SARADC进展--核探测与核电子学国家重点实验室课件.ppt
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- 关 键 词:
- SARADC 进展 探测 核电 国家重点 实验室 课件
- 资源描述:
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1、王铮2009-4-21中科院“核探测技术与核电子学重点实验室”年会高能所高能所ASIC研究进展研究进展四通道四通道GEMGEM读出芯片、四通道读出芯片、四通道PETPET读出芯片测试结果读出芯片测试结果完成完成1010位位SARSAR型型ADCADC芯片的设计(芯片的设计(20082008年年1212月)月)1212位线性放电位线性放电ADCADC原型电路的试制原型电路的试制(2008(2008年年1111月月)及初及初步测试结果步测试结果多路模拟流水线多路模拟流水线+并行多路并行多路ADCADC芯片的设计芯片的设计国际合作国际合作四通道多阳极PMT读出芯片输入级输入级-RGC-RGC型电流运
2、放型电流运放CR-RCCR-RC有源滤波成形有源滤波成形芯片版图设计芯片版图设计2007.112007.11完成第一版设计完成第一版设计测试电路测试电路被测芯片被测芯片多阳极PMT读出芯片性能测试积分非线性测试结果积分非线性测试结果极零相消前的脉冲极零相消前的脉冲极零相消后的信号极零相消后的信号051015202530050100150200250300350400输出信号相对高度输入信号(mV50)ASIC2_1输出信号 线形拟合051015202530050100150200250300350400450500550输出信号相对高度输入信号(mV50)ASIC2_1OUT ASIC2_2O
3、UT ASIC2_3OUT ASIC2_4OUT 插件放大器 PET用放大电路4 4通道增益一致性测量通道增益一致性测量 2%2%对照组对照组对照组对照组4 4个被测通道个被测通道输入幅度输入幅度输出幅度输出幅度多学科中心给出的散点图测试结果多学科中心给出的散点图测试结果2008.8 2008.8 拿到设计样拿到设计样片,测试工作需要与片,测试工作需要与多学科中心协调、合多学科中心协调、合作,进展不是非常快作,进展不是非常快 作为首枚用于作为首枚用于PETPET读出的四读出的四通道芯片,设计是成功的。通道芯片,设计是成功的。将改进、优化设计,提高性将改进、优化设计,提高性能指标,达到实用化的要
4、求。能指标,达到实用化的要求。4通道GEM读出芯片20072007年年1111月完成设计,样片生产已完成月完成设计,样片生产已完成功能功能电荷灵敏前置放大器电荷灵敏前置放大器极零相消极零相消成形电路(时间常数成形电路(时间常数2uS2uS)等效到输入噪声等效到输入噪声403e403e单通道原理图单通道原理图电荷灵敏前放电荷灵敏前放芯片版图芯片版图CR-RCCR-RC成形电路设计成形电路设计4通道GEM读出芯片测试输入信号波形输入信号波形经电荷积分、极经电荷积分、极零相消后波形零相消后波形经积分成形后的波形经积分成形后的波形 芯片四个通道中的一个通芯片四个通道中的一个通道功能正确,能够实现对输入
5、道功能正确,能够实现对输入信号的电荷积分、极零相消,信号的电荷积分、极零相消,积分成形等功能。其它三个通积分成形等功能。其它三个通道的输出的信号成形时间常数道的输出的信号成形时间常数不正确。不正确。需要改进的方面:需要改进的方面:(1 1)四个测量通道的工作点不一致)四个测量通道的工作点不一致性大性大(2 2)用于电荷积分放电的)用于电荷积分放电的MOSMOS管的设管的设计部分需要改进,以保证芯片在不同计部分需要改进,以保证芯片在不同的工作条件下(如温度、电源电压)的工作条件下(如温度、电源电压)都能够正常工作。都能够正常工作。10bit 3.3Ms/s 逐次逼近ADC7基于传统结构改进基于传
6、统结构改进混合信号设计的初次实现:混合信号设计的初次实现:模拟流程模拟流程:采样保持、比较器、子采样保持、比较器、子DAC数字流程数字流程:逐次逼近寄存器和控制逻辑逐次逼近寄存器和控制逻辑混合流程混合流程:数模混合仿真数模混合仿真性能指标性能指标:精度精度:10bit采样率:采样率:3.3Msample/s系统时钟系统时钟:50MHz单次变换工作周期:单次变换工作周期:16芯片面积:芯片面积:2.2*1.9 mm2芯片提交:芯片提交:2008.12裸片接收:裸片接收:2009.4SARADC-基于传统结构的改进采样保持:采样保持:1.采用全差分结构,抑制时钟馈通和偶次谐波采用全差分结构,抑制时
7、钟馈通和偶次谐波2.采用自动消零采保结构,消除运放失调采用自动消零采保结构,消除运放失调3.采用开关电容共模反馈,降低功耗,提高速度采用开关电容共模反馈,降低功耗,提高速度子子DAC:1.采用阻容混合结构,降低对版图的匹配要求,减少器件总数采用阻容混合结构,降低对版图的匹配要求,减少器件总数2.在版图中采用共心结构,并使得连线长度也成相应权重增长,使在增在版图中采用共心结构,并使得连线长度也成相应权重增长,使在增加寄生电容影响之后,总电容也保持良好匹配性加寄生电容影响之后,总电容也保持良好匹配性比较器:比较器:1.采用自动消零结构,抑制比较器失调采用自动消零结构,抑制比较器失调总体设计:总体设
8、计:1.采用衬底隔离技术,降低数字部分对模拟的串扰采用衬底隔离技术,降低数字部分对模拟的串扰8线性放电ADC的原型设计9模拟内核的设计:模拟内核的设计:带隙基准、零温漂参考电流产带隙基准、零温漂参考电流产生、斜坡电压产生器、比较器生、斜坡电压产生器、比较器数字部分基于片外数字部分基于片外FPGA,保,保证安全性和易测性,降低风险证安全性和易测性,降低风险精度精度12bit,可选,可选8bit、10bit时钟频率:时钟频率:40MHz芯片面积:芯片面积:1.7*1.1 mm2流片提交:流片提交:2008.11裸片接收:裸片接收:2009.03测试基于测试基于Altera DE2开发板以开发板以及
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