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类型过程中利用55Fe对探测器增益稳定性刻度-Indico&IHEP课件.ppt

  • 上传人(卖家):晟晟文业
  • 文档编号:4533701
  • 上传时间:2022-12-17
  • 格式:PPT
  • 页数:17
  • 大小:7.56MB
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    关 键  词:
    过程 利用 55 Fe 探测器 增益 稳定性 刻度 Indico IHEP 课件
    资源描述:

    1、井型THGEM的研究刘宏邦,刘倩,洪道金,俞伯祥,陈石谢一冈,郑阳恒中国科学院大学广西大学 中科院高能所12014 第四届微结构气体探测器研讨会,威海Outline DHCAL WELL-THGEM WELL-THGEM研制 WELL-THGEM 性能研究 WELL-THGEM束流实验 大面积WELL-THGEM的几点考虑 工艺 大面积均匀性测试 高计数率 ASIC数字读出23ILC/CEPC对强子量能器提出更高的要求,需要提高测量JET的能量分辨:60%/E 30%/EDHCAL:数字取样型量能器+PFA重建算法能有效提高jet的能量测量精度要求探测器厚度薄,高探测效率,分区方便,紧凑,耐放

    2、电RPC,Double-GEM,Micromegas,THGEMTHGEM具有易于制造维护、清洁要求较低、级联使用方便、相对价廉等优点,在亚mm空间分辨的粒子径迹测量上有较大的优势from CALICE studiesSimulation of W,Z reconstructed masses in hadronic mode.60%/E30%/EDHCAL4 From A.Breskin,2013arXiv:1310.6183WELL-THGEM5 Globe etching(micro etching)No holes in this areaDrilling整版微蚀整版微蚀 腐蚀底层铜箔

    3、腐蚀底层铜箔 粘接粘接WELL-THGEM研制6WELL-THGEM性能研究-I增益增益 2.3103 580V(Ar/iC4H10(97/3)能量分辨能量分辨 25%7WELL-THGEM性能研究-IIX射线管射线管+皮安表直流法测量皮安表直流法测量WELL-THGEM增益均匀性增益均匀性准直孔直径准直孔直径 3mm增益均匀性误差增益均匀性误差 4.2%8WELL-THGEM束流实验9动量-500MeVTOF基线基线ProtonPionP10WELL-THGEM性能研究实验过程中利用实验过程中利用55Fe对探测器增益稳定性刻度,误差小于对探测器增益稳定性刻度,误差小于3%600Mev700M

    4、ev800Mev600Mev700Mev800Mev11小孔小孔 or 大孔大孔?小小rim or 大大rim?3030cm 205,000 holes 4 days drilling大面积大面积WELL-THGEMWELL-THGEM的几点考虑的几点考虑d=400 m 300 m500 m600 mt=0.5mm t=1.0mm 大面积大面积WELL-THGEM 的工艺的工艺整版微蚀整版微蚀侧蚀侧蚀电化学腐蚀电化学腐蚀THGEM 质量检测系统 四路高压控制+nA电流读出THGEM的粗略判断标准(厚度200um)V 600V Ar/iC4H10 97/3,5min内无放电 V 1600V N2,5min内无放电12WELL-THGEM?增益均匀性薄型THGEM增益均匀性较好,均匀性误差小于5%铜靶X光管二维移动平台2020cm2 THEGM腔室13高计数率WELL-THGEM电离模式测量电离模式测量X-ray计数率计数率 1MHz/cm214高计数率WELL-THGEM15WELL-THGEM?ASIC数字读出CARIOCA,GASTONE 数字读出前放板CRIOCA FEE微孔THGEMFPGA16谢谢!17

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