电气设备绝缘试验课件.ppt
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- 电气设备 绝缘 试验 课件
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1、第第3 3章章电气设备绝缘试验电气设备绝缘试验l3.1 3.1 绝缘电阻及吸收比的测量绝缘电阻及吸收比的测量l3.2 3.2 泄漏电流的测量泄漏电流的测量l3.3 3.3 介质损耗角正切值的测量介质损耗角正切值的测量l3.43.4 局部放电的测量局部放电的测量l3.5 3.5 绝缘油的色谱分析绝缘油的色谱分析l3.6 3.6 工频交流耐压试验工频交流耐压试验l3.7 3.7 直流耐压试验直流耐压试验l3.8 3.8 冲击高压试验冲击高压试验l3.9 3.9 电气设备的在线检测技术电气设备的在线检测技术本章内容电气设备进行绝缘试验的必要性绝缘往往是电力系统中的薄弱环节,绝缘故障通常是引发电力系统
2、事故的首要原因。电介质理论仍远未完善,须借助于各种绝缘试验来检验和掌握绝缘的状态和性能。绝缘试验的分类 非破坏性试验:(预防性试验)指较低电压下或用其他不损伤绝缘的方法来测定电气设备绝缘的某些特性及其变化情况,从而判断在加工制造和运输、运行过程中可能出现的绝缘缺陷。绝缘电阻及泄露电流、介质损耗、局部放电等测量,色谱分析、X射线及超声波探测绝缘缺陷等破坏性试验:(高电压试验)模拟设备在运行过程中实际可能碰到的危险的过电压状况,对绝缘加上与之等价的高电压来进行试验,从而考核绝缘的耐电强度。工频耐压试验、直流耐压试验、冲击耐压试验绝缘的预防性试验l 在新设备投入运行前,在交接、安装、调试等环节中进行
3、l 运行中的各种电气设备的绝缘定期进行检查,以便及早发现绝缘缺陷,及时更换或修复,防患于未然。l 由于缺陷种类很多、影响各异,所以绝缘预防性试验的项目也就多种多样。每个项目所反映的绝缘状态和缺陷性质亦各不相同,故同一设备往往要接受多项试验,才能作出比较准确的判断和结论。电气绝缘高电压试验l 电气设备的绝缘在运行中除了长期受到工作电压(工频交流电压或直流电压)的作用外,还会受到各种过电压的侵袭。l为了检验电气设备的绝缘强度,在出厂时、安装调试时或大修后需要进行各种高电压试验。l在高压试验室内应能模拟出这些试验电压,从而实现对电气设备绝缘进行耐压试验以考验各种绝缘耐受这些高电压作用的能力。绝缘的高
4、电压试验 在高压试验室用工频交流高压、直流高压、雷电冲击高压、操作冲击高压等模拟电气设备的绝缘在运行中受到的工作电压,用以考验各种绝缘耐受这些高电压作用的能力。特点l具有破坏性试验的性质。l一般放在非破坏性试验项目合格通过之后进行,以避免或减少不必要的损失。对试验顺序的要求对试验顺序的要求 应先进行非破坏性试验,最后进行破坏性应先进行非破坏性试验,最后进行破坏性试验。试验。如果非破坏性试验未能通过,则不再如果非破坏性试验未能通过,则不再往下进行破坏性试验。往下进行破坏性试验。对于充油设备,只有在对于充油设备,只有在油试验合格油试验合格后方可后方可进行破坏性试验。进行破坏性试验。补 充 绝缘电阻
5、是反映绝缘性能的最基本的指标之一,通常都用兆欧表来测量绝缘电阻。用兆欧表来测量电气设备的绝缘电阻被广泛的运用在常规绝缘试验中。1 绝缘电阻l绝缘电阻是一切电介质和绝缘结构的绝缘电阻是一切电介质和绝缘结构的绝缘状态最基本的综合性特性参数。绝缘状态最基本的综合性特性参数。3.1 绝缘电阻及吸收比的测量l手摇(或电动)直流发电机G(500V,1000V,2500V)。兆欧表的原理接线图 L:线路端 E:接地端 G:屏蔽端l流比计式的测量机构M,包括处在永磁磁场内的可动部分电压线圈LV和电流线圈LA。l被试物接到L和E之间时,摇动发电机手柄,直流电压就加到两个并联的支路上。lG的作用是使绝缘表面泄漏电
6、流不要流过线圈LA,测得的绝缘体积电阻不受绝缘表面状态的影响。l电压线圈LV和电流线圈中电流产生的力矩方向相反,使可动部分旋转。l当到达平衡时,指针偏转的角度正比于IV/IA。l偏转角度与试品绝缘电阻关系为:兆欧表的原理接线图)()()(xVAxAVRfRRRfIIf 2 吸收比 多层绝缘介质在直流电压作用下,有吸收现象,即电流随所加电压时间的延长而逐渐减小,最后趋于一恒定值(泄漏电流)。其绝缘电阻也将随时间的变化而变化,可据此作为判断绝缘状态的依据 l直流电压作用下流过绝缘介质的电流直流电压作用下流过绝缘介质的电流 电气设备中的绝缘介质是不导电的,但并非绝电气设备中的绝缘介质是不导电的,但并
7、非绝对不导电。对不导电。直流电压加到电力设备的绝缘介质直流电压加到电力设备的绝缘介质上时,会有一个随时间逐渐减小,最后趋于稳上时,会有一个随时间逐渐减小,最后趋于稳定的极微小的电流通过。定的极微小的电流通过。这个电流可视为由这个电流可视为由电容充电电流电容充电电流、吸收电流吸收电流和和泄漏电流泄漏电流三部分构成,如图所示。三部分构成,如图所示。补 充补 充 绝大多数设备绝缘采用的是多种介质分层结构。就基本机理而言,多种介质中的吸收现象与双层介质没什么不同。双层介质的吸收现象略讲 为了分析方便,改用电阻R1和R2代替上图中的电导G1和G2。(R11/G1,R2=1/G2)开关S合闸作为时间t的起
8、点,在t=0+的极短时间内,层间电压按下式分布 21210CCCUU21120CCCUU略讲 达到稳态时,层间电压按电阻分布 2111RRRUU2122RRRUU 稳态电流将为电导电流 21RRUIg略讲 由于存在吸收现象,1、2上的初始电压和稳态时的不等,该过程中,层间电压变化为:teRRRCCCRRRUu2112122111teRRRCCCRRRUu2122112122212121)(RRRRCC时间常数为:略讲 流过双层介质的电流为:11CRiii22CRiii 或 用流过R1和C1的电流表示,则:teRRRRCCCRCRURRUi21212212112221)()()(上式中,第一项为
9、电导电流Ig,第二项为吸收电流ia:绝缘严重受潮或出现导电性缺陷时,阻值R1、R2或两者之和显著减小,Ig大大增加,而ia迅速衰减,吸收过程很快 略讲l 吸收比K定义为加压60s时的绝缘电阻与15s时的绝缘电阻比值。吸收比的定义及判断方法l K恒大于1,且越大表示绝缘性能越好。绝缘受潮后,吸收电流衰减很快,在15s时已衰减很多,60s时的绝缘电阻和15s时已经比较接近,其极限值为1。l 一般认为如K1.3,就可判断为绝缘可能受潮。ssRRK15601被试品被试品1的绝缘的绝缘状况较好。状况较好。被试品被试品2的绝缘的绝缘状况较差,受状况较差,受潮较为严重,潮较为严重,必须进行干燥必须进行干燥处
10、理。处理。补 充l 大容量电气设备中,吸收现象延续很长时间,吸收比不能很好地反映绝缘的真实状态,可用极化指数再判断。min1min102RRK l 对于220kV及以上且容量为120MVA及以上的电力变压器或功率在200MW及以上的同步发电机均应测量极化指数。补 充l 不论是绝缘电阻的绝对值或是吸收比都只是参考性的。如不满足最低合格值,则绝缘中肯定存在某种缺陷;但是,如已满足最低合格值,也还不能肯定绝缘是良好的。l 有些绝缘,特别是油浸的或电压等级较高的绝缘,即使有严重缺陷,用兆欧表测得的绝缘电阻值、吸收比,仍可能满足规定要求,这主要是因为兆欧表的电压较低的缘故。三比较方法 若个别试验项目不合
11、格,达不到规程的要求,可使用三比较方法。l与同类型设备作比较 同类型设备在同样条件下所得的试验结果应该大致相同,若差别很大就可能存在问题l在同一设备的三相试验结果之间进行比较 若有一相结果相差达50%以上,该相很可能存在缺陷l与该设备技术档案中的历年试验数据进行比较 若性能指标有明显下降情况,即可能出现新的缺陷 返回返回l 能有效发现的缺陷 绝缘受潮;两极间有贯穿性的导电通道;绝缘表面情况不良(比较有无屏蔽端时的绝缘电阻)l 不能发现的缺陷 绝缘中的局部缺陷:如非贯穿性的局部损伤、含有气泡、分层脱开等;绝缘的整体老化测量绝缘电阻的作用返回l测量泄漏电流从原理上来说,与测量绝缘电阻是相似的,但它
12、所加的直流电压要高得多,能发现用兆欧表所不能显示的某些缺陷,具有自己的某些特点。3.2 泄漏电流的测量l 交流电源经调压器接到试验变压器T的初级绕组上。其电压用电压表PV1测量;l 试验变压器输出的交流高压经高压整流元件V(一般采用高压硅堆)接在稳压电容C上。泄漏电流试验接线图 1 泄漏电流测量原理微安表微安表泄漏电流试验接线图 lR为保护电阻,以限制初始充电电流和故障短路电流不超过整流元件和变压器的允许值。l整流所得的直流高压可用高压静电电压表PV2测得l泄漏电流则以接在被试品TO高压侧或接地侧的微安表来测量。l加在试品上的直流电压要比兆欧表的工作电压高得多,可达10kV以上2 泄漏电流测量
13、的特点l能发现兆欧表所不能发现的某些缺陷,如未贯穿的集中性缺陷l可在试验中随电压升高,观察泄漏电流与时间的关系,绘出曲线进行全面分析 直流耐压试验和泄漏电流试验一般结合直流耐压试验和泄漏电流试验一般结合进行。进行。即在直流耐压过程中,随着电压即在直流耐压过程中,随着电压的升高,分段读取泄漏电流值,最后进的升高,分段读取泄漏电流值,最后进行直流耐压试验。行直流耐压试验。补 充小 结l绝缘电阻是一切电介质和绝缘结构的绝缘状态最基本的综合特性参数。l电气设备中大多采用组合绝缘和层式结构,在直流电压下均有明显的吸收现象,测量吸收比可检验绝缘是否严重受潮或存在局部缺陷。l测量泄漏电流从原理上来说,与测量
14、绝缘电阻是相似的,但它所加的直流电压要高得多,能发现用兆欧表所不能显示的某些缺陷,具有自己的某些特点。返回作业:3.1 3.2(教材P94)ltan能反映绝缘的整体性缺陷(例如全面老化)和小电容试品中的严重局部性缺陷。根据tan随电压而变化的曲线,可判断绝缘是否受潮、含有气泡及老化的程度。l测量tan不能灵敏地反映大容量发电机、变压器和电力电缆(它们的电容量都很大)绝缘中的局部性缺陷,这时尽可能将这些设备分解成几个部分,然后分别测量。3.3 介质损耗角正切值介质损耗角正切值tan的测量的测量 l介质的功率损耗P与介质损耗角正切tan成正比,所以后者是绝缘品质的重要指标,测量tan值是判断电气设
15、备绝缘状态的一项灵敏有效的方法。西林电桥原理接线图 图中Cx,Rx为被测试样的等效并联电容与电阻,R3为可调的无感电阻,CN为高压标准电容,C4为可调电容,R4为定值无感电阻,P为交流检流计。西林电桥测量法的基本原理 补充 交流电压作用下,调节R3和C4,使电桥达到平衡。此时,通过检流计P的电流为零,说明A,B两点无电位差。BDADCBCAUUUU.BDCBADCAUUUU.桥臂CA和AD中流过电流相同,而CB和BD中流过电流相同。所以各桥臂电压之比即相应的阻抗之比。43ZZZZNX略讲 式中Zx、Zn、Z3、Z4分别是电桥的试样阻抗,标准电容器阻抗以及桥臂Z3和Z4的阻抗 11xxxjCZR
16、w=+1NNZjCw=33ZR=44411j CZRw=+略讲而介质并联等值电路的介质损耗角正切为:)1(2424234RCRCRCNxNxCRCRCRR24242242423)1(可求得试品电容和等值电阻分别为441RCRCtgxx因为 ,如取 ,并取C4的单位为uF,则1002f10004R4Ctg 为了读数的方便于工作,通常将面板上可调电容C4的电容值直接标记成被试品的正切值 如C4=0.006uF,直接标成0.6%介损角正切值的实际使用当 时,试样电容可近似地按下式计算:tan0.1x 当桥臂电阻R3,R4和电容CN,C4已知时就可以求得试样电容和损耗角正切。342342424234)
17、1()1(RCRtgRCRRCRCRCNNNx试品电容的近似值反接法:由于绝大多数电气设备的金属外壳是直接放在接地底座上的,换言之,被试品的一极往往是固定接地的,应改用下图的反接线法进行测量。西林电桥反接线原理图 电桥平衡的过程与正接线时无异,所不同者在于各个调节元件、检流计和屏蔽网均处于高电位,故必须保证足够的绝缘水平和采取可靠的保护措施。用M型介质试验器测试tantanIR/IC,由于损耗角,由于损耗角很小,因此斜边很小,因此斜边I的长度和直角边的长度和直角边IC的长度十分接近,即的长度十分接近,即 将上式分子、分母同乘电压将上式分子、分母同乘电压U,于是有,于是有 式中,式中,P为介质损
18、耗功率,为介质损耗功率,mW;S为视在容量,为视在容量,mVA。因此,只要给被试品的绝缘上施加一个交流试验电压,因此,只要给被试品的绝缘上施加一个交流试验电压,测量介质损耗功率测量介质损耗功率p p的毫瓦数和视在容量毫伏安数,的毫瓦数和视在容量毫伏安数,即可近似计算出介质损耗角正切值即可近似计算出介质损耗角正切值tantan。M型介质试验器就是利用这一原理制造的。考虑到试验型介质试验器就是利用这一原理制造的。考虑到试验操作时的人身设备安全,操作时的人身设备安全,M型介质试验器的最高测试电压型介质试验器的最高测试电压为交流为交流2500V。IIIIRCRtanSPIUUIIIIIRRCRtan影
19、响西林电桥测量的因素 l测试tan时排除电场干扰的方法主要有屏蔽、选相、倒相法、移相法和采用反干扰电源平衡干扰等方法。l防止外界磁场干扰的主要措施是将测量仪器尽量远离干扰源。1 外界电磁场的干扰影响2 温度的影响 l温度对tan值的影响很大,具体的影响程度随绝缘材料和结构的不同而异。l一般来说,tan随温度的增高而增大。l现场试验时的绝缘温度是不一定的,所以为了便于比较,应将在各种温度下测得的tan值换算到20时的值。3 试验电压的影响 l良好的绝缘在额定电压范围内,tan不随电压的升高而明显增加l若绝缘内部有缺陷时(如气泡),若试验电压超过气泡的放电电压时,tan将随试验电压的升高而明显增加
20、 如图中曲线如图中曲线A所示,良好绝缘的所示,良好绝缘的tan不随试验电压不随试验电压U的升高而增大,只有在接近设备额定电压时才随的升高而增大,只有在接近设备额定电压时才随试验电压试验电压U的升高的升高tan略有增大。当试验电压降低略有增大。当试验电压降低时,时,tan仍仍延原来上升时的曲线下降延原来上升时的曲线下降。如果绝缘中存在气隙,则如图中的曲线如果绝缘中存在气隙,则如图中的曲线B所示,在所示,在试验电压尚来达到气隙游离起始放电电压之前,试验电压尚来达到气隙游离起始放电电压之前,tan基本保持恒定,不因电压升高而改变;但当基本保持恒定,不因电压升高而改变;但当试验电压升高到绝缘中的气隙开
21、始出现游离时,试验电压升高到绝缘中的气隙开始出现游离时,tan急剧升高。当逐步降低试验电压时,急剧升高。当逐步降低试验电压时,tan也也随之降低,但高于试验电压上升时对应电压下的随之降低,但高于试验电压上升时对应电压下的tan值。直到试验电压降到低于气体游离电压时,值。直到试验电压降到低于气体游离电压时,曲线又重合而形成曲线又重合而形成闭口环状闭口环状。图中曲线图中曲线C表示绝缘受热老化时的情况。在试表示绝缘受热老化时的情况。在试验电压较低时验电压较低时tan甚至较良好绝缘时还要小,但甚至较良好绝缘时还要小,但当试验电压增大时,绝缘中很容易出现局部放电,当试验电压增大时,绝缘中很容易出现局部放
22、电,tan显著增大。显著增大。图中曲线图中曲线D表示绝缘受潮时的情况。绝缘受潮表示绝缘受潮时的情况。绝缘受潮时时tan明显增大,随着试验电压的升高,曲线往明显增大,随着试验电压的升高,曲线往上翘。这是由于绝缘受潮,泄漏电流和极化电流上翘。这是由于绝缘受潮,泄漏电流和极化电流都增大,使绝缘中的发热加剧所致。当试验电压都增大,使绝缘中的发热加剧所致。当试验电压降低时,由于绝缘中已出现介质温度升高,降低时,由于绝缘中已出现介质温度升高,tan与温度有关,因此即使试验电压降低,与温度有关,因此即使试验电压降低,tan也回也回不到原来相应电压下的数值,曲线呈现开口环。不到原来相应电压下的数值,曲线呈现开
23、口环。对于电容量较小的试品(例如套管、互感器等),测量tan能有效地发现局部集中性缺陷和整体分布性缺陷。但对电容量较大的试品(例如大中型发电机、变压器、电力电缆、电力电容器等)测量tan只能发现整体分布性缺陷。4 试品电容量的影响 5 试品表面泄漏的影响 试品表面泄漏电阻总是与试品等值电阻Rx并联,显然会影响所测得的tan值,在试品的Cx较小时尤需注意。测试前应当清除绝缘表面的积污和水分,必要时还可在绝缘上装设屏蔽极。返回返回小 结测量 值是判断电气设备绝缘状态地一项灵敏有效的方法。值的测量,最常用的是西林电桥。的测量受一系列外界因素的影响。试验中应尽可能采用屏蔽,除污等方法消除这些影响。tg
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