《光电子技术实验》指导书参考模板范本.doc
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1、光电子技术实验指导书实验规则及注意事项由于本实验课所用设备属于高技术实验系统,许多组件价格昂贵,易于损坏,所以实验者在做实验前应该充分复习实验大纲上的内容,实验者在做实验时应注意以下几点事项:1 操作光纤时应注意不能用力拉扯光纤,不能随意弯曲光纤。实验时不要用手碰动与实验无关的光纤部分。2 实验调节电流时注意不要使工作电流超过限额。电流过大有可能损坏光源和光探测器以及其它有源器件。3 不能直视光纤、激光器出射的光束!4 调节光学微调架时要小心、轻力,严禁强力搬拧光学微调架。目录实验1:光源与光纤耦合调整及光纤损耗特性测量实验4实验2:光纤温度传感系统特性实验.8实验一. 光源与光纤耦合调整及光
2、纤损耗特性测量实验一 实验目的(1) 了解提高光源与光纤耦合效率的原理及方法。重点掌握光路调整及光纤处理的基本方法。(2) 了解光纤损耗的定义,掌握光纤衰减的测试方法。二 实验原理1 光源与光纤耦合调整实验原理(1) 直接耦合:这种方法将光纤的端面直接靠近光源的发光面,为了保证耦合的效率,光纤的端面必须经过特殊处理,而且光纤端面与光源发光面的距离要尽可能的近。光源的发光面不应该大于纤芯的横截面面积,这是为了避免较大的耦合损耗。通常带尾纤的光源都使用这种耦合方式。这种耦合方法对光源耦合封装工艺技术要求较高。(2) 使用透镜耦合:具体方法描述如下将光源发出的光通过透镜聚焦到光纤的纤芯上,可以使光源
3、与光纤的耦合效率提高。具体原理见图1。图1. 透镜耦合(3) 利用五维调节架对光纤入端及出端进行位置调整,使输出功率达到最大。(4) 耦合效率的计算(适合所有的耦合方法): 其中P1为输出功率,P2为输入功率。2 光纤损耗特性测量实验光纤衰减是光纤中光功率减少量的一种度量,它取决于光纤的工作波长类型和长度,并受测量条件的影响。在波长处,一段光纤上相距距离为L的两个横截面1和2之间的衰减A()定义为:式中,P1():在波长时,通过横截面1的光功率;P2():在波长时,通过横截面1的光功率。通常,对于均匀光纤来说,可用单位长度的衰减,即衰减系数反映光纤的衰减性能的好坏。衰减系数可定义为: (dB/
4、km)式中,L为光纤的长度(km)。衰减系数随波长的变化曲线称为衰减谱,其能直观且形象地反映出在一定波长范围内整个光纤长度的衰减信息。三 实验装置光源、透镜、五维调节架、待测光纤、光功率计四 实验方法及步骤1. 光源与光纤耦合调整实验方法及步骤(1) 按照图1准备所需要的光学器件。将光纤端面进行处理,插入调节架并与光功率计的传感头对准,小心不要碰光纤出射头的端面。(2) 给设备加电。(3) 确定光束通过物镜后的焦平面位置,调节五维调节架,使得光功率计上的读数最大,记录下该值为P1。(4) 保持光源条件不变,将光功率计探头直接放到光源出射功率处,调节探头,记录下功率计显示的最大值P2。(5) 计
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