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类型微型计算机原理与应用第7章存储器系统课件.ppt

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    关 键  词:
    微型计算机 原理 应用 存储器 系统 课件
    资源描述:

    1、7.1 概述概述7.2 读写存储器读写存储器RAM7.3 只读存储器只读存储器ROM7.4 存储器的组成存储器的组成7.5 高速缓冲存储器高速缓冲存储器7.6 磁盘存储器磁盘存储器第第 7 章章 存储器系统存储器系统返回主目录第第 7 章章 存存 储储 器器 系系 统统7.1 概述概述 通过前几章的讨论,我们对存储器的功能已经有了初步的了解。有了存储器,计算机才具有记忆功能,从而实现程序存储,使计算机能够自动高速地进行各种复杂的运算。存储器系统是微机系统中重要的分系统。存储器系统由内存储器和外存储器两部分组成。图 7.1 是微机系统中存储器系统组成的示意图。内存储器用来存放当前运行的程序和数据

    2、,一般由一定容量的速度较高的存储器组成,CPU可直接用指令对内存储器进行读/写操作。在微机中,内存储器是由半导体存储器芯片组成。内存储器也称为主存储器,或简称为存储器。外存储器是CPU通过I/O接口电路才能访问的存储器,其特点是存储容量大、速度较低,又称海量存储器或二级存储器。外存储器用来存放当前暂时不用的程序和数据。CPU不能直接用指令对外存储器进行读/写操作,如要执行外存储器存放的程序,必须先将该程序由外存储器调入内存储器。在微机中常用硬磁盘、软磁盘和磁带作为外存储器。目前微机中作为内存储器的半导体存储器,其主要特点是采用大规模集成电路技术构成单个芯片形式或者大容量的条形动态存储器(SIM

    3、M DRAM)形式,因而使用方便,价格较低。半 导 体 存 储 器 按 存 取 方 式 不 同,分 为 读 写 存 储 器RAM(Random Access Memory)和只读存储器ROM(Read Only Memory)。读写存储器指机器运行期间可读、可写的存储器。只读存储器指机器运行期间只能读出信息,而不能写入信息的存储器。RAM是随机存取存储器的意思,“随机存取”含意是指对存储器任何一个单元中信息的存取时间与其所在位置无关。它是相对于“顺序存取”而言的。对顺序存取(或串行存取)的存储器(如磁带),必须按顺序访问各单元,即信息的存取时间与其所在位置有关。对内存储器而言,随机存取存储器和

    4、读写存储器是一回事,读写存储器的英文缩写应为RWM(Read Write Momery)。由于拼读困难,都称作RAM。读写存储器按信息存储方式可分为静态RAM(Static RAM,简称SRAM)和动态RAM(Dynamic RAM,简称DRAM)。只读存储器有 3 种类型:掩 模 式 R O M(简 称 R O M)、可 编 程 只 读 存 储 器PROM(Programmale ROM)和可擦可编程只读存储器EPROM(Erasable Programmable ROM)。只读存储器电路比RAM简单,故集成度高,成本也低。其最大优点是所存信息能长期保存,当电源断电时,ROM中的信息不会消失

    5、,通电后立即可以使用,是非易失性的。因此,通常用ROM存放引导装入程序,系统每次加电立即进入ROM区的程序,在执行引导装入程序时把存在磁盘或其它外存储器上的程序和数据装入内存并启动其它程序运行。ROM还可以存放一些不需改变的其它程序和数据。在微型计算机的存储器中,既有RAM模块,又有ROM模块。半导体存储器的制造工艺多种多样。根据工艺不同,半导体存储器又分为双极型TTL逻辑、发射极耦合(ECL)逻辑、NMOS、CMOS、HMOS等几种存储电路形式。半导体存储器技术性能指标主要有以下几项:1)存储容量 存储容量是存储器的一个重要指标。存储容量是指存储器可以存储的二进制信息量,它一般是以能存储的字

    6、数乘以字长表示的。即存储容量=字数字长如一个存储器能存 4096 个字,字长 16 位,则存储容量可用 409616 表示。微型计算机中的存储器几乎都是以字节(8 位)进行编址的,也就是说总认为一个字节是“基本”的字长,所以常常只用可能存储的字节数来表示存储容量。存储器存储的字节数常常很大,如 16 384、32 768、65 536,为了表示方便,常常以 1024 为 1 K,以KB为存储容量的单位,这样上述 3 个存储器的存储容量可分别表示为 16 KB、32 KB和64 KB。显然,存储容量是反映存储器存储能力的指标。2)最大存取时间 存储器的存取时间定义为存储器从接收到寻找存储单元的地

    7、址码开始,到它取出或存入数据为止所需的时间。通常手册上给出这个参数的上限值,称为最大存取时间。显然,它是说明存储器工作速度的指标。最大存取时间愈短,计算机的工作速度就愈快。半导体存储器的最大存取时间为十几ns到几百ns。3)可靠性 可靠性是指存储器对电磁场及温度等变化的抗干扰性,半导体存储器由于采用大规模集成电路结构,可靠性高,平均无故障时间为几千小时以上。4)其它指标 体积小、重量轻、价格便宜、使用灵活是微型计算机的主要特点及优点,所以存储器的体积大小、功耗、工作温度范围、成本高低等也成为人们关心的指标。上述指标,有些是互相矛盾的。这就需要在设计和选用存储器时,根据实际需要,尽可能满足主要要

    8、求且兼顾其它。7.2 读写存储器读写存储器RAM 由于MOS集成电路工艺简单、功耗低、集成度高、价格便宜,所以广泛地用作半导体存储器。下面我们介绍MOS器件的读写存储器RAM,按其信息存储方式可分为静态RAM和动态RAM两大类。7.2.1 静态静态RAM 1.基本存储电路基本存储电路 基本存储电路用来存储 1 位二进制信息(0 或 1),它是组成存储器的基础。图 7.2 给出了静态MOS 6 管基本存储电路。T-1,T-3及T-2,T-4两个NMOS反相器交叉耦合组成双稳态触发器电路。其中T-3,T-4为负载管,T-1,T-2为反相管,T-5,T-6为选通管。T-1和T-2的状态决定了存储的

    9、1 位二进制信息。这对交叉耦合晶体管的工作状态是,当一个晶体管导通时,另一个就截止;反之亦然。假设T1导通,T2截止时的状态代表 1;相反的状态即T2导通,T1截止时的状态代表 0,即A点的电平高低分别代表 1 或 0。当行线X和列线Y都为高电平时,开关管T5,T6,T7,T8均导通,该单元被选中,于是便可以对它进行读或写操作。读操作:当读控制信号为高电平而写控制信号为低电平时,三态门 1 和 2 断开,三态门 3 导通,于是触发器的状态(A点的电平)便通过T6,T8 和三态门 3 读出至数据线上,且触发器的状态不因读出操作而改变。写操作:当写控制信号为高电平而读控制信号为低电平时,三态门1和

    10、2导通,三态门 3 断开,可进行写操作。若数据线为高电平,则三态门 2 输出的高电平通过T8,T6加至T1的栅极,具有反相的三态门 1 输出低电平通过T7,T5加至T2的栅极。不管T1,T2原来状态如何,迫使T1导通、T2截止,使触发器置成 1 状态。若数据线为低电平时,则与上述情况相反,迫使T1截止,T2导通,使触发器置成 0 状态。2.RAM原理原理 利用基本存储电路排成阵列,再加上地址译码电路和读写控制电路就可以构成读写存储器。下面以 4 行 4 列的 16 个基本存储电路构成 161 静态RAM为例来说明RAM原理,见图7.3。这是一个 161 的存储器(即一共 16 个字,而每个字仅

    11、为 1 位),它由以下几部分组成:(1)16 个基本存储电路(图 7.2 中虚线以上部分)组成的 44 存储矩阵;(2)2 套(行与列)地址译码电路;(3)4 套列开关管(即图 7.2 中的T7,T8,这里每个列方向 4 个基本存储电路共用一套);(4)一套读写控制电路。该存储器的控制信号有两个,一个为片选信号 (Chip Select),低电平有效,用来选择应访问的芯片。有效时,该芯片被选中,才能进行读写操作。另一个是写允许信号 (Write Enable)或读写控制信号R/(Read/Write),规定低电平时存储器进行写操作;高电平时存储器进行读操作。数据线为一条,双向,三态。WCSCS

    12、WE 当给定地址码以后,例如A3A2A1A0=0000,则A1A0经行地址译码电路使0行线为高电平,A3A2经列地址译码电路使0列线为高电平,于是0基本存储电路被选中。这时若 为高电平,不管 为什么状态,读控制、写控制均为低电平,三态门 1、2、3 均断开,该片不工作;若 为低电平且 为低电平时,写控制为高电平,可进行写操作;若 为低电平且 为高电平时,读控制为高电平,可进行读操作。同理,当地址码A3A2A1A0=0100 时,4基本存储电路被选中;当A3A2A1A0=1100时,12基本存储电路被选中。CSWECSWECSWE 总之给定一个地址码,就唯一地选中一个基本存储电路。由上可知,地址

    13、码的位数n与存储器的字数W的关系为:W=2n。若地址码位数n为4,则存储器字数W=16;若n=10,则W=1024=1 K;若n=16,则W=64 K,或者说当地址线为 16 条时,寻址范围为 065535(0000HFFFFH)。以上结果不难推广到 3232 存储矩阵,从而得到 10241 RAM。在一个静态RAM器件中,基本存储单元的数目和它们的排列方式千变万化,就构成了各种容量的RAM芯片。例如一个 2564 的RAM有 256 个存储单元,每个单元有 4 位;8 K8 的RAM有8 K个存储单元,每个单元有 8 位;而 16 K4 的RAM则有 16 K个存储单元,每个单元有 4 位。

    14、通常对一个静态RAM芯片,有一组地址输入端,地址线的条数决定了该芯片的存储单元个数。有一组数据线,有的芯片输入输出数据线是共用的(双向、三态),有的芯片输入数据线和输出数据线是分开的(单向、三态)。共用数据线或者输入(或输出)数据线的条数决定每个存储单元的位数。芯片的控制信号线通常有片选信号 (Chip Select)或片允许信号 (Chip Enable);输出允许信号(Output Enable);读/写控制信号 (Read/Write)或写允许信号 (Write Enable)。当存储器模块由多个RAM芯片组成时,(或 )用来选择应访问的存储器芯片;用来控制存储器芯片的输出三态缓冲器,从

    15、而使微处理器(作为存储器的控制部件)能直接管理存储器是否输出,避免争夺总线。(或 )用来控制被 (或 )信号选中的存储器芯片是进行读操作还是写操作。CSCEOEWR/WECSCEWR/WECSCE 通常符号 、等都表示低电平有效,而符号CE、CS、OE等都表示高电平有效。至于 (或 )信号,高电平时存储器进行读操作,低电平时存储器进行写操作。各种存储器芯片的控制信号设置情况常常不同,使用时必须参照产品使用手册进行具体分析。3.Intel 2114 NMOS静态静态RAM Intel 2114 为 1 K4 SRAM,单一的+5 V电源,所有的输入端和输出端都与TTL电路兼容。它的结构框图、引脚

    16、排列和逻辑符号见图 7.4。CECSOEWR/WE 2114 SRAM芯片的地址输入端 10 个(A0A9),在片内可以寻址 210=1 K个存储单元。4 位共用的数据输入/输出端(I/O1I/O4)采用三态控制,即每个存储单元可存储4位二进制信息,故 2114 芯片的容量为1 K4。芯片中共有 4096 个 6 管NMOS静态基本存储电路,它们排成 6464 矩阵。10 条地址线中的A3A8通过行地址译码电路产生 64 条行选择线,对存储矩阵的行线进行控制;另外4 条地址线A0,A1,A2和A9通过列地址译码电路对存储矩阵的列线进行控制(共 16 条列线,但每条列线同时接至 4 位,所以实际

    17、为 64 列)。该芯片只有一个片选端 和一个写允许控制端 。存储器芯片内部数据线通过I/O电路以及输入、输出三态门与外部数据总线相连,并受片选信号 和写允许信号 的控制。当 和 为低电平时,输入三态门导通,信息由外部数据总线写入存储器;当 为低电平,而 为高电平时,则输出三态门打开,从存储器读出的信息送至外部数据总线。而当 为高电平时,不管 为何种状态,该存储器芯片不读出也不写入,而是处于静止状态并与外部总线完全隔断。CSWEWECSCSWECSWEWECS 4.存储器访问周期的时序存储器访问周期的时序由于存储器芯片内部有支持电路,所以它们之间的连接是很方便的。但是存储器芯片对输入信号的时序要

    18、求却是很严格的,而且各种存储器芯片的时序要求也不相同。为确保正常工作,存储器板上的控制逻辑提供的地址输入和控制信号必须满足该器件制造厂家所规定的时序参数。存储器的读操作与写操作时序是不同的。在选择存储器器件时,须考虑的最重要的参数是存取时间。从地址输入稳定到数据输出的最大时延大于从芯片片选有效到数据输出的时延。所以前一个时延参数称为存取时间。常用的MOS RAM的存取时间一般在 15500 ns之间。对于读操作而言,输出数据有效后不能立即改变地址输入信号而开始另一次读操作。这是因为在下一次存储器操作之前,器件需要一定的时间来完成内部操作,这段时间叫作读恢复时间。存取时间和读恢复时间之和叫作存储

    19、器读周期时间。从一次读操作的开头到下一个存储器周期开始之间的时间不应小于存储器读周期时间。图 7.5(a)是存储器读周期的时序。在读周期开始处的A点,加上地址信号并保持稳定,直到读周期结束。为了减小存取时间,在B点前应提供 信号。在C点后数据输出变为有效,并一直保持到地址和芯片片选信号变化为止。写允许信号 在读周期时序图中未给出,它在整个读周期中应保持为高电平。CSWE 存储器写周期时间的定义与读周期时间相似,但不完全相同。图 7.5(b)所示为典型写周期的时序。写周期中除了要加地址输入信号和芯片片选信号 外,还要在 线上加一个低电平有效的写入脉冲,并提供要写入的数据。数据输入的时序要求不太严

    20、格,只要在整个写周期中保持稳定即可。但对于写脉冲却有两个严格的时序要求:地址建立时间和写脉冲宽度。地址建立时间就是地址状态达到稳定的时间,在经过这段时间之后才能加入写脉冲。图 7.5(b)中,地址建立时间是A点和B点之间的那段时间。写脉冲宽度定义为写脉冲必须保持有效(低电平)状态的那段时间。写周期时间是A点和D点之间的那段时间,是地址稳定时间、脉冲宽度及写恢复时间之和。有些存储器器件的读写恢复时间可以为零。这里要注意,上述存取时间和读写周期时间是存储器器件本身的最小时序要求。由于I/O控制逻辑、系统总线逻辑和存储器接口逻辑均会造成延时,所以从整个存储系统来考虑存取时间和读、写周期时间还要长。7

    21、.2.2 动态动态RAM 与上面介绍的静态RAM相似,动态RAM存储器器件内的基本存储电路也是按行和列组成矩阵的,基本区别在于存储电路不同。与静态RAM中信息的存储方式不同,动态RAM是利用MOS管栅源间的极间电容来存储信息的。当电容充有电荷时,称存储的信息为 1;电容上没有电荷时,称存储的信息为 0。由于电容上存储的电荷不能长时间保存,总会泄漏,因此必须定时地给电容补充电荷,这称为“刷新”或“再生”。1.动态动态RAM基本存储电路基本存储电路 常用的动态基本存储电路有 4 管型和单管型两种,其中单管型由于集成度高而愈来愈被广泛采用。我们这里以单管基本存储电路为例说明。图 7.6 所示为一个N

    22、MOS单管动态基本存储电路,它由一个管子T和一个电容C构成。这个基本存储电路所存储的内容是 0 还是 1 是由电容上是否充有电荷来决定。图中刷新放大器为同一列所有基本存储电路共用。在执行读操作时,译码器对行地址(低位地址)译码,使对应行选择线变为高电平。处于该行选择线控制下的该行上所有基本存储电路的开关管T都导通。这样,各列的刷新放大器便可读取相应电容上的电压电平,形成 1 或 0 信号。列地址(高位地址)允许选中的一行中的一个基本存储电路输出。在这个过程中,整个一行上所有的电容都会受到干扰。为保持存储的信息不变,由刷新放大器对该行中的各基本存储电路按读取的状态进行重写。在执行写操作时也与此类

    23、似,只是输入数据被存入选中的那个基本存储电路中,而该行的其它基本存储电路只单纯地进行刷新。2.Intel 2118 HMOS动态动态RAM Intel 2118 为 16 K1 动态RAM,采用HMOS工艺,单管动态基本存储电路,单一的+5 V电源,最大的工作/维持功耗为 150/110 mW,所有的输入、输出引脚都与TTL电路兼容2118 共有 16 个引脚,其结构框图、引脚排列及逻辑符号如图7.7所示。它的地址码的输入和控制方式不同于前面讨论的静态RAM。2118是 16 K1 的芯片,要有 14 位地址码对其控制,所以芯片本应有 14 个引脚作为地址线,但实际上只有7个引脚用作地址引线。

    24、为了实现 14 位地址控制,采用分时技术将 14 位地址码分两次从 7 条地址引线上送入芯片内部,而在片内设置两个 7 位锁存器,分别称为行锁存器和列锁存器。14 位地址码也分成行地址(低7位地址)和列地址(高7位地址),在两次输入后分别寄存在行锁存器内和列锁存器内。基本存储电路也按行和列排成 128128 的存储矩阵。地址选择操作是这样的:由行地址选通信号 把先出现的 7 位地址送到行地址锁存器,由随后出现的列地址选通信号 把后出现的 7 位地址送到列地址锁存器。行译码器和列译码器把存于行锁存器和列锁存器的地址码分别译码,形成 128 条行选择线和 128 条列选择线,对 128128 存储

    25、矩阵进行选址。读写操作时:当全部地址码输入后,128 行中必有一行被选中,这一行中的 128 个基本存储电路的信息都被选通到各自的读出放大器,在那里每个基本存储电路存储的逻辑电平都被鉴别、放大和刷新。列译码器的作用是选通 128 个读出放大器中的一个,从而唯一地确定欲读/写的基本存储电路。并将被选中的基本存储电路通过读出放大器、I/O控制门与输入数据锁存器或输出数据锁存器及缓冲器相连,以便完成对该基本存储电路的读/写操作。RASCAS 读出与写入操作是由写允许信号 控制的,当 为高电平时,进行读操作,数据从引脚DOUT输出;当 为低电平时,进行写操作,数据从 DIN 引脚输入并锁存于输入锁存器

    26、中,再写入选定的基本存储电路。三态数据输出端受 信号控制而与 信号无关。对 2118 DRAM的刷新方法是对 128 行逐行进行选择,同时行选通信号 加低电平,但列选通信号 为高电平。这样,虽然对基本存储电路进行了读操作,把一行中 128 个基本存储电路存储的信息被选通到各自的读出放大器进行放大锁存,但不进行列选择,没有真正的输出,而是把锁存的信息再写回原来的基本存储电路,实现刷新。WEWEWECASRASCASRAS 3.动态动态RAM的刷新的刷新 在图 7.6 中,行选择线为低电平时,T管截止,电容C上的电荷无放电回路而保存下来。然而,虽然MOS管入端阻抗很高,但总有一定的泄漏电流,这样引

    27、起电容放电。为此必须定时重复地对动态RAM的基本存储电路存储的信息进行读出和恢复,这个过程叫存储器刷新。器件工作温度增高会使放电速度变快。刷新时间间隔一般要求在 1100 ms内,工作温度为70时,典型的刷新时间间隔为 2 ms。一般C=0.2 pF,若允许C两端电压变化差为V=1V,泄漏电流I=10-10 A,则 T=msIUC2101102.01012 因此,2 ms以内必须对存储信息进行刷新。尽管一行中的各个基本存储电路在读出或写入时都进行了刷新,但对存储器中各行的访问具有随机性,无法保证一个存储器模块中的每一个存储单元都能在 2 ms内进行一次刷新。只有通过专门的存储器刷新周期对存储器

    28、进行定时刷新才能保证存储器刷新的系统性。在存储器刷新周期中,将一个行地址发送给存储器器件,然后执行一次读操作,便可完成对选中的行中各基本存储电路的刷新。刷新周期和正常的存储器读周期的不同之处主要有以下几点:(1)在刷新周期中输入至存储器器件的地址一般并不来自地址总线,而是由一个以计数方式工作的寄存器提供。每经过一次(即一行)存储器刷新,该计数器加 1,所以它可以顺序提供所有的行地址,每一行中各个基本存储电路的刷新是同时进行的,所以不需要列地址。而在正常的读周期中,地址来自地址总线,既有行地址,又有列地址。(2)在存储器刷新周期中,存储器模块中每块芯片的刷新是同时进行的,这样可以减少刷新周期数。

    29、而在正常的读周期中,只能选中一行存储器芯片。(3)在存储器刷新周期中,存储器模块中各芯片的数据输出呈高阻状态,即片内数据线与外部数据线完全隔离。从用于刷新的时间来说,刷新可采用“集中”或“分散”两种方式的任何一种。集中刷新方式是在信息保存允许的时间范围(2 ms)内,集中一段时间对所有基本存储电路一行一行地顺序进行刷新,刷新结束后再开始工作周期。散刷新方式是把各行的刷新分散在 2 ms的期间内完成。动态RAM的缺点是需要刷新逻辑,而且刷新周期存储器模块不能进行正常读/写操作。但由于动态RAM集成度高、功耗低和价格便宜,所以在大容量的存储器中普遍采用。以上我们介绍了动态RAM刷新的基本方法。至于

    30、具体实现刷新的有关支持逻辑和器件已超出本课程要求,这里就不介绍了。7.3 只读存储器只读存储器ROM ROM的特点是其内容一旦设定就不能改变,至少不借助于特别的设备是不能改变的。由于它的结构比较简单(不需写入电路),所以位密度高。ROM是非易失性存储器,而且十分可靠。因此大部分存储器系统既含有RAM模块,又含有ROM模块。一般在ROM中存放诸如引导装入程序和不变的数据表之类的信息。有时用ROM存入常驻监控程序和操作系统的其它适当部分(这样可省去引导装入程序),甚至可存放永久性的语言解释程序。ROM中内容的建立过程有时称为编程,但与前几章中产生指令序列的过程不是一回事。按内容的设定方式,ROM基

    31、本上分为 3 种类型。第 1 类ROM,其中的内容是在厂家制造时采用掩模操作或称掩模编程而建立的,用户无法改变这种ROM器件中的内容,这类ROM称为掩模ROM,简称ROM。第 2 类ROM中的内容是由用户根据需要借助于专门的设备来建立的,这类ROM称为可编程只读存储器(PROM)。如同掩模编程的ROM一样,PROM一旦编程后,其中的内容就再也不能改变了。第 3 类ROM不仅可由用户编程,而且还可以用特殊的设备擦除其中的内容并重复编程多次,它们被称为可擦可编程只读存储器(EPROM)。根据擦去信息的方式不同,EPROM分为紫外线擦除的EPROM(简称EPROM)和电擦除的EPROM(Electr

    32、ically EPROM)两种,后者简称EEPROM(即E2PROM)。EEPROM用电信号擦除信息的时间为若干毫秒,比紫外线擦除信息的时间短得多。EEPROM的主要优点是可按字节进行擦除和重新编程。本节介绍掩模ROM、PROM和EPROM的基本原理。7.3.1 掩模只读存储器掩模只读存储器ROM 掩模只读存储器的基本组成原理可用图 7.8 给出的 44 MOS ROM来说明。地址输入端A0和A1经译码后输出 4 条行选择线,我们称为字线。每条字线选中一个字,而每个字的 4 位由列线输出,列线称为位线。这种结构称为字位结构,即行线决定字,列线决定位。在字线(W0W3)和位线(B0B3)之间根据

    33、字的内容需要跨接MOS管,如该位的信息为0,则跨接MOS管;如该位的信息为 1,则不跨接MOS管。这样,就构成了一个简单的ROM。在进行读出操作时,根据地址码A1A0状态译码后,对应字线为高电平,与该字线相连的MOS管导通,相应位线为低电平,其它位线输出高电平。这样位线的状态组合代表了该字的内容,即A1A0=00,B3B2B1B0=0110;A1A0=01,B3B2B1B0=0010;A1A0=10,B3B2B1B0=1001;A1A0=11,B3B2B1B0=0101。若在位线上加上读出控制逻辑,4 条位线就可连至外部数据线上。由于这种ROM中字线和位线之间是否跨接MOS管是根据存储内容在制

    34、造时的“掩模”工艺过程来决定的,所以称为掩模ROM。这种ROM制造完毕后用户不能更改所存信息。至于存储矩阵的内部结构,除上面介绍的字位结构外,还有类似于RAM中双译码或复合译码结构,这里不再说明。7.3.2 可编程只读存储器可编程只读存储器PROM 可编程只读存储器PROM的基本存储电路为一个晶体管。这里仍以字位结构进行说明。晶体管的集电极接VCC,它的基极连接字线,发射极通过一个熔丝与位线相连,见图 7.9。基本存储电路制造时,每条字线与所有位线之间都跨接一个带熔丝的双极性晶体管,就构成了可编程只读存储器PROM。用户编程时,输入地址码,通过地址译码,选择相应的字线呈高电平,同时,若要写入信

    35、息0,则将相应位线送上低电平,于是管子导通,只要适当控制导通电流的强弱,可将熔丝烧断;若要写入1,则将相应位线送上高电平,于是管子截止,熔丝不被烧断。这样可按地址完成字的内容写入。读出操作时,首先给定地址,通过地址译码器使相应字线呈高电平,从而选定该单元的各位。若某一位晶体管熔丝没有断,则位线被拉到VCC高电平,读出信息为 1;如果熔丝被烧断,则位线仍为低电平,读出信息为 0。很显然,熔丝在编程时一旦被烧断后,不能再复原。因此,这种PROM用户只能进行一次编程。7.3.3 可擦可编程只读存储器可擦可编程只读存储器EPROM 紫外线擦除EPROM的基本存储电路由一个浮置栅雪崩注入MOS(FAMO

    36、S)管和一个普通MOS管串联组成,如图 7.10 所示。图中FAMOS管作为存储器件用,而另一个MOS管则作为地址选择用,它的栅极受字线控制,漏极接位线并经负载管到电源VCC。P沟道FAMOS管的结构如图 7.11 所示。FAMOS管的多晶硅栅浮置在绝缘的SiO2层中,与四周无电的接触,称为浮置栅。FAMOS管存储器件是以浮置栅是否积存电荷来区分信息 0 与 信息 1 的。对P沟道FAMOS管,在制造之后,浮置栅没有电荷,则管子无导电沟道,D和S之间是不导通的。7.11 P沟道FAMOS管结构 所以字线被选中为高电平时,位线也输出高电平。如采用这样的基本存储电路组成存储矩阵,可以认为它存储的信

    37、息全都为 1。编程时,根据需要可将选中的某些基本电路的D和S之间加一个25V高压(正常为 5V),另外加上编程脉冲(其宽度为 50 ms),它们的D和S之间就会瞬时击穿并有电子通过绝缘层注入浮置栅。当高压去掉后,注入浮置栅的电子因有绝缘层包围无处泄漏,浮置栅就为负,形成导电沟道,FAMOS管导通。这时我们就认为这些基本存储电路被写入了0。在EPROM存储器芯片上方有一个石英玻璃窗口,当用紫外线照射这个窗口时,所有基本存储电路的浮置栅上的电荷会形成光电流泄漏掉,使电路恢复初始状态,从而把写入的信息擦除。这样就可以对其再次编程。这样的EPROM芯片常用的有2708(1 K8)、2716(2 K8)

    38、、2732(4 K8)、2764(8 K8)、27128(16 K8)、27256(32 K8)和 27512(64 K8),还有各种容量的CMOS EPROM,如27C64(8 K8)、27C256(32 K8)、27C512(64 K8)、27C010(128 K8)、27C020(256K8)和 27C040(512 K8)等。编程高压有 12.5 V,21 V和 25 V,各种芯片的编程规范和工作速度也差别较大,应用时应参照有关厂家提供的技术资料,借助专门的编程器可方便地完成对EPROM的编程。紫外线擦除EPROM的时间较长,并且不能只擦除个别单元的信息。近几年来,电可改写的可编程只读

    39、存储器E2PROM已被广泛应用。其主要特点是能在应用系统中进行在线读写,并可按字节进行擦除和改写。E2PROM除了并行传送数据芯片外,还有各种容量串行传送数据芯片。串行E2PROM具有体积小、成本低、电路连接简单、占用系统地址线和数据线少等优点,但数据传送速度较慢。7.4 存储器的组成存储器的组成 7.4.1 存储器芯片的扩充存储器芯片的扩充 在组成微机系统的存储器模块时,需要位数少、容量小的存储器芯片来组成存储器模块。下面我们讨论存储器芯片的位数和容量的扩充问题。1.位数的扩充位数的扩充 在微机中存储器是以字节(8 位)为单位进行编址的。用1 位或 4 位的存储器芯片组成 8 位的存储器模块

    40、,可以用位并联的方法。例如,我们用 2 片Intel 2114(1 K4 位)芯片可以组成1 K8 位存储器模块,如图 7.12 所示。图中芯片U1 的 4 位数据线作为模块的数据线D0D3,芯片U2的4位数据线作为模块的数据线D4D7。而两个芯片的地址线按同名引脚并接后作为模块的地址线A0A9,两个芯片的控制线 和 分别并接后作为模块的控制线 和 。这样两片1 K4 位芯片经过位扩充成为 1 K8 位存储器芯片组,对外等效于 1 个单片的1 K8 位存储器芯片。2.容量的扩充容量的扩充 存储器的容量与地址线的条数有关。由于一片存储器芯片的容量是有限的,因此要组成一个大容量的存储器模块,通常需

    41、要几片或几十片存储器芯片。WECSWECS 地址译码器是一种可以将地址码翻译成相应控制信号的电路。它可以是 2-4 译码器或 3-8译码器,也可以由组合逻辑电路构成。译码电路可以将全部高位地址线作为输入,也可以将部分高位地址线作为输入,对应的译码器分别称为全译码器和部分译码器。全译码器的输出有效状态对应唯一的高位地址,部分译码器由于有的高位地址线没有参加译码,其 0 和 1 的取值为无关项,因此高位地址不是唯一的,这就产生地址重迭问题。在这种情况下,存储器模块的任一存储单元都可以用几个不同的地址码进行访问。没有参加地址译码的地址线取值为 0时对应的一组地址为存储器模块的基本地址。其它的重迭地址

    42、称为映像地址。有时利用部分译码简化译码器逻辑。译码器电路逻辑决定了各芯片(或经过位扩充的芯片组)以及存储器模块的地址范围。下面我们以Intel 2114 SRAM构成 4 K8 存储器模块为例,说明存储器芯片的扩充问题。由2114 SRAM芯片构成的 4 K8 存储器模块如图 7.13 所示。若其中某一芯片 有效,则由写允许信号 规定该片执行读操作还是写操作。若 无效,则 信号对该片不起作用,其数据输入/输出端呈高阻状态。这样就可以把同一行 4 个 2114 芯片的相应数据输入/输出端直接连在一起提供数据字节的 4 位。8 片2114 芯片排成 2 行 4 列。每一行由 2 片 2114 芯片

    43、进行位扩充构成 1 K8 芯片组。4 列将用地址串联的方法构成 4 K8 存储器模块。采用这种办法时,存储器模块中哪一列的芯片被选中,取决于哪一列的芯片片选信号即列选通 0列选通 3 中哪一个有效而被选中的一列中的芯片内哪个存储单元被选中,取决于A0A9 提供的地址码。WEWE 列选通信号由高位地址(本例中为A10和A11)控制,如果某一列选通信号有效,则该列被选中,该列上的两片 2114 中对应A0A9 地址码的存储单元都被选中。根据 状态决定进行写操作还是读操作。概括地说,如果地址有16位,则A15A12用来选择存储器模块,A11和A10用来选择该存储器模块中的一列,A9A0用来选择该列芯

    44、片中对应的存储单元。若该存储器模块占用的存储器地址为 4000H4FFFH,则地址译码电路如图 7.14 所示。图中 为存储器请求信号,低电平有效,表明CPU和存储器之间进行读写操作。各列芯片组的地址范围在列选通信号输出线下方已有说明。WEMREQ 7.4.2 8 位微机系统中存储器组成位微机系统中存储器组成 1.8 位微机系统中存储器组成特点位微机系统中存储器组成特点 在微机系统中,存储器是按 8 位二进制数(字节)来构成的。8 位CPU的数据总线为 8 位,在每一个存储器读写周期中只能完成一个字节的读写操作。16 位数(字)的读写操作是用两个 读写周期完成的。8 位CPU的地址总线为 16

    45、 位,它的 64 K存储空间同属一个单一的存储体,即存储体为 64 K8 位。图 7.15 给出了 8 位微机系统中存储器组成原理图(图中省略了控制信号)。在 8 位CPU组成的微机系统中,CPU可以访问的存储器地址空间为 64 K,地址范围为 0000HFFFFH。其内存储器由ROM和RAM两大模块组成,而RAM又分为系统区(监控程序或操作系统占用的内存区域)和用户区。组成存储器时,要根据CPU的特点合理安排ROM模块的地址范围和RAM模块的地址范围,这就是存储器的地址分配。在组成存储器时,根据微机系统的需要来决定ROM模块和RAM模块的存储容量,选定具体ROM和RAM的芯片,按照ROM模块

    46、和RAM模块各自的地址范围决定存储器具体组成。在具体设计时,还要考虑CPU时序和存储器芯片存取速度的配合。CPU在取指和存储器读或写操作时,是有固定时序的,由此可以确定对存储器的存取时间的要求,选择满足要求的芯片。或者在存储器芯片已经确定情况下,考虑是否需要TW周期、TW周期的个数以及具体实现问题。也就是说CPU在存储器读写周期中读写时间要大于所选择的存储器芯片规定的存取时间,否则,需要设计一个插入等待TW周期电路,使之CPU时序能与存储器存取速度匹配。另外,CPU不同,存储器控制信号名称也不完全相同,不同的存储器芯片的控制信号设置情况也不相同,在存储器设计时根据CPU引脚和存储器芯片引脚的功

    47、能描述正确连接。2.8位微机系统中存储器组成举例位微机系统中存储器组成举例 这里我们以Z80 CPU为例,说明 8 位微机系统中存储器的组成。Z80 CPU地址总线为A0A15,数据总线为D0D7,对SRAM存储器的控制信号有 、和 。为存储器请示信号,低电平有效,有效表明CPU和存储器进行数据传送。为读信号,低电平有效,有效时表明CPU正在执行从存储器或I/O端口输入操作。为写信号,低电平有效,有效时表明CPU正在执行向存储器或I/O端口的输出操作。是存储器或I/O设备向CPU发出的等待信号,低电平有效,CPU检查其有效时,将插入一个TW周期。由于Z80 CPU加电复位后启动地址为0000H

    48、,因此ROM模块的地址分配在低端。MREQRDWAITMREQMREQRDRDWRWRWAIT 我们选用的ROM模块芯片为EPROM 2764,容量为8 K8。该片引脚说明如下:A-0A-12为地址线,O-0O-7为数据线,CE为片选信号,为数据输出允许信号。为编程控制信号,为编程电压,正常读出时 和VPP均接+5 V。工作电源VCC为+5 V。我们选用的RAM模块芯片为SRAM 6264,容量为 8 K8。该片引脚说明如下:A0A12为地址线,D0D7为数据线,为第 1 片选信号,低电平有效,CS2 为第 2 片选信号,高电平有效,只有 和CS2 同时有效时,芯片才被选中。为写允许信号,低电

    49、平时为写入,高电平时为读出。为数据输出允许信号,有效时选中单元的数据才从D0D7输出。工作电源VCC为+5 V。OEPGMPPVPGM1CS1CSWEOE 系统要求存储器由 16 KB的ROM和 16 KB的RAM组成,ROM模块的地址为0000H3FFFH,RAM模块的地址为 8000HBFFFH,时钟频率为 2 MHz。存储器芯片 2764 和 6264 的速度均能满足Z80 CPU的读/写周期时序要求,因此不需要插入TW周期。16 KB ROM需要两片 2764 芯片,16 KB RAM 需要两片6264 芯片。图 7.16 给出了Z80 CPU系统中 16 KB ROM和 16 KB

    50、RAM存储器逻辑图。图中U1 和U2 两片 2764 构成 16 KB ROM,U3 和 U4 两片 6264 构成 16 KB RAM。Z80 CPU的地址总线A0A12作为片内地址分别连接到U1、U2、U3 和U4 芯片的相应地址线引脚上。数据总线D0D7分别连接到U1、U2、U3 和U4 芯片的相应数据线引脚上。数据总线D0D7分别连接到U1、U2、U3 和U4芯片的相应数据线引脚上。读信号 连接到U1、U2、U3、U4 的 引脚上,写信号 连接到两片6264 芯片的 引脚上。6264 的第 2 片选引脚CS2 接+5 V。4 个芯片的片选信号由 74LS138(U5)3-8 译码器产生

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