《扫描隧道显微镜》课件.ppt
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1、扫描隧道显微镜PPT课件 光学显微镜是在光学放大镜基础光学显微镜是在光学放大镜基础上发明的,放大镜的物体形貌分辨率上发明的,放大镜的物体形貌分辨率可达到可达到0.1mm。1665年发明了光学显年发明了光学显微镜,它可将被测物体放大数百倍。微镜,它可将被测物体放大数百倍。光学显微镜经过多次改进,现在的放光学显微镜经过多次改进,现在的放大倍数达到大倍数达到1250倍。如果再采用油浸倍。如果再采用油浸镜头或用紫外光,放大倍数还能在提镜头或用紫外光,放大倍数还能在提高一些。光学显微镜使用方便,应用高一些。光学显微镜使用方便,应用广泛,但受光波波长的限制,放大倍广泛,但受光波波长的限制,放大倍数无法再提
2、高。数无法再提高。2021/3/8 TEM出现在出现在20世纪世纪30年代,到年代,到50年代进入实用阶段。透射电子显微镜和光学显微镜的原理年代进入实用阶段。透射电子显微镜和光学显微镜的原理极为相似,只是用波长极短的电子束代替了可见光线,用静电或磁透镜代替光学玻璃透镜,最后极为相似,只是用波长极短的电子束代替了可见光线,用静电或磁透镜代替光学玻璃透镜,最后在荧光屏上成像。在荧光屏上成像。TEM的放大倍数极高,点分辨率可达的放大倍数极高,点分辨率可达0.3nm,线分辨率可达,线分辨率可达0.144nm,已达原,已达原子级分辨率。用子级分辨率。用TEM观察物体内部显微结构时,可看到原子排列的晶格图
3、像,并已观察到某些观察物体内部显微结构时,可看到原子排列的晶格图像,并已观察到某些重金属原子的投影图像。用重金属原子的投影图像。用TEM检测时,试件需放在真空室内。检测时,试件需放在真空室内。TEM是通过电子是通过电子束透过试件而放大成像束透过试件而放大成像的,电子束穿透材料的的,电子束穿透材料的能力不强,故试件必须能力不强,故试件必须做得极薄,加工这种极做得极薄,加工这种极薄的试件有相当难度,薄的试件有相当难度,故故TEM的适用范围有限。的适用范围有限。2021/3/8 用探针对试件表面形貌进行接触测量是一种古老的方法。随着测量技术的提高,现在的测用探针对试件表面形貌进行接触测量是一种古老的
4、方法。随着测量技术的提高,现在的测量表面粗糙度的轮廓仪,分辨率达量表面粗糙度的轮廓仪,分辨率达0.05um以上。为了避免探针尖磨损,用金刚石制造。探针尖以上。为了避免探针尖磨损,用金刚石制造。探针尖曲率半径在曲率半径在0.05um左右,这就限制了测量分辨率的提高,且测量时针尖有一定力压向试件,容左右,这就限制了测量分辨率的提高,且测量时针尖有一定力压向试件,容易划伤试件。易划伤试件。一些新式的轮廓仪一些新式的轮廓仪配备了配备了X、Y双向精密微双向精密微动工作台,探针在试件表动工作台,探针在试件表面进行面进行X、Y双向往复扫双向往复扫描,再用计算机处理信息,描,再用计算机处理信息,可以得到表面微
5、观形貌的可以得到表面微观形貌的三维立体图像。这种轮廓三维立体图像。这种轮廓仪的检测原理和近代的仪的检测原理和近代的STM、SPM和和AFM极为极为相似,只是后者使用了更相似,只是后者使用了更尖锐的探针和更灵敏的探尖锐的探针和更灵敏的探针位移检测方法。针位移检测方法。2021/3/8 SEM从从20世纪世纪60年代开始应用以来,使用日渐广泛。它的工作原理是利用高能量、细聚焦年代开始应用以来,使用日渐广泛。它的工作原理是利用高能量、细聚焦的电子束在试件表面扫描,激发二次放电,利用二次放电信息对试件表面的组织或形貌进行检的电子束在试件表面扫描,激发二次放电,利用二次放电信息对试件表面的组织或形貌进行
6、检测、分析和成像的一种电子光学仪器。测、分析和成像的一种电子光学仪器。SEM的放大倍率在的放大倍率在10-150 000范围内连续可调,试件在范围内连续可调,试件在真空室中可按观察需要进行升降、平移、旋转或倾斜。真空室中可按观察需要进行升降、平移、旋转或倾斜。SEM在普通热钨在普通热钨丝电子枪条件下,分丝电子枪条件下,分辨率为辨率为5-6nm,如用,如用场发射电子枪,分辨场发射电子枪,分辨率可达率可达2-3nm。SEM的景深很大,对表面的景深很大,对表面起伏很大的形貌也能起伏很大的形貌也能得到很好的图像。只得到很好的图像。只是放大倍数较低,达是放大倍数较低,达不到原子级的分辨率。不到原子级的分
7、辨率。2021/3/8 场发射原理在场发射原理在1956年由年由R.Young提出,但直到提出,但直到1971年年R.Young和和J.Ward才提出了应用场发射原理的形貌描绘仪。它在基本原理和操作上,才提出了应用场发射原理的形貌描绘仪。它在基本原理和操作上,是最接近扫瞄隧道显微镜的仪器。探针尖装在顶块上,可由是最接近扫瞄隧道显微镜的仪器。探针尖装在顶块上,可由X向和向和Y向压向压电陶瓷驱动,做电陶瓷驱动,做X向和向和Y向扫描运动。试件装在下面的向扫描运动。试件装在下面的Z向压电陶瓷元件上,向压电陶瓷元件上,由反馈电路控制,保持针尖和试件间的距离。由反馈电路控制,保持针尖和试件间的距离。R.Y
8、oung使用的针尖曲率使用的针尖曲率半径为几十纳米,针尖和试件间的距离为半径为几十纳米,针尖和试件间的距离为100nm。在试件上加正高压后,。在试件上加正高压后,针尖与试件间产生针尖与试件间产生场发射电流场发射电流。探针在试件表面扫描,可根据场发射电。探针在试件表面扫描,可根据场发射电流的大小,检测出试件表面的形貌。流的大小,检测出试件表面的形貌。R.Young用形貌描绘仪继续进行研用形貌描绘仪继续进行研究,发现当探针尖与试件间距离很近时,较小的外加偏压究,发现当探针尖与试件间距离很近时,较小的外加偏压Vb即可产生隧道即可产生隧道电流,并且隧道电流电流,并且隧道电流Is的大小对距离的大小对距离
9、z极为敏感。他们观察到的极为敏感。他们观察到的Is和和Vb间间为线性关系时,估计针尖为线性关系时,估计针尖-试件间的距离为试件间的距离为1.2nm。可惜他们的研究到此。可惜他们的研究到此为止,虽然已经有了以上发现,但是未在检测试件形貌时利用隧道电流效为止,虽然已经有了以上发现,但是未在检测试件形貌时利用隧道电流效应,于一项重大发明失之交臂,甚为可惜。应,于一项重大发明失之交臂,甚为可惜。2021/3/8 1982年,国际商业机年,国际商业机器公司器公司(IBM)苏黎世研究所苏黎世研究所的的Gerd Binnig和和Heinrich Rohrer及其同事们成功地及其同事们成功地研制出世界上第一台
10、新型研制出世界上第一台新型的表面分析仪器,即扫描的表面分析仪器,即扫描隧道显微镜隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope),它使人类第一次能够直接它使人类第一次能够直接观察到物质表面上的单个观察到物质表面上的单个原子及其排列状态,并能原子及其排列状态,并能够研究其相关的物理和化够研究其相关的物理和化学特性。因此,它对表面学特性。因此,它对表面物理和化学、材料科学、物理和化学、材料科学、生命科学以及微电子技术生命科学以及微电子技术等研究领域有着十分重大等研究领域有着十分重大的意义和广阔的应用前景。的意义和广阔的应用前景。STM的发明被国际科学界的发明被国际科学界公认
11、为公认为20世纪世纪80年代世界年代世界十大科技成就之一;由于十大科技成就之一;由于这一杰出成就,这一杰出成就,Binnig和和Rohrer获得了获得了1986年诺贝年诺贝尔物理奖。尔物理奖。2021/3/8 在他们的诺贝尔奖讲演中,很遗憾地谈到,假如在他们的诺贝尔奖讲演中,很遗憾地谈到,假如R.Young(场场发射形貌描绘仪的发明者发射形貌描绘仪的发明者)能够及时意识到真空中隧道效应的重要)能够及时意识到真空中隧道效应的重要性,假如他能及时想到缩小针尖与试件表面间的距离,那么性,假如他能及时想到缩小针尖与试件表面间的距离,那么STM公公布发表时的发明人名字就是布发表时的发明人名字就是R.Yo
12、ung了。遗憾的是,他们没有意识了。遗憾的是,他们没有意识到这一点,更没有去缩短那一点微不足道的该死的微小距离,于是到这一点,更没有去缩短那一点微不足道的该死的微小距离,于是他们发明的所谓形貌描绘仪只能永远地在历史上被记载为一种最接他们发明的所谓形貌描绘仪只能永远地在历史上被记载为一种最接近近STM的显微仪器了。令人惋惜的还有,的显微仪器了。令人惋惜的还有,R.Young还曾认真研究改还曾认真研究改进他们的仪器,并试验过一些办法,但收效甚微。他曾一度想到了进他们的仪器,并试验过一些办法,但收效甚微。他曾一度想到了隧道效应,并还讨论了谱图学方向的应用,但唯独没有想到应用到隧道效应,并还讨论了谱图
13、学方向的应用,但唯独没有想到应用到他的形貌描绘以上。仅此一步没有深入下去,就使他们和一项重大他的形貌描绘以上。仅此一步没有深入下去,就使他们和一项重大科技发明失之交臂,而空自叹息。科技发明失之交臂,而空自叹息。2021/3/82021/3/82021/3/82021/3/8 由于由于STM具有极高的空间分辨能力具有极高的空间分辨能力(平行方向的分辨率为平行方向的分辨率为0.04nm,垂直方向的分辨率达到,垂直方向的分辨率达到0.01nm)、它的出现标志着、它的出现标志着纳米技术研究的一个最重大的转折,甚至可以说标志着纳米技纳米技术研究的一个最重大的转折,甚至可以说标志着纳米技术研究的正式起步,
14、因为在此之前人类无法直接观察表面上的术研究的正式起步,因为在此之前人类无法直接观察表面上的原子和分子结构,使纳米技术的研究无法深入地进行。原子和分子结构,使纳米技术的研究无法深入地进行。利用利用STM,物理学家和化学家可以研究原子之间的微小,物理学家和化学家可以研究原子之间的微小结合能,制造人造分子;生物学家可以研究生物细胞和染色体结合能,制造人造分子;生物学家可以研究生物细胞和染色体内的单个蛋白质和内的单个蛋白质和DNA分子的结构,进行分子切割和组装手分子的结构,进行分子切割和组装手术;材料学家可以分析材料的晶格和原子结构考察晶体中原术;材料学家可以分析材料的晶格和原子结构考察晶体中原子尺度
15、上的缺陷;微电子学家则可以加工小至原子尺度的新型子尺度上的缺陷;微电子学家则可以加工小至原子尺度的新型量子器件。量子器件。2021/3/8 图是图是STM的基的基本原理图,其主要本原理图,其主要构成有:顶部直径构成有:顶部直径约为约为50100nm的的极细金属针尖极细金属针尖(通常通常是金属钨制的针尖是金属钨制的针尖),用于三维扫描的三用于三维扫描的三个相互垂直的压电个相互垂直的压电陶瓷陶瓷(Px,Py,Pz),以及用于扫描和电以及用于扫描和电流 反 馈 的 控 制 器流 反 馈 的 控 制 器(Controller)等。等。2021/3/8 STM的基本原理的基本原理是量子的隧道效应。它利用
16、金属针尖在是量子的隧道效应。它利用金属针尖在样品的表面上进行扫描,并根据量子隧道效应来获得样品表面样品的表面上进行扫描,并根据量子隧道效应来获得样品表面的图像。扫描隧道显微镜的针尖与样品表面的距离非常接近的图像。扫描隧道显微镜的针尖与样品表面的距离非常接近(大大约为约为0.5-1.0nm),所以它们之间的电子云互相重叠。当在它们,所以它们之间的电子云互相重叠。当在它们之间施加一偏置电压之间施加一偏置电压Vb(Vb通常为通常为2mV-2V)时,电子就可以因量时,电子就可以因量子隧道效应由针尖子隧道效应由针尖(或样品或样品)转移到样品转移到样品(或针尖或针尖),在针尖与样品,在针尖与样品表而之间形
17、成隧道电流。此隧道电流表而之间形成隧道电流。此隧道电流I可以表示为:可以表示为:IVbexp(-k1/2s)式中:式中:k为常数,在真空条件下约等于为常数,在真空条件下约等于1;为针尖与样品的平为针尖与样品的平均功函数;均功函数;s为针尖与样品表面之间的距离,一般为为针尖与样品表面之间的距离,一般为0.3-1.0nm。由于隧通电流由于隧通电流I与针尖和样品表面之间的距离与针尖和样品表面之间的距离s成指数关系,所以,电流成指数关系,所以,电流I对针尖和样品表而对针尖和样品表而之间的距离之间的距离s变化非常敏感。变化非常敏感。如果此距离减小仅仅如果此距离减小仅仅0.1nm,隧道电流,隧道电流I将会
18、增加将会增加10倍;反之,如果距离增加倍;反之,如果距离增加0.1nm,隧道电流,隧道电流I就会减少就会减少10倍。倍。2021/3/8STM有两种工作模式,恒电流模式和恒高度模式,如图所示。有两种工作模式,恒电流模式和恒高度模式,如图所示。恒电流模式是在恒电流模式是在STM图像扫描时始终保持隧道电流恒定,它可以利用反馈回图像扫描时始终保持隧道电流恒定,它可以利用反馈回路控制针尖和样品之间距离的不断变化来实现。当压电陶瓷路控制针尖和样品之间距离的不断变化来实现。当压电陶瓷Px和和Py控制针尖在控制针尖在样品表面上扫描时,从反馈回路中取出针尖在样品表面扫描的过程中它们之间距样品表面上扫描时,从反
19、馈回路中取出针尖在样品表面扫描的过程中它们之间距离变化的信息离变化的信息(该信息反映样品表由的起伏该信息反映样品表由的起伏),就可以得到样品表面的原子图像。,就可以得到样品表面的原子图像。由于恒电流模式时,针尖是随着样品表面形貌的起伏而上下移动针尖不会因为由于恒电流模式时,针尖是随着样品表面形貌的起伏而上下移动针尖不会因为表面形貌起伏太大而碰撞到样品的表面。所以恒电流模式可以用于观察表面形貌表面形貌起伏太大而碰撞到样品的表面。所以恒电流模式可以用于观察表面形貌起伏较大的样品。恒电流模式是一种最常用的扫描模式。起伏较大的样品。恒电流模式是一种最常用的扫描模式。2021/3/8STM有两种工作模式
20、,恒电流模式和恒高度模式,如图所示。有两种工作模式,恒电流模式和恒高度模式,如图所示。恒高度模式则是始终控制针尖的高度不变,并取出扫描过程中针尖和样品恒高度模式则是始终控制针尖的高度不变,并取出扫描过程中针尖和样品之间电流变化的信息之间电流变化的信息(该信息也反映样品表面的起伏该信息也反映样品表面的起伏),来绘制样品表面的原子图,来绘制样品表面的原子图像。由于在恒高度模式的扫描过程中,针尖的高度恒定不变,当表面形貌起伏较像。由于在恒高度模式的扫描过程中,针尖的高度恒定不变,当表面形貌起伏较大时,针尖就很容易碰撞到样品。所以恒高度模式只能用于观察表面形貌起伏不大时,针尖就很容易碰撞到样品。所以恒
21、高度模式只能用于观察表面形貌起伏不大的样品。大的样品。2021/3/8 2.5.1大气和室温条件大气和室温条件 在大气的条件下,在大气的条件下,STM可可以用来观察无氧化层的干净样以用来观察无氧化层的干净样品表面。图品表面。图(a)和和(b)分别是在大分别是在大气条件下用气条件下用STM得到的得到的Au(111)(金金)2nm2nm 和和MS2(二硫化二硫化钼钼)3nm3nm表面的原于图表面的原于图像。对于在大气中容易被氧化像。对于在大气中容易被氧化的半导体或金属材料样品,将的半导体或金属材料样品,将不可能在大气中用不可能在大气中用STM得到它得到它们的表面原子结构图像,而超们的表面原子结构图
22、像,而超高真空的环境是必要的。高真空的环境是必要的。(a)(b)2021/3/8 在超高真空的条件下,在超高真空的条件下,STM可以用来观察所有半导体和金属样品表面的原子图。在超高真空可以用来观察所有半导体和金属样品表面的原子图。在超高真空腔内,可以用多种方法将样品表面清洁干净,如常用于金属表面清洁处理的离子枪轰击和常用于腔内,可以用多种方法将样品表面清洁干净,如常用于金属表面清洁处理的离子枪轰击和常用于半导体表面清洁处理的直接电流预热处理等。在超高真空中,清洁处理后的样品可以保持长时间半导体表面清洁处理的直接电流预热处理等。在超高真空中,清洁处理后的样品可以保持长时间干净,不被氧化。对样品表
23、面原子结构进行重构后,就可以用干净,不被氧化。对样品表面原子结构进行重构后,就可以用STM观察样品表面的原子结构图像。观察样品表面的原子结构图像。(a)(b)图图(a)和和(b)是是Si(111)7x 7(硅硅)表面的原子图像。表面的原子图像。其中,它们的扫描偏压分别为其中,它们的扫描偏压分别为+2V和和-2V;扫描电流相;扫描电流相同,都为同,都为0.6nA。2021/3/8 STM可以在高温可以在高温的条件下工作,这对的条件下工作,这对于观察半导体和金属于观察半导体和金属等材料表面的高温相等材料表面的高温相变是非常重要的。高变是非常重要的。高温工作的温工作的STM必须具必须具备十分良好的温
24、度补备十分良好的温度补偿功能,否则,样品偿功能,否则,样品表面的温度漂移将使表面的温度漂移将使我们无法看到相同区我们无法看到相同区域的原子表面结构。域的原子表面结构。图是在图是在860OC时时用用STM实时地观察实时地观察S(111)表面上形成表面上形成7x7结构的重构过程。从结构的重构过程。从图中可以看到,大部图中可以看到,大部分分7x7结构已经形成,结构已经形成,但是在图的右上角区但是在图的右上角区域尚未完成表面原子域尚未完成表面原子的重构。的重构。2021/3/8 温度对于材料表面上原子和温度对于材料表面上原子和分子的稳定性是一个非常重要的条分子的稳定性是一个非常重要的条件。例如,在室温
25、时,金属材料表件。例如,在室温时,金属材料表面上的金属原子大多不稳定,而吸面上的金属原子大多不稳定,而吸附在样品表面上的附在样品表面上的C60分子更是始分子更是始终在旋转着,无法稳定。同时,材终在旋转着,无法稳定。同时,材料的电子特性研究在很多情况下也料的电子特性研究在很多情况下也要求低温的条件。要求低温的条件。低温时,样品的原子表面结构低温时,样品的原子表面结构可以保持非常稳定的状态。图是一可以保持非常稳定的状态。图是一组低温组低温STM的系列图片。实验时,的系列图片。实验时,样品被液氯冷却到约样品被液氯冷却到约15OK的温度,的温度,每隔每隔45分钟扫描一幅图片。从图中分钟扫描一幅图片。从
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