铁电存储器 [自动保存的]课件.ppt
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1、FRAM-Ferroelectric RAM 铁电存储器铁电存储器报告人:张志祥 背景介绍背景介绍 现有闪存和EEPROM存储器都是采用浮动栅技术,浮动栅位于标准控制栅的下面及通道层的上面。浮动栅存储单元的信息存储是通过保存浮动栅内的电荷而完成的。利用改变浮动栅存储单元的电压就能达到电荷添加或擦除的动作,从而确定存储单元是在”1”或“0”的状态。存储器存储器 动态存储器静态存储器易失性存储器弱点非易失性存储器写入数据困难常见的存储器的分类F-RAMEEPROMFlash一、背景介绍一、背景介绍铁电存储技术早在1921年提出,直到1993年美国Ramtron国际公司成功开发出第一个4K位的铁电存
2、储器FRAM产品,目前所有的FRAM产品均由Ramtron公司制造或授权。铁电的原理铁电的原理 铁电存储器采用人工合成的锆钛酸铅Pb(Zr,Ti)O3(PZT)材料形成存储器结晶体。在外电场作用下时,在铁电晶体中位于晶胞中心的Ti(或Zr)原子,会向上或向下产生物理偏移,撤掉外电场后,仍表现出一定的电极性,铁电存储器就是利用这两个稳定态来代表数字逻辑中的“1”和“0”,从而来存储信息二、二、FRAM原理及特点原理及特点 写入方法与DRAM稍有不同。DRAM利用电容器中有无电荷记录数据,因此使用名为位线的布线单向加压。而FeRAM由于必须双向加压,因此除位线以外,还添加了名为板线的线路。写入“1
3、”时,由板线向位线加压。写入“0”时则反过来由位线向板线加压。读取方法也不同于DRAM。DRAM根据电容器中有无电荷判定“1”或“0”。而FeRAM则不能直接读出电容器的状态。因此读取时通过强行写入“1”,来判定“0”还是“1”。数据为1时由于状态不变,因此电荷移动少。而数据为0时由于状态发生反转,因此会产生大的电荷移动。利用这种电荷差判定1和0,FeRAM在读取时也进行写入动作。但是在铁电电容中反复写入会使之加速老化。也就是说不仅是写入时,读取时FeRAM也会产生老化,并且FeRAM在读取时与DRAM一样,是破坏性读取,所以也需要像DRAM那样进行回写操作 FRAM的读操作的读操作 FRAM
4、读操作过程是:在存储单元电容上施加一已知电场,如果原来晶体的中心原子的位置和施加的电场方向后使中心原子达到的位置相同,则中心原子不会移动;若不相同,则中心原子将越过晶体中间层的高能阶到达另一位置,则在充电波形上就会出现一个尖峰,即产生原子移动的比没有产生移动的多了一个尖峰,把这个充电波形 同参考位的充电波形进行比较,便可以判断检测的存储单元中的内容是“1”或“0”。FRAM原理及特点原理及特点 FRAM超级省电,保持数据不需要电压,能耗仅为EEPROM的1/3000 FRAM存储器的内容不会受到外界条件诸如磁场因素的影响,能够同普通ROM存储器一样使用,具有非易失性的存储特性。FRAM写入速度
5、非常快,可以跟随总线速度写入,是现在常见的EEPROM的500倍,而且能够像RAM一样方便的操作,写入的次数可以无限次,而不存在如E2PROM的写入次数有限的问题。铁电存储器成品图五、五、FRAM与其它存储技术比较与其它存储技术比较 FRAM与E2PROM FRAM与SRAM 从速度、价格及使用方便来看SRAM优于FRAM,但是从整个设计来看,FRAM还有一定的优势。非易失性的FRAM可以保存启动程序和配置信息。如果应用中所有存储器的最大访问速度是70ns,那么可以使用一片FRAM完成这个系统,使系统结构更加简单。FRAM可以作为E2PROM的第二种选择,它除了E2PROM的性能外,访问速度要
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