活度计量校准技术课件.ppt
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- 关 键 词:
- 计量 校准 技术 课件
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1、活度计量校准技术介绍国防科技工业电离辐射一级计量站1内容一、计量和校准一、计量和校准介绍两个概念介绍两个概念计量标准计量标准校准方法校准方法二、测量方法二、测量方法绝对测量绝对测量方法方法相对相对测量方法测量方法三、校准方法三、校准方法标准物质标准物质仪器校准仪器校准样品校准样品校准2介绍两个概念检定检定由法定计量技术机构确定并证实测量器具是否完全满足规定由法定计量技术机构确定并证实测量器具是否完全满足规定要求而做的全部工作。要求而做的全部工作。(1)检定结果应对测量器具做出合格与否的结论。)检定结果应对测量器具做出合格与否的结论。(2)检定包括将测量器具的示值与对应的测量标准所复现的量值进行
2、比)检定包括将测量器具的示值与对应的测量标准所复现的量值进行比较的一组操作,当两者的差值小于相关的检定规程所规定的最大允许较的一组操作,当两者的差值小于相关的检定规程所规定的最大允许误差即为合格。误差即为合格。校准校准在规定的条件下,为确定测量仪器、测量系统所指示的量值在规定的条件下,为确定测量仪器、测量系统所指示的量值或实物量具、标准物质所代表的量值与相关的测量标准所复现的量值或实物量具、标准物质所代表的量值与相关的测量标准所复现的量值之间的关系的一组操作。之间的关系的一组操作。(1)校准结果可以给示值赋值,也可确定示值的修正值。)校准结果可以给示值赋值,也可确定示值的修正值。(2)校准还可
3、以确定其他计量特性,如影响量的作用。)校准还可以确定其他计量特性,如影响量的作用。(3)校准结果可以记录在校准证书等文件中。)校准结果可以记录在校准证书等文件中。(4)有时用修正值或校准因子、校准曲线来表征校准结果。)有时用修正值或校准因子、校准曲线来表征校准结果。计量标准计量标准 开展计量校准,先要建立计量标准,包括:标准装置 测量标准方法 标准样品4校准方法 依据的校准规范依据的校准规范 标准物质标准物质 测量测量仪器仪器 校准结果校准结果5绝对测量方法1.4 ()符合测量方法符合测量方法 简单衰变核素的活度测量简单衰变核素的活度测量 复杂衰变核素的活度测量复杂衰变核素的活度测量 数字符合
4、测量方法数字符合测量方法2.气体气体绝对测量方法绝对测量方法3.3.22、22 表面发射率标准装置表面发射率标准装置4.井型井型NaI(Tl)和峰测量和峰测量125I活度测量活度测量125I活度活度5.4(NaI)NaI)测量多测量多射线核素射线核素6.量热计量热计 活度活度测量方法测量方法7.TDCR等液体闪烁计数方法等液体闪烁计数方法2022-11-10674 符合测量方法符合测量方法符合法是由P.J.Campion等人于五、六十年代发展起来的一种绝对测量方法,这种方法最初主要用于测量如60Co等简单衰变核素的活度测量,后来又由Campion、Cox等人发展了效率外推法和效率示踪技术,可分
5、别用于复杂衰变和纯衰变核素的活度测量。8原理简介 符合事件:两个或两个以上同时发生的事件 对于放射性核素:例如-的级联 符合法就是利用符合电路来甄选符合事件的方法 任何符合电路均有符合分辨时间R,实际上符合事件就是相继发生的时间间隔小于符合分辨时间的事件,或者称同时性事件 真符合和偶然符合 具有内在关联,为真符合 不具有内在关联,或者两个独立事件,则为偶然符合 反符合 利用反符合电路来消除符合事件的脉冲 应用,例如反符合绝对测量方法、反康谱仪等,用来消除或减少辐射本底的影响 延迟符合 将一个事件延迟一定时间,与第二个事件符合 例如,飞行时间技术偶然符合nrc与符合分辨时间的关系 通过测量没有符
6、合关系的通过测量没有符合关系的 和和 信号之间的偶然符合信号之间的偶然符合计数是测量符合分辨时间计数是测量符合分辨时间的方法之一的方法之一 第一道平均计数率为第一道平均计数率为n1 第二道平均计数率为第二道平均计数率为n2 分辨时间为分辨时间为 nrc=2 n n1n n2=nrc/(2 n n1n n2)4 符合测量装置技术框图4(pc)pc)(NaI(Tl)符合测量标符合测量标准装置准装置 计数器14 探测器:(pc)正比计数器 坪长应大于300V,坪斜小于0.5%/100V(对60Co);装置的死时间和符合分辨时间的测量结果的不确定度应小于0.1s 4(ppc)正比计数器 4(LS)计数
7、器 探测器:NaI(Tl):道的能量分辨率应优于12%(137Cs)HPGe1516符合电路分辨时间测量 17延迟符合(分辨曲线)法 18测量方法可选 核参数法核参数法适用于简单衰变核素活度测量 效率外推法效率外推法适用于简单或复杂衰变核素活度测量 效率示踪方法效率示踪方法 适用于纯核素和137Cs等亚稳态核素,示踪核60Co、134Cs核参数法 对于简单衰变核素,设N0为待测样品在单位时间内的衰变数即活度,N为道的计数率,N为道的计数率,Nc为符合道的计数率,、分别表示道和道的探测效率,则有:(1)(2)(3)由式(1)、(2)、(3)可得:(4)0NN0NN0NNc0NNNNc 主要修正因
8、素:1、本底 n=n-nb2、死时间 死时间修正公式死时间死时间(又称为测量分辨时间)可以采用双(又称为测量分辨时间)可以采用双源法和双脉冲产生器测量源法和双脉冲产生器测量3、偶然符合修正R是符合分辨时间,Nc是经过本底修正的符合计数率N和N是表观计数率23)NN(-NN-NcRRcN124、射线的内转换电子5、探测器对射线的灵敏度等因素的修正实验测定,综合以上各项修正以后,式(5)可表达为24)(1111/)1(2)()(1)(0cedcRcbcRbbNNNNNNNNNNNN 注意:需要测量的参数有:本底、ce、r;可查手册的参数:测量、ce也是很麻烦的,查有需要准确的手册,有没有不用知道这
9、些参数的测量方法呢?答案是肯定的。效率外推方法可以很好地给出测量结果。25效率外推法 如果引入参数Ck,令Ck=(1-k)/(1-),为选定的其中一个分支的效率。则由(7)、(8)、(9)式可得:(10)其中,1)1(1 0 NNNNcnkkknkkkkkknkkkcekkkPCPCP111/)1()1/()(1 改变效率的主要方法 造成道计数损失的原因:包括源的自吸收、源的衬托膜吸收、探测器的几何条件即电场边缘效应引起的计数损失、探测器及电子学线路的死时间引起的计数损失、电子学系统的甄别阈引起的计数损失和源的导电膜导电不良引起的计数损失等六方面因素。在实际的物理测量中,可能这些因素都存在,或
10、者是这些因素中的几个或其组合。改变效率方法:可通过加不同厚度膜吸收、改变道的甄别阈或探测器的工作电压、在测量源中加不同量的非放射性载体来改变源的自吸收情况而改变效率进行效率外推测量。效率示踪法 需要满足的要求 谱型相似 最大能量接近 由相同化合物组成,可均匀混合 具有延迟衰变的-待测核素,示踪核素的能量应大于待测核素 效率示踪法3031324X-符合方法 与4(pc)pc)(NaI(Tl)基本一样,不同基本一样,不同之处:之处:正比计数器耐正比计数器耐20个大气压。个大气压。公式处理中粒子不同,外推形式基本一公式处理中粒子不同,外推形式基本一样。样。3334-数字符合测量方法 用软件分别从和主
11、放大器同事记录和信号的幅度信息和对应的时间信息进行数字化处理和存储,利用软件进行不同阈值的信号与信号进行时间信息比较,确定一定分辨时间内的符合计数率,计算探测效率,进行符合外推。35信号信号快速ADC将和脉冲信号的幅度信息和时间信息转换为数字信息,并通过高速数据传输总线将这些数字信息存储于海量存储器数据重建:将存储在海量存储器中的数据还原为和信号的幅度谱,即能谱和能谱。根据所测量核素的特点,选取感兴趣的窗。并设置数据处理中采用的死时间和符合分辨时间。选取不同的幅度的信号根据和信号的时间关系进行统计处理,得到满足各条件的、和符合道的计数率,然后进行效率外推,得到待测样品的活度或比活度。对重建的谱
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