第三章-核分析技术与方法课件.ppt
- 【下载声明】
1. 本站全部试题类文档,若标题没写含答案,则无答案;标题注明含答案的文档,主观题也可能无答案。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
2. 本站全部PPT文档均不含视频和音频,PPT中出现的音频或视频标识(或文字)仅表示流程,实际无音频或视频文件。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
3. 本页资料《第三章-核分析技术与方法课件.ppt》由用户(晟晟文业)主动上传,其收益全归该用户。163文库仅提供信息存储空间,仅对该用户上传内容的表现方式做保护处理,对上传内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知163文库(点击联系客服),我们立即给予删除!
4. 请根据预览情况,自愿下载本文。本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。
5. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007及以上版本和PDF阅读器,压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 第三 分析 技术 方法 课件
- 资源描述:
-
1、第三章第三章 核分析技术与方法核分析技术与方法2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法2主要内容主要内容第一节第一节 核分析技术基础核分析技术基础第二节第二节 X射线荧光分析射线荧光分析第三节第三节 中子活化分析技术中子活化分析技术第四节第四节 同位素示踪技术同位素示踪技术2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法3核分析技术核分析技术核技术应用核技术应用反应堆、加反应堆、加速器等设施速器等设施同位素技术同位素技术引言引言2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法4p核分析技术原理核分析技术原理p核分析技术的种类核分析技术的种类p核分析技术特点核分析技术特点2023-1-1
2、7核技术应用概论核分析技术与方法5核分析技术原理核分析技术原理核分析技术是基于被测定的材料或样品在射核分析技术是基于被测定的材料或样品在射线和粒子束的作用下,产生相应的线和粒子束的作用下,产生相应的辐射特征辐射特征(射射线、粒子、辐射能量线、粒子、辐射能量),或者是有的材料或样品,或者是有的材料或样品本身具有辐射特征,利用相应的探测器测量材料本身具有辐射特征,利用相应的探测器测量材料或样品中某核素辐射特征(如特征谱线)确定核或样品中某核素辐射特征(如特征谱线)确定核素种类,经过计数效率刻度可进一步确定样品中素种类,经过计数效率刻度可进一步确定样品中核素的活度、含量等信息。核素的活度、含量等信息
3、。可以可以定性分析定性分析,又可以,又可以定量分析定量分析。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法6离子束分析技术离子束分析技术(Ion beam analysisIon beam analysis,IBAIBA)超精细相互作用核分析超精细相互作用核分析(Hyper fine effect analysisHyper fine effect analysis)活化分析技术活化分析技术(Activation analysisActivation analysis)核分析技术的种类核分析技术的种类核反应分析(核反应分析(NRA);卢瑟福背散射(卢瑟福背散射(RBS);质子诱发质子诱发X射
4、线荧光分析(射线荧光分析(PIXE););加速器质谱分析(加速器质谱分析(AMS););沟道效应分析(沟道效应分析(CT););穆斯堡尔效应;穆斯堡尔效应;核磁共振效应(核磁共振效应(NMR););正电子湮灭效应(正电子湮灭效应(PAT););中子衍射中子衍射(Neutron diffraction););中子散射(中子散射(Neutron scattering););带电粒子活化;带电粒子活化;射线活化;射线活化;中子活化中子活化 。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法7 灵敏度高、准确度好、分辨率高、灵敏度高、准确度好、分辨率高、非破坏性非破坏性、具备多元、具备多元素分析能力、
5、能实施离线和在线测量。素分析能力、能实施离线和在线测量。核分析技术特点核分析技术特点非破坏性分析(非破坏性分析(Non-destructive analysis,NDA)由于铀、钚是核武器的核心材料,是核保障的主要对象,由于铀、钚是核武器的核心材料,是核保障的主要对象,所以发展铀、钚材料的非破坏性辐射探测与分析技术是极为所以发展铀、钚材料的非破坏性辐射探测与分析技术是极为重要的,不仅可以获得铀、钚材料的同位素丰度、化学组分重要的,不仅可以获得铀、钚材料的同位素丰度、化学组分等化学信息,同时还可以获得铀、钚材料的质量、年龄、形等化学信息,同时还可以获得铀、钚材料的质量、年龄、形状、包装容器材料厚
6、度、核设施内部污染分布状况等物理信状、包装容器材料厚度、核设施内部污染分布状况等物理信息。息。NDA NDA技术对核安全保障、军控核查、核设施退役和核污技术对核安全保障、军控核查、核设施退役和核污染物处置等方面起到了积极的支撑作用。染物处置等方面起到了积极的支撑作用。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法8 物理、化学、生物、地质、考古等学科所研究物理、化学、生物、地质、考古等学科所研究的各种实体与物质的分析,如文物鉴定、年代测定、的各种实体与物质的分析,如文物鉴定、年代测定、产地确定、制作工艺水平分析等。产地确定、制作工艺水平分析等。核分析技术应用核分析技术应用2023-1-17核
7、技术应用概论核分析技术与方法9pX射线荧光分析的基本原理射线荧光分析的基本原理pX射线荧光光谱仪的基本结构射线荧光光谱仪的基本结构p定性定量分析方法定性定量分析方法pX射线荧光光谱法的特点射线荧光光谱法的特点2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法10引言引言 X X射线荧光分析(射线荧光分析(XRFXRF)技术即是利用初级)技术即是利用初级X X射线或其它射线或其它微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X X射射线)而进行物质成份分析和化学形态研究的方法。线)而进行物质成份分析和化学形态研究的方法。X X射线是一种电磁辐射,按
8、传统的说法,其波长介于紫射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫外线和外线和射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫致辐射所产生的致辐射所产生的X X射线,其能量可能远大于射线,其能量可能远大于射线,故射线,故X X射线射线的波长范围没有严格的界限,对于的波长范围没有严格的界限,对于X X射线荧光分析而言,一射线荧光分析而言,一般是指波长为般是指波长为0.001nm0.001nm50nm50nm的电磁辐射。对化学分析来说,的电磁辐射。对化学分析来说,最感兴趣的波段是最感兴趣的波段是0.01nm0.01nm24nm24nm,0.01nm0.0
9、1nm附近是超铀元素的附近是超铀元素的K K系谱线,系谱线,24nm24nm则是最轻元素则是最轻元素LiLi的的K K系谱线。系谱线。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法11一、一、X射线荧光分析的基本原理射线荧光分析的基本原理 高能高能X X射线与原子发生碰撞,激发出一个内层电射线与原子发生碰撞,激发出一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命极短,约为激发态,激发态原子寿命极短,约为1010-12-12s s1010-14-14s s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态,然后自发地由能量高的状
10、态跃迁到能量低的状态,这个过程称为这个过程称为弛豫过程弛豫过程。弛豫过程可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃弛豫过程可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。迁。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法12荧光荧光X X射线及俄歇电子产生过程射线及俄歇电子产生过程荧光荧光X X射线及俄歇电子产生过程示意图射线及俄歇电子产生过程示意图俄歇电子的能量俄歇电子的能量是特征性的。是特征性的。X X射线荧光的能量射线荧光的能量或波长是特征性或波长是特征性的。的。与元素有一一与元素有一一对应的关系对应的关系。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法13谱线系谱线系产生产生K K系和系和L L系辐射示
11、意图系辐射示意图原子原子K K层电子被逐层电子被逐出后,其空穴可出后,其空穴可以被外层中任一以被外层中任一电子所填充,从电子所填充,从而可产生一系列而可产生一系列的谱线,称为的谱线,称为K K系系谱线谱线:由:由L L层跃迁层跃迁到到K K层辐射的层辐射的X X射射线叫线叫K K射线射线,由,由M M层跃迁到层跃迁到K K层辐射层辐射的的X X射线叫射线叫K K射射线线2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法14莫斯莱定律莫斯莱定律莫斯莱(莫斯莱(H G MoseleyH G Moseley)发现,)发现,荧光荧光X X射线的波长射线的波长与元素的原子序数与元素的原子序数Z Z满足满足
12、=k(Z-s)=k(Z-s)-2-2 式中式中 k k和和s s对同组谱线来说是常数对同组谱线来说是常数 荧光荧光X X射线的能量为:射线的能量为:E E=h h=hChC/只要测出荧光只要测出荧光X X射线的波长或者能量,就可以确射线的波长或者能量,就可以确定元素的种类,即进行元素的定性分析。测出荧光定元素的种类,即进行元素的定性分析。测出荧光X X射线的强度即可进行元素的定量分析。射线的强度即可进行元素的定量分析。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法15二、二、X射线荧光光谱仪的基本结构射线荧光光谱仪的基本结构 由于由于X X射线具有一定射线具有一定波长,又有一定能量,波长,又
13、有一定能量,因此,因此,X X射线荧光光谱射线荧光光谱仪有两种类型:仪有两种类型:波长色波长色散型散型和和能量色散型能量色散型。X X射线荧光光谱仪射线荧光光谱仪主要由主要由激发激发、色散色散、探测探测、记录及数据处记录及数据处理理等单元组成。等单元组成。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法161、X射线管射线管 X X射线管产生的射线管产生的X X射线透过铍窗入射到样品上,射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征激发出样品元素的特征X X射线射线。X X射线管所消耗功率射线管所消耗功率的的0.2%0.2%左右转变为左右转变为X X射线辐射,其余均变为热能使射线辐射,其余均变
14、为热能使X X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法172、分分光系统光系统主要部件是主要部件是晶体晶体分光器分光器,它的作,它的作用是通过晶体衍用是通过晶体衍射现象把不同波射现象把不同波长的长的X X射线分开。射线分开。晶体的布拉格衍射定律晶体的布拉格衍射定律 2dsin=2dsin=nn 改变改变可观测到不同可观测到不同的的荧光荧光X X射线射线。分光晶。分光晶体转动体转动角角,检测器必检测器必须转动须转动22角。角。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法183、检测记录系统检测
15、记录系统将将X X射线光子射线光子能量转化为电能量转化为电信号。信号。检测器有检测器有流气流气正比计数器正比计数器和和闪烁计数器闪烁计数器。流气正比计数器主要由金属圆筒负极和芯线正极流气正比计数器主要由金属圆筒负极和芯线正极组成组成,筒内充氩(筒内充氩(90%90%)和甲烷()和甲烷(10%10%)的混合气体。)的混合气体。适用于轻元素的检测。适用于轻元素的检测。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法193、检测记录系统检测记录系统将将X X射线光子射线光子能量转化为电能量转化为电信号。信号。检测器有检测器有流气流气正比计数器正比计数器和和闪烁计数器闪烁计数器。闪烁计数器适用于重元素
16、的检测。闪烁计数器适用于重元素的检测。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法20荧光荧光X射线谱图射线谱图由由X X光激发产生光激发产生的荧光的荧光X X射线,射线,经晶体分光后,经晶体分光后,由检测器检测。由检测器检测。2-荧光荧光X射线强度关系曲线射线强度关系曲线这种方法分辨率这种方法分辨率高,但探测效率高,但探测效率低,主要用于化低,主要用于化学环境下的精细学环境下的精细结构研究。结构研究。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法214、能量色散谱仪能量色散谱仪利用荧光利用荧光X X射线具有不同能量的特点,将其分开并射线具有不同能量的特点,将其分开并检测,不必使用分光晶
17、体,而是依靠半导体探测器检测,不必使用分光晶体,而是依靠半导体探测器来完成。来完成。最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素、最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素、分析速度快。分析速度快。对对X X射线的总检测效率比波谱高射线的总检测效率比波谱高,因,因此可以使用小功率此可以使用小功率X X光管激发荧光光管激发荧光X X射线。工作稳定,射线。工作稳定,仪器体积小。仪器体积小。缺点是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存。缺点是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存。对轻元素检测困难对轻元素检测困难。得到计数率随光子能量变化得到计数率随光子能量变化的分布曲线,即的分布曲线,即X X光能谱图。
18、光能谱图。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法22三、三、定性定量分析方法定性定量分析方法 样品的形态可以是固态(块状、粉末),也可样品的形态可以是固态(块状、粉末),也可以是液态。以是液态。X X射线荧光光谱分析是一种相对分析方法,需射线荧光光谱分析是一种相对分析方法,需要通过测试标准样品确定待测样品的含量。要通过测试标准样品确定待测样品的含量。所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不能含有腐蚀性溶剂。能含有腐蚀性溶剂。样品的制备情况对测定结果的不确定度很大。样品的制备情况对测定结果的不确定度很大。2023-1-17核技术应用概论核分析技术
19、与方法23定性分析定性分析 不同元素的荧光不同元素的荧光X X射线具有各自的特定波长或射线具有各自的特定波长或能量,因此根据荧光能量,因此根据荧光X X射线的波长或能量可以确定射线的波长或能量可以确定元素的组成。元素的组成。波长色散型光谱仪波长色散型光谱仪检测器转动的检测器转动的22角可以求角可以求出出X X射线的波长射线的波长,从而确,从而确定元素成份。定元素成份。能量色散型光谱仪能量色散型光谱仪由谱线对应能量确定是何由谱线对应能量确定是何种元素及成份。种元素及成份。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法24定量分析定量分析含量定量分析的依据:含量定量分析的依据:元素的荧光元素的荧
20、光X X射线强度射线强度I Ii i与与试样中该元素的含量试样中该元素的含量C Ci i成正比。成正比。C Ci i为待测元素浓度;为待测元素浓度;K Ki i仪器校正因子;仪器校正因子;I Ii i待测元素的荧光待测元素的荧光X X射线净强度;射线净强度;M Mi i元素间吸收增强效应校正因子;元素间吸收增强效应校正因子;S Si i与样品的物理形态(均匀性、厚度、表面结与样品的物理形态(均匀性、厚度、表面结构等)有关的因子。构等)有关的因子。C Ci i =K Ki iI Ii iM Mi iS Si iI Ii iC Ci i定量分析定量分析方法:方法:标准曲线法、增量法、内标法等标准曲
21、线法、增量法、内标法等2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法25定量分析定量分析内标法内标法在工业分析中较多采用。例如,采用在工业分析中较多采用。例如,采用X射线衍射线衍射内标法测定烧结矿中射内标法测定烧结矿中FeO含量时,选择含量时,选择NaCl为内为内标物质,将其以标物质,将其以20%的质量比例掺入已知的质量比例掺入已知FeO含量的含量的磁铁矿和烧结矿标准样品中,通过测量样品中磁铁矿和烧结矿标准样品中,通过测量样品中Fe3O4衍射峰和内标物衍射峰和内标物NaC1衍射峰的强度,获得衍射强度衍射峰的强度,获得衍射强度比值比值IFe3O4/INaCl,然后根据,然后根据IFe3O4/I
22、NaCl与已知样品中与已知样品中FeO物相含量,作出物相含量,作出定标曲线定标曲线。实测样品时,按同样。实测样品时,按同样方法掺入内标物质,获得样品中方法掺入内标物质,获得样品中Fe3O4和和NaCl衍射衍射强度比值强度比值IFe3O4/INaCl,即可快速获得待测样品中,即可快速获得待测样品中FeO含量。含量。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法26定量分析定量分析基体效应基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对的变化对X射线荧光强度所造成的影响。射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化,会影响样品对初级化学组成的变化,会影响样品对
23、初级X射线和射线和X射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。例如,在例如,在测定不锈钢中测定不锈钢中Fe和和Ni等元素时,由于初级等元素时,由于初级X射线的激射线的激发会产生发会产生NiK荧光荧光X射线,射线,NiK在样品中可能被在样品中可能被Fe吸收,使吸收,使Fe激发产生激发产生FeK。测定。测定Ni时,因为时,因为Fe的吸的吸收效应使结果偏低;测定收效应使结果偏低;测定Fe时,由于荧光增强效应使时,由于荧光增强效应使结果偏高。因此,对于成份和结构复杂的样品基体,结果偏高。因此,对于成份和结构复杂的样品基体,需要用各种算法进行修正,以实现准确分析。需要用
24、各种算法进行修正,以实现准确分析。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法27厚度定量分析厚度定量分析厚度定量分析的依据厚度定量分析的依据是厚度为是厚度为T的某种元素的薄膜的的某种元素的薄膜的荧光荧光X射线强度射线强度IT与无限厚(实际达到饱和厚度即可)与无限厚(实际达到饱和厚度即可)薄膜元素的荧光薄膜元素的荧光X射线强度射线强度I有如下关系:有如下关系:IT /I=1e-s*T=1e-kT k k与薄膜有关的一个常数与薄膜有关的一个常数 对于单层薄膜厚度,可直接由对于单层薄膜厚度,可直接由上式计算获得。上式计算获得。多层薄膜厚度的定量分析与单层薄膜类似,但是需多层薄膜厚度的定量分析与
25、单层薄膜类似,但是需要考虑外层薄膜对内层薄膜荧光的吸收作用,算法要考虑外层薄膜对内层薄膜荧光的吸收作用,算法更加复杂。更加复杂。2023-1-17核技术应用概论核分析技术与方法28四、四、X射线荧光光谱法的特点射线荧光光谱法的特点p分析的元素范围广分析的元素范围广,从原子序数为,从原子序数为1111的的NaNa到到9292的的U U均可测定。均可测定。p荧光荧光X X射线谱线简单射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便。分析方法比较简便。p分析浓度范围较宽分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达元素的检测限可
展开阅读全文