材料分析测试技术材料X射线衍射和电子显微分析课件.ppt
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1、材料分析测试技术材料分析测试技术 哈尔滨工业大学(威海) 材料科学与工程学院 X射线衍射分析技术材料:你们最关心的是什么?性能:你认为与哪些因素有关?结构:有哪些检测分析技术?绪论 物质的性质、材料的性能决定于它们的组成和微观结构。 如果你有一双X射线的眼睛,就能把物质的微观结构看个清清楚楚明明白白! X射线衍射将会有助于你探究为何成份相同的材料,其性能有时会差异极大. X射线衍射将会有助于你找到获得预想性能的途径。1、衍射分析技术的发展与与X X射线及晶体衍射有关的部分诺贝尔奖获得者名单射线及晶体衍射有关的部分诺贝尔奖获得者名单 年 份学 科得奖者内 容1901物理伦琴Wilhelm Con
2、ral RontgenX射线的发现1914物理劳埃Max von Laue晶体的X射线衍射亨利.布拉格Henry Bragg劳伦斯.布拉格Lawrence Bragg.1917物理巴克拉Charles Glover Barkla元素的特征X射线1924物理卡尔.西格班Karl Manne Georg SiegbahnX射线光谱学戴维森Clinton Joseph Davisson汤姆孙George Paget Thomson1954化学鲍林Linus Carl Panling化学键的本质肯德鲁John Charles Kendrew帕鲁兹Max Ferdinand Perutz1962生理医学
3、Francis H.C.Crick、JAMES d.Watson、Maurice h.f.Wilkins脱氧核糖核酸DNA测定1964化学Dorothy Crowfoot Hodgkin青霉素、B12生物晶体测定霍普特曼Herbert Hauptman卡尔Jerome Karle鲁斯卡E.Ruska电子显微镜宾尼希G.Binnig扫描隧道显微镜罗雷尔H.Rohrer布罗克豪斯 B.N.Brockhouse中子谱学沙尔 C.G.Shull中子衍射直接法解析结构1915物理晶体结构的X射线分析1937物理电子衍射1986物理1994物理1962化学蛋白质的结构测定1985化学 第一章 X射线性质
4、返回目录 1-1 X射线的本质射线的本质; 1-2 X射线的产生射线的产生; 1-3 X射线谱射线谱; 1-4 X射线与物质相互作用射线与物质相互作用; 1-5 X射线的探测与防护射线的探测与防护; 返回1-1 X射线的本质射线的本质 X射线的本质是电磁辐射,与可见光完全相同,仅是波长短而已,因此具有波粒二像性。 (1)波动性; (2)粒子性。波动性 X射线的波长范围: 0.01100 表现形式:在晶体作衍射光栅观察到的X射线的衍射现象,即证明了X射线的波动性。 硬X射线:波长较短的硬X射线能量较高,穿透性较强,适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。 软X射线:波长较长的软X射线能量较低,穿
5、透性弱,可用于分析非金属的分析。 X射线波长的度量单位常用埃()或晶体学单位(kX)表示;通用的国际计量单位中用纳米(nm)表示,它们 之 间 的 换 算 关 系 为 : 1 n m = 1 0 = m 1kX=1.00207720.000053A (1973年值)。910粒子性 特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。 表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应;二次电子等。 X射线的频率、波长以及其光子的能量、动量p之间存在如下关系: 式中h普朗克常数,等于6.625 J.s; cX射线的速度,等于2.998 cm/s. hchhp 34101010相关习题:
6、1.试计算波长试计算波长0.71A(Mo-K)和)和1.54A(Cu- K)的)的X射线束,其频率和每个射线束,其频率和每个量子的能量?量子的能量? 解答1-2 X射线的产生 (1)产生原理; (2)产生条件; (3)过程演示; (4) X射线管; (5)其它X射线装置。 产生原理 高速运动的电子与物体碰撞时,发生能量转换,电子的运动受阻失去动能,其中一小部分(1左右)能量转变为X射线,而绝大部分(99左右)能量转变成热能使物体温度升高。产生条件 1.产生自由电子;产生自由电子; 2.使电子作定向的使电子作定向的高速高速运动运动; 3.在其运动的路径上设置一个障碍物使在其运动的路径上设置一个障
7、碍物使电子突然减速或停止。电子突然减速或停止。接变压器玻璃钨灯丝金属聚灯罩铍窗口金属靶冷却水电子X射线X射线X射线管剖面示意图(回车键演示)过程演示 X射线管 1.X射线管的结构;图1-2; 2.特殊构造的X射线管; 3.市场上供应的种类。 X射线管的结构 封闭式X射线管实质上就是一个大的真空( )二极管。基本组成包括: (1)阴极:阴极是发射电子的地方。 (2)阳极:亦称靶,是使电子突然减速和发射X射线的地方。mmHg751010 (3)窗口:窗口是X射线从阳极靶向外射出的地方。 (4)焦点:焦点是指阳极靶面被电子束轰击的地方,正是从这块面积上发射出X射线。 特殊构造的X射线管; (1)细聚
8、焦X射线管; (2)旋转阳极X射线管。 市场上供应的种类 (1)密封式灯丝X射线管; (2)可拆式灯丝X射线管.1-3 X射线谱 由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型: (1)连续X射线; (2)标识X射线。 连续X射线 具有连续波长的X射线,构成连续X射线谱,它和可见光相似,亦称多色X射线。 产生机理; 演示过程; 短波限; X射线的强度。 产生机理 能量为eV的电子与阳极靶的原子碰撞时,电子失去自己的能量,其中部分以光子的形式辐射,碰撞一次产生一个能量为h的光子,这样的光子流即为X射线射线。单位时间内到达阳极靶面的电子数目是极大量的,绝大多数电子要经历多次碰撞,产生能量各不相同的辐射
9、,因此出现连续连续X射线谱射线谱。短波限 连续X射线谱在短波方向有一个波长极限,称为短波限0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。它只与管电压有关,不受其它因素的影响。 相互关系为: 式中e电子电荷,等于 静电单位; V电子通过两极时的电压降(静电单位); h普朗克常数,等于0maxhcheV1010803. 4sj3410625. 6X射线的强度 X射线的强度是指垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目光子数目的能量总和。能量总和。 常用的单位是J/cm2.s. X射线的强度I是由光子能量hv和它的数目n两个因素决定的,即I=nhv.连续X射线强度最大值在1.50,
10、而不在0处。 连续X射线谱中每条曲线下的面积表示连续X射线的总强度。也是阳极靶发射出的X射线的总能量。图1-5 实验证明,I与管电流、管电压、阳极靶的原子序数存在如下关系: 且X射线管的效率为:imiZVI连ZViViZVXX2电子流功率射线功率射线管效率标识X射线 是在连续谱的基础上叠加若干条具有一定波长的谱线,它和可见光中的单色相似,亦称单色X射线。 1.标识X射线的特征 ; 2.产生机理 ; 3.过程演示 ; 4.K系激发机理 ; 5.莫塞莱定律; 6.标识X射线的强度特征。 标识X射线的特征 当电压达到临界电压时,标识谱线的波长不再变,强度随电压增加。如钼靶K系标识X射线有两个强度高峰
11、为K和K,波长分别为0.71A和0.63A.产生机理 标识X射线谱的产生相理与阳极物质的原子内部结构紧密相关的。原子系统内的电子按泡利不相容原理和能量最低原理分布于各个能级。在电子轰击阳极的过程中,当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时,于是在低能级上出现空位,系统能量升高,处于不稳定激发态。较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁,并以光子的形式辐射出标识X射线谱。K态(击走K电子)L态(击走L电子)M态(击走M电子)N态(击走N电子)击走价电子中性原子WkWlWmWn0原子的能量标识X射线产生过程K激发L激发Ka辐射K辐射L辐射过程演示(任意键演示)K系激发机理 K层电子被击出时
12、,原子系统能量由基态升到K激发态,高能级电子向K层空位填充时产生K系辐射。L层电子填充空位时,产生K辐射;M层电子填充空位时产生K辐射。 由能级可知K辐射的光子能量大于K的能量,但K层与L层为相邻能级,故L层电子填充几率大,所以K的强度约为K的5倍。 产生K系激发要阴极电子的能量eVk至少等于击出一个K层电子所作的功Wk。Vk就是激发电压。莫塞莱定律 标识X射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构,是物质的固有特性。且存在如下关系: 莫塞莱定律:标识X射线谱的波长与原子序数Z关系为:ZK1标识X射线的强度特征 K系标识X射线的强度与管电压、管电流的关系为: 当I标/I连最大,工作电压
13、为K系激发电压的35倍时,连续谱造成的衍射背影最小。nkVViKI2标1-4 X射线与物质相互作用 X射线与物质相互作用时,产生各种不同的和复杂的过程。就其能量转换而言,一束X射线通过物质时,可分为三部分:一部分被散射,一部分被吸收,一部分透过物质继续沿原来的方向传播。 X射线的散射 ; X射线的吸收 ; X射线的衰减规律; 吸收限的应用; X射线的折射; 总结 。X射线的散射 X射线被物质散射时,产生两种现象: 相干散射; 非相干散射。相干散射 物质中的电子在X射线电场的作用下,产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。非相干
14、散射 X射线光子与束缚力不大的外层电子 或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子,X射线光子离开原来方向,能量减小,波长增加。非相干散射突出地表现出X射线的微粒特性,只能用量子理论来描述,亦称量子散射。它会增加连续背影,给衍射图象带来不利的影响,特别对轻元素。X射线的吸收 物质对X射线的吸收指的是X射线能量在通过物质时转变为其它形式的能量,X射线发生了能量损耗。物质对X射线的吸收主要是由原子内部的电子跃迁而引起的。这个过程中发生X射线的光电效应和俄歇效应。 光电效应; 俄歇效应。 X射线的衰减规律 当一束X射线通过物质时,由于散射和吸收的作用使其透射方向上的强度衰减。衰减的程度与所经过物
15、质中的距离成正比。式HHHxxxdxxxmeIeIIdxIdIIII0/0质量衰减系数m 表示单位重量物质对X射线强度的衰减程度。 质量衰减系数与波长和原子序数Z存在如下近似关系: K为常数 m随的变化是不连续的其间被尖锐的突变分开。突变对应的波长为K吸收限。33ZKm光电效应 以X光子激发原子所发生的激发和辐射过程。被击出的电子称为光电子光电子,辐射出的次级标识X射线称为荧光荧光X射线射线。 产生光电效应,X射线光子波长必须小于吸吸收限收限k。俄歇效应 原子在入射X射线光子或电子的作用下失掉K层电子,处于K激发态;当L层电子填充空位时,放出K - L能量,产生两种效应: (1) 荧光X射线;
16、 (2) 产生二次电离,使另一个核外电子成为二次电子俄歇电子。吸收限的应用 吸收限主要是由光电效应引起的:当X射线的波长等于或小于时光子的能量E到击出一个K层电子的功W,X射线被吸收,激发光电效应。使m突变性增大。吸收限与原子能级的精细结构对应。如L系有三个副层,有三个吸收限。滤波片的选择: (1)它的吸收限位于辐射源的K和K 之间,且尽量靠近K 。强烈吸收K,K吸收很小;(2)滤波片的以将K强度降低一半最佳。 Z靶40时 Z滤片=Z靶-2;阳极靶的选择:(1)阳极靶K波长稍大于试样的K吸收限;(2)试样对X射线的吸收最小。 Z靶Z试样+1。 X射线的折射 X射线从一种介质进入另一种介质产生折
17、射,折射率M非常接近1,M约为0.999990.999999 。 2222222121mcnemcneMX射线与物质相互作用的总结热能透射X射线衰减后的强度I0散射X射线电子荧光X射线相干的非相干 的反冲电子俄歇电子光电子康普顿效应俄歇效应 光电效应1-5 X射线的探测与防护 (1)X射线的探测; (2)X射线的安全防护。 X射线的探测 荧光屏法; 照相法; 辐射探测器法:X射线光子对气体和某些固态物质的电离作用可以用来检查X射线的存在与否和测量它和强度。按照这种原理制成的探测X射线的仪器电离室和各种计数器。工作原理在第7章介绍。X射线的安全防护 X射线设备的操作人员可能遭受电震和辐射损伤两种
18、危险。 电震的危险在高压仪器的周围是经常地存在的,X射线的阴极端为危险的源泉。在安装时可以把阴极端装在仪器台面之下或箱子里、屏后等方法加以保证。 辐射损伤是过量的X射线对人体产生有害影响。可使局部组织灼伤,可使人的精神衰颓、头晕、毛发脱落、血液的组成和性能改变以及影响生育等。安全措施有:严格遵守安全条例、配带笔状剂量仪、避免身体直接暴露在X射线下、定期进行身体检查和验血。 均 匀 性: 晶体内部各个部分的宏观性质是相同的。 各向异性: 晶体种不同的方向上具有不同的物理性质。 固定熔点: 晶体具有周期性结构,熔化时,各部分需要同样的温度。 规则外形: 理想环境中生长的晶体应为凸多边形。 对 称
19、性: 晶体的理想外形和晶体内部结构都具有特定的对称性。 1. 晶体具有如下性质:刚玉邻苯二甲酸氢锗酸铋电气石一、晶体的空间点阵(Space lattice)1. 空间点阵的概念将晶体中原子或原子团抽象为纯几何点(阵点 lattice point),即可得到一个由无数几何点在三维空间排列成规则的阵列空间点阵(space lattice)特征:每个阵点在空间分布必须具有完全相同的周围环境(surrounding)晶胞(Unite cells) 代表性的基本单元(最小平行六面体)small repeat entities选取晶胞的原则: )选取的平行六面体应与宏观晶体具有同样的对称性;)平行六面体内
20、的棱和角相等的数目应最多;)当平行六面体的棱角存在直角时,直角的数目应最多;)在满足上条件,晶胞应具有最小的体积。 lattice parameterlattice parametera,b,ca,b,c棱边长(点阵常数)棱边长(点阵常数)描述晶胞描述晶胞, , 晶轴间的夹角, , 晶轴间的夹角uvwuvw阵点 r= ua+vb+ wc阵点 r= ua+vb+ wca体积V(bc)体积V(bc)简单晶胞(初级晶胞):只有在平行六面体每个顶角上有一阵点复杂晶胞: 除在顶角外,在体心、面心或底心上有阵点 或用点阵矢量a,b,c或用点阵矢量a,b,c 二.晶系与布拉菲点阵(Crystal Syste
21、m and Bravais Lattice) 七个晶系,14个布拉菲点阵晶系布拉菲点阵晶系布拉菲点阵三斜Triclinicabc ,单斜 Monoclinicabc, =90正交abc,=90 简单三斜简单单斜底心单斜简单正交底心正交体心正交面心正交六方 Hexagonala1=a2a3c,=90 , =120菱方 Rhombohedrala=b=c, =90 四方(正方)Tetragonala=bc, =90 立方 Cubica=b=c, =90 简单六方简单菱方简单四方体心四方简单立方体心立方面心立方三、常见的晶体结构阵点的坐标表示阵点的坐标表示以任意顶点为坐标原点,以以任意顶点为坐标原点
22、,以与原点相交的三个棱边为坐标与原点相交的三个棱边为坐标轴,分别用点阵周期(轴,分别用点阵周期(a、b、c)为度量单位)为度量单位简单体心面心底心简单点阵的阵点坐标为简单点阵的阵点坐标为000底心点阵底心点阵除八个顶点上有阵点外,除八个顶点上有阵点外,两个相对的面心上有阵两个相对的面心上有阵点,面心上的阵点为两点,面心上的阵点为两个相邻的平行六面体所个相邻的平行六面体所共有。因此,每个阵胞共有。因此,每个阵胞占有两个阵点。阵点坐占有两个阵点。阵点坐标为标为000,1/2 1/2 0体心点阵体心点阵除除8个顶点外,体心上还个顶点外,体心上还有一个阵点,因此,每个有一个阵点,因此,每个阵胞含有两个
23、阵点,阵胞含有两个阵点,000,1/2 1/2 1/2典型物质:典型物质: 铬、钾、钠、钨、钼、钽铬、钾、钠、钨、钼、钽面心点阵。面心点阵。除除8个顶点外,每个面心个顶点外,每个面心上有一个阵点,每个阵上有一个阵点,每个阵胞上有胞上有4个阵点,其坐标个阵点,其坐标分别为分别为000,1/2 1/2 0, 1/2 0 1/2, 0 1/2 1/2面心点阵。面心点阵。典型材料典型材料:金、银、铝金、银、铝底心单斜简单三斜简单单斜底心正交简单正交面心正交体心正交简单菱方简单六方简单四方体心四方简单立方体心立方面心立方3. 3. 晶体结构与空间点阵晶体结构与空间点阵 晶体结构与空间点阵 等同点与结点
24、结构基元:原子、分子或其集团 晶体结构空间点阵结构基元四、晶向指数和晶面指数(Miller Indices of Crystallographic Direction and Planes)1阵点坐标晶向族:具有等同性能的晶向归并而成; (x1,y1,z1),(x2,y2,z2)二点连线的晶向指数:x2-x1,y2-y1,z2-z1 *指数看特征,正负看走向 求法:1) 确定坐标系2) 过坐标原点,作直线与待求晶向平行;3) 在该直线上任取一点,并确定该点的坐标(x,y,z)4) 将此值化成最小整数u,v,w并加以方括号u v w即是。(代表一组一组互相平行,方向一致的晶向)2.晶向指数(Or
25、ientation index)opxaybzc34 122!3424! 组,如1 2 3晶面族h k l中的晶面数:a)h k l三个数不等,且都0,则此晶面族中有 b)h k l有两个数字相等 且都0,则有, 如1 1 2c) h k l三个数相等,则有,d)h k l 有一个为0,应除以2,则有 有二个为0,应除以22,则有 3!441113! 组,如3!4122组,如1 2 023!432!2 组,如1 0 0求法:求法:1 1) 在所求晶面外取晶胞的某一顶点为原点在所求晶面外取晶胞的某一顶点为原点o o,三棱边为三坐标轴,三棱边为三坐标轴x x,y y,z z2 2) 以棱边长以棱边
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