数字电路实验中常见故障课件.ppt
- 【下载声明】
1. 本站全部试题类文档,若标题没写含答案,则无答案;标题注明含答案的文档,主观题也可能无答案。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
2. 本站全部PPT文档均不含视频和音频,PPT中出现的音频或视频标识(或文字)仅表示流程,实际无音频或视频文件。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
3. 本页资料《数字电路实验中常见故障课件.ppt》由用户(晟晟文业)主动上传,其收益全归该用户。163文库仅提供信息存储空间,仅对该用户上传内容的表现方式做保护处理,对上传内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知163文库(点击联系客服),我们立即给予删除!
4. 请根据预览情况,自愿下载本文。本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。
5. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007及以上版本和PDF阅读器,压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 数字电路 实验 常见故障 课件
- 资源描述:
-
1、电子技术实验中心电子技术实验中心数字电路实验中常见故障数字电路实验中常见故障及排除方法及排除方法电子技术实验中心电子技术实验中心数字电路实验中常见故障及排除方法数字电路实验中常见故障及排除方法一、集成逻辑门实验常见故障一、集成逻辑门实验常见故障二、组合逻辑电路设计实验常见故障二、组合逻辑电路设计实验常见故障三、触发器实验常见故障三、触发器实验常见故障四、计数器实验常见故障四、计数器实验常见故障五、集成电路综合应用实验常见故障五、集成电路综合应用实验常见故障电子技术实验中心电子技术实验中心一、集成逻辑门实验常见故障一、集成逻辑门实验常见故障 现象一现象一:集成电路芯片发热:集成电路芯片发热原因原
2、因1:电源极性接反排除方法排除方法:将电路断电,检查电源极性是否接错。原因原因2:芯片损坏排除方法排除方法:换一片相同型号的芯片电子技术实验中心电子技术实验中心一、集成逻辑门实验常见故障一、集成逻辑门实验常见故障现象二:现象二:当输入信号变化,逻辑门输出不变当输入信号变化,逻辑门输出不变 原因1:芯片电源,地线接触不良解决方法:用三用表直流电压档测量芯片的电源和地线,检测电压是否正确。原因2:输出信号至芯片的信号线接触不良解决方法:断开电路,用三用表电阻档测量信号线是否接触良好。原因3:芯片型号错解决方法:重新审核芯片型号,是否用错 原因4:芯片损坏解决方法:换同型号芯片电子技术实验中心电子技
3、术实验中心二二、组合逻辑电路设计实验常见故障组合逻辑电路设计实验常见故障 现象一:芯片发热现象一:芯片发热 原因原因1:多个芯片发热 解决方法:检查总电源极性是否接反。原因原因2:某一个芯片发热 解决方法:检查此芯片电源极性是否接反或芯片已损坏。电子技术实验中心电子技术实验中心二二、组合逻辑电路设计实验常见故障组合逻辑电路设计实验常见故障 现象二:改变电路输入而输出始终保现象二:改变电路输入而输出始终保持不变持不变 原因原因1:电路中芯片电源、地线接触不良解决方法:用三用表直流电压档测量电路中芯片的电源、地线,观察电压是否正常。原因原因2:电路中某个芯片型号错解决方法:重新审核芯片型号原因原因
4、3:电路中某个芯片已损坏解决方法:换同型号芯片电子技术实验中心电子技术实验中心二二、组合逻辑电路设计实验常见故障组合逻辑电路设计实验常见故障 现象三:电路输出部分状态不正确现象三:电路输出部分状态不正确 原因原因1:电路中信号线接错解决方法:对照电路图仔细检查每一根信号线连接是否正确原因原因2:电路中信号线有断线或接触不良解决方法:用三用表电阻档测量每一根信号线是否连接良好原因原因3:电路中二个或二个以上逻辑门的输出端相连。解决方法:实验中所用逻辑门均为推挽输出。而推挽输出端是不允许相互连接的。原因原因4:电路设计可能错误解决方法:重新审核设计电路是否正确。电子技术实验中心电子技术实验中心三、
展开阅读全文