数字集成电路-第二讲-导线课件.ppt
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- 关 键 词:
- 数字集成电路 第二 导线 课件
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1、TJICTJU.ASIC Center-Arnold Shi第二讲第二讲 导线和传输线模型导线和传输线模型天津大学电子科学与技术系 VLSI课件史再峰TJU.ASIC Center-Arnold Shi一、综述:现代集成电路工艺中的互连线一、综述:现代集成电路工艺中的互连线TJU.ASIC Center-Arnold ShiIntel Intel 工艺技术路线工艺技术路线TJU.ASIC Center-Arnold ShiIntel 0.25 Intel 0.25 微米工艺互连线微米工艺互连线TJU.ASIC Center-Arnold Shi互连线结构式示意图互连线结构式示意图TJU.ASI
2、C Center-Arnold Shi101001,00010,000100,000Length(u)No of nets(Log Scale)Pentium Pro(R)Pentium(R)IIPentium(MMX)Pentium(R)Pentium(R)II互连线的长度分布互连线的长度分布Local InterconnectGlobal InterconnectSource:IntelTJU.ASIC Center-Arnold Shi各材料连线延时的比较各材料连线延时的比较From MPR,2000TJU.ASIC Center-Arnold Shi线间距工艺参数对比线间距工艺参数对比
3、Intel P856.5Al,0.25m -0.33 M2 -0.33 M3 -0.12 M4 -1.11 M1 -0.05 M5 Scale:2,160 nm-0.49 M2 -0.49 M3 -0.17 M4 -1.00 M1 -0.08 M5 -0.07 M6 Intel P858Al,0.18m IBM CMOS-8SCU,0.18m -0.97 M1 -0.10 M6 -0.10 M7 -0.70 M2 -0.50 M3 -0.50 M4 -0.50 M5 From MPR,2000TJU.ASIC Center-Arnold Shi现代多层布线工艺现代多层布线工艺v 宽厚和间距大的
4、连线布置在高层 M5M5及以上采用较厚连线:全局连线、电源线v 密集和较薄的连线布置在低层 M1M1、M2M2、M4M4、(M5M5):功能快连线 M1:M1:局部(单元内)连线-0.49 M2 -0.49 M3 -0.17 M4 -1.00 M1 -0.08 M5 -0.07 M6 TJU.ASIC Center-Arnold Shi导线导线v 集成电路的导线已经形成复杂的几何形体,引起电容、电阻和电感等寄生参数效应。会使传播延时增加,性能下降 会影响功率和能耗的分布 会引起额外的噪声来源,影响电路的可靠性TJU.ASIC Center-Arnold Shi导线的完整模型和电容模型导线的完整
5、模型和电容模型TJICTJU.ASIC Center-Arnold Shi二、二、ELMOREELMORE延时模型延时模型TJU.ASIC Center-Arnold Shi传播延时建模分析传播延时建模分析v 用一阶 RC网络分析RCvinvoutvout(t)=(1 et/)V =RC,时间常数,时间常数到达50%的点的时间t=ln(2)=0.69 到达90%的点的时间t=ln(9)=2.2 TJU.ASIC Center-Arnold Shi树结构的树结构的RCRC网络网络v 该电路只有一个输入点v 所有的电容都在某个节点与地之间v 该电路不包括任何电阻回路(形成树结构)sr11234ir
6、2r4r3ric1c2c4cic3TJU.ASIC Center-Arnold Shi 艾尔默延时艾尔默延时v 路径电阻:从源节点到任何节点之间存在唯一的电阻路径,其总电阻称为路径电阻rii=rj (rj path(s i)v 共享路径电阻表示从个节点到i及k两个节点的路径中共享部分的总电阻rikrik=rj (rj path(si)path(sk)j=1ij=1Nv该节点的elmore延时为Di=ci rikk=1NTJU.ASIC Center-Arnold ShiElmore Elmore 延时模型的应用延时模型的应用v 为长导线建立延时模型v 为传输门逻辑的延时建模v 对上拉或下拉网络
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