第四章2根轨迹分析课件.ppt
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- 第四 轨迹 分析 课件
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1、 第八章第八章 根轨迹法根轨迹法 8.4 8.4 根轨迹法设计与校正控制系统根轨迹法设计与校正控制系统 8.1 8.1 根轨迹法基本概念根轨迹法基本概念 8.2 8.2 绘制根轨迹图的基本规则绘制根轨迹图的基本规则 8.3 8.3 控制系统的根轨迹分析控制系统的根轨迹分析 8.3 8.3 控制系统的根轨迹分析控制系统的根轨迹分析 根轨迹图上希望闭环极点的位置参数变化对闭环极点的影响(广义根轨迹、根轨迹簇)比例微分控制作用与微分反馈对系统性能的影响开环零点和极点对根轨迹的影响增加开环极点的影响)/(1cps 增加一个惯性环节增加开环零点的影响加入一阶微分环节(szc))/()(ccpszs加入环
2、节增加一对开环零极点的影响开环偶极子|zc|pc|根轨迹图上希望闭环极点的位置根轨迹图上希望闭环极点的位置二阶系统的等Mp线(即等线)二阶系统的等ts线闭环传递函数特征根的分布与动态性能指标的关系闭环传递函数特征根的分布与动态性能指标的关系21ndptdptgeeeMdnn%221110010010005.033nstddnjjs2,1等tp线等ts线等Mp线由实部决定由实部决定由实部决定由实部决定由实部虚部比由实部虚部比值决定值决定Ts减小减小Tp减小减小Mp减小减小Mp增大增大开环传递函数上增加极点降低了系统的相对稳定性降低了系统的相对稳定性)(180)12(mnka渐近线与实轴倾角随着n
3、数增大而减小根轨迹向右方向弯曲)()(mnzpiia渐近线与实轴交点随着pc增大(pc点在实轴上向右移)而右移,故更靠近原点。向右弯曲趋势随着所增加的极点移近原点而加剧增加开环极点的影响增加开环极点的影响1cp右移极点2cp增加一个极点的情况开环传递函数上增加零点提高了系统的相对稳定性)(180)12(mnka渐近线与实轴倾角随着m数增大而增加根轨迹向左方向弯曲)()(mnzpiia渐近线与实轴交点随着Zc增大(Zc点在实轴上向右移)而左移3cZ增加一个零点的情况2cZ右移零点增加的零点相对靠近虚轴而起主导作用)()(ccpszscc零极点对应的矢量幅角)(cc附加提供一个超前角“超前校正”相
4、当于附加零点的作用(使根轨迹向左弯曲,改善了系统动态性能。)|zc|pc|zc|pc|zc|pc|开环偶极子开环偶极子开环偶极子距离原点较远极点pc 和零点zc 到较远的s点的矢量基本相等;幅值条件和幅角条件中的作用相互抵消;对离其较远的近虚轴区域的根轨迹形状和开环增益几乎没有影响,基本上不影响系统静动态性能。ccniimiipzpzKK11开环偶极子位于原点附近零点zc和极点pc到主导极点的矢量也基本相等;幅角条件和幅值条件中作用也基本抵消。不影响主导极点附近的根轨迹及根轨迹增益K零极点自身比值zc/pc-较大影响系统的开环增益、改变稳态误差。01.0cp1.0cz提高系统开环增益10倍参数
5、变化对闭环极点的影响参数变化对闭环极点的影响 控制系统开环传递函数 ,试绘制以为参变量的根轨迹以及同时变化K时的根轨迹。)(1()()(sssKsHsG0)(1(1)()(1sssKsHsG0)1()1(2Kssss以为参变量的根轨迹方程00)1(12ssK1)1()1()1()1(22KssssKssss闭环控制系统的特征方程 将特征方程进行数学处理,把待定将特征方程进行数学处理,把待定参数放到增益参数放到增益K的位置的位置1)1()1(2Kssss不同K值,可得到系统不同根轨迹图,即根轨迹簇0123ssssKaKaaa!)1(110Ka0)1(K根轨迹与虚轴交点2411K以为参变量的根轨迹
6、方程(b)为加入比例微分(PD)校正后的系统)15()8.01(5)()(ssssHsGbb)866.0 j5.0s)(866.0 j5.0s(1s8.01ss1s8.0)s(2b比例微分控制作用与微分反馈对系统性能的影响比例微分控制作用与微分反馈对系统性能的影响(a)为无校正的位置伺服系统)2.0(1)15(5)()(sssssHsGaa(c)为加入速度内反馈校正后的系统)866.0 j5.0s)(866.0 j5.0s(11ss1)s(2c)2.0()25.1(8.0)()(ssssHsGcc(a)为无校正的位置伺服系统)2.0(1)15(5)()(sssssHsGaa(c)为加入速度内反
7、馈校正后的系统)866.0 j5.0s)(866.0 j5.0s(1)s(c)2.0()25.1(8.0)()(ssssHsGcc)()()()(sHsGsHsGccbb相同的开环传递函数,相同的零极点分布,根轨迹形状相同。)()(sscb闭环零点使极点上的留数不同,不同瞬态响应具有相同的类型,但具体曲线形状不同。(b)为加入比例微分(PD)校正后的系统)15()8.01(5)()(ssssHsGbb)866.0 j5.0s)(866.0 j5.0s(1s8.0)s(b8.4 8.4 用根轨迹法设计与校正控制系统用根轨迹法设计与校正控制系统超前校正 当未校正系统的主导共轭极点离虚轴很近时,系统
8、的阻尼比较小,稳定程度差。滞后校正 系统的动态性能指标满足要求、而稳态性能达不到预定指标时。控制系统的稳态性能和动态性能都达不到指标要求时。滞后超前校正!试探方法 (通过重新配置零、极点,使闭环系 统根轨迹满足性能指标的要求。)超前校正超前校正)2(4)(sssG设单位反馈系统的开环传递函数为 试设计串联校正装置,满足下列性能指标:最大超调量Mp=16%,调整时间ts=2s(1)根据性能指标,确定闭环主导极点sd5.0%2nst/4sn432212jjsnndMp=16%(2)绘制未校正系统根轨迹图依靠调整增益是不能使根轨迹通过sd,拟采用超前校正装置。?如果不能,则应该采用何种校正装置。?仅
9、调整增益,能否使根轨迹通过希望主导极点sd。(3)计算超前校正装置应提供的超前角。)()(cdcdpszs30)90120(180)2(4(180)12(dssssk根据幅角条件校正根轨迹通过希望主导极点(4)超前校正装置的零点zc和极点pc的位置,得到超 前校正装置传递函数。)()()(cccpszssG9.2cz4.5cp4.5s9.2s)s(Gc求zc和pc可采用试探法和图解法图解法主导极点位置sd和超前角(5)附加增益Kc 补偿因接入超前校正装置而引起的开环增益下 降,使希望主导极点sd满足幅值条件。)ps()zs(K)s(G)s(G)s(Gcccc)4.5)(2()9.2(4.59.
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