功率场效应晶体管绝缘栅双极型晶体管课件.ppt
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- 功率 场效应 晶体管 绝缘 栅双极型 课件
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1、 分为结型结型和绝缘栅型绝缘栅型通常主要指绝缘栅型绝缘栅型中的MOSMOS型型(Metal Oxide Semiconductor FET)简称功率MOSFET(Power MOSFET)结型电力场效应晶体管一般称作静电感应晶体管(Static Induction TransistorSIT)特点特点用栅极电压来控制漏极电流驱动电路简单,需要的驱动功率小。(绝缘栅、电压控制器件)开关速度快,工作频率高。(只有多数载流子,无少数载流子积蓄效应)安全区宽,热稳定性优于GTR。(没有类似GTR的二次击穿)电流容量小,耐压低,一般只适用于功率不超过10kW的电力电子装置。功率场效应晶体管功率场效应晶体
2、管(Power Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)P-MOSFET的种类的种类 按导电沟道可分为P沟道沟道和N沟道沟道。耗尽型耗尽型当栅极电压为零时漏源极之间就存在导电沟道。增强型增强型对于N(P)沟道器件,栅极电压大于(小于)零时才存在导电沟道。功率MOSFET主要是N沟道增强型沟道增强型。功率MOSFET的芯片内部结构漏极栅极源极芯片照片断面P-MOSFET的结构的结构是单极型、全控型晶体管。导电机理与小功率MOS管相同,但结构上有较大区别。采用多元集成结构,不同的生产厂家采用了不同设计。N+GSDP沟道b)N+N-SGDP
3、PN+N+N+沟道a)GSDN沟道图1-19图1-19 功率MOSFET的结构和电气图形符号漏极源极栅极外延漂移层衬底SiO2绝缘层小功率MOS管是横向导电器件。功 率 M O S F E T 大 都 采 用 垂 直 导 电 结 构,又 称 为VMOSFET(Vertical MOSFET)。按垂直导电结构的差异,分为利用V型槽实现垂直导电的VVMOSFET和具有垂直导电双扩散MOS结构的VDMOSFET(Vertical Double-diffused MOSFET)。这里主要以VDMOS器件为例进行讨论。P-MOSFET的结构的结构截止截止:漏源极间加正电源,栅源极间电压为零。P基区与N漂
4、移区之间形成的PN结J1反偏,漏源极之间无电流流过。P-MOSFET的工作原理的工作原理导电导电:在栅源极间加正电压UGS则栅极上的正电压将其下面的P基区中的空穴推开,而将(少子)电子吸引到栅极下的P基区的表面,当UGS大于UT时,P型半导体反型成N型,成为反型层反型层,该反型层形成N沟道而使PN结J1消失,漏极和源极导电。UGS数值越大,P-MOSFET导电能力越强,ID也就越大。(1)转移特性转移特性(Transfer Characteristic)漏极电流ID和栅源间电压UGS的关系称为MOSFET的转移特性转移特性。ID较大(小)时,ID与与UGS的关系近似(非)线性,曲线的斜率(微变
5、量之比)定义为跨导跨导Gfs。图1-20 功率MOSFET的转移特性1)静态特性)静态特性010203050402468ID/AUTUGS/VIDUGS(2)输出特性输出特性漏极电流ID和漏源间电压UDS的关系称为MOSFET的输出特性,输出特性,即即漏极伏安特漏极伏安特性性。分为四个区:非饱和区(可变电阻区)、饱和区(恒流区)、击穿区(雪崩区)、截止区(UGS低于开启电压)102030504001020 305040饱和区非饱和区截止区UDS/VUGS=UT=3VUGS=4VUGS=5VUGS=6VUGS=7VUGS=8VID/A图1-20 P-MOSFET的输出特性1)静态特性)静态特性击
6、穿区工作在开关状态,即在截止区和非饱和区之间来回转换。漏源极之间有寄生二极管,漏源极间加反向电压时器件导通。通态电阻,具有正温度系数的直流电阻,对器件并联时的均流有利。开通过程开通过程开通延迟时间开通延迟时间td(on)上升时间上升时间tr开通时间开通时间ton开通延迟时间与上升时间之和 ton td(on)tr关断过程关断过程关断延迟时间关断延迟时间td(off)下降时间下降时间tf关断时间关断时间toff关断延迟时间和下降时间之和toff td(off)tfpinGSTDDinGSDUCUUiiCUi,充电,时,导电沟道,预夹断,仍充电,稳定,不变a)b)RsRGRFRLiDuGSupiD
7、信号+UEiDOOOuptttuGSuGSPuTtd(on)trtd(off)tf图1-21 P-MOSFET的开关过程a)开关特性测试电路 b)开关过程波形up脉冲信号源,Rs信号源内阻,RG栅极电阻,RL负载电阻,RF检测漏极电流()0pinGSDd offDinGSDGSTDUCUitiCUiUUi高电平,放电,不变时,预夹断,仍放电,继续,夹断区上升,时,导电沟道消失,l从中可以求得器件的:l输入电容:CinCGSCGD。l输出电容:CoutCGDCDS。l反馈电容:CrCGD。l正是Cin在开关过程中需要进行充、放电,影响了开关速度。同时也可看出,静态时虽栅极电流很小,驱动功率小,但
8、动态时由于电容充放电电流有一定强度,故动态驱动仍需一定的栅极功率。开关频率越高,栅极驱动功率也越大。MOSFET的开关速度和Cin充放电有很大关系。P-MOSFET是多数载流子器件,不存在少数载流子特有的存贮效应,因此开关时间很短,典型值为20ns,影响开关速度的主要是器件极间电容。可降低信号源驱动电路内阻Rs减小Ci 充、放电时间常数,加快开关速度。不存在少子储存效应,关断过程非常迅速。开关时间在10100ns之间,工作频率可达100kHz以上,是主要电力电子器件中最高的。场控器件,静态时几乎不需输入电流。但在开关过程中需对输入电容充放电,仍需一定的驱动功率。开关频率越高,所需要的驱动功率越
9、大。MOSFET的开关速度的开关速度除跨导Gfs、开启电压UT以及td(on)、tr、td(off)和tf之外还有:P-MOSFET电压定额(1)漏极电压漏极电压UDS(2)漏极直流电流漏极直流电流ID和漏极脉冲电流幅值和漏极脉冲电流幅值IDMP-MOSFET电流定额,表征P-MOSFET的电流容量(3)栅源电压栅源电压UGS UGS20V将导致绝缘层击穿。(4)极间电容极间电容极间电容CGS、CGD和CDS。前两者由MOS结构的绝缘层形成的,其电容量的大小由栅极的几何形状和绝缘层的厚度决定;后者由PN结构成,其数值大小由沟道面积和有关结的反偏程度决定。指在确定的栅源电压UGS下,P-MOSF
10、ET处于恒流区时的直流电阻,是影响最大输出功率的重要参数。(5)(6)该电压决定了P-MOSFET的最高工作电压(7)该电压表征了功率MOSFET栅源之间能承受的最高电压。l功率MOSFET具有电流负温度效应,没有二次击穿问题,具有非常宽的安全工作区,特别是在高电压范围内,但是功率MOSFET的通态电阻比较大,所以在低压部分不仅受最大电流的限制,还要受到自身功耗的限制。图 正向偏置安全工作区l由以下四条边界限定:l漏-源通态电阻Ron;l最大漏极电流IDM;l极限功耗PCM;l极限漏-源电压UDSM。正向偏置安全工作区(FBSOA)l正向偏置安全工作区由四条边界极限所包围的区域。漏源通态电阻线
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