(完整版)LCD不良分析课件.ppt
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1、1/19Confidential:TFModule09.11.12Rev 0.1(LCD 型号号分析Process)2/19Confidential:TF3/19Confidential:TF检查工程REPAIR 室制造技术JIG Cross check (具体问题,参照体系)原因 有原因 無不良再不良再现现良品良品画画面面/电电流正常流正常N/D,N/D,MTP,MTP相同不良相同不良 3%3%以上以上时时 SMD担当 -成分分析:E -IC分析:产品技术型号别担当 PA不良 SWAP率高时交由制造技术分析原因确原因确认认不能分析不能分析(不良多不良多发发)必须须确认项认项目Line,Dot
2、 Line,Dot 不良不良Line Line 不良不良 Dot Dot 不良不良4/19Confidential:TF5/19Confidential:TFProcess细部确认项目归类判定不良再现 CONN 检查-PIN未焊,Short-PIN凹陷,SI异物,Flux异物-Pattern Crack,Mold破损 FPCB 外观确认-Pattern损伤/Nick,-被压,划伤,撕裂 PIN凹陷 未焊 Short SI异物 SI异物Pattern Crack Pattern Nick 撕裂 撕裂 被压B/C引起的划伤 FPC SMT 部品检查-部品未贴-Diode弱贴-部品未焊,脱落-部品
3、Crack FLUX异物 Pattern crackMLCC Crack Diode破损 未焊 脱落6/19Confidential:TF PNL 剥离 和损伤确认-Panel Crack-Pad部 Pattern 被压-Pad部 Scratch IC 外部(边缘,背面)损伤 确认-IC Crack Crack 边缘 Crack Scratch 被压 Pad crackProcess细部确认项目归类判定不良再现7/19Confidential:TF COG 压贴部检查-A/M,未压,弯曲-ACF为附着-异物 Short-没有L/T A/M 压贴异物 压贴异物 未压 没有确认异物 只在逆光时可被
4、看见 FOG 逆光检查-异物 short异物 Bump损伤 ACF未附着 弯曲 有机膜弯曲ESD Damage 压贴部被压 bump short IC Crack确认-IC部分 Crack(边缘)边缘CrackProcess细部确认项目归类判定不良再现 FOG压贴检查-FOG A/M -未压,部分未压-异物 short-ACF 未附着8/19Confidential:TFProcess细部确认项目归类判定 PNL 检查-Pattern scratch-Pattern damage-Panel 细微 Crack-不能L/TScratch 被压 细微 crack不良再现因V/I检查PIN引起的 划
5、伤/被压多发位置(显示为异常或N/D)不良多发位置9/19Confidential:TFOPEN/SHORT 区分法10/19Confidential:TFProcess细部确认项目归类判定 COG 压贴部检查-A/M,未压,弯曲-ACF未附着-异物 Short-不能L/T 异物 Bump损伤 ACF未压贴 弯曲 有机膜弯曲ESD Damage 压贴部被压 bump short IC Crack确认-IC 部分 Crack()边缘Crack不良再现11/19Confidential:TFProcess细部确认项目归类判定 PNL 不良检查-Pattern Data 断线-Pattern Gat
6、e 断线-Pattern Data Short-Pattern Gate Short-Pattern Active 异物-静电引起的膜破裂 Data 断线 Gate 断线 Data Short Gate Short不良再现 Pattern 不良形态竖线 Pattern Open/Short/异物不良多发位置Panel性不良位置横线 Pattern Open/Short Crack,不良多发位置 Pattern Open/Short/异物不良多发位置(横,竖全部)PNL 拾取产生的不良 -Crack -排线 Scratch确认pad crack12/19Confidential:TFLine T
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