材料分析方法课件 20扫描电镜之EBSD.ppt
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- 材料分析方法课件 20 扫描电镜之EBSD 材料 分析 方法 课件 扫描电镜 EBSD
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1、第六章第六章 电子背散射衍射(电子背散射衍射(EBSD)Electron Back-Scatter DiffractionEBSD1.晶体材料的特性?晶体材料的特性?材料的性能与取向密切关联材料的性能与取向密切关联例例 1 晶体材料磁性能晶体材料磁性能与方向的关系与方向的关系例例2 轧制板材的力学性能与板材取样的关系轧制板材的力学性能与板材取样的关系-各向异性各向异性热轧板材中粗大晶粒的取向?热轧板材中粗大晶粒的取向?不同类型马氏体的存在?不同类型马氏体的存在?变形组织中孪晶的存在?变形组织中孪晶的存在?硅钢中高斯晶粒的形成?硅钢中高斯晶粒的形成?例例3 材料制备过程中微观组织的演变规律材料制
2、备过程中微观组织的演变规律2.晶体材料中晶粒取向测定方法晶体材料中晶粒取向测定方法*同时获得大量晶粒的形貌与晶体学取向同时获得大量晶粒的形貌与晶体学取向 EBSD技术的诞生技术的诞生 X-射线衍射射线衍射 透射电镜(透射电镜(TEM)大量晶粒的集合大量晶粒的集合属于材料宏观范围属于材料宏观范围单个晶粒的取向单个晶粒的取向属于材料微观范围属于材料微观范围在晶粒尺度上,将晶粒形貌与晶体学取向结合起来在晶粒尺度上,将晶粒形貌与晶体学取向结合起来晶粒形貌晶粒形貌晶体学取向晶体学取向EBSD的最大特点的最大特点对菊池花样进行标定,确定样品的取向、结构等信息菊池花样KikuchiEBSD探头探头电镜中电子
3、束作用于样品表面,会激发非弹性背电镜中电子束作用于样品表面,会激发非弹性背散射电子,并形成散射电子,并形成衍射菊池带衍射菊池带。基于对菊池带的。基于对菊池带的的分析,从而确定晶体结构、取向等相关信息。的分析,从而确定晶体结构、取向等相关信息。3.EBSD?电子的非弹性散射示意图电子的非弹性散射示意图(方向矢量的长度代表强度)(方向矢量的长度代表强度)Electron beamSample各个方向上的散射电子总会存各个方向上的散射电子总会存在有些方向上的电子满足某一在有些方向上的电子满足某一个个HKL晶面的布拉格方程晶面的布拉格方程(即产生衍射)。(即产生衍射)。非弹性散射电子非弹性散射电子 H
4、KL4.菊池带是如何产生的?菊池带是如何产生的?由于入射的非弹性散射电子在空间三维分布,即入射由于入射的非弹性散射电子在空间三维分布,即入射线呈现圆锥形分布,则衍射线亦呈现圆锥分布(衍射线呈现圆锥形分布,则衍射线亦呈现圆锥分布(衍射圆锥),该衍射圆锥与圆锥),该衍射圆锥与HKL晶面的法线呈晶面的法线呈90-。同理。同理(-H-K-L)也会发生同样的衍射。也会发生同样的衍射。NHKL入射圆锥入射圆锥衍射圆锥衍射圆锥 利用三条菊池线利用三条菊池线可确定晶体学取向可确定晶体学取向强强弱弱HKLHKL-(HKL)-(HKL)NNo 12 000HKL-NN暗线暗线亮线亮线HKL晶面迹线晶面迹线Elec
5、tron beamsampleCCD相机相机电子束电子束Kikuchi花样花样样品样品扫描电镜扫描电镜 主机主机EBSD 附件附件5.扫描电镜中的扫描电镜中的EBSDEBSDEBSD系统组成系统组成EBSDEBSD探头探头EBSDEBSD探头探头(1)成像单元)成像单元(2)采集单元)采集单元(3)数据处理及)数据处理及 显示单元显示单元扫描电镜扫描电镜能谱探头能谱探头(1)电子束作用于样品产生菊池花样;(2)EDSD探头采集花样;(3)衍射花样的识别、标定与结果显示EBSDEBSD工作原理示意图工作原理示意图(1)(2)(3)CCD相机相机电子束电子束Kikuchi花样花样样品样品(1)产生
6、菊池花样)产生菊池花样(2)菊池花样标定)菊池花样标定(3)结果显示)结果显示OIM晶界特征分布晶界特征分布极图极图反极图反极图6.EBSD工作方式工作方式定点分析定点分析+面分析面分析扫描的步长可扫描的步长可设定在设定在0.1 1 400400点点/秒秒EBSDEBSD三三大大功功能能晶粒的取向晶粒的取向相鉴别相鉴别晶粒的形态晶粒的形态(取向成像,(取向成像,OIM)*EBSD灵便性之一灵便性之一:(与:(与TEM相比)相比)大面积取向成像(大面积取向成像(OIM,orientation image mapping)可获得可获得:(1)取向分布;()取向分布;(2)取向差分布;)取向差分布;
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