第七章-无机材料的介电性能课件.ppt
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- 第七 无机 材料 性能 课件
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1、第六章 无机材料介电性能v第一节 介质极化v第二节 介质损耗v第三节 介电强度v第四节 铁电型v第五节 压电性v电介质:在电场作用下,能建立极化一切物质。v电介质极化:电介质在电场作用下产生感应电荷现象。v介电常数v相对介电常数rv各种气体相对介电常数都接近于1,与空气及真空比较接近。而常用液体、固体介质相对介电常数则各不相同,大多数为26。常见材料相对介电常数 材料类型材料类型 相对介电常数相对介电常数r 极性材料 强极性气体(如水蒸汽)略大于1 极性液体 36 绝缘材料 均匀固体绝缘材料 26 多种电介质组成不均匀绝缘材料 r有可能高于组成它任一种介质r。如未浸渍电缆纸r2.34,油r2.
2、33,而浸渍纸r达3.87。第一节 介质极化v1、定义及有关物理量v偶极子v由大小相等、符号相反、彼此相距为l两电荷(+q、-q)所组成系统。其极性大小和方向常用偶极矩来表示(方向:由负电荷指向正电荷)v单位:德拜(D或库仑.米)。1D表示单位正、负电荷间距2nm时偶极矩。极化率和极化强度v极化率:单位电场强度下,质点电偶极矩大小称为质点极化率,用表示。(法.米2)只与材料性质有关。v极化强度:单位体积内电偶极矩总和称为极化强度,用P表示。(库/米2)v 极化系数 locEVpEp0介质总极化v1、电子极化v2、离子极化v3、偶极子转向极化v两种基本形式v1、位移式极化v2、松弛极化极化类型v
3、1)电子式极化:没有受电场作用时,组成电介质分子或原子所带正负电荷中心重合,对外呈中性。受电场作用时,正、负电荷中心产生相对位移(电子云发生变化使正、负电荷中心分离物理过程),中性分子则转化为偶极子,产生电子位移极化或电子形变极化。v2)离子式极化:离子晶体中,无电场作用时,离子处在正常结点位置并对外保持电中性,在电场作用下,正、负离子产生相对位移,破坏原先呈电中性分布状态,电荷重新分布,相当于从中性分子转变为偶极子,产生离子位移极化。v3)转向极化:极性电介质中,存在固有偶极矩0。无外电场时,混乱排列,而使i=0,在外电场时,偶极转向,成定向排列,从而使电介质极化。v4)空间电荷极化:非均匀
4、介质中,在电场作用下,原先混乱排布正、负自由电荷发生趋向有规则运动过程,使正极板附近积聚较多负电荷,空间电荷重新分布,实际形成介质极化。5)自发极化)自发极化 无外电场作用,由晶体中晶无外电场作用,由晶体中晶胞存在固有电矩。铁电体胞存在固有电矩。铁电体有效电场v对一个分子,总与除它自身以外的其它分子相隔开,又与其周围分子相互作用,没有外电场作用,介质中每一分子处在周围分子作用下;当外部施加电场,由于感应作用,分子发生极化,产生感应偶极矩,成为偶极分子,它们又转而作用于被考察分子,改变原来分子间相互作用。作用在被考察分子上有效电场与宏观电场不同,它是外加宏观电场与周围极化分子对被考察分子相互作用
5、电场之和。v介质中偶极子微观极化特征可用来表征v对微观结构来说,一个分子受到电场作用是有效分子电场或称局部电场Eloc。v洛伦兹关系式(原子位置上的局部电场)P31E0321EEEEEloc外v外加电场E外:由物体外部固定电荷所产生电场.v退极化场E1:由介质外表面上表面电荷密度所产生对抗外加电场。v洛伦兹场E2:v空腔内其他偶极子电场E3:v2、克劳修斯-莫索蒂方程v建立宏观量介电常数r与微观量极化率关系,n单位体积中极化质点数。v0=8.8510-12F/m(法拉/米)0321nrr克劳修期一莫索蒂方程v克劳修期一莫索蒂方程(Clausius-mosotti equation)v表征极化特
6、性宏观参数-介电常数与微观参数-分子极化率联系起来,同时提供计算介电性能参数方法。v适合分子间作用力很弱气体、非极性液体、非极性固体及一些NaCl型离子晶体和具有适当对称性固体。0321nrr极化类型分述 v 1)电子位移极化(Electronic Polarizability)v存在于一切气体、液体及固体介质中。具有如下特点:va)形成极化需时间极短(因电子质量极小),约10-15,故其r不随频率变化;vb)具弹性,外电场去掉,作用中心又会重合而整个呈现非极性,故电子式极化没有能量损耗。vc)温度对电子式极化影响不大。温度升高介质略有膨胀,单位体积内分子数减少,引起r略为下降,即r具有不大负
7、温度系数。v研究电子位移极化,关键是计算电子极化率,有两种模型:(1)一个点状核球状负电壳体模型。(如图)将中性分子视为由+Q核和具有均匀电荷密度,半径为r带负电球状电子云。外电场E不改变电子云形状,而使核中心沿电场方向移动到离原中心距离为x新位置,当驱动力F=QEi与原子体系内弹性恢复力(实为库仑力)F相等,为平衡位置。由高斯定理知恢复力只是总电荷包含在半径为x小球内部那部分电荷引起。具有一个点状核球状负电壳体模型 v(2)圆周轨道模型(玻尔模型)v一个点电荷绕核作圆周运动,在电场作用下,轨道沿电场反方向移动距离x,(如下图):v由玻尔模型可计算出电子极化率为:v电子极化率大小与原子半径有关
8、3034R 圆周轨道模型(玻尔模型)2)离子位移极化 v离子极化存在于具离子式结构固体无机化合物中,如云母、陶瓷材料等,特点:va)形成极化所需时间极短,约为10-13,在一般频率范围内,可认为r与频率无关;vb)属弹性极化,几乎没有能量损耗。vc)温度对极化影响,存在两个相反因素:温度升高离子间结合力降低,极化程度增加,离子密度随温度升高而减小,极化程度降低。前一种因素影响较大,故r一般具有正温度系数,温度升高,出现极化程度增强趋势特征。离子位移极化极化率,NaCl模型v求离子位移极化极化率,有模型(NaCl例):vr不大,有:qEloc=krv=iEloc=q r i=q2/kv求i关键是
9、求k,求k方法有:i)根据正、负离子对固有谐振频,用实验方法求取。设m1、m2为正负离子质量,0、0为固有谐振角频率和固有谐振频率。求离子极化率。0341nai3)转向极化即偶极子极化v偶极子正负电荷中心不重合,好象分子一端带正电荷,另一端带负电荷,形成一个永久偶极矩。电场作用下,原混乱分布极性分子顺电场方向排列,显示极性。偶极子极化存在于极性电介质中,特点:va)极化是非弹性,消耗电场能在复原时不可能收回。vb)形成极化需时间较长,约为10-1010-2,其r与电源频率有关系,频率很高,偶极子来不及转动,因而其r减小。vc)温度对极性介质r有影响。温度高,分子热运动加剧,妨碍它们沿电场方向取
10、向,使极化减弱,故极性气体介质常具有负温度系数,对液体、固体介质,温度过低,分子间联系紧(如液体介质粘度很大),分子难以转向,r变小(只有电子式极化),极性液体、固体r在低温下先随温度升高而增加,当热运动变得较强烈时,r又随温度上升而减小。v偶极子转向极化率kTor3204)空间电荷极化 空间电荷极化发生在不均匀介质中。电场作用下,不均匀介质内部正、负离子分别向负、正极移动引起瓷体内各点离子密度变化,出现电偶极矩。这种极化称为空间电荷极化。电极附近积聚电荷是空间电荷。晶面、相界、晶格畸变、杂质等缺陷区都可成为自由电荷运动障碍。这些障碍处,自由电荷积聚,形成空间电荷极化。宏观不均匀性,如夹层、气
11、泡也可形成空间电荷极化,这种极化为界面极化。由于空间电荷积聚,可形成很高与外电场方向相反电场,又称高压式极化。v空间电荷极化特点:v)其时间约为几秒钟到数十分钟,甚至数十余小时。v)属非弹性极化,有能量损耗。v)随温度升高下降。温度升高,离子运动加剧,离子扩散容易,空间电荷积聚减小。v)与电源频率有关,主要存在于低频至超低频阶段,高频时,因空间电荷来不及移动,没有或很少有这种极化现象。5)松弛极化v热松弛极化:热运动是松弛质点混乱,电场使质点按规律分布,最后在一定温度下发生极化。位移v需时长:10-2-10-9sv吸收能量,不可逆v离子松弛极化v电子松弛极化kTqT12226)高介晶体极化v介
12、电常数大晶体具备条件是:v1、有比较特殊点阵结构v2、含有尺寸大、电荷小、电子壳层易变形阴离子v3、含有尺寸小、电荷大、易产生离子位移阳离子v电场作用下,两类离子通过晶体内附加电场产生强烈极化,导致相对高介电常数。7)无机材料极化va)多晶多相无机材料极化:v混合物法则(与电导混合类似)v两相存在时,有1、2 及X1+X2=1v利用并联电容器模型:=X11+X22v利用串联电容器模型:-1=X11-1+X22-1v一般情况下为:k=X11k+X22kvk=-1,串联模式,k=1,并联模式,一般情况,k介于-1与+1之间,对上式求全微分有:v kk-1d=X1k1k-1d1+X2k2k-1d2v
13、当k0时,有:对其积分得:ln=X1ln1+X2ln2v-此式适用于两相介电常数差别不大且分布较为均匀情况。v球形颗粒均匀分散在介电常数为m基相中时,可用Maxwell关系来描述。vb)陶瓷介质极化v多晶多相材料,有多种极化机制:v电子位移极化:金红石瓷、钙钛矿瓷以及某些含锆陶瓷;v离子位移极化材料,刚玉、斜顽辉石为基础陶瓷以及碱性氧化物含量不多玻璃;v有显著离子松弛极化与电子松弛极化材料,如电瓷、碱玻璃和高温含钛陶瓷。空间电荷极化松弛极化离子极化电子极化 工频 声频 无线电 红外 紫外极化率或 极化率和介电常数与频率关系C)介电常数温度系数v电子陶瓷:v1、介电常数与温度成典型非线性陶瓷介质
14、。v2、介电常数与温度成线性陶瓷介质。v介电常数温度系数是指随温度变化,介电常数相对变化率。)(310000tttdTdTKtv实际工作,TK为正:正温度系数(PTC),滤波电路和隔直流电容器;vTK为负:负温度系数(NTC),热补偿电容器;vTK接近0值:要求电容量热稳定度高回路中电容器和高精度电子仪器中电容器。v电子式极化,TK为负,温度升高时,介质密度降低,极化强度P降低;v离子式极化,Tk为正;v松弛极化,TK可正,可负,某个温度时,可出现最大值。v从材料开发,如瓷介电容器,根据不同用途,来确定不同TK要求。v任务:获得TK接近于零而尽可能高材料有效途径是-混合。vTK用不同温度系数材
15、料来混合(易调),对,要求混合尽可能均匀,一般不大,在金红石瓷中加入一定数量稀土氧化物La2O3、Y2O3等,可降低TK。提高热稳定性,并使仍然保持较高数值。第二节第二节 电介质损耗电介质损耗 v 电场作用下能量损耗,由电能转变为其它形式能,如热能、光能等,统称为介质损耗。它是导致电介质发生热击穿根源。电介质在单位时间内消耗能量称为电介质损耗功率,简称电介质损耗。损耗形式v1、电导损耗:在电场作用下,介质会有泄漏电流流过,由漏导电流引起电导损耗。v2、极化损耗:由各种介质极化建立所造成电流引起损耗。v3、游离损耗:气体间隙中电晕损耗和液、固绝缘体中局部放电引起功率损耗。气体电导损耗很小,液体、
16、固体电导损气体电导损耗很小,液体、固体电导损耗与结构有关。非极性液体电介质、无机晶耗与结构有关。非极性液体电介质、无机晶体和非极性有机电介质介质损耗主要是电导体和非极性有机电介质介质损耗主要是电导损耗。而在极性电介质及结构不紧密离子固损耗。而在极性电介质及结构不紧密离子固体电介质中,主要由极化损耗和电导损耗组体电介质中,主要由极化损耗和电导损耗组成。它们介质损耗较大,在一定温度和频率成。它们介质损耗较大,在一定温度和频率上出现峰值。上出现峰值。电导损耗,实质是交流、直流电流流过电导损耗,实质是交流、直流电流流过电阻做功,这两种条件都有电导损耗。绝缘电阻做功,这两种条件都有电导损耗。绝缘好时,液
17、、固电介质在工作电压下电导损耗好时,液、固电介质在工作电压下电导损耗很小,与电导一样,随温度增加而增加。很小,与电导一样,随温度增加而增加。极化损耗v只有缓慢极化过程会引起能量损耗,偶极子极化损耗,它与温度有关,与电场频率有关。在某种温度或某种频率下,损耗都有最大值。用tg来表征电介质在交流电场下损耗特征。v游离损耗:v 电晕是在空气间隙中或固体绝缘体表面气体局部放电现象。这种放电不同于液、固体介质内部发生局部放电。局部放电是液、固体绝缘间隙中,导体间绝缘材料局部形成“桥路”一种电气放电,这种局部放电可能与导体接触或不接触。这种损耗称为电晕损耗。介质损耗表示方法介质损耗表示方法v电介质中电场与
18、电流方向示意图。理想电容器,电压与电流强度成90,真实电介质中,由于GU分量(G由自由电荷产生),而不是90。此时,合成电流为:I=Q=(iC+G)U v定义:复电导率 v复介电常数v损耗角定义:i*ii*电容项损耗项tgv只要电导(或损耗)不完全由自由电荷产生,那电导率本身是一个依赖于频率复量,实部不是精确等于,虚部也不是精确等于 。复介电常数普通表示方式是:v都依赖于频率量,所以:*i tg介质弛豫和德拜方程v介质弛豫:外电场施加或移去后,系统逐渐达到平衡状态过程。v德拜方程v(0)代表静态相对v介电常数,代表v光频相对介电常数rrrrtgi 1)0(1)0(2222 时间 介电松弛或弛豫
19、理想电介质实际电介质VQIVQI电荷累积与电流特性极化强度随时间变化速率与其最终数值和某时刻实际值差有以下关系:d(Pt Po)/dt=(PPo)(PtPo)/PtPo=(PPo)(1e-t/)时间P理想实际PoP介质损耗表示法(频率和温度)v电介质在电场作用下,单位时间内消耗电能叫介质损耗。v直流电压下损耗功率为v定义单位体积介质损耗介质损耗率pv在交变电场下,2GUIUPw22EVGUVPpwtgr,tg,p与与关系关系 v1)外加电场频率很低,0,介质各种极化都能跟上外加电场变化,此时不存在极化损耗,介电常数达最大值。介电损耗主要由漏导引起,PW和频率无关。tg=/,当0时,tg。随升高
20、,tg减小。v2)外加电场频率逐渐升高,松弛极化在某一频率开始跟不上外电场变化,松弛极化对介电常数贡献逐渐减小,r随升高减少。这一频率范围内,由于1,tg随升高而增大,同时Pw也增大。v3)很高,r,介电常数仅由位移极化决定,r趋于最小值。由于1,tg随升高减小。时,tg0。在m下,tg达最大值,m可由下式求出:vvtg最大值主要由松弛过程决定。如介质电导显著变大,tg最大值变得平坦,最后在很大电导下,tg无最大值,主要表现为电导损耗特征:tg与成反比)0(1m温度影响温度影响v温度对松弛极化产生影响,因而P,和tg与温度关系很大。松弛极化随温度升高而增加,此时,离子间易发生移动,松弛时间常数
21、减小。r、tg、P与与T关系关系 v(1)温度很低,较大,由德拜关系式可知,r较小,tg也较小。此时22 1,故在此温度范围内,随温度上升,减小,r、tg和PW上升。v(2)温度较高,较小,此时22 1,在此温度范围内,随温度上升,减小。这时电导上升并不明显,PW主要决定于极化过程,PW随温度上升而减小。在某一温度Tm下,PW和tg有极大值。v(3)温度继续升高,达到很大值,离子热运动能量很大,离子在电场作用下定向迁移受到热运动阻碍,极化减弱,r下降。电导损耗剧烈上升,tg随温度上升急剧上升。v不同频率tg与温度关系,高频下,Tm点向高温方向移动。v如介质贯穿电导很小,则松弛极化介质损耗特征是
22、:tg在与频率、温度关系曲线中出现极大值。湿度影响湿度影响v介质吸潮后,介电常数会增加,但比电导增加要慢,由于电导损耗增大以及松驰极化损耗增加,而使tg增大。对于极性电介质或多孔材料,这种影响特别突出,如介质内水分含量从4增加到10时,其tg可增加100倍。无机介质损耗v1)无机材料还有两种损耗形式:电离损耗和结构损耗。va)电离损耗v发生含有气相材料。外电场强度超过气孔内气体电离所需电场强度,气体电离而吸收能量,造成损耗,电离损耗。其损耗功率可近似计算:vA常数,频率,U外施电压。U0气体电离电压。只有在UU0时适用,当UU0,tg剧烈增大。v固体电介质内气孔引起电离损耗,可导致整个介质热破
23、坏和化学破坏,应尽量避免。)(0UUAPW结构损耗v高频、低温下,与介质内部结构紧密程度密切相关介质损耗。v结构损耗与温度关系很小,损耗功率随频率升高而增大,但tg则和频率无关。结构紧密晶体或玻璃体结构损耗都很小,但某些原因(杂质掺入,试样经淬火急冷热处理等)使内部结构变松散,会使结构损耗提高。v一般材料,高温、低频下,主要为电导损耗,常温、高频下,主要为松弛极化损耗,在高频、低温下主要为结构损耗。离子晶体损耗v据内部结构紧密程度,离子晶体分结构紧密晶体和结构不紧密离子晶体。v前者离子堆积十分紧密,排列规则,离子键强度较大,如-Al2O3、镁橄榄石晶体,外电场作用下难发生离子松弛极化(除非有严
24、重点缺陷存在),只有电子式和离子式弹性位移极化,所以无极化损耗,仅有一点损耗是漏导引起(包括本征电导和少量杂质引起杂质电导)。常温下热缺陷少,损耗很小。这类晶体介质损耗功率与频率无关。tg随频率升高而降低。以这类晶体为主晶相陶瓷用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等,tg随温度变化呈现出电导损耗特征。v后者如电瓷中莫来石(3Al2O3:2SiO2)、耐热性瓷中堇青石(2MgO2Al2O35SiO2)等,这类晶体内部有较大空隙或晶格畸变,含缺陷或较多杂质,离子活动范围扩大。外电场作用下,晶体中弱联系离子可能贯穿电极运动(包括接力式运动),产生电导损耗。弱联系离子也可能在一定范围内
25、来回运动,形成热离子松弛,出现极化损耗。所以这类晶体损耗较大,这类晶体作主晶相陶瓷材料不适用于高频,只能应用于低频。v如两种晶体生成固溶体,或多或少带来各种点阵畸变和结构缺陷,通常有较大损耗,且可能在某一比例时达到很大数值,远超过两种原始组分损耗。如ZrO2和MgO原始性能都很好,但将两者混合烧结,MgO溶进ZrO2中生成氧离子不足缺位固溶体后,使损耗增加,当MgO含量为25mol,损耗有极大值。玻璃损耗v复杂玻璃中介质损耗主要包括三个部分:电导损耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势,决定于外界因素温度和外加电压频率。高频和高温下,电导损耗占优势;高频下,主要由联系弱离子在有限范围内移动造
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