材料研究方法电子探针课件.pptx
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- 关 键 词:
- 材料 研究 方法 电子探针 课件
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1、电子探针电子探针x射线显微分析射线显微分析 Electron Probe Microanalysis4.电子探针电子探针x射线显微分析射线显微分析n电子探针仪(EPMA)是一种微区成分分析仪器。n采用被聚焦成小于1 的高速电子束轰击样品表面,利用电子束与样品相互作用激发出的特征x射线,测量其和,确定微区的定性、定量的化学成分。nSEM-EPMA组合型仪器,具有扫描放大成像和微区成分分析两方面功能。um4.1 工作原理工作原理n具有足够能量的细电子束轰击试样表面,激发特征x射线,其波长为:n与样品材料的Z有关,测出,即可确定相应元素的Z。)(1ZK工作原理工作原理n某种元素的特征x射线强度与该元
2、素在样品中的浓度成比例,测出x射线I,就可计算出该元素的相对含量。4.2 构造构造n主要有柱体(镜筒)、x射线谱仪、纪录显示系统。镜筒包括电子光学系统、样品室、OM等。nEPMA与TEM大体相似,增加了检测特征x射线和I的x射线谱仪波谱仪、能谱仪。X-ray 谱仪谱仪(1)波长分散谱仪)波长分散谱仪 WDS Wavelength Dispersive Spectrometern通过衍射分光原理,测量x射线的分布及I。n已知d的晶体(分光晶体),反射不同的x射线,在特定位置检测。工作原理工作原理n由布拉格定律,从试样中发出的特征X射线,经一定晶面间距的晶体分光,波长不同的特征X射线将有不同的衍射
3、角。n连续改变,在与X射线入射方向呈2 的位置上测到不同波长的特征X射线信号。n由莫塞莱定律可确定被测物质所含元素。分光晶体分光晶体n专门用来对x射线起色散(分光)作用的晶体,具有良好的衍射性能、强的反射能力和好的分辨率。n晶体展谱遵循布拉格方程,对于不同的x射线,需要选用与其波长相当的分光晶体。n为了提高接收X射线强度,分光晶体通常使用弯曲晶体。弯曲分光晶体两种聚焦方式弯曲分光晶体两种聚焦方式n约翰型聚焦法:晶体曲率半径是聚焦圆半径的两倍n约翰逊型聚焦法:晶体曲率半径和聚焦圆半径相等两种聚焦方式两种聚焦方式n约翰型:当某一波长的X射线自点光源S处发出时,晶体内表面任意点A、B、C上接收到的X
4、射线相对于点光源来说,入射角都相等,由此A、B、C各点的衍射线都能在D点附近聚焦。n因A、B、C三点的衍射线并不恰在一点,是一种近似的聚焦方式。n约翰逊型:A、B、C三点的衍射束正好聚焦在D点,叫做完全聚焦法波长色散谱波长色散谱WDS 特点:特点:n分析速度慢 单个元素测量,做全分析时间较长。n分辨率高:10eV 谱仪分辨率是指分开、识别相邻两个谱峰的能力。测量精度高,多用于超轻元素Z9测量。n峰背比大 背底扣除容易,数据处理简单。n分析元素范围:4Be92Un样品表面要求平整、光滑。(2)能量色散谱仪)能量色散谱仪 EDS Energy Dispersive Spectrometern利用固
5、态检测器(锂漂移硅)测量每个x射线光子的能量,并按E大小展谱。n得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的x射线能量色散谱,显示于荧光屏上。工作原理工作原理n锂漂移硅半导体探测器,习惯记Si(Li)探测器。nX射线光子进入Si晶体内,产生电子空穴对,在100K左右温度时,每产生一个电子空穴对消耗的平均能量为3.8eV。能量为E的X射线光子所激发的电子空穴对数N为 NE 入射X射线光子E不同,激发的N不同,探测器输出电压脉冲高度由N决定。NaClNaCl的扫描形貌像及其能量色散谱的扫描形貌像及其能量色散谱EDS 特点:特点:n分析速度快n分辨率较低:150eVn峰背比小 谱峰宽、易重叠,背底扣除困难,数
6、据处理复杂n分析元素范围:11Na92Un进行低倍扫描成像,大视域的元素分布图。n对样品污染作用小n适于粗糙表面成分分析 不受聚焦圆的限制,样品的位置可起伏23mmn工作条件:探测器须在液氮温度下使用,维护费用高。WDS 与与EDS比较比较nWDS分析元素范围广、分辨率高、适于精确的定量分析,对样品表面要求高、分析速度慢,易引起样品和镜筒的污染。nEDS在分析元素范围、分辨率方面略逊,分析速度快、对样品表面要求不高、可用较小的束流和细微电子束,适于与SEM配合使用。n波谱仪的晶体分光特点,对波长为的X射线不仅可以在探测到n1的一级X射线,同时可在其它角处探测到n为不同值的高级衍射线。n波谱定性
7、分析不如能谱定性分析那么简单、直观,就要求对波谱进行更合乎逻辑的分析,以免造成错误。例:例:nSK(n1)存在于0.5372nm处,CoK(n1)在0.1789nm处,CoK(n3)的三级衍射在30.1789nm0.5367nm处,故SK的一级线和CoK的三级线非常近无法区分。nSK和CoK具有不同的能量,使探测器输出不同电压脉冲幅度。CoK是SK的3倍,根据SK电压脉冲信号设置窗口电压,通过脉冲高度分析器排除CoK的脉冲,从而使谱中0.5372 nm处仅存在SK线。比较项目WDSEDS元素分析范围元素分析方法能量辨率/eV灵敏度检测效率定量分析精度仪器特殊性4Be92U分光晶体逐个元素分析高
8、(3510)低低,随波长而变化好多个分光晶体11Na92U4Be92U固态检测器元素同时检测低(160135)高高,一定条件下是常数差探头液氮冷却4.3 样品制备样品制备nEMPA对样品尺寸大小、导电性、预处理的要求与TEM相同,除此之外,应注意:定量分析的样品,表面必须抛光以保证平整、光滑。光学观察进行侵蚀的样品,应控制侵蚀程度。样品表面清洁,防止污染。(机械抛光、化学试剂、表面氧化膜和碳化产物、残存的污染)4.4 分析方法分析方法n定性分析:记录样品发射的特征x射线。对比单元素特征谱线波长,确定样品中的元素。n定量分析:记录样品发射的特征x射线和I。每种元素选择一根谱线与已知成分纯元素标样
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