核分析技术与方法课件.ppt
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1、第三章第三章 核分析技术与方法核分析技术与方法第1页,共71页。主要内容主要内容第一节第一节 核分析技术基础核分析技术基础第二节第二节 X射线荧光分析射线荧光分析第三节第三节 中子活化分析技术中子活化分析技术第四节第四节 同位素示踪技术同位素示踪技术第2页,共71页。核分析技术核分析技术核技术应用核技术应用反应堆、加反应堆、加速器等设施速器等设施同位素技术同位素技术引言引言第3页,共71页。p核分析技术原理核分析技术原理p核分析技术的种类核分析技术的种类p核分析技术特点核分析技术特点第4页,共71页。核分析技术原理核分析技术原理核分析技术是基于被测定的材料或样品在射线和粒核分析技术是基于被测定
2、的材料或样品在射线和粒子束的作用下,产生相应的子束的作用下,产生相应的辐射特征辐射特征(射线、粒子、辐射线、粒子、辐射能量射能量),或者是有的材料或样品本身具有辐射特征,利,或者是有的材料或样品本身具有辐射特征,利用相应的探测器测量材料或样品中某核素辐射特征(如用相应的探测器测量材料或样品中某核素辐射特征(如特征谱线)确定核素种类,经过计数效率刻度可进一步特征谱线)确定核素种类,经过计数效率刻度可进一步确定样品中核素的活度、含量等信息。确定样品中核素的活度、含量等信息。可以可以定性分析定性分析,又可以,又可以定量分析定量分析。第5页,共71页。离子束分析技术离子束分析技术(Ion beam a
3、nalysisIon beam analysis,IBAIBA)超精细相互作用核分析超精细相互作用核分析(Hyper fine effect analysisHyper fine effect analysis)活化分析技术活化分析技术(Activation analysisActivation analysis)核分析技术的种类核分析技术的种类核反应分析(核反应分析(NRA);卢瑟福背散射(卢瑟福背散射(RBS);质子诱发质子诱发X射线荧光分析(射线荧光分析(PIXE););加速器质谱分析(加速器质谱分析(AMS););沟道效应分析(沟道效应分析(CT););穆斯堡尔效应;穆斯堡尔效应;核磁
4、共振效应(核磁共振效应(NMR););正电子湮灭效应(正电子湮灭效应(PAT););中子衍射中子衍射(Neutron diffraction););中子散射(中子散射(Neutron scattering););带电粒子活化;带电粒子活化;射线活化;射线活化;中子活化中子活化 。第6页,共71页。灵敏度高、准确度好、分辨率高、灵敏度高、准确度好、分辨率高、非破坏性非破坏性、具备多元、具备多元素分析能力、能实施离线和在线测量。素分析能力、能实施离线和在线测量。核分析技术特点核分析技术特点非破坏性分析(非破坏性分析(Non-destructive analysis,NDA)由于铀、钚是核武器的核心
5、材料,是核保障的主要对象,由于铀、钚是核武器的核心材料,是核保障的主要对象,所以发展铀、钚材料的非破坏性辐射探测与分析技术是极为所以发展铀、钚材料的非破坏性辐射探测与分析技术是极为重要的,不仅可以获得铀、钚材料的同位素丰度、化学组分重要的,不仅可以获得铀、钚材料的同位素丰度、化学组分等化学信息,同时还可以获得铀、钚材料的质量、年龄、形等化学信息,同时还可以获得铀、钚材料的质量、年龄、形状、包装容器材料厚度、核设施内部污染分布状况等物理信状、包装容器材料厚度、核设施内部污染分布状况等物理信息。息。NDA NDA技术对核安全保障、军控核查、核设施退役和核污技术对核安全保障、军控核查、核设施退役和核
6、污染物处置等方面起到了积极的支撑作用。染物处置等方面起到了积极的支撑作用。第7页,共71页。物理、化学、生物、地质、考古等学科所研究的各种实物理、化学、生物、地质、考古等学科所研究的各种实体与物质的分析,如文物鉴定、年代测定、产地确定、制作体与物质的分析,如文物鉴定、年代测定、产地确定、制作工艺水平分析等。工艺水平分析等。核分析技术应用核分析技术应用第8页,共71页。pX射线荧光分析的基本原理射线荧光分析的基本原理pX射线荧光光谱仪的基本结构射线荧光光谱仪的基本结构p定性定量分析方法定性定量分析方法pX射线荧光光谱法的特点射线荧光光谱法的特点第9页,共71页。引言引言 X X射线荧光分析(射线
7、荧光分析(XRFXRF)技术即是利用初级)技术即是利用初级X X射线或其它射线或其它微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X X射射线)而进行物质成份分析和化学形态研究的方法。线)而进行物质成份分析和化学形态研究的方法。X X射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫外线和外线和射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫致辐射所产生的致辐射所产生的X X射线,其能量可能远大于射线,其能量可能远大于射线,故射线,故X X射线射线的波长范围没有严
8、格的界限,对于的波长范围没有严格的界限,对于X X射线荧光分析而言,一射线荧光分析而言,一般是指波长为般是指波长为0.001nm0.001nm50nm50nm的电磁辐射。对化学分析来说,的电磁辐射。对化学分析来说,最感兴趣的波段是最感兴趣的波段是0.01nm0.01nm24nm24nm,0.01nm0.01nm附近是超铀元素的附近是超铀元素的K K系谱线,系谱线,24nm24nm则是最轻元素则是最轻元素LiLi的的K K系谱线。系谱线。第10页,共71页。一、一、X射线荧光分析的基本原理射线荧光分析的基本原理 高能高能X X射线与原子发生碰撞,激发出一个内层电子而射线与原子发生碰撞,激发出一个
9、内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命极短,约为发态原子寿命极短,约为1010-12-12s s1010-14-14s s,然后自发地由,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态,这个过程称为能量高的状态跃迁到能量低的状态,这个过程称为弛弛豫过程豫过程。弛豫过程可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。弛豫过程可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。第11页,共71页。荧光荧光X X射线及俄歇电子产生过程射线及俄歇电子产生过程荧光荧光X X射线及俄歇电子产生过程示意图射线及俄歇电子产生过程示意图俄歇电子的能量是俄歇电子
10、的能量是特征性的。特征性的。X X射线荧光的能量射线荧光的能量或波长是特征性的。或波长是特征性的。与元素有一一对与元素有一一对应的关系。应的关系。第12页,共71页。谱线系谱线系产生产生K K系和系和L L系辐射示意图系辐射示意图原子原子K K层电子被逐层电子被逐出后,其空穴可以出后,其空穴可以被外层中任一电子被外层中任一电子所填充,从而可产所填充,从而可产生一系列的谱线,生一系列的谱线,称为称为K K系谱线系谱线:由:由L L层跃迁到层跃迁到K K层辐射的层辐射的X X射线叫射线叫K K射线射线,由,由M M层跃迁到层跃迁到K K层辐射层辐射的的X X射线叫射线叫K K射线射线第13页,共7
11、1页。莫斯莱定律莫斯莱定律莫斯莱(莫斯莱(H G MoseleyH G Moseley)发现,)发现,荧光荧光X X射线的波长射线的波长与元素与元素的原子序数的原子序数Z Z满足满足=k(Z-s)=k(Z-s)-2-2 式中式中 k k和和s s对同组谱线来说是常数对同组谱线来说是常数 荧光荧光X X射线的能量为:射线的能量为:E E=h h=hChC/只要测出荧光只要测出荧光X X射线的波长或者能量,就可以确定元射线的波长或者能量,就可以确定元素的种类,即进行元素的定性分析。测出荧光素的种类,即进行元素的定性分析。测出荧光X X射线射线的强度即可进行元素的定量分析。的强度即可进行元素的定量分
12、析。第14页,共71页。二、二、X射线荧光光谱仪的基本结构射线荧光光谱仪的基本结构 由于由于X X射线具有一定射线具有一定波长,又有一定能量,波长,又有一定能量,因此,因此,X X射线荧光光谱射线荧光光谱仪有两种类型:仪有两种类型:波长色波长色散型散型和和能量色散型能量色散型。X X射线荧光光谱仪射线荧光光谱仪主要由主要由激发激发、色散色散、探探测测、记录及数据处理记录及数据处理等等单元组成。单元组成。第15页,共71页。1、X射线管射线管 X X射线管产生的射线管产生的X X射线透过铍窗入射到样品上,激射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征发出样品元素的特征X X射线射线。X X射线
13、管所消耗功率的射线管所消耗功率的0.2%0.2%左右转变为左右转变为X X射线辐射,其余均变为热能使射线辐射,其余均变为热能使X X射线射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。第16页,共71页。2、分分光系统光系统主要部件是主要部件是晶体分晶体分光器光器,它的作用是,它的作用是通过晶体衍射现象通过晶体衍射现象把不同波长的把不同波长的X X射射线分开。线分开。晶体的布拉格衍射定律晶体的布拉格衍射定律 2dsin=n 2dsin=n 改变改变可观测到不同可观测到不同的的荧光荧光X X射线射线。分光晶体转。分光晶体转动动角角,检测器必须转动检测器必须
14、转动22角。角。第17页,共71页。3、检测记录系统检测记录系统将将X X射线光子能射线光子能量转化为电信号。量转化为电信号。检测器有检测器有流气流气正比计数器正比计数器和和闪烁计数器闪烁计数器。流气正比计数器主要由金属圆筒负极和芯线正极组成流气正比计数器主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩(筒内充氩(90%90%)和甲烷()和甲烷(10%10%)的混合气体。)的混合气体。适用于轻元适用于轻元素的检测。素的检测。第18页,共71页。3、检测记录系统检测记录系统将将X X射线光子能射线光子能量转化为电信号。量转化为电信号。检测器有检测器有流气流气正比计数器正比计数器和和闪烁计数器闪烁计数器
15、。闪烁计数器适用于重元素的检测。闪烁计数器适用于重元素的检测。第19页,共71页。荧光荧光X射线谱图射线谱图由由X X光激发产生的光激发产生的荧光荧光X X射线,经晶射线,经晶体分光后,由检测体分光后,由检测器检测。器检测。2-荧光荧光X射线强度关系曲线射线强度关系曲线这种方法分辨率高,这种方法分辨率高,但探测效率低,主但探测效率低,主要用于化学环境下要用于化学环境下的精细结构研究。的精细结构研究。第20页,共71页。4、能量色散谱仪能量色散谱仪利用荧光利用荧光X X射线具有不同能量的特点,将其分开并检测,射线具有不同能量的特点,将其分开并检测,不必使用分光晶体,而是依靠半导体探测器来完成。不
16、必使用分光晶体,而是依靠半导体探测器来完成。最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素、分析速最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素、分析速度快。度快。对对X X射线的总检测效率比波谱高射线的总检测效率比波谱高,因此可以使用,因此可以使用小功率小功率X X光管激发荧光光管激发荧光X X射线。工作稳定,仪器体积小。射线。工作稳定,仪器体积小。缺点是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存。缺点是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存。对轻对轻元素检测困难元素检测困难。得到计数率随光子能量变化的得到计数率随光子能量变化的分布曲线,即分布曲线,即X X光能谱图。光能谱图。第21页,共71页。三、三、定
17、性定量分析方法定性定量分析方法 样品的形态可以是固态(块状、粉末),也可以样品的形态可以是固态(块状、粉末),也可以是液态。是液态。X X射线荧光光谱分析是一种相对分析方法,需要通过射线荧光光谱分析是一种相对分析方法,需要通过测试标准样品确定待测样品的含量。测试标准样品确定待测样品的含量。所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不能含有腐所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不能含有腐蚀性溶剂。蚀性溶剂。样品的制备情况对测定结果的不确定度很大。样品的制备情况对测定结果的不确定度很大。第22页,共71页。定性分析定性分析 不同元素的荧光不同元素的荧光X X射线具有各自的特定波长或能量,射线具有各自
18、的特定波长或能量,因此根据荧光因此根据荧光X X射线的波长或能量可以确定元素的组成。射线的波长或能量可以确定元素的组成。波长色散型光谱仪波长色散型光谱仪检测器转动的检测器转动的22角可以求出角可以求出X X射线的波长射线的波长,从而确定元,从而确定元素成份。素成份。能量色散型光谱仪能量色散型光谱仪由谱线对应能量确定是何种由谱线对应能量确定是何种元素及成份。元素及成份。第23页,共71页。定量分析定量分析含量定量分析的依据:含量定量分析的依据:元素的荧光元素的荧光X X射线强度射线强度I Ii i与试样与试样中该元素的含量中该元素的含量C Ci i成正比。成正比。C Ci i为待测元素浓度;为待
19、测元素浓度;K Ki i仪器校正因子;仪器校正因子;I Ii i待测元素的荧光待测元素的荧光X X射线净强度;射线净强度;M Mi i元素间吸收增强效应校正因子;元素间吸收增强效应校正因子;S Si i与样品的物理形态(均匀性、厚度、表面结构等)与样品的物理形态(均匀性、厚度、表面结构等)有关的因子。有关的因子。C Ci i=K=Ki iI Ii iM Mi iS Si iI Ii iC Ci i定量分析定量分析方法:方法:标准曲线法、增量法、内标法等标准曲线法、增量法、内标法等第24页,共71页。定量分析定量分析内标法内标法在工业分析中较多采用。例如,采用在工业分析中较多采用。例如,采用X射
20、线衍射内标射线衍射内标法测定烧结矿中法测定烧结矿中FeO含量时,选择含量时,选择NaCl为内标物质,将为内标物质,将其以其以20%的质量比例掺入已知的质量比例掺入已知FeO含量的磁铁矿和烧结含量的磁铁矿和烧结矿标准样品中,通过测量样品中矿标准样品中,通过测量样品中Fe3O4衍射峰和内标物衍射峰和内标物NaC1衍射峰的强度,获得衍射强度比值衍射峰的强度,获得衍射强度比值IFe3O4/INaCl,然,然后根据后根据IFe3O4/INaCl与已知样品中与已知样品中FeO物相含量,作出物相含量,作出定标定标曲线曲线。实测样品时,按同样方法掺入内标物质,获得。实测样品时,按同样方法掺入内标物质,获得样品
21、中样品中Fe3O4和和NaCl衍射强度比值衍射强度比值IFe3O4/INaCl,即可快速,即可快速获得待测样品中获得待测样品中FeO含量。含量。第25页,共71页。定量分析定量分析基体效应基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对化对X射线荧光强度所造成的影响。射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化,会影响样品对初级化学组成的变化,会影响样品对初级X射线和射线和X射线射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。例如,在测定不锈例如,在测定不锈钢中钢中Fe和和Ni等元素时,由于初级等元素时,由于初级X射线的激发会产生
22、射线的激发会产生NiK荧光荧光X射线,射线,NiK在样品中可能被在样品中可能被Fe吸收,使吸收,使Fe激发产生激发产生FeK。测定。测定Ni时,因为时,因为Fe的吸收效应使结果偏低;测定的吸收效应使结果偏低;测定Fe时,由于荧光增强效应使结果偏高。因此,对于成时,由于荧光增强效应使结果偏高。因此,对于成份和结构复杂的样品基体,需要用各种算法进行修正,份和结构复杂的样品基体,需要用各种算法进行修正,以实现准确分析。以实现准确分析。第26页,共71页。厚度定量分析厚度定量分析厚度定量分析的依据厚度定量分析的依据是厚度为是厚度为T的某种元素的薄膜的荧光的某种元素的薄膜的荧光X射线强度射线强度IT与无
23、限厚(实际达到饱和厚度即可)薄膜元与无限厚(实际达到饱和厚度即可)薄膜元素的荧光素的荧光X射线强度射线强度I有如下关系:有如下关系:IT /I=1e-s*T=1e-kT kk与薄膜有关的一个常数与薄膜有关的一个常数 对于单层薄膜厚度,可直接由对于单层薄膜厚度,可直接由上式计算获得。多层上式计算获得。多层薄膜厚度的定量分析与单层薄膜类似,但是需要考虑薄膜厚度的定量分析与单层薄膜类似,但是需要考虑外层薄膜对内层薄膜荧光的吸收作用,算法更加复杂。外层薄膜对内层薄膜荧光的吸收作用,算法更加复杂。第27页,共71页。四、四、X射线荧光光谱法的特点射线荧光光谱法的特点p分析的元素范围广分析的元素范围广,从
24、原子序数为,从原子序数为1111的的NaNa到到9292的的U U均可测均可测定。定。p荧光荧光X X射线谱线简单射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便。分析方法比较简便。p分析浓度范围较宽分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达素的检测限可达1ppm1ppm。p可用于样品的无损分析可用于样品的无损分析,且快速、准确、自动化程,且快速、准确、自动化程度高。度高。第28页,共71页。第三节第三节 中子活化分析技术中子活化分析技术p活化分析的分类活化分析的分类p活化分析的原理活化分析的原理p中子活化分析技术基
25、础中子活化分析技术基础p中子活化分析的特点中子活化分析的特点p中子活化分析技术的应用中子活化分析技术的应用第29页,共71页。引言引言 活化分析是核分析技术中一种重要的分析方法。具有活化分析是核分析技术中一种重要的分析方法。具有高灵敏度、快速、非破坏性、可多元素同时分析等特点。高灵敏度、快速、非破坏性、可多元素同时分析等特点。第30页,共71页。中子活化分析的应用举例(中子活化分析的应用举例(1)p第一起使用中子活化分析侦破的案例。第一起使用中子活化分析侦破的案例。1958 1958年年5 5月月1 1日傍晚,日傍晚,1616岁的加拿大小女孩加埃塔恩岁的加拿大小女孩加埃塔恩布查德离家去埃布查德
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