固体化学第三章固体中的缺陷概要课件.ppt
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- 固体 化学 第三 中的 缺陷 概要 课件
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1、 其内部具有严格空间点阵式的三维周期性结构其内部具有严格空间点阵式的三维周期性结构的的晶体晶体称做理想晶体。称做理想晶体。1对对造成晶体的不完整性,那些造成晶体的不完整性,那些被称为被称为晶体的缺陷晶体的缺陷。2缺陷缺陷定义定义:实际晶体实际晶体与与理想晶体理想晶体相比有一定程度的偏离或相比有一定程度的偏离或不完美性,把这种不完美性,把这种叫缺陷。叫缺陷。3所有的所有的,无论是天然的或人工,无论是天然的或人工合成的合成的都不是理想的完整晶体都不是理想的完整晶体,它们都存在,它们都存在着对着对理想空间点阵理想空间点阵的偏离。的偏离。4对于缺陷的认识与研究是固态化学的重要对于缺陷的认识与研究是固态
2、化学的重要内容之一,因为内容之一,因为与与、和和之间有着密不可分之间有着密不可分关系。关系。5 :导电导电、半导体半导体、发色发色(色心)、(色心)、发光发光、扩散扩散、烧结烧结、固相反应固相反应。它是材料科学的基础,。它是材料科学的基础,表现在以下三方面:表现在以下三方面:1、晶体晶体密切相关。密切相关。2、可直接影响到可直接影响到。3、缺陷对材料的、缺陷对材料的性质、性质、性质等也性质等也有很大的影响。有很大的影响。61、晶体晶体密切相关。密切相关。、离开具体的晶体结构就无法描述离开具体的晶体结构就无法描述缺陷缺陷的存在形式的存在形式及其及其运动规律运动规律。7、同时同时也起重要的也起重要
3、的作用,有些结构就容易产生缺陷。作用,有些结构就容易产生缺陷。因此,晶体中因此,晶体中以及以及,常常是晶体质量优劣的重要标志。,常常是晶体质量优劣的重要标志。8 2、可直接影响到可直接影响到。许多晶体内部都有大量许多晶体内部都有大量、小角度、小角度、第二相第二相等微观或亚微观缺陷。等微观或亚微观缺陷。这些缺陷对晶体的这些缺陷对晶体的有很大影响,在压力有很大影响,在压力或拉力下,开始会在一个弱点处形成裂纹,然后遍及或拉力下,开始会在一个弱点处形成裂纹,然后遍及整个晶体。整个晶体。如果可设计出没有缺陷的金属,那它将是如果可设计出没有缺陷的金属,那它将是。93、缺陷对材料的、缺陷对材料的性质、性质、
4、性质等也有性质等也有很大的影响。很大的影响。缺陷的缺陷的、和和,各种,各种缺陷的缺陷的及其及其,是造成材料性,是造成材料性质的多样性的主要原因。质的多样性的主要原因。10一)按照一)按照分为两部分:分为两部分:1、2、11 是指是指或或晶体中的缺陷,它晶体中的缺陷,它不会改变晶体的组成;不会改变晶体的组成;是指是指中,与晶体组成变化有中,与晶体组成变化有关的一类缺陷。关的一类缺陷。12二)按照二)按照可把缺陷划分为两部分:可把缺陷划分为两部分:1、缺陷缺陷2、缺陷缺陷131、是指在晶体中存在是指在晶体中存在或或;2、是指是指应变应变、位错位错、晶粒间界晶粒间界、孪晶面孪晶面和和堆堆垛层错垛层错
5、等。等。14三)按照缺陷的三)按照缺陷的分为五部分:分为五部分:1、零维缺陷或、零维缺陷或2、缺陷缺陷3、一维缺陷或、一维缺陷或4、二维缺陷或、二维缺陷或5、三维缺陷或、三维缺陷或151、零维缺陷或、零维缺陷或是指是指均是原子大小的缺陷;均是原子大小的缺陷;2、缺陷:缺陷:是指比是指比更小的缺陷更小的缺陷163、一维缺陷或、一维缺陷或是指两维很小是指两维很小的缺陷,如的缺陷,如位错位错等;等;4、二维缺陷或、二维缺陷或是指一维很小是指一维很小的缺陷;的缺陷;5、三维缺陷或、三维缺陷或 是指是指的缺陷;的缺陷;17四)按照四)按照进行分类:进行分类:电子电子空穴空穴缺陷缺陷 空位空位间隙原子间隙
6、原子位错原子或离子位错原子或离子外来原子或离子外来原子或离子缺陷缺陷 18晶体中缺陷的详晶体中缺陷的详细分类如右表所示:细分类如右表所示:其中,在固体化其中,在固体化学中,主要研究的对学中,主要研究的对象是象是。191、从、从来看,非化学计量比化合物是来看,非化学计量比化合物是指用指用、和和等手段能够等手段能够确定其确定其的均一物相,如的均一物相,如FeO1+x、FeS1+x、PdHx等过渡元素的化合物。等过渡元素的化合物。20非化学计量比化合物的非化学计量比化合物的有三个方面有三个方面:一种一种从有规则的结构位从有规则的结构位置中置中;存在着存在着超过结构所需超过结构所需数量的原子;数量的原
7、子;被另一种原子所取代。被另一种原子所取代。212、从晶体的从晶体的上看,上看,也能也能引起偏离整比性的化合物。引起偏离整比性的化合物。特点如下:特点如下:,不能用化学分析和,不能用化学分析和XRD分析观察出来;分析观察出来;可由测量其可由测量其学、学、学和学和学的性质来研学的性质来研究它们。究它们。22是一类是一类,对这类化合物的研究,对这类化合物的研究在理论和实际应用上在理论和实际应用上都都有重大的意义。有重大的意义。23 是指那些对晶体结构的干扰仅波是指那些对晶体结构的干扰仅波及到及到范围的缺陷。范围的缺陷。24主要有两种分类方法:主要有两种分类方法:、根据对理想晶体偏离的根据对理想晶体
8、偏离的;、根据根据。2526正常结点位置没有被质点占正常结点位置没有被质点占据,称为据,称为。27质点进入间隙位置成为质点进入间隙位置成为间隙原子间隙原子。28、杂杂 质质 原原 子子间隙位置间隙位置正常结点正常结点。杂质原子进入晶格(结晶过程中混入或杂质原子进入晶格(结晶过程中混入或加入,一般不大于加入,一般不大于1,)。,)。进入进入29、原、原 子错位子错位指固体化合物中指固体化合物中,即对,即对化合物化合物MX而言,而言,M原子占据了原子占据了X原子的位置原子的位置或或X原子占据了原子占据了M原子的位置。原子的位置。30据据分为三类:分为三类:1、热缺陷、热缺陷2、杂质缺陷、杂质缺陷3
9、、电荷缺陷(电子和空穴)、电荷缺陷(电子和空穴)31是是,它是指当,它是指当晶体的温度晶体的温度时,由于晶格内时,由于晶格内,使一部分,使一部分能量较大的原子离开平衡位置能量较大的原子离开平衡位置造成的缺陷。造成的缺陷。1、热缺陷、热缺陷32又分为又分为(弗仑克尔弗仑克尔)缺陷和缺陷和(肖特基肖特基)缺陷两种。缺陷两种。33 晶体中同时产生一对晶体中同时产生一对和和的缺陷,的缺陷,称之为称之为Frankel(弗仑克尔弗仑克尔)缺陷。缺陷。34很多对的很多对的处于运动之处于运动之中,或者复合、或者中,或者复合、或者运动到其他位置上去。运动到其他位置上去。:空位和间隙空位和间隙产生产生;晶体晶体不
10、变。不变。35一个完整的晶体,在温度高于一个完整的晶体,在温度高于0K时,晶体中的原时,晶体中的原子在其平衡位置附近作热运动。子在其平衡位置附近作热运动。温度升高时,原子的平均动能随之增加,振动幅温度升高时,原子的平均动能随之增加,振动幅度增大。度增大。Eu间隙位置间隙位置平衡位置平衡位置 位置位置能量能量36当某些原子的平均动能足够大时,可能当某些原子的平均动能足够大时,可能而而挤入晶格的间隙挤入晶格的间隙中,成为中,成为,而原,而原来的晶格位置变成空位。来的晶格位置变成空位。Eu间隙位置间隙位置平衡位置平衡位置 位置位置能量能量37例例:纤锌矿结构纤锌矿结构ZnO晶体,晶体,Zn2+可以离
11、开原位进可以离开原位进入间隙,入间隙,从而形成从而形成Frankel缺陷。缺陷。ZniZnVZnZn 38 晶体中晶体中Frankel缺陷的浓度可表示为缺陷的浓度可表示为)2exp(21).(kTCFNNniFnF:Frankel缺陷的数目;缺陷的数目;N:格位数;:格位数;Ni:是间隙数;是间隙数;F:为形成一对空位和间隙原子所需要的能量。:为形成一对空位和间隙原子所需要的能量。39 由于热运动,由于热运动,部分能量较大的原子蒸发部分能量较大的原子蒸发到到晶面以外晶面以外稍远的地方,从而产生稍远的地方,从而产生;晶体晶体运动到运动到进而替代进而替代,并,并在晶体内部在晶体内部正常格点处留下空
12、位。正常格点处留下空位。40因此,总的看来,就像空位从因此,总的看来,就像空位从向向移动一样,这种空位称作移动一样,这种空位称作。Schottky缺陷的产生过程可示意如下:缺陷的产生过程可示意如下:41C Cl lN Na aV VV VN Na aC Cl l例如:例如:对于离子晶体,为对于离子晶体,为保持电中性,正离子空保持电中性,正离子空位和负离子空位位和负离子空位,。42Cs随随的变化呈指的变化呈指数式变化,可表示为:数式变化,可表示为:)2exp(kTNnCssss:代表空位的生成能。代表空位的生成能。ns::Schttky缺陷的数目;缺陷的数目;N:格位数;格位数;43从形成热缺陷
13、的从形成热缺陷的来看,大多数晶体来看,大多数晶体的缺陷是的缺陷是。因为在因为在金属或金属间化合物金属或金属间化合物中,原子是以各中,原子是以各种种排列的,从其中排列的,从其中跑出一些原子跑出一些原子,形成空位缺陷要比形成空位缺陷要比插入一些原子插入一些原子形成间隙容易一形成间隙容易一些。即,些。即,Schttky 缺陷形成的能量小于缺陷形成的能量小于Frankel 缺缺陷形成的能量。陷形成的能量。442、杂质缺陷、杂质缺陷 间隙杂质、置换杂质间隙杂质、置换杂质而产生的缺陷。而产生的缺陷。杂质原子进入晶体的杂质原子进入晶体的一般小于一般小于0.1%。45杂质缺陷的浓度与温度无关,只决定于溶解度。
14、杂质缺陷的浓度与温度无关,只决定于溶解度。本身存在有目的加入本身存在有目的加入(改善晶体的某种性能改善晶体的某种性能)46、一种杂质原子或离子能否进入晶体,取一种杂质原子或离子能否进入晶体,取代晶体中的某个原子或离子,主要取决于代晶体中的某个原子或离子,主要取决于。如在离子型晶体中,从如在离子型晶体中,从考虑,考虑,杂质离子只能进入与其杂质离子只能进入与其的离子位置。的离子位置。47、当化合物晶体中当化合物晶体中彼此相彼此相差不大时,并且当差不大时,并且当介于介于之间时,则之间时,则往往是形成某种杂质缺陷的决定因素。往往是形成某种杂质缺陷的决定因素。如在各种金属间化合物,原子如在各种金属间化合
15、物,原子的元的元素可以相互取代,形成取代固溶体。素可以相互取代,形成取代固溶体。48、取代取代或进入或进入间隙间隙位置位置时,通常情况下并时,通常情况下并。、只有那些只有那些才有可才有可能成为间隙杂质缺陷,如能成为间隙杂质缺陷,如F和和H等。等。49、如果如果的电荷与它所取代的的电荷与它所取代的的电荷不同时,为了使整个晶体的电荷不同时,为了使整个晶体保持电中性,必然在晶体中保持电中性,必然在晶体中其他缺陷作为其他缺陷作为。50如如BaTiO3晶体中,若有少量的晶体中,若有少量的Ba2+离子离子被被La3+离子取代,则必然同时有相等数量的离子取代,则必然同时有相等数量的Ti4+被还原为被还原为T
16、i3+离子,生成一种离子,生成一种n型半导体材型半导体材料料Lax3+Ba1-x2+Tix3+Ti1-x4+。513、电荷缺陷(电子和空穴)、电荷缺陷(电子和空穴)当当T=0 K时,晶体中的时,晶体中的,此,此时价带中的能级完全被占据,导带没有电子。时价带中的能级完全被占据,导带没有电子。52当当T0 K时,一些时,一些被激发到被激发到中中,价带中原来被电子占据的轨道表现为价带中原来被电子占据的轨道表现为可可移动的空穴移动的空穴,从而表现出从而表现出,。即晶体中同时产生一个电子。即晶体中同时产生一个电子-空穴对。空穴对。53反之,当反之,当时,也可能发生一时,也可能发生一个个返回返回处,即处,
17、即。54价带产生空穴价带产生空穴导带存在电子导带存在电子电荷缺陷电荷缺陷由于在平衡状态时,电子由于在平衡状态时,电子-空穴的空穴的产生产生和和复合复合的的速度相等,所以在一定温度下,导带中有一定浓度速度相等,所以在一定温度下,导带中有一定浓度的电子,而在价带中也有相同浓度的空穴。的电子,而在价带中也有相同浓度的空穴。551、常用缺陷表示方法、常用缺陷表示方法2、书写点缺陷反应式的规则、书写点缺陷反应式的规则56zbA用一个用一个表明缺陷的种类表明缺陷的种类用一个用一个表示缺陷位置表示缺陷位置用一个用一个表示缺陷的有效电荷,如表示缺陷的有效电荷,如“”表示表示;“”表示表示;“”表示表示。57以
18、以 为例(为例(M2;X2 ):):(1):表示表示M原子占有的位置,在原子占有的位置,在M原子移原子移走后出现的空位;走后出现的空位;表示表示X原子占有的位置,在原子占有的位置,在X原子移走原子移走后出现的空位。后出现的空位。58NaVNaNaVeV写作写作在离子化合物在离子化合物NaCl 晶体中,如果取走一个晶体中,如果取走一个,晶格中多了一个晶格中多了一个 ,形成带电的空位形成带电的空位Va。59在离子化合物在离子化合物NaCl 晶体中,如果取出一个晶体中,如果取出一个,那么氯空位上就留下一个电子空穴那么氯空位上就留下一个电子空穴(),即即:ClClVhV60用下标用下标“i”表示表示
19、Mi 表示表示M原子进入间隙位置;原子进入间隙位置;表示表示X原子进入间隙位置。原子进入间隙位置。61MX 表示表示M原子占据了应是原子占据了应是X原子正常原子正常所处的平衡所处的平衡 位置。位置。表示表示原子占据了应是原子占据了应是原子正常原子正常所处的平衡所处的平衡 位置。位置。62 表示溶质表示溶质L占据了占据了M的位置。的位置。如:如:CaNa 表示表示S溶质占据了溶质占据了X位置。位置。63有些情况下,价电子在有些情况下,价电子在下可以在晶体中运动,原固定位置称作下可以在晶体中运动,原固定位置称作(符号(符号e e)。)。同样也可以出现同样也可以出现,而出现,而出现(符号(符号h h
20、.),),它不属于某个特定的原子位置。它不属于某个特定的原子位置。64不同价态离子之间的取代不同价态离子之间的取代:如:如:Ca2+取代取代Na+Ca Na Ca2+取代取代Zr4+CaZr65在晶体中,除了单个缺陷外,有可能出现在晶体中,除了单个缺陷外,有可能出现邻近两个缺陷互相缔合,把邻近两个缺陷互相缔合,把用用小括号表示,也称小括号表示,也称。66在离子晶体中,带相反电荷的点缺陷在离子晶体中,带相反电荷的点缺陷之间,存在一种之间,存在一种的库仑引力。的库仑引力。如:在如:在NaCl晶体中,晶体中,)(ClNaClNaVVVV6768ClKKKClClVCasCaCl2)(2K:Cl=2:
21、2OOAlOAlOVMgsMgO22)(2.32 Al:O=2:3 对于对于(如(如NaCl、Al2O3),),在在缺陷反应式中,作为缺陷反应式中,作为的晶体所提供的的晶体所提供的,但每类,但每类可以改变。可以改变。例:例:69对于对于,当存在气氛不同时,当存在气氛不同时,是改变的。是改变的。例:例:TiO2 由由 1:2 变成变成 1:2x (TiO2x )70 形成形成时,增加了位置数目。时,增加了位置数目。的缺陷:空位的缺陷:空位(VM)、错位错位(VX)、置换杂质原子置换杂质原子(MX、XM)、表面位置表面位置(XM)等。等。71:e/,h.,Mi,Xi ,Li等。等。当表面原子迁移到
22、内部与空位复合时,则减少当表面原子迁移到内部与空位复合时,则减少了位置数目(了位置数目(MM、XX)。)。72 参加反应的原子数在方程两边应相等参加反应的原子数在方程两边应相等(4)电中性电中性 缺陷反应两边总的有效电荷必须相等。缺陷反应两边总的有效电荷必须相等。73 当一个当一个从从晶体内部晶体内部迁移到迁移到表面表面时,时,用符号用符号表示,其中,表示,其中,S 表示表面位置。表示表面位置。在缺陷化学反应中表面位置一般不特别表示。在缺陷化学反应中表面位置一般不特别表示。74MV (1)缺陷符号)缺陷符号缺陷的有效电荷是相对于缺陷的有效电荷是相对于而言的,常用而言的,常用“.”、“”、“”表
23、示正、表示正、负电荷及电中性。负电荷及电中性。75)(XNaNaNaNa)(XClClClClNa+在在NaCl晶体正常位置上(应是晶体正常位置上(应是Na+占据的点阵位置),不带有效电荷,也不占据的点阵位置),不带有效电荷,也不存在缺陷。存在缺陷。76NaCa杂质离子杂质离子Ca2+取代取代Na+位置,比原来位置,比原来Na+高高+1价电荷,因此与这个位置上应有的价电荷,因此与这个位置上应有的+1电价比,电价比,缺陷带缺陷带1个有效正电荷。个有效正电荷。XNaK杂质离子杂质离子K+与占据的位置上的原与占据的位置上的原Na+同价,所以不带电荷。同价,所以不带电荷。77KVK的空位,对原来结点位
24、置而言,少了一个的空位,对原来结点位置而言,少了一个正电荷,所以空位带一个有效负电荷。正电荷,所以空位带一个有效负电荷。ZraC 杂质杂质Ca2+取代取代Zr4+位置,与原来的位置,与原来的Zr4+比,比,少少2个正电荷,即带个正电荷,即带2个有效负电荷。个有效负电荷。78 表示表示 Cl-的空位,对原结点位置而言,少了的空位,对原结点位置而言,少了一个负电荷,所以空位带一个有效正电荷。一个负电荷,所以空位带一个有效正电荷。ClV计算公式:计算公式:79(2)每种每种,离子,离子空位与空穴空位与空穴(h。)也是物质,空位是一个零粒子。也是物质,空位是一个零粒子。803 写缺陷反应举例写缺陷反应
25、举例 (1)CaCl2溶解在溶解在KCl中中)11(22 ClKKKClClVCaCaCl)21(2 CliKKClCllCCaCaClKCl表示表示KCl作为溶剂。作为溶剂。以上三种写法均符合缺陷反应规则。以上三种写法均符合缺陷反应规则。实际上(实际上(11)比较合理。)比较合理。)31(222 ClKiKClClVCaCaCl81(2)MgO溶解到溶解到Al2O3晶格中晶格中4)(122232OOAlOAlOVgMMgO )51(32332OiAlOAlOMggMMgO (15较不合理。因为较不合理。因为Mg2+进入间隙位置不易发生。进入间隙位置不易发生。82 写出下列缺陷反应式:写出下列
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