第4章 时序电路的测试.ppt

1、南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,第4章 时序电路的测试,本章主要内容： 时序电路测试的概念 时序电路的功能测试 时序电路的确定性测试生成 时序电路的其他测试生成方法,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,时序电路: 除组合逻辑外，电路还包含存储器。 输出不仅与电路的当前输入有关，还与电路的历史 状态有关。 时序是导致时序电路测试生成困难的另一因素。主要是设置时间和保持时间： （1）如果时间条件不满足，电路可能不按预定方式运行。 （2）即使时间条件满足，不同元器件的延时可导致竞争和冒险。时序电路的竞争和冒险会导致电路处于故障状态。,4.1 时序电路测试的概念,南京航

2、空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,时序电路的测试生成有以下几种方法： （1）验证时序电路是否按状态表工作，即功能测试法； （2）把时序电路转换成一系列组合电路，用组合电路的处理方 法处理时序电路，再基于故障的确定性方法测试生成；又 分为： 时间向前法； 时间向后法； 组合方法。 （3）可测性设计方法。,本章主要研究前两种方法，可测性设计方法将在后面章节讨论。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,功能测试：通过检查电路实现功能的正确性来进行测试。 时序电路（有限状态机FSM）的功能测试也称为自动识别法. 有两种功能测试方法： （1） 通过施加特定的输入序列来测试时序电路是

3、否实现其逻辑功能。但这样的测试并不能保证检测到所有的故障，还须借助于模拟。 （2）通过施加特定的输入序列，验证电路是否按状态表工作。这种方法需穷举所有可能的有故障的状态情形，可检测并确认故障。优点：不必知道电路具体的逻辑图，只需知道状态转换图或流程表。但并不适用于VLSI。 本节首先介绍时序电路检查序列的概念和求法。,4.2 时序电路的功能测试,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,一般来讲，给定故障的检查序列包含两个独立的序列：,4.2.1 时序电路的检查序列,为了验证FSM的正确性，需先对它施加特定的输入序列，然后观察输出序列。,检查序列：当时序电路有故障时，此故障会把FSM从

4、状态M转换到状态Mf，假定状态数没有增加，就存在检查序列可区分M和Mf 。,对于无故障的电路，输入序列应先把FSM初始化到已知状态，然后迫使其经历所有的状态转换。,输入序列 观察序列,（1）同步序列SS 把时序电路置为已知状态的输入序列。 同步序列只关注状态的变迁，而不关注输出响应。 注意:并非每个时序电路都存在同步序列(这时用引导序列)。 （2）引导序列HS 把时序电路引导到已知状态的输入序列，该已知状态需由输出序列确认。 （3）鉴别序列DS 生成输出序列的输入序列，此输出序列应能够区分时序电路的初态和末态。 （4）变迁序列TS 引起时序电路状态变化的输入序列。,共同之处是“加输入(序列)，

5、观输出(序列)”。引导序列只“观”末态；鉴别序列既“观”初态，又“观”末态。,同步序列和变迁序列的共同之处是“只加输入(序列)，不观输出(序列)”。它们处理的初态不同，同步序列处理的初态是未知状态，而变迁序列处理的是已知状态。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,1. 变迁序列TS的求法 引起时序电路状态变化的输入序列，通过状态变迁树求得。,例4.1 一时序电路的状态表如图4.1所示，试求从状态A转换到状态B的变迁序列。,如何构造状态变迁树并依此求得变迁序列？,解：从状态A出发，得到变迁状态树如图4.1(b)所示。 在构造变迁树时，当一个分支的状态重复，终止此分支。 变迁树完成后

6、，可以看出使得电路从状态A转换到状态B的最短序列是100，此序列即为变迁序列 。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,2. 同步序列SS的求法 把时序电路置为已知状态的输入序列，可用同步树的方法 求得。,同步树的构造方法如下： (1)从电路的状态表出发，将电路所有状态(初始状态为不确定状态)作为根，分别施加输入值所得的状态集作为分支记录在相应的树枝下，并依次向下进行。 (2)如果所记录新的分支的不确定状态数与靠近的上一层的“根”的不确定状态数齐次，则该分支不再向下进行而终止，以S标记。 (3)当分支为单状态时，同步树完成。 从根到单状态分支的输入序列就是一个同步序列。,南京航空航

7、天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,例4.2 图4.2(a)定义了一时序电路的状态表，推导其同步序列。,图 4.2 同步序列的推导,解：利用上述方法，根据图4.2(a)所示的状态变迁表可得其同步树，如图4.2(b)所示。 同步序列000将时序电路从不确定态(ABCD)置为B态，而同步序列111将时序电路从不确定态(ABCD)置为A态。,不确定状态数与 “根”的齐次,分支为单状态时，同步树完成。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,注意：并非所有的时序电路都存在同步序列。 如图4.3(a)状态表所表示的时序电路，不存在同步树。对于不存在同步树的时序电路只能用引导序列来设置初始化

8、状态。,图 4.3 同步序列的推导,时序电路如果存在同步序列，可通过以下方法初始化到任意理想状态S0：,对FSM选择同步序列SS，把时序电路置为已知状态 ； 确定施加SS后FSM的状态为S0。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,3. 引导序列HS的求法 把时序电路引导到已知状态的输入序列。,任何时序电路都存在引导序列，它可用引导树求得。 引导树的构造方法与同步树相同，但须标明输出序列，以下一种情况出现时引导树结束： （1）输出序列对应唯一的单状态。这时，从根到单状态分支的输入序列就是一个引导序列 ； （2）输出序列对应的状态数与靠近的上一层的“根”的不确定状态数齐次。这情况下不

9、存在引导序列。,例4.3：(ABCD)表示电路的状态未知，输入为0时得到不确定状态(AB)(CD)，(AB)对应的输出为1，(CD)对应的输出为0，依次构造分支，最后得到完整的树。 如果一个分支与靠近的上面的“根”状态数齐次或只含单个状态，该分支至此结束，标以(S)。从原始的不确定状态(ABCD)到单个状态所引入的输入序列就是引导序列。 每一个输出序列只能对应唯一的最后状态。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,例4.3 对于图4.4(a)所定义的时序电路的状态表，试推导其 引导序列。,图4.4 引导序列的推导,(A)011 (B)010,(BD)000,(C)010 (A)01

10、1,(AB)001,齐次,每一个输出序列只能对应唯一的最后状态,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,所有化简的FSM最少有一个引导序列，紧密连接的FSM的一对有序状态至少有一个变迁序列。因此一化简的紧密连接的FSM可通过以下方法初始化到任意理想状态S0： 对FSM选择引导序列HS； 对FSM施加HS并观察输出响应； 确定施加HS后FSM的状态，称为S0。,电路是紧密连接的电路对于每一对有序的状态(Si, Sj)，有且只有一个输入序列，使得电路从状态Si转换到状态Sj。,如果时序电路的同步序列和引导序列都存在，则可以对该电路初始化，一般引导序列比较短。,4. 鉴别序列的求法,时序电

11、路初始化完成后，须通过鉴别序列来验证状态的正确性。 求鉴别序列的过程与求引导序列的过程基本相同，不同之处在于鉴别树有时以得到不确定的矢量为终止。 鉴别序列注重的是时序电路状态的区别，而引导序列的目的是把电路引入到确定的状态。 显然每一个鉴别序列都是引导序列，反之未然。,对于图4.5(a)所定义的时序电路的状态表，可构造引导树和鉴别树，并得到表4.1所示的引导序列和鉴别序列。,(a) 引导序列,(b) 施加鉴别序列10,（1）用同步序列SS或初始化序列HS把FSM初始化到状态S0； （2）施加鉴别序列DS验证此状态； （3）设上一步所得到的最后步骤为Si； （4）施加鉴别序列DS验证Si； （5

12、）重复步骤(3)和(4)，直到所有的状态得以确认； （6）上述过程中，如果状态Sj不可到达，施加变迁序列 到达此状态，然后施加鉴别序列加以验证； （7）对步骤(5)没验证的状态，施加变迁序列加以验证。,4.2.2 时序电路功能测试,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,4.3.1 时序电路的模型 同步时序电路采用Huffman模型，其表达如下图所示。,4.3 时序电路的确定性测试生成,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,研究该模型的前提： 原始输入是独立控制的，只有原始输出是可观的。 即，测试向量只能加在原始输x1,x2,xk上， 故障效应只能在原始输出Z1,Z2,Z

13、m观察到。 电路的内部状态是不可观的。,还要假设的前提： 无故障电路是根据状态表化简后实现的电路。即， 无故障电路没有两个或两个以上等效的状态； 电路是紧密连接的（电路对于每一对有序的状态(Si, Sj)，有且只有一个输入序列，使得电路从状态Si转换到状态Sj）。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,4.3.2 时序电路的测试生成模型 时序电路的测试向量序列要完成两个功能： 使被测电路进入适当的状态和在此状态检测给定故障。,例，检测上图中的C/0故障，需要两个测试矢量： V1=(A=1,Z=1) 把电路从上电复位状态引导到确定状态S=1，从而建立 从故障源处C到原始输出Z的敏化路

14、径； V2=(A=0,Z=1) 用于激活故障，路径敏化，可验证故障效应。 另一个测试矢量(A=0,Z=0)也可以把电路引导到相同的确切状态，它与V2一起使用也可以检测C/0。,为了表示时序电路的不同状态，把时间轴划分为时间段，每个时间段表示电路处于不同的状态，如图4.8(a)所示。其中CC 表示组合逻辑电路；S表示存储电路。,图4.8 测试生成模型,图4.8(b)表示时序电路的典型测试矢量序列集，该序列包含许多测试序列，每一序列用于测试一给定故障。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,在给定时间段n，CC的输出信号是原始输出Z(n)和二次输出Y(n)，存储电路S的输出y(n)也就

15、是CC的二次输入，则由CC的当前二次输出Y(n)及S的前一状态y(n-1)确定。每一个时段的电路模型实际上是原始电路的“复制”，但不同时段电路模型的输入输出不同。当把时段t=0,1,n时的每一个时段模型首尾相连，就得到一个重复的组合逻辑阵列，每一个时段的电路就是组合电路，因此这样的模型把一个时序电路转换成了组合电路。 任意时段n的原始输入 都是一个矢量，另记为V(n)，如果矢量序列V(1),V(2),V(n)能检测一给定故障，就称该矢量序列为测试序列或测试矢量序列，对应的CC的原始输出为Z(0),Z(1),Z(n-1),Z(n)，称之为测试响应序列或测试响应。对应的存储电路S的输出为序列形式：

16、y(0),y(1),y(n-1),y(n)。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,实际测试中对一给定故障所施加的测试序列，其顺序不应改变，因为时序电路的当前状态不仅与电路的当前输入有关，还与电路的历史状态有关。 在测试生成的开始阶段，需要知道CUT的通电初始状态，然后对当前状态寻找矢量序列，再对次态寻找矢量序列，直到找到最后状态对应的矢量，至此完成故障检测。 如果初始状态不可知，需施加初始化序列HS，使得CUT转换到已知状态。,4.3.3 扩展的向后驱赶算法,时序电路故障的测试生成包括两方面：,状态初始化 用于确定初始化矢量序列，此序列使得电路从任意状态进入到特定的故障效应可传播

17、的状态。 故障效应传播 用以确定把电路置于何种状态，这样就可通过施加额外的测试矢量使得故障在原始输出可观；,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,测试生成既可用时间正向处理法，也可用时间反向处理法。 正向处理：生成的矢量与矢量施加时的顺序一致， 反向处理：生成的矢量与矢量施加时的顺序相反。,扩展的向后驱赶算法(EBT)采用的是时间逆向处理方法，即生成的测试序列中，第一个生成的测试矢量在测试施加时为最后一个，而最后生成的测试矢量在测试施加时为第一个。 在测试生成中，把每两个相邻时间段的矢量按一对考虑： 第一个矢量称为当前矢量(Current Vector, CV)； 第二个矢量称为先

18、前矢量(Previous Vector, PV)。 生成CV的目的是为了把故障效应传播到原始输出，与给定CV相关的PV是为了满足CV所限定的电路条件。 CV与当前时间段有关，而PV与先前时间段有关，因此实际测试时PV要先于CV施加。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,激活故障，构造测试向量CV(与时间段n相关的矢量V(n) ，同时自动地对PV（与时间段(n-1)相关的矢量V(n-1)）施加附加条件(逻辑值与状态值分配)，原因是CV所要求的值与施加给PV的条件及输入值有关。 在一个测试序列对CV和PV生成之后，将PV作为一个新的序列对中的CV，继续迭代构造新的CV与PV。 反复此

19、过程，直至生成的矢量序列不仅使得电路进入最后生成的先前状态PV，还可以最终达到第一个CV所要求的状态，而且能够检测出给定故障。 矢量施加的顺序与生成的顺序相反。,EBT算法的关键概念：空间与时间上的逆向处理。 先确定给定时段的原始输入值，然后时间上向后处理状态条件，直到产生的矢量序列可检测给定的故障。,CV与PV的生成过程,EBT算法： 要求每一个时段从电路的原始输出向后追踪它的原始输入，同时对每一个元件的输入和输出赋以满足原始输出的值，一个时段一次。 通过这样对元件的赋值方法，后面已赋过值的元件的输入值转而成为前面元件所要求的输出值，对电路中从原始输出到原始输入之间的元件重复此过程，直到找到

20、一系列原始输入的值。,图4.9 EBT流程图,图4.10 EBT构造矢量流程图,目的：对CV中的所有原始输入都赋值。 当该模块中的操作完成后，CV保存在矢量序列中，PV就成为下一个当前矢量。,“构造CV和PV”模块,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,例4.4 对图4.11所示电路的C处的s-a-1故障，用EBT算法生成测试矢量序列。,图4.11 EBT算法举例,4.3.4 扩展的后向驱赶算法举例,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,（1）选择对C处的s-a-1故障进行测试生成； （2）选择拓扑路径TP ：CG2Z； CLK A B C D E Q Q Z CV0

21、x x x x x x x x x PV0 x x x x x x x x x （3）创建当前矢量CV0和向前矢量PV0，并给它们赋以初值x； （4）构造矢量CV0及PV0； 对G2的输入赋值C=0，敏化C到门输出； 给CV0及相应输出Z插入赋值后的信号值； CLK A B C D E Q Q Z CV0 x x x 0 x x x x 1 PV0 x x x x x x x x x CV0中选择C=0； 赋值A=1，使得G3从A敏化到C；, CV0中A变为1，同时B变为0，D变为1； CLK A B C D E Q Q Z CV0 x 1 0 0 1 x x x 1 PV0 x x x x

22、x x x x x CV0中选择Z=1； 按照TP敏化的要求赋值E=1，并把结果加到CV0中； CLK A B C D E Q Q Z CV0 x 1 0 0 1 1 x x 1 PV0 x x x x x x x x x CV0中选择C=0； 按照TP中敏化C=0的要求，赋值Q=1； CV0中插入Q=1，PV0中插入D=1； CLK A B C D E Q Q Z CV0 x 1 0 0 1 1 1 0 1 PV0 x x x x 1 x x x x, CV0中赋值CLK=1，PV0赋值CLK=0； CLK A B C D E Q Q Z CV0 1 1 0 0 1 1 1 0 1 PV0

23、0 x x x 1 x x x x （5）存储CV0，并把PV0传给新的CV1； CLK A B C D E Q Q Z CV1 0 x x x 1 x x x x （6）构造新的先前矢量PV1，并赋初值x； CLK A B C D E Q Q Z PV1 x x x x x x x x x （7）构造矢量CV1及PV1； 选择信号D=1； 选择A并给A赋值1，以满足条件D=1； 结果传给CV1； CLK A B C D E Q Q Z CV1 0 1 0 x 1 x x x x PV1 x x x x x x x x x,（8）因为CV1中所有信号已得以验证， 存储矢量CV1，并把矢量PV1

24、传递给CV2； CLK A B C D E Q Q Z CV2 x x x x x x x x x （9）因为不需要对新的CV2中的任何信号赋值，这样就不会对先前时段中的PV2产生任何条件。至此说明，不必对C处的s-a-1故障生成更多的测试矢量。三个测试矢量列表如下： CLK A B C D E Q Q Z V0 x x x x x x x x x V1 0 1 0 x 1 x x x x V2 1 1 0 0 1 1 1 0 1 （10）测试生成完成。 上述例子中矢量V0是一个空矢量，此矢量不包含任何需要求值的信号，只表明特定故障的矢量序列的开始。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子

25、工程系,4.4 时序电路的其他测试生成方法 4.4.1 FASTEST算法 FASTEST基于PODEM算法、九值电路模型、时间向前处理测试生成与状态的初始化。 FASTEST测试生成算法选择PODEM的原因：PODEM算法比路径敏化法的效率高，因为它的判决是全局性，只对原始输入赋值，且算法中不需要繁琐的确认步骤。而D算法对每个门都进行判决，因此整个过程中判断的数量非常大。FASTEST算法利用PODEM的优点，同时采用迭代阵列模型。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,FASTEST把测试生成问题当单个问题处理，选择全面的优化决策，所有处理采用时间向前处理，因此不会在确认不可到

26、达的状态上浪费时间，另外测试长度保持最小。 FASTEST算法中的所有内部状态形成九值逻辑模型，对于时序电路中故障的重复效应能够正确表达。 FASTEST算法测试矢量的生成在时间上严格的单向取向，另外采用试探法，测试生成开始时也采用初始时段算法以确定合适的时段。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,1. 九值逻辑模型 九值逻辑模型中，每根线的逻辑值取0,1,u中的一个，其中u表示不确定值。每个节点的逻辑状态可用(G,F)表示，G表示正常状态值，F表示有故障的值，G,F(0,1,u)。 0=(0,0) S0=(0,1) G0=(0,u) 1=(1,1) S1=(1,0) G1=(1

27、,u) U=(u,u) F0=(u,0) F1=(u,1) 这里采用u而不是x表示不确定值，差别在于xa=a，而ua=，也就是说，计算过程中x可改变，但u不可改变。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,假定有两个状态量 ，则定义它们之间的基本运算为： 例如， 在上述3种基本运算中，不论采用u还是x来表示不确定值，结果都是一样的。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,表4.3 九值基本运算规律(1) (a) “与”,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,表4.3 九值基本运算规律(2) (b) “或” (c)“非”,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电

28、子工程系,对于交运算，采用u还是x来表示不确定值，结果是不一样的，采用前面所说的xa=a，ua=，可得： F0S0 =(u,0)(0,1)=(,1)= (x,0)(0,1)=(x,0),表4.4 九值相交运算规律(空白处表示相交运算为空),南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,试探 FASTEST采用了3种不同方法的试探： (1) 从原始输入进行简单的长度分析； (2) 静态可控性计算； (3) 动态可控性计算。 首先，用图4.12说明一下简单的长度分析并非好的试探。,图4.12 基于路径的试探举例,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,如果目标故障是Z/0，运用九值逻

29、辑模型的首要任务是对Z置G1，PODEM算法测试生成方法会从门Z向后追踪寻找最简单路径。因为f是Z相连接的门的一个输入，PODEM生成方法就会选取最简单路径fz，那么就对f置G1，因为x1不是与门的控制输入，就会选择f的输入b，但是b不可赋值，测试生成方法就称此故障不可测。 此故障用输入序列(x1=0,x2=0)可测。此例说明简单的长度分析对时序电路的测试生成不一定是好的试探。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,静态可控性计算,类似于组合电路的可控性度量SCOAP，二者的差别是，在FASTEST中： (1) 第一个时段中触发器赋以无穷大可控性； (2) 在其他时段中触发器的组合

30、深度赋值特别大； 给触发器赋于比组合电路大得多的组合深度，可使得生成的测试矢量序列的数目最小。测试生成开始时，进行一次计算静态可控性，计算值在整个生成过程都为常数。按照静态可控性方法，向后追踪时最简单的路径是可控性最小路径。 动态可控性计算就是每当对一节点赋一次值，就重新计算可控性值以反映这些变化。如果一节点赋以值a，则节点的可控性值变为0，而节点的 可控性值变为无限。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,3. 初始时段算法 初始时段算法的目的是寻找激活目标故障最小的时段数，以及观测激活故障所需的最小时数。,图4.13 初始时段算法,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程

31、系,4.4.2 CONTEST算法 基于模拟的测试生成方法(CONTEST算法)的思想：对选定的初始矢量在模拟结果的基础上计算成本函数。 例如，典型的成本函数是时序电路中未知输出状态的个数，模拟开始时，所有输出赋值为未知。然后再选一矢量试探，运用模拟结果对此试探矢量计算成本函数，如果成本函数减少，试探矢量就是下一个矢量，否则修改原始矢量，直到找到减少的成本函数。通过矢量修改，模拟成本计算的方法不断进行，重复这样的迭代过程，直到成本函数降到阈值以下。由于模拟过程要考虑延迟问题，生成的测试矢量不会引起竞争和冒险。 CONTEST算法对组合及时序电路都有效，可以对一组故障、单个故障生成测试矢量，也可

32、生成电路的初始时序，但三方面应用时成本函数不同。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,1. 对一组故障的测试生成 一组故障中每一个故障的成本函数是：故障效应及原始输出之间敏化路径上门的个数。如果路径上存在触发器，对触发器的赋值要比门的赋值高，为传播故障效应，应既对触发器数据输入设置，又要施加时钟信号。当故障效应传播到原始输出时，如果成本函数减小为零，就认为检测到故障，此时测试生成的目标就变成寻找后续的测试矢量，使得故障从一个逻辑元器件传到下一个逻辑元器件，直到最后传播到原始输出。 估值一试探矢量时，一组故障中所有故障的成本函数须一起考虑，判断试探矢量能否接受的简单规律是看最低成本

33、的故障组合成本函数是否减小，如果测试生成过程已确定成本函数不能再减小，则自动转向另一类型的成本函数，进行单故障的测试生成。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,测试生成过程应以选定初始矢量开始，全赋0或者赋以使用者给定的矢量。试探矢量是这样得到的：每次只修改矢量序列中最后一个矢量中的一个输入位，直到试探矢量的成本函数值小于最后一个矢量的成本函数值，然后把此试探矢量加到矢量序列中，该试探矢量就变成一个新的最后矢量。反复进行此过程直到所有成本函数降为0或不可再减小，如果此情况出现且还有未测故障，则进行单故障测试生成。 对于同步电路的测试，时钟信号必须确定，模拟中所加的原始输入是在时钟

34、信号变迁时，对异步电路，原始输入改变后开始模拟。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,2. 单故障测试生成 单故障测试生成时，首先须寻找矢量序列使得信号在故障源处的值与故障值相反，此矢量序列称为激活序列，然后再寻找另一个矢量序列来敏化路径，使得故障效应从故障源处传播到原始输出上，这个矢量序列称为传播序列。 为此定义两个成本函数：故障激活成本函数和故障效应成本函数，这些函数都是基于SCOAP方法的可控性和可观性度量。激活成本函数定义为在故障源处与故障值相反的信号的可控性值，传播成本函数定义为故障在其源处的可观性值。单故障的成本函数是激活成本函数与传播成本函数的加权和。,南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系,对一组故障中的一个故障和单故障的测试生成的区别是：用于确定初始矢量能否接受的成本函数是不同的。 用CONTEST方法进行测试生成要优于其他方法，但有时会生成较多的测试矢量，因为试探时会选择相邻的矢量。CONTEST的另一个应用是寻找初始化矢量序列，使得电路从未知状态转到已知状态。,