原子力显微镜(AFM)课件.ppt
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- 关 键 词:
- 原子 显微镜 AFM 课件
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1、n1986年,Binning等发明了原子力显微镜(Atomic Force Microscope)n类似于STM的显微技术,它的许多元件与STM是共同的,如用于三维扫描的压电陶瓷系统以及反馈控制器等n与STM主要不同点:用一个对微弱力极其敏感的易弯曲的微悬臂针尖代替了STM中的探测微小隧道电流。正是由于AFM工作时不需要探测隧道电流,所以可以用于分辨包括绝缘体在内的各种材料表面上的单个原子原子力显微镜(原子力显微镜(AFM)AFM的工作原理的工作原理 AFM的工作原理AFM的图象是通过在样品表面上扫描时测量微悬臂受力弯曲后偏转的程度得到的。采用不同的微悬臂的检测方式就构成了不同的AFM工作原理
2、 AFM微悬臂偏转的检测方法微悬臂偏转的检测方法n隧道电流检测法n光学干涉测量法n光束偏转测量法n电容测量法隧道电流检测法隧道电流检测法 通过测量微悬臂与STM针尖之间隧道电流的变化来检测微悬臂的偏转。优点是灵敏度高,缺点是信噪比低,不适合工作在大气条件图图10-9 光学干涉测量法光学干涉测量法 利用光学干涉的方法来探测微悬臂共振频率的位移(或偏振光的相移)及微悬臂偏转的幅度图图10-10 光束偏转测量法光束偏转测量法 在微悬臂上的顶部设置一枚微小的镜子,通过检测小镜子上反射光束的偏转就可以得到微悬臂偏转的信息图图10-11 电容测量法电容测量法 微悬臂构成平行平板电容器的一块平板之一,而另一
3、块平板则平行地位于微悬臂的上方。微悬臂的偏转值将通过测量该电容器的电容值的变化得到n原子力显微镜同样具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了STM的不足原子力显微镜的特点原子力显微镜的特点 单原子操纵和纳米加工单原子操纵和纳米加工nSTM的针尖不仅可以成像,还可以用于操纵表面上的原子或分子n最简单的方法是将针尖下移,使针尖顶部的原子和表面上的原子的“电子云”重叠,有的电子为共享,会产生一种与化学键相似的力。在一些场合下,这种力足以操纵表面上的原子n为了更有效地操纵表面上的原子,通常在针尖和表面之间加上一定的能量,如电场激励、电流激励、光子激励等能量方式
4、STM单原子操纵原理图单原子操纵物理机制单原子操纵物理机制 当距离0.6nm时,STM针尖和样品表面之间的化学相互作用在单原子操纵过程中不起主导作用,这样,原子的操纵则取决于针尖和样品表面之间的纯电场或电流效应单原子操纵的三个部分单原子操纵的三个部分单原子的移动(displacement)单原子的提取(extraction)单原子的放置(deposition)n这些技术是今后应用单原子操纵在表面上进行这些技术是今后应用单原子操纵在表面上进行原子尺度的结构甚至器件加工所必须原子尺度的结构甚至器件加工所必须n 单原子的移动单原子的移动世界上最小的广告用STM移动吸附在Ni(110)表面上的Xe原子
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