《通用量具培训》教材课件.ppt
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1、万能量具 李雪钢李雪钢 办公:0755-33682545 手机:13537883098 邮箱:li xue gangcti- 2010-2-21 长度 量块:块规 量具:卡尺、千分尺、指示表 线玟:钢直尺、卷尺、玻璃尺 精密测量:几何量(测长仪、万能工具显微镜)光学仪器:投影仪、三次元 平直度:平板、刀口尺、平行平晶、平面平晶 粗糙度:光洁度 角度:万能角度尺 量具:单值、多值 单值:环规、塞规、块规 多值:通用(万能量具:卡尺、千分尺、指示表)简易:直尺卡尺的使用及校准 JJG 30-2002培训大纲 计量术语 卡尺的用途 工作原理 计量特性及技术参数 校准方法 注意事项及常见问题通用卡尺通
2、用卡尺的用途 通用卡尺是用来测量外尺寸,内尺寸,盲孔,阶梯形孔及凹槽等尺寸的量具.术语光隙法:光隙法是凭观察“测量基准”与被测量面之间的光隙量来判断形状误差的一种方法,一般用于直线误差的测量。卡尺的分类:游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺。单面卡尺、双面卡尺、三用卡尺、四用卡尺游标读数方法:a、整数部分以游标尺最前面零位位置读取。b、小数部分看游标刻度和主尺刻度线对得最齐一处为准(上下各有一根对得最齐)。c、把整数部分与小数部分相加,就是最终测量结果。(21.54)卡尺各部分结构名称校准卡尺所需要的标准器:卡尺专用量块 千分尺 刀口形直尺 平板 辅助设备:量块夹所需标准器实物图校准项目序号受检项目主
3、要检定设备后续检定1外观+2各部件相互作用+3外量爪平面度0、1级刀口尺,1级平板+4内量爪尺寸及平行度10mm3级量块,外径千分尺+5示值变动性1级平板3级或6等量块+6示值误差1级平板3级或6等量块+校准项目及校准方法 JJG 30-2002 外观及各部分相互作用:目测 测量面的平面度:用刀口形直尺以光隙法.刀口内量爪和圆弧内量爪的基本尺寸和平行度:用千分尺沿量爪平行于尺身方向测量 示值误差:用卡尺专用量块在卡尺测量范围选取均匀的几点直接放入卡尺测量面进行测量.(直接法),量程在300MM以内3个点,超过的取6个点。深度示值误差:用两块20MM尺寸的量块放入平板和卡尺测量面之间直接测量 平
4、面度、平行度允差 深度允差、示值误差:深度卡尺深度卡尺检定示意图注意事项:1、工作时须戴手套进行。2、用千分尺测卡尺内量爪时,外量爪夹持量块要记得紧固好螺钉,否则结果误差大。常见故障及处理:测量结果偏差较大的原因及排除办法 a、检查量爪表面清洁状况及零位。b、检查尺框有无晃动,紧固上方或背面的小螺钉即可。数字显示器闪烁或死机(数显卡尺)更换电池或断电分钟千分尺的使用及校准千分尺的使用及校准 JJG21-2008培训大纲 千分尺的用途 工作原理 计量特性及技术参数 计量术语 校准方法 注意事项 千分尺(定义):千分尺是应用螺旋副传动原理,将回转运动变为直线运动的一种量具.主要用于测量各种外尺寸和
5、内尺寸.千分尺分为:外径千分尺,尖头千分尺,璧厚千分尺,槽径千分尺,公法线千分尺,深度千分尺,杠杆千分尺,内径千分尺,内测千分尺等千分尺 千分尺的量程一般为25MM一段(也有0-30MM的,但比较少见),例如:0-25,25-50,50-75,75-100,大于25MM的都会配有校正棒。各种千分尺 使用方法:先清洁测量面,测量时要使用千分尺的测力装置(棘轮机构),缓慢的转动直到测力装置响2-3声归零,再用同样的方法测量并读数。千分尺的数据读取方法:先在微分筒边缘主刻度上读取整数部分;再在中心线所指位置读取小数部分,0.01mm分度的千分尺要估读一位,也就是要读到0.001mm。(0.001mm
6、分度的千分尺读数方法和游标卡尺类似)所需标准器:千分尺专用量块 平行平晶 平面平晶 刀口形直尺 辅助设备:千分尺支架 万能测长仪标准器图术语 阿贝原则:被测量线应在与测量线相重合或在其延长线上才能获得精被测量线应在与测量线相重合或在其延长线上才能获得精确测量结果。确测量结果。千分尺符合阿贝原则千分尺符合阿贝原则 不符合阿贝原则的量具是卡尺。不符合阿贝原则的量具是卡尺。技术光波干涉法技术光波干涉法:满足一定条件的两列光波相遇时互相叠:满足一定条件的两列光波相遇时互相叠加,在相遇区域内产生明暗相间的条纹,这种现象叫干涉加,在相遇区域内产生明暗相间的条纹,这种现象叫干涉现象,这两束光被称为相干光,这
7、些条纹称为干涉条纹或现象,这两束光被称为相干光,这些条纹称为干涉条纹或干涉带。干涉带。运用光干涉原理进行计量检定的方法叫技术光波干涉运用光干涉原理进行计量检定的方法叫技术光波干涉法。法。校准项目序号受检项目主要检定设备后续检定1外观+2各部件相互作用+3测力专用测力仪+4测量面平面度2级平晶、刀口尺+5两测量面平行度平行平晶、4等、5等量块+6示值误差4等、5等量块或专用量块+校准方法 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置:当测量下限调整正确后,微分筒上的零刻线对准时,微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切,若不相切,压线不大于0.05mm,离线不大于0.1mm.测力:用分度值不大
8、于0.2N的专用测力计校准。校准时,使测量面与测力计的球工作面接触后进行。千分尺测力应为(5-10)N。测量面平行度 测量上限至100mm千分尺两测量面平行度用4块厚度差为1/4测微螺距的平行平晶校准,也可用量块校准,数显千分尺用4等量块校准,外径、板厚千分尺用5等量块校准。用平行平晶以技术光波干涉法判断干涉条纹数.对于测量范围较大的千分尺用量块测量工作面4个位置的尺寸,最大尺寸与最小尺寸之差为平行度.测量上限大于100mm千分尺两测量面平行度用钢球检具校准。两测量面平行度及允差测量范围/mm外径千分尺平行/m数显千分尺平行/m05021.55010032.010015042.51502005
9、320025063.52503007430035095350400400450116450500平行度偏差的计算方法 在检定过程中,光波干涉法测量两平面间的平在检定过程中,光波干涉法测量两平面间的平行度,所使用的标准器是平行平晶,平行度偏行度,所使用的标准器是平行平晶,平行度偏差的计算方法是:两工作面出现的干差的计算方法是:两工作面出现的干 涉带条涉带条数(或圈数之和乘以数(或圈数之和乘以0.3).校准前平面度注意的问题:校准前平面度注意的问题:被检表面必须干净,无灰尘,不得有毛刺,否被检表面必须干净,无灰尘,不得有毛刺,否则不仅测量结果不准,还易划伤平晶。则不仅测量结果不准,还易划伤平晶。测
10、量平行度注意的问题 1.当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接 触,不得用力过猛,更不得转动微分筒接触,否则加力不一触,不得用力过猛,更不得转动微分筒接触,否则加力不一样,会影响测量结果。样,会影响测量结果。2.千分尺把平行平晶夹持后调整平行平晶,一定要使得两测千分尺把平行平晶夹持后调整平行平晶,一定要使得两测量面与平行平晶的接触点在同一测,并且一个测量面干涉带量面与平行平晶的接触点在同一测,并且一个测量面干涉带调整最少时,才能读取两边干涉带条纹数调整最少时,才能读取两边干涉带条纹数,接触位置不正确,接触位置不正确,接触点不在同一测
11、时,不能进行读数,否则会得出错误结果。接触点不在同一测时,不能进行读数,否则会得出错误结果。3.为为 了使接触点在同一测,可以用手调整,转动平行平晶,了使接触点在同一测,可以用手调整,转动平行平晶,并使一侧出现的干涉条纹为最少,此时的平行平晶再不能有并使一侧出现的干涉条纹为最少,此时的平行平晶再不能有任何调整的情况下去读取两边的干涉条纹数。任何调整的情况下去读取两边的干涉条纹数。波长:波长:/20.3 将平面平晶的测量面与千分尺测量面研合,调整平晶使测量将平面平晶的测量面与千分尺测量面研合,调整平晶使测量面上的干涉环或干涉带的数目尽可能少,外径千分尺测量面面上的干涉环或干涉带的数目尽可能少,外
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