产品可靠性测试培训课件.ppt
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1、可靠性测试培训2019-7-18李海涛 产品重要的质量特性 顾客最为关注而又无法直接感知的特性 发现产品在设计、制造、储运、使用等各个环节的潜在故障 质量的内涵,每时每刻的质量可靠性可靠性1.在产品研制阶段研制阶段使产品达到预定的可靠性指标(达到)2.在产品定形时定形时进行可靠性鉴定(确认)3.在生产过程中生产过程中控制产品的质量(保持)4.对产品进行筛选以提高整批产品的可靠性水平(剔除早期失效及制造和工艺缺陷)5.研究产品的失效机理 产品在规定的条件规定的条件下和规定的时间区间规定的时间区间(或操作次数)内完成规定功能规定功能的能力2.1 失效:产品不能完成所规定的功能称为失效,对可修复的产
2、品则称为故障2.2 应力:对产品的功能有影响的各种因素。作用于机电产品的应力大致可分为:气候环境应力、机械环境应力、生物及化学环境应力、电气应力2.4 失效模式:产品失效的形式、现象称为失效模式2.3 失效机理:导致失效的物理、化学、机械或其他原因的过程2.5 失效率:工作到某时刻尚未失效的产品,在该时刻后单位时间内发生失效的概率。2.6 置信度:产品的真实失效率等于被定级的最大失效率而被判定为不合格的概率。GB 1772-79规定,对于电子元器件失效率试验中的定级试验和升级试验的置信度取60%或90%,维持试验的置信度取10%2.7 使用寿命:产品在规定条件下,从规定时刻开始(一般为出厂时间
3、),到失效密度变的不可接受或故障无法修复时止的时间区间。定义:用来表示产品总体可靠性高低的各种可靠性数量指标(参数),称为可靠性特征量。3.1 可靠度:产品在规定条件下和规定的时间(或操作次数)内完成规定功能的概率概率。用”R”表示。可靠度计算公式:3.2 累积失效概率(不可靠度):产品在规定条件下和规定时间内未完成功能的概率。例:现有100个气泵做寿命测试,3个月时有10个失效,6个月时有30个失效,分别计算3个月和6个月时的可靠度和累积失效概率。解:已知n=100,t=24*90=2160h和t=24*180=4320hM(t)=10和m(t)=30所以:3个月时的可靠度和累积失效概率分别
4、为:R(t)=【n-m(t)】/n=【100-10】/100=0.9F(t)=1-R(t)=1-0.9=0.1例:现有100个气泵做寿命测试,3个月时有10个失效,6个月时有30个失效,分别计算3个月和6个月时的可靠度和累积失效概率。解:已知n=100,t=24*90=2160h和t=24*180=4320hM(t)=10和m(t)=30所以:6个月时的可靠度和累积失效概率分别为:R(t)=【n-m(t)】/n=【100-30】/100=0.7F(t)=1-R(t)=1-0.7=0.33.3 失效概率密度:3.4 瞬时失效:瞬时失效:产品工作到t时刻后的单位时间内发生失效的概率,瞬时失效与故障
5、时间t有关,一般称之为失效率函数。用(t)表示。(t)=【m(t+t)-m(t)】/【n-m(t)t】例:有100个水泵做on/off测试,测试10000次后有1个失效,测试20000次后有2个失效。计算测试到10000次时的失效率。解:测试到10000次时的失效率为:=(2-1)/(100-1)10000=1.01%/10000次 3.5 平均失效:平均失效:在某一时间(在某一时间(t1,t2)内瞬时失效率)内瞬时失效率的平均值。的平均值。3.6 平均寿命:平均寿命:平均寿命平均寿命MTBF:对于可修复的产品,平均无故障工作时间时间,即两次故障 间隔时间的均值MTTF:对于不可修复的产品,指
6、产品发生失效前的平均工作时间3.5 可靠寿命:可靠寿命:当可靠度等于给定值R(0 R 1)时的产品寿命称为可靠寿命。3.6 中位寿命:中位寿命:产品可靠度等于0.5时的可靠寿命称为中位寿命,中位寿命的物理意义是一批产品失效一半时所需的工作时间。3.7 特征寿命:特征寿命:产品寿命等于e-1(即R=1/e 0.368)时的可靠寿命称为特征寿命。1.指数分布2.威布尔分布3.正态分布4.对数正态分布5.寿命分布类型的确定方法 产品或元件失效是一个随机事件,产品的寿命是一个随机变量,而产品的失效率和寿命都可以用失效分布或寿命分布函数来描述其规律性。1.指数分布 许多元器件在工作时间内会由于“偶然”原
7、因而失效,而不服从某一失效机理,因为这时对应于某一机理的所谓早期失效产品已通过设计、工艺控制、或实验而消除。因此,当元器件足够多、时间足够长时,失效率(t)便趋近于某一稳定值,其值的大小只与工作条件和外部环境有关,而与产品的工作时间无关,产品的这种寿命分布规律称为指数分布。大多数电子产品,包括大部分仪器仪表在剔除早期失效后到发生老化变质前的随机失效阶段都服从指数分布。许多国家所制定的标准中,绝大多数都以指数分布为基础对电子元器件产品的可靠性等级进行鉴定。如我国GB/T 1772-1979电子元器件失效率试验方法1.指数分布1.指数分布2.威布尔分布 威布尔分布是可靠性试验中最常见,也是最复杂的
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