书签 分享 收藏 举报 版权申诉 / 44
上传文档赚钱

类型功率器件封装工艺详解(公司)课件.pptx

  • 上传人(卖家):三亚风情
  • 文档编号:3438654
  • 上传时间:2022-08-31
  • 格式:PPTX
  • 页数:44
  • 大小:6.19MB
  • 【下载声明】
    1. 本站全部试题类文档,若标题没写含答案,则无答案;标题注明含答案的文档,主观题也可能无答案。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
    2. 本站全部PPT文档均不含视频和音频,PPT中出现的音频或视频标识(或文字)仅表示流程,实际无音频或视频文件。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
    3. 本页资料《功率器件封装工艺详解(公司)课件.pptx》由用户(三亚风情)主动上传,其收益全归该用户。163文库仅提供信息存储空间,仅对该用户上传内容的表现方式做保护处理,对上传内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知163文库(点击联系客服),我们立即给予删除!
    4. 请根据预览情况,自愿下载本文。本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。
    5. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007及以上版本和PDF阅读器,压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
    配套讲稿:

    如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。

    特殊限制:

    部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。

    关 键  词:
    功率 器件 封装 工艺 详解 公司 课件
    资源描述:

    1、2022年8月1日星期一功率器件封装工艺详解功率器件封装工艺详解(公司最新公司最新)主要内容介绍一、功率器件后封装工艺流程二、产品参数一致性和可靠性的保证三、产品性价比四、今后的发展2划片粘片压焊塑封老化打印管脚上锡测试切筋检验包装入库Die bondingDie sawwire bondingmoldingmarkingHeat agingplatingsegregatingTesting Inspection Packing Ware house 3划片划片 划片圆硅片划片及绷片后的圆片划片:将圆片切割成单个分离的芯片划片特点:日本DISCO划片机,具有高稳定性,划片刀的厚度25um,芯片

    2、损耗小。4 日本DISKO划片机5(将单颗芯片粘结到引线框架上)实物图划片粘片压焊塑封打印61、自动粘片机,芯片和引线框架的粘结牢固,一致性好。2、优质的框架及焊接材料使用,获得良好的热学和电学特性。3、芯片与框架的热匹配性良好,芯片和框架之间的应力达到最小,热阻小,散热性好。4、氮氢气体保护,避免高温下材料氧化。7粘片员工在认真操作8全新的TO-220粘片机9压焊:用金丝或铝丝将芯片上的电极跟外引线(框架管脚)连接起来。金丝金丝球焊铝丝超声波焊压焊示意图划片粘片压焊塑封打印101、自动压焊机,一致性好,焊点、弧度、高度最佳,可靠性高。2、根据管芯的实际工作电流选择引线直径规格,保证了良好的电

    3、流特性。压焊实物图11全新的KS TO-92压焊机压焊车间12塑封塑封塑封体框架管脚塑封:压机注 塑,将已装片的管子进行包封塑封示意图划片粘片压焊塑封打印13采用环氧树脂塑封材料封装,阻燃,应力小,强度高,导热性好,密封性好,保证晶体管大功率使用情况下具有良好散热能力,管体温度低。塑封机14塑封塑封车间车间塑封生产车间的景象15激光打标激光打印机在管体打上标记塑封切筋打印电镀测试老化16电镀:纯锡电镀,符合无铅化要求切筋:器件分散连筋切筋示意图塑封切筋打印电镀测试老化17切筋员工在操作18-1、严格的筛选条件,温度140150。2、使用有N2保护的烘箱,防止管子在高温下氧化。塑封切筋打印电镀测

    4、试老化19切筋电镀测试老化检验包装测试流程20测试测试设备设备KT9614与DTS-1000分选机21整洁的包装车间新型的包装方式编带我公司今年新引进的编带机221、产品的一致性 a.芯片生产工艺控制 b.通过细分类进行控制2、产品可靠性 a.优化芯片生产工艺提高可靠性 b.封装工艺的严格要求 23高精度的测试系统 1、最高测试电压为1000V,最大电流20A,漏电流最高精度达到pA级,电压测试精度达到2mV 2、可测试的半导体器件有双极晶体管,MOS管,二极管等多种器件。3、对于双极晶体管,可测试hFE、Vcesat、Vbesat、Rhfe、Iceo、Iebo、Bveb、Icbo、Bvceo

    5、、Vfbe、Vfbc、Vfec、Bton、Bvces、Bvcer、Icer、Icex、Icbr、Icbs、BVcbo、Iceo等参数24一、降低热阻二、控制“虚焊”三、增强塑封气密性25降低器件发热量的三个途径一、通过优化电路,避免开关器件进入放大区,减小器件上的功率消耗。二、降低器件的热阻,即提高器件的散热能力。三、提高器件的电流性能,降低饱和压降。在电路和芯片都已固定的情况下,避免器件发热失效重要的途径就是降低器件的热阻。26一、热阻的定义 热阻(Rth)是表征晶体管工作时所产生的热量向外界散发的能力,单位为/W,即是当管子消耗掉1W时器件温度升高的度数。RTH总 RT1+RT2+RT32

    6、7二、晶体管热阻的组成1、RT1内热阻由芯片的大小及材料决定。2、RT2接触热阻与封装工艺有关。3、RT3与封装形式及是否加散热片有关。28 我们工艺控制过程中,最重要的是解决接触热阻。主要的控制手段:1、粘片工艺对接触热阻的控制。2、高效的测试手段进行筛选。29热阻偏大的原因分析与工艺保证30 晶体管的热阻测试原理:在一定范围内pn结的正向压降Vbe 的变化与结温度的变化T有近似线性的关系:VbekT 对于硅pn结,k约等于2,热阻的计算公式为:RthT/P 只需加一个稳定的功率,测量晶体管的Vbe即可计算出晶体管的热阻 RT。31 进行热阻测试筛选,我们用的是日本TESEC的Vbe测试仪。

    7、32Vbe测试仪的性能参数及优点:测试精度:0.1mV脉冲时间精确度:1us最高电压:200V最大电流:20A优点:1.精度高,且精度高可达到0.1mV,重复性好。2.筛选率高 33优点2:筛选率高如粘片有空洞,脉冲测试在很短功率脉冲内,由于热量来不及传导,有空洞的地方就会形成一个热点(即温度比粘结面其他地区高出很多的小区域)(如右图示)。热点处温度高,Vbe将比其他地方的Vbe变化大。整个pn结的Vbe将主要受热点处的Vbe的影响,因此,有空洞的管子的Vbe比正常管子的Vbe要大很多。34通过测量Vbe,再经过公式 Rth Vbe/KP我公司典型产品值:35“”_X36压焊工序对引线拉力进行

    8、了严格的控制3738产品性价比产品性价比1、材料的选用2、先进的工艺制程3、严格的生产过程控制39材料的选用材料的选用1.供应商均经过评价认证2.品质好价格高的材料40先进的工艺制程先进的工艺制程 一、净化厂房,洁净度10000级,避免了粉尘灰粒的粘污二、全自动的粘片、压焊机,并有氮氢气保护三、所有产品经过高温老化,性能更稳定更可靠四、精度高、稳定性好的测试筛选设备,DTS-1000,Vbe41产品的特点产品的特点1、电流特性好,饱和压降小,在输出相同的功率下,晶体管消耗的功率小,发热量低2、产品种类型号丰富,专门针对节能灯、电子镇流器进行设计封装形式:TO-92、TO-126、TO-220、TO-262、TO-263、TO251带抗饱和电路的系列L(低电压)系列晶体管423、可靠性高如高低温循环(-50150)冰沸水浸泡试验功率老化4、本公司生产芯片,保证质量及芯片货源产品的特点产品的特点43今后发展今后发展后封装扩建搬迁项目绿色环保塑封料44

    展开阅读全文
    提示  163文库所有资源均是用户自行上传分享,仅供网友学习交流,未经上传用户书面授权,请勿作他用。
    关于本文
    本文标题:功率器件封装工艺详解(公司)课件.pptx
    链接地址:https://www.163wenku.com/p-3438654.html

    Copyright@ 2017-2037 Www.163WenKu.Com  网站版权所有  |  资源地图   
    IPC备案号:蜀ICP备2021032737号  | 川公网安备 51099002000191号


    侵权投诉QQ:3464097650  资料上传QQ:3464097650
       


    【声明】本站为“文档C2C交易模式”,即用户上传的文档直接卖给(下载)用户,本站只是网络空间服务平台,本站所有原创文档下载所得归上传人所有,如您发现上传作品侵犯了您的版权,请立刻联系我们并提供证据,我们将在3个工作日内予以改正。

    163文库