同位素质谱分析课件.pptx
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- 同位 素质 谱分析 课件
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1、同位素质谱分析同位素质谱分析同位素的表示:在元素符号的前面,下脚标为质子数,同位素的表示:在元素符号的前面,下脚标为质子数,上脚标为质量数。如氧的同位素:上脚标为质量数。如氧的同位素:又如碳的同位素又如碳的同位素 等。由于某一元素的质子等。由于某一元素的质子数是固定的,所以下脚标质子数可以忽略不写;如数是固定的,所以下脚标质子数可以忽略不写;如16O、17O、18O、12C、13C等。等。每一个同位素又统称为核素,其总数目接近每一个同位素又统称为核素,其总数目接近1700种,种,但只有约但只有约260种是稳定的。许多元素有两种或多种同种是稳定的。许多元素有两种或多种同位素。位素。同位素可分为稳
2、定同位素和不稳定同位素两类。大部同位素可分为稳定同位素和不稳定同位素两类。大部分放射性同位素并不自然存在,因为与太阳年龄相分放射性同位素并不自然存在,因为与太阳年龄相比,它们的衰变速率太快,但它们可以在实验室中比,它们的衰变速率太快,但它们可以在实验室中用核反应的方法人工产生。用核反应的方法人工产生。同位素含量用同位素丰度来表示,即一定元素的某一同位素含量用同位素丰度来表示,即一定元素的某一同位素在诸同位素总原子数中的相对百分含量。如同位素在诸同位素总原子数中的相对百分含量。如1H为为99.9852%,2H为为0.0148%。在地球科学中,研究最多的同位素包括:在地球科学中,研究最多的同位素包
3、括:稳定同位素包括:稳定同位素包括:1H、2H、12C、13C、14N、15N、16O、18O、32S、34S等。等。放射性同位素及放射成因同位素包括:放射性同位素及放射成因同位素包括:87Rb87Sr、147Sm143Nd、238U206Pb、235U207Pb、232Th208Pb等。等。宇宙射线成因的放射性同位素宇宙射线成因的放射性同位素10Be、14C等。等。应用:应用:稳定同位素在地质过程中有分馏现象,从而对地稳定同位素在地质过程中有分馏现象,从而对地质过程有示踪效果;质过程有示踪效果;放射性同位素的衰变可以作为地质体的年龄测定;放射性同位素的衰变可以作为地质体的年龄测定;放射性同位
4、素与稳定同位素的比值往往对地质过放射性同位素与稳定同位素的比值往往对地质过程也有示踪效果。程也有示踪效果。第二节第二节 质谱仪器的组成及结构质谱仪器的组成及结构质谱仪器是用于测定物质的分子量、原子量质谱仪器是用于测定物质的分子量、原子量及其丰度和同位素组成的仪器。按检测离及其丰度和同位素组成的仪器。按检测离子的方式,质谱仪器可分为两类:一类是子的方式,质谱仪器可分为两类:一类是用照像法同时检测多种离子,称为质谱仪用照像法同时检测多种离子,称为质谱仪(mass spectrograph),另一类是用电子),另一类是用电子学方法检测离子,称为质谱计(学方法检测离子,称为质谱计(mass spect
5、rometer),后者目前已被广泛用来精),后者目前已被广泛用来精确测定元素的同位素组成。确测定元素的同位素组成。质谱仪器是一类能使物质粒子(原子、分子)离子质谱仪器是一类能使物质粒子(原子、分子)离子化并通过适当稳定的或者变化的电场、磁场将它化并通过适当稳定的或者变化的电场、磁场将它们按空间位置、时间先后或者轨道稳定与否来实们按空间位置、时间先后或者轨道稳定与否来实现质荷比分离,并检测其强度后进行物理分析或现质荷比分离,并检测其强度后进行物理分析或同位素分析的仪器。同位素分析的仪器。质荷比:是指每某带电粒子(原子和分子)的重量质荷比:是指每某带电粒子(原子和分子)的重量与其电荷的比值。与其电
6、荷的比值。现代质谱计主要由现代质谱计主要由3大系统组成:分析系统、电学系大系统组成:分析系统、电学系统和真空相同。其中分析系统由统和真空相同。其中分析系统由3个必需的部分组个必需的部分组成:单能级离子源、质量分析器、离子接收器。成:单能级离子源、质量分析器、离子接收器。(1)离子源:在这部分,中性原子和分子被电离成)离子源:在这部分,中性原子和分子被电离成离子,然后通过高压电场加速并通过一系列夹缝离子,然后通过高压电场加速并通过一系列夹缝使之形成具有一定速度和形状的粒子束,以进入使之形成具有一定速度和形状的粒子束,以进入磁分析器进行质量偏转分析。磁分析器进行质量偏转分析。离子源的种类主要有:电
7、子轰击、表面热电离子源的种类主要有:电子轰击、表面热电离、二次离子化等。离、二次离子化等。(2)磁分析器(质量加速器):是质量分析)磁分析器(质量加速器):是质量分析器的一种,目的是把不同质量的离子分开。器的一种,目的是把不同质量的离子分开。主要由精心设计的电磁铁和置于其间的飞主要由精心设计的电磁铁和置于其间的飞行金属管道组成。行金属管道组成。(3)离子接收器:由一个有限制狭缝板和金)离子接收器:由一个有限制狭缝板和金属杯(法拉第筒)组成。现代质谱计有多属杯(法拉第筒)组成。现代质谱计有多个接收器,可同时接收、记录被分开的几个接收器,可同时接收、记录被分开的几束离子及其强度束离子及其强度生产商
8、:美国菲尼根玛特质谱公司生产商:美国菲尼根玛特质谱公司制造地:德制造地:德 国国前处理设备:前处理设备:双流进样系统双流进样系统 气相色谱气相色谱HP6890-燃烧界面燃烧界面 元素分析仪元素分析仪EA1112-连续流界面连续流界面基本功能:基本功能:H/D,13C/12C,15N/14N,18O/16O,34S/32S 五种元素的气体同位素比值的测定五种元素的气体同位素比值的测定DELTA plus XL 气体同位素比值质谱气体同位素比值质谱仪器外观ConFloConFlo氧化炉氧化炉TCTCCombustionCombustionEA1112EA1112GCGCDELTADELTAplus
9、plus XL XL质谱主机质谱主机双流进样系统双流进样系统控制电脑控制电脑仪器的三种基本配置仪器的三种基本配置 双流进样系统双流进样系统+质谱质谱 气相色谱气相色谱HP6890-燃烧界面燃烧界面(氧化炉型和高温热转变型氧化炉型和高温热转变型)+)+质谱质谱 元素分析仪元素分析仪EA1112-连续流连续流界面界面+质谱质谱 1 1、双流进样系统、双流进样系统+质质谱谱 允许样品气体或标准气体的同位素比允许样品气体或标准气体的同位素比值的值的 测量和标定,如测量和标定,如 CO2,N2,SO2,HD等等 绝对灵敏度:绝对灵敏度:200 bar l:0.252 2、气相色谱、气相色谱-燃烧界面燃烧
10、界面+质谱质谱 气相色谱气相色谱-氧化炉型燃烧接口氧化炉型燃烧接口-质谱质谱(GC-Oxidation Reactor Interface-MS;i.e.GCCMS):允许液体和气体样品中单体有机化合物允许液体和气体样品中单体有机化合物13C/12C,15N/14N 测定测定单体化合物中单体化合物中1313C/C/1212C C测定的基本原理测定的基本原理外精度外精度(n=10,std.dev;n-C14、C15、C16烷烃,烷烃,每次每次1 nmol C,即即12ng进入柱内进入柱内):0.2 MSCombustion InterfaceGCH2O+CO2CO2氧化炉氧化氧化炉氧化CuO;9
11、40气体、液体气体、液体有机混合物有机混合物水阱除水阱除H2ONAFIONTMGC分离分离单体化合物中单体化合物中15N/14N 测定的基本测定的基本原理:原理:MSCombustion InterfaceGCN2+H2O+CO2H2O+CO2+NyOXN2+CO2氧化炉氧化氧化炉氧化CuO;940气体、液体气体、液体含氮有机混合物含氮有机混合物N2还原炉还原还原炉还原Cu;600德瓦液氮罐德瓦液氮罐冷冻冷冻CO2GC分离分离 气相色谱气相色谱-高温热转变型高温热转变型燃烧界面燃烧界面-质质谱谱(GC-High Temperature Conversion Interface-MS;i.e.G
12、CTCMS):允许液体和气体样品中单体化合物允许液体和气体样品中单体化合物18O/16O,H/D的测定的测定单体化合物中单体化合物中18O/16O,H/D测定基本原理测定基本原理(1)Cn Hx OyCCOH2yn-yx/2DELTA 18O/16O12C18O 0.2%12C16O 99.8%DELTA 2HHD 0.015%H2 99.985%单体化合物中单体化合物中18O/16O,H/D测定基本原理测定基本原理(2)外精度外精度(n=5,std.dev;FID MIX 标样标样300 ng/l=45 ng H2;无分流;无分流):5.0MSCombustion InterfaceGCH2
13、+CO氧化炉氧化炉气体、液体气体、液体有机混合物有机混合物T C18O/16O:1250(Pt/Ni)D/H:1450GC分离分离3 3、元素分析仪、元素分析仪-连续连续流界面流界面+质谱质谱 允许固体或液体样品的允许固体或液体样品的 13C/12C,15N/14N,34S/32S测定测定外精度外精度(n=10,std.dev;尿素;尿素100g=46.6g N and 20.0g C):N:0.15;C:0.15液体液体固体固体样品样品HeO2瞬间燃烧瞬间燃烧T=1800氧化剂,如氧化剂,如CrO3、CoOCuO氧化炉氧化炉900还原炉还原炉 650混合气体产物混合气体产物CO2、N2、Ny
14、Ox、SO2、H2O、O2元素元素Cu除去多余除去多余O2、还原、还原NyOx为为N2混合气体产物混合气体产物CO2、N2、SO2、H2O水水 阱除阱除H2O无水无水Mg(ClO4)2GC column分离剩余混合气体分离剩余混合气体元素分析元素分析仪仪连续流界面连续流界面ConFlo 质质 谱谱DELTA plus XL依次流出依次流出N2、CO2、SO2固体或液体有机质总固体或液体有机质总 1313C/C/1212C C,1515N/N/1414NN,3434S/S/3232S S 测定原理测定原理由分析流程串起的基本结构由分析流程串起的基本结构123数据处理与数据处理与ISODAT IS
15、ODAT 软件软件 REAL32操作系统下的应用软件,但支持鼠标;操作系统下的应用软件,但支持鼠标;能控制上述多种配置,包括质谱和样品前处理能控制上述多种配置,包括质谱和样品前处理设备(设备(Duel inlet system,GC,EA etc.););多任务操作软件,如在样品采集的同时,可对多任务操作软件,如在样品采集的同时,可对已做过的样品进行数据处理。已做过的样品进行数据处理。举例:单体化合物碳同位素数据采集举例:单体化合物碳同位素数据采集一个谱图实例一个谱图实例*a、*b、*d、*e:参考气峰(:参考气峰(m/z44)*c:样品峰(:样品峰(m/z44)保留时间保留时间由由CO2 m
16、/Z 44形成形成的的TIC由由CO2 m/Z 45/44形成形成的的TIC有关质谱计性能的几个概念有关质谱计性能的几个概念1、质量数范围、质量数范围说明质谱计能够处理的最轻和最重离子之间的质说明质谱计能够处理的最轻和最重离子之间的质量范围,通常以质量数或质荷比量范围,通常以质量数或质荷比(m/e)表示,它表示,它规定了分析物质的上、下限。规定了分析物质的上、下限。2、质量色散、质量色散质谱仪使质量为质谱仪使质量为M和和MM的两离子束分离并聚的两离子束分离并聚焦成中心距为焦成中心距为X的两个缝,则质量色散的两个缝,则质量色散(D)定定义为义为其物理意义为单位质量差所分开的距离。其物理意义为单位
17、质量差所分开的距离。3、质量分辨率、质量分辨率是指仪器在质量是指仪器在质量M附近能够分辩的最小相对质量附近能够分辩的最小相对质量差。表示为差。表示为4、灵敏度、灵敏度绝对灵敏度是指仪器可检测的最小样品量。相对灵绝对灵敏度是指仪器可检测的最小样品量。相对灵敏度是指仪器可同时检测的大组分与小组分含量敏度是指仪器可同时检测的大组分与小组分含量之比。之比。在同位素比值测定中,常给出丰度灵敏度。若大丰在同位素比值测定中,常给出丰度灵敏度。若大丰度的度的M质量峰的离子流强度为质量峰的离子流强度为IM,该峰的,该峰的“拖尾拖尾”对于相邻的低小丰度的若离子质量峰强度的贡献对于相邻的低小丰度的若离子质量峰强度的
18、贡献为为IM,则,则因此,因此,IM越小,丰度灵敏度越大。越小,丰度灵敏度越大。5、精密度和准确度、精密度和准确度精密度表示仪器所进行的重复测量的符合程度。以精密度表示仪器所进行的重复测量的符合程度。以标准偏差标准偏差S表示:表示:准确度表示测量结果与真实值的符合程度。准确度表示测量结果与真实值的符合程度。一、样品制备一、样品制备1、H同位素制样同位素制样(1)还原法:将水样引入真空系统的冷阱内,样品)还原法:将水样引入真空系统的冷阱内,样品被冷冻除气后,在反应炉内一定的温度条件下发被冷冻除气后,在反应炉内一定的温度条件下发生还原反应。常用的还原剂有生还原反应。常用的还原剂有U、Zn、Mg、C
19、u等。等。(2)H2H2O平衡法平衡法是一种在铂催化剂存在的条件下用高纯度的氢气与是一种在铂催化剂存在的条件下用高纯度的氢气与水进行氢同位素平衡交换测定水中氢同位素组成水进行氢同位素平衡交换测定水中氢同位素组成的方法。的方法。第三节第三节 样品制备与质谱分析样品制备与质谱分析2 2、氧同位素制备、氧同位素制备根据所分析的对象不同,氧同位素制备有如下几种方根据所分析的对象不同,氧同位素制备有如下几种方法。法。(1)常量水样的)常量水样的CO2H2O平衡法平衡法适用于测定样品量较大的水样,基本原理是采样少量适用于测定样品量较大的水样,基本原理是采样少量的的CO2与过量的水在恒温(与过量的水在恒温(
20、250.5)条件下进行)条件下进行同位素交换反应。同位素交换反应。(2)微量水样的)微量水样的BrF5法和法和CO2H2O高温平衡法高温平衡法BrF5法:法:BrF5+H2OBrF3+2HF+1/2O2 (100)CO2H2O高温平衡法:与常温平衡法类似,但其高温平衡法:与常温平衡法类似,但其反应温度一般反应温度一般1000。(3)硅酸盐氟氧化法)硅酸盐氟氧化法基本原理为氟气和卤氟化物基本原理为氟气和卤氟化物(BrF5,BrF3等等)可使含氧物可使含氧物质分解产生氧气,然后使氧和碳反应制成质分解产生氧气,然后使氧和碳反应制成CO2,供,供质谱分析。质谱分析。(4)碳酸盐磷酸法)碳酸盐磷酸法适用
21、于测定碳酸盐矿物或岩石的适用于测定碳酸盐矿物或岩石的C、O同位素组成。同位素组成。(5)氧化物碳还原法)氧化物碳还原法其原理是使纯碳其原理是使纯碳(石墨石墨)和含氧矿物在高温下反应,和含氧矿物在高温下反应,利用碳的还原作用先生成利用碳的还原作用先生成CO,然后转化成,然后转化成CO2供供质谱分析。质谱分析。3 3、碳同位素制样、碳同位素制样自然界中的碳可分为无机碳和有机碳,不管以什么自然界中的碳可分为无机碳和有机碳,不管以什么形式存在,都要把它们转化为形式存在,都要把它们转化为CO2后才能供质谱后才能供质谱分析。分析。对于无机碳矿物一般采样磷酸法,对于有机碳或元对于无机碳矿物一般采样磷酸法,对
22、于有机碳或元素碳,将其在高温(素碳,将其在高温(1000)氧气流中燃烧,使)氧气流中燃烧,使之转变为之转变为CO2气体。气体。4、硫同位素制样、硫同位素制样供质谱分析的硫同位素气体一般为供质谱分析的硫同位素气体一般为SO2,也可采用,也可采用SF6。对于不。对于不同样品采用不同方法。同样品采用不同方法。(1)对硫化物,可采用如下几种方法:)对硫化物,可采用如下几种方法:直接氧化法:把纯的硫化物与氧化剂直接氧化法:把纯的硫化物与氧化剂(CuO、V2O5、Cu2O、O2等等)按一定比例混合,在真空系统中加热至按一定比例混合,在真空系统中加热至1000,使硫化,使硫化物转变为物转变为SO2。间接氧化
23、法:将硫化物与间接氧化法:将硫化物与HCl反应生成反应生成H2S气体,在用醋酸镉气体,在用醋酸镉吸收后加入吸收后加入AgNO3,形成,形成Ag2S,然后用直接氧化法生成,然后用直接氧化法生成SO2。氟化法:以氟化法:以BrF5为氧化剂使硫化物转变为为氧化剂使硫化物转变为SF6供质谱分析。供质谱分析。(2)对硫酸盐采用:)对硫酸盐采用:直接还原法:把样品与氧化铜、石英粉按一定比例混合,在直接还原法:把样品与氧化铜、石英粉按一定比例混合,在真空条件下加热到真空条件下加热到1120时,硫酸盐被还原转变为时,硫酸盐被还原转变为SO2。还原氧化法:采用还原氧化法:采用HCl+H3PO4+HI混合酸还原剂
24、,将硫酸混合酸还原剂,将硫酸盐还原成盐还原成H2S,然后用间接氧化法制备,然后用间接氧化法制备SO2。二、稳定同位素样品质谱分析二、稳定同位素样品质谱分析1 1、氢同位素质谱测定、氢同位素质谱测定H元素有两个同位素:元素有两个同位素:1H、2H(氘,氘,D);氢气中有;氢气中有H2、HD和和D2。由于。由于D的丰度很低,一般通过测量的丰度很低,一般通过测量H2与与HD的离子流强度比值计算的离子流强度比值计算D/H。氢的同位素质谱测定有两个困难。由于氢的同位素质谱测定有两个困难。由于H2和和HD的相对质量差很大,同位素分馏效应明显,因此的相对质量差很大,同位素分馏效应明显,因此为防止测量过程中的
25、质量分馏效应,需采用粘滞为防止测量过程中的质量分馏效应,需采用粘滞流进样;流进样;H3校正,在离子源形成校正,在离子源形成H2+和和HD+的同的同时,还由于时,还由于H2+HH3+,形成副产品,形成副产品H3+,而质,而质谱计难以分辨谱计难以分辨HD+和和H3+,因此必须对,因此必须对H3+进行校进行校正。通常采用双进样比较法进行校正,即在进气正。通常采用双进样比较法进行校正,即在进气压力相同的情况下,交替引入待测样品和标准样压力相同的情况下,交替引入待测样品和标准样品,用标准样品的测定值和真值对待测样品进行品,用标准样品的测定值和真值对待测样品进行校正,求得待测样品的同位素值校正,求得待测样
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