test_protocol命令命令,生成测试协议生成测试协议n执行执行dft_drc命令,检查设计中有无测试设计规则的违规。命令,检查设计中有无测试设计规则的违规。n典型的设计综合规则有:典型的设计
15、综合规则有:capacitance,transition,and fanoutn典型的测试设计规则主要检查典型的测试设计规则主要检查 1.设计中是否有测试违规使得无法插入扫描链设计中是否有测试违规使得无法插入扫描链 2.设计中是否有测试违规使得无法捕获数据设计中是否有测试违规使得无法捕获数据 3.设计中是否有测试违规使得测试覆盖率降低设计中是否有测试违规使得测试覆盖率降低2023-2-14共102页314.Scan Specificationn 在在DFTC中,可以用中,可以用set_scan_configuration命命 令进行扫描路径的管理令进行扫描路径的管理set_scan_confi
16、guration-chain_count 6set_scan_configuration-clock_mixing mix_clocksset_scan_configuration-internal_clocks trueset_scan_configuration-add_lockup false2023-2-14共102页324.Scan Specificationn用下面的命令定义设计中其中一条扫描链:用下面的命令定义设计中其中一条扫描链:set_dft_signal-view spec -type ScanDataIn-port SI1set_dft_signal-view spec
17、-type ScanDataOut-port SO1set_dft_signal-view spec -type ScanEnable-port SE active_satate1set_san_path-view spec C1 -scan_data_in SI1 scan_data_out S012023-2-14共102页335.Scan Preview执行执行preview_dft:1.检查扫描路径的一致性检查扫描路径的一致性2.确定扫描链的数目确定扫描链的数目3.分派扫描单元和为扫描单元排次序分派扫描单元和为扫描单元排次序4.加入连接的硬件加入连接的硬件2023-2-14共102页3
18、46.Scan Chain Synthesis执行执行insert_dft,读取已预览的扫描结构读取已预览的扫描结构进行所需要的扫描代替进行所需要的扫描代替插入测试点插入测试点保证没有竞争保证没有竞争连接扫描路径连接扫描路径把违规减少到最少把违规减少到最少2023-2-14共102页35Setting the Effort Level2023-2-14共102页367.Post-Scan Check2023-2-14共102页372023-2-14共102页388.Estimate Test coverage2023-2-14共102页39File Outputwrite-format ver
19、ilog hierarchy output ./netlist/top_pad.svwrite_sdc./sdc/top_pad.sdcwrite_test_protocol-format stil-output./spf/top_pad.spf.sv文件和文件和.sdc文件供布局布线工具文件供布局布线工具Astro生成芯片版图生成芯片版图.spf文件供测试矢量生成工具文件供测试矢量生成工具Tetramax生成与测试矢量集,待芯片流片生成与测试矢量集,待芯片流片封装好后,测试矢量集供封装好后,测试矢量集供ATE设备来测试芯片。设备来测试芯片。2023-2-14共102页40主要内容主要内容n可
20、测性基础可测性基础n可测性设计工具可测性设计工具n验证的必要性验证的必要性n验证方法学介绍验证方法学介绍n验证工具介绍验证工具介绍2023-2-14共102页41验证的必要性验证的必要性n验证的概念,验证与测试的区别。n经验表明,验证已经占到整个产品开发周期的70%以上,它已经成为复杂SOC(System on-Chip)开发中的重要壁垒。2023-2-14共102页42典型流程典型流程 时序 不满足动态仿真正确Verification is not just very hard,it is very,very hard没有一个简单的工具可以解决你所有的验证没有一个简单的工具可以解决你所有的验
21、证问题。问题。(VSIA,Virtual Socket Interface Alliance)2023-2-14共102页43主要内容主要内容n可测性基础可测性基础n可测性设计工具可测性设计工具n验证的必要性验证的必要性n验证方法学介绍验证方法学介绍n验证工具介绍验证工具介绍2023-2-14共102页44验证方法学验证方法学n方法学:又称方法论,是一门学问采用的方法、规方法学:又称方法论,是一门学问采用的方法、规则与公理;一种特定的做法或一套做法。则与公理;一种特定的做法或一套做法。n验证方法学:指完成验证过程中的一系列方法、技验证方法学:指完成验证过程中的一系列方法、技术和规范。术和规范。
22、q 仿真技术仿真技术 q 静态技术静态技术q 物理验证物理验证2023-2-14共102页45仿真技术仿真技术n基于事件的仿真基于事件的仿真-任何一个输入的变化都被任何一个输入的变化都被标记为事件,即常说的功能仿真,精度高,标记为事件,即常说的功能仿真,精度高,速度慢。比如速度慢。比如Modelsim,VCS。n基于周期的仿真基于周期的仿真-单周期内只检查一次输入单周期内只检查一次输入并计算设计的输出逻辑值。速度快,无时并计算设计的输出逻辑值。速度快,无时序、毛刺。比如序、毛刺。比如Cyclone。n事务级仿真事务级仿真-一堆事件的集合即为事务,即一堆事件的集合即为事务,即常说的验证平台。常说
23、的验证平台。n软硬件协同验证软硬件协同验证-需要专门的软硬件,成本需要专门的软硬件,成本高高。传统仿真系统传统仿真系统2023-2-14共102页46nDUT:Design Under Testn适用于基于事适用于基于事件的仿真件的仿真和和基基于周期的仿真。于周期的仿真。n适用于简单的适用于简单的设计。设计。缺点:缺点:1.可扩展性差2.可重用性差层次化的验证系统层次化的验证系统2023-2-14共102页47适用于事务级仿真适用于事务级仿真优点:优点:1.可扩展性好2.可重用性好为什么要用事务级仿真?2023-2-14共102页48基于事件的仿真基于事件的仿真事务级仿真事务级仿真Testbe
24、nch代码可读性,可代码可读性,可维护性维护性差差强强仿真速度仿真速度慢慢快快Testbench结构结构DUT复杂时,结构混乱复杂时,结构混乱DUT复杂时,结构清晰复杂时,结构清晰Testbench代码量代码量DUT简单时,代码量尚可简单时,代码量尚可DUT复杂时,代码量巨大复杂时,代码量巨大DUT简单时,代码量略多简单时,代码量略多DUT复杂时。代码量较少复杂时。代码量较少与待测设计联系程度与待测设计联系程度非常紧密非常紧密行为级与行为级与DUT联系紧密联系紧密事务级具有自身独立性事务级具有自身独立性可复用性可复用性无无强强抽象层次抽象层次无无有有参考模型参考模型无无有有基于事件的仿真与事务
25、级仿真的比较基于事件的仿真与事务级仿真的比较事务级仿真事务级仿真nRVM:Reference Methodology Methodology,Synopsys公司。nVMM:Verification Methodology Manual,ARM公司和Synopsys公司。nAVM:Advanced Verification Methodology,Mentor公司。nOVM:Open Verification Methodology,Cadence公司和Mentor公司nUVM:Universal Verification Methodology,Cadence公司2023-2-14共102页
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