LDI日立曝光设备说明课件.ppt
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- LDI 日立 曝光 设备 说明 课件
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1、LDI曝光設備說明(日立DE-S)a1 LDI 曝 光 機 設 備 說 明 -日立DE-SLDI曝光設備說明(日立DE-S)a2LDI曝光曝光制程介紹大綱制程介紹大綱1. 曝光曝光製程定義製程定義2. HDI曝光曝光製程流程說明製程流程說明3. LDI技術說明技術說明4. LDI曝光機曝光機設備設備介紹介紹LDI曝光設備說明(日立DE-S)a31. 曝光製程定義曝光(Exposure)利用UV or 鐳射光將客戶需要之影像轉移到基板干膜上,搭配後段處理工序,以完成客戶所需之圖形形成.影像轉移前影像轉移后LDI曝光設備說明(日立DE-S)a4整板電鍍整板電鍍灌孔整平灌孔整平2.HDI曝光製程流程
2、說明前處理前處理貼貼 膜膜曝曝 光光顯顯 影影蝕蝕 刻刻去去 膜膜 AOI黑化黑化2.1.1 N 層層 Process2.1 HDI曝光曝光製程前後流程製程前後流程LDI曝光設備說明(日立DE-S)a52.1.2 C.M. Process前處理前處理貼膜貼膜曝光曝光顯影顯影蝕刻蝕刻去膜去膜LDI曝光設備說明(日立DE-S)a62.1.3 Q/L ProcessConformal MaskConformal Mask蝕刻蝕刻去膠渣去膠渣雷射鑽孔雷射鑽孔 AOI AOI黑化黑化整板電鍍整板電鍍貼貼 膜膜曝曝 光光 顯顯 影影去去 膜膜LDI曝光設備說明(日立DE-S)a72.1.4 A/L Pro
3、cessConformal MaskConformal Mask蝕刻蝕刻去膠渣去膠渣雷射鑽孔雷射鑽孔整板電鍍整板電鍍貼貼 膜膜曝曝 光光 顯顯 影影去去 膜膜鑽孔鑽孔LDI曝光設備說明(日立DE-S)a82.2 HDI曝光製程品質關聯圖曝光製程品質關聯圖Input品質特性HDI曝光品質項目Output生產影響1.曝光雜質2.對位不良3.真空密著不良4.曝光能量異常5.底片異常1.線細、斷路、 缺口2.層間對位不良3.破孔4.顯影不良,吸氣不良5.線粗、短路1.板面異物 無塵室異物2.貼膜SPACE不當3.貼膜皺紋4.板彎板翹5.干膜附著力不足LDI曝光設備說明(日立DE-S)a93.LDI技術
4、說明3.1 LDI定義定義3.2 LDI之優點說明之優點說明3.3 LDI技術類型說明技術類型說明3.4 LDI之技術運用在板面上之實例之技術運用在板面上之實例LDI曝光設備說明(日立DE-S)a103.1 LDI定義定義LDI是Laser Director Imaging (鐳射直接成像)的縮寫,指的是利用新型技術直接將客戶所需之影像資料通過光的方式掃描到板面上,較之前傳統曝光機(需要將影像資料事先畫在D/F)在技術上進步;板面行進方向LDI曝光設備說明(日立DE-S)a11直接成像技術直接成像技術L D ILaser Line Head直接將圖案打印在乾膜上傳統曝光機利用UV光將底片上固定
5、圖案轉移到乾膜上LDI不需底片,可節省底片成本及底片繪製時間Dry film3.2 LDI之優點說明之優點說明LDI曝光設備說明(日立DE-S)a12Physical panel CAM image Image targets Panel targets Alignment (Best fit)Alignment & Scaling(Perfect fit)Accurate Registration; Auto Alignment & Scaling傳統曝光機LDI 曝光機LDI曝光設備說明(日立DE-S)a13材料漲縮改善材料漲縮改善DateDate:2009/12/29Panel size
6、:Panel size:18*22System model:System model:Paragon8800iPanel thickness:Panel thickness:14.5milDry film resist:Dry film resist:Asahi AQ-3088Exposuer energy:Exposuer energy:25mjLDI序列号 SN层别 layer解析度 resolutionSCALING.XSCALING.Y exposure time1co-18000dpi1.000629 1.00064226 secso-11.0006001.00062826 sec2
7、co-18000dpi1.0006191.00064026 secso-11.0006651.00059226 sec3co-18000dpi1.0006611.00057226 secso-11.0006651.00059226 sec4co-14000dpi1.0005901.00063524 secso-11.0006121.00067424 secR(PPM)75202 LDI曝光機可采用CCD自動量測板角靶點,根據量測結果自動調整影像縮放比,并可將此縮放比曝光到板子的板邊賊區。既改善對位效果,又便于後制程分類及材料漲縮數據分析,此Sample對位結果: 偏移最大偏移最大1.06mil
8、,最小,最小0mil,平均,平均0.76mil 02mil偏移數據偏移數據CPK=1.75LDI曝光設備說明(日立DE-S)a14快速打樣生產時間縮短快速打樣生產時間縮短PORDOELDI曝光設備說明(日立DE-S)a15Pentax (ORC)Dainippon Screen3.3 LDI技術類型說明技術類型說明LaerPolygonMirrorPanelFeed directionScan directionWave LengthWave Length:355nm355nmPolygon Mirror SystemDMDDMDPanelFeed directionLaer or Lamp4
9、05nm405nmDMD (Digital Micro Mirror) SystemFuji INPREXHitachi via DE seriesDMD 405nm Orbotech ParagonPolygon Mirror 355nm Mercury Lamp350-420nm350-420nmLDI曝光設備說明(日立DE-S)a16ExposureCAMdataPanel feed directionDirect imagingOptical headDMD (Digital Micro mirror Device)1DMD有100萬片小鏡片組成,每個鏡片40umOptical sys
10、temLight Lens消光板ONOFFImagingFocus LensDMDDMD 405nm LDI systemLDLDI曝光設備說明(日立DE-S)a173.4.1 對位能力佳對位能力佳3.4 LDI之技術運用在板面上之實例之技術運用在板面上之實例LDI曝光設備說明(日立DE-S)a1830um L/S with 40um thickness20um L/S with 25um thickness3.4.2 LDI之解析能力之解析能力LDI曝光設備說明(日立DE-S)a194.LDI曝光機曝光機設備設備介紹介紹除塵機放板機LDI主體LDI主體除塵機翻板機收板機LDI曝光機連線部位介
11、紹LDI曝光設備說明(日立DE-S)a20LDI曝光機本體動作說明初初定位區定位區對位對位系統系統曝光系統曝光系統周邊系統周邊系統電腦系統電腦系統 入口1121231234CCD對位區SVWSNCCMPCNCCMWSDMD曝光區出口 OKLDI曝光設備說明(日立DE-S)a21LDI曝光機本體動作說明初初定位區定位區對位對位系統系統曝光系統曝光系統周邊系統周邊系統電腦系統電腦系統 入口1121231234CCD對位區SVWSNCCM出口FailCMWSLDI曝光設備說明(日立DE-S)a224. LDI曝光機曝光機設備設備介紹介紹 4.1 前置定位介紹 4.2 對位系統介紹 4.3 曝光系統說
12、明 4.4 電腦控制系統說明 4.5 周邊設備說明LDI曝光設備說明(日立DE-S)a234.1 前置定位區簡介前置定位區簡介4.1.1 定位區作用定位區作用通過X,Y向拍板,將基板定位,以利於將板子放在LDI床臺上時,CCD能通過電腦設定位置找到生產板的對位孔,從而完成對位曝光作業4.1.2 動作過程動作過程入料檢知X-Pin拍板 定位Y-Pin拍板移載手臂吸板移至LDI床台基板達X-PinY-PinX-PinLDI曝光設備說明(日立DE-S)a244.1.3 感應系統舆馬達感應系統舆馬達Y-pin拍板馬達X-pin拍板馬達傳動馬達入料檢知sensorY-pin移動後限sensorY-pin
13、移動前限sensorX-pin移動前限sensorX-pin移動後限sensor基板到達檢知sensor基板尺寸極限sensorLDI曝光設備說明(日立DE-S)a254.2 對位對位系統說明系統說明4.2.1對位過程定義對位過程定義4.2.2對位原理說明對位原理說明4.2.3對位區結構介紹對位區結構介紹 A.臺面工作結構及原理介紹臺面工作結構及原理介紹 B. CCD介紹及設定資料介紹及設定資料4.2.4 對位精度確認對位精度確認LDI曝光設備說明(日立DE-S)a264.2.2 對位原理對位原理A.對位過程基板對位孔基板移入對位台吸著基板CCD讀對位孔 (Align) 臺面X,Y項移動靶點與
14、CCD中心重合4.2.1 對位過程定義對位過程定義CCD對基板上之靶點定位,並通過X,Y向線性馬達運動后產生的各靶點間間距,并通過與原始資料比對計算,補償出現在基板在X,Y項間距的過程 臺面X,Y項移動靶點與CCD中心重合NO.1靶孔NO.2靶孔NO.3,4LDI曝光設備說明(日立DE-S)a27B.靶孔間距計算方式CCD 1CCD 2床臺X方向Y方向CCD間的位置固定不變為420mm,同X方向臺面1234X1X2Y1Y21234X1X2Y1Y2X1 = (420mm+Y方向馬達行走間距)+(X方向行走間距)22Y向伺服馬達向左為負值,向右為正值1234X1X2Y1Y2LDI曝光設備說明(日立
15、DE-S)a28C.對位原理CCD讀取靶點CM模組運算間距Juge值判定 窗臺回歸CCD抓取 No.1靶點Fail對位補償運算OKDMD以運算出來的X,Y項縮放比擴大or縮小圖形進行曝光For Example:CCD讀取X方向靶點間距(mm): X1=500 X2=500.010CCD讀取Y方向靶點間距(mm): Y1=600 Y2=600.050CAM原始資料:X1=X2=500.000mmY1=Y2=599.950mm對位補償調整運算: (X1+X2)/ 500.000/2= 1.00001 (Y1+Y2) / 599.950/2= 1.000125DMD 就會將CAM圖形以X軸放大1.0
16、0001倍,Y軸放大1.000125倍對此板進行曝光LDI曝光設備說明(日立DE-S)a29不規則圖形補正方式 標準補正補正後補正後加工加工範圍範圍被被検出検出的對位的對位靶點靶點位置位置標準補正方法概述首先求出理論靶點和測定靶點的各重心坐標,再求出使兩個重心向一致方向移動的X方向、Y方向的移動量。把靶點的理論坐標加上第一項求得的移動量、把重心依照中心回轉、按X軸的比例,Y軸比例処理後,使其和測定坐標接近。這時的回轉角、X軸比例值、Y軸比例值,決定了使補正的坐標和測定坐標的距離最小的對位理論坐標。依前記及的順序、点對位的理論座標連接線為長方形時,補正後也是長方形。【特長】補正結果補正結果傾斜伸
17、縮補正後、剩余的偏差均等分配。局部變形的影響局部變形的影響對全體的影響少。測定在長方形四個頂点位置配置的靶點位置、假定有一個點点如圖示有L的偏移。標準補正就是把偏移的靶點進行約L的補正、有約L誤差的残留、其他点也大約有L的偏移。(誤差(誤差的的均等均等分分配)配)LDI曝光設備說明(日立DE-S)a304.2.3 對位區結構對位區結構對位區:基板與CAM圖形對位的平台,主要分為床臺舆CCD主要機構如下:X項臺面移動CCD臺面LDI曝光設備說明(日立DE-S)a31床臺X向伺服馬達驅動控制X向伺服馬達(線性滑塊)光學尺,每個刻度可精確到0.1um通過CNC控制電腦給 伺服馬達訊號,1個訊號馬達會
18、在光學尺上度10個格,即1um, 從A點到B CNC系統給馬達多少個訊號馬達即可行進多少距離,反之若馬達行走多少距離即會pass多少個訊號給CNC,用於計算A到B點距離,X向可操作距離為1100mmX軸兩端設有極限開關 A. 臺面工作結構及原理介紹臺面工作結構及原理介紹LDI曝光設備說明(日立DE-S)a32床臺Y向伺服馬達驅動控制Y向伺服馬達(線性滑塊)光學尺,每個刻度可精確到0.1um通過CNC控制電腦給 伺服馬達訊號,1個訊號馬達會在光學尺上度10個格,即1um, 從A點到B CNC系統給馬達多少個訊號馬達即可行進多少距離,反之若馬達行走多少距離即會pass多少個訊號給CNC,用於計算A
19、到B點距離,Y向可操作距離為380mmY軸兩端設有極限開關 A. 臺面工作結構及原理介紹臺面工作結構及原理介紹LDI曝光設備說明(日立DE-S)a33床臺Z向伺服馬達驅動控制Z 向伺服馬達通過CNC控制電腦給 伺服馬達訊號,1個訊號馬達則旋轉1周,對應臺面向上or向下降1um,z向可操作距離為10mm A. 臺面工作結構及原理介紹臺面工作結構及原理介紹LDI曝光設備說明(日立DE-S)a34床臺向伺服馬達驅動控制向伺服馬達通過CNC控制電腦給 伺服馬達訊號,1個訊號馬達則旋轉1周,對應臺面向上or向下降1um, 向可操作角度為15度 A. 臺面工作結構及原理介紹臺面工作結構及原理介紹LDI曝光
20、設備說明(日立DE-S)a35 A. 臺面工作結構及原理介紹臺面工作結構及原理介紹床臺板面吸著控制臺面通過1臺鼓風機的吸氣口進行板面真空密著,臺面分為兩個作用區間分別用於不同板面尺寸控制,目的在於將板面平展的吸附在臺面上,設定真空度在-12KpaLDI曝光設備說明(日立DE-S)a36CCD 固定位置不能做移動,此點區別於傳統曝光機B. CCD 介紹及設定作業介紹及設定作業作用: 擷取基板對位靶孔中心點,為提供主機計算靶間距提供基準點CCD2CCD1此兩個CCD和DMD固定機座上不動,CCD1與CCD2在同意X軸方向,間距為420mm +/-2LDI曝光設備說明(日立DE-S)a37CCD 讀
21、取靶孔設定讀取靶孔設定初始初始条件作成条件作成文件文件NO.文件文件名名输入输入初始登入初始登入保存保存1. 初始初始条件条件设设定定 (1)LDI曝光設備說明(日立DE-S)a38条件条件选择选择已登入已登入文件文件NO . 选择选择文件文件NO. 文件文件名名确确认认 选择选择2. 条件条件设设定方法定方法 (2)LDI曝光設備說明(日立DE-S)a393. 对位孔登入对位孔登入 (1)条件条件设设定定测测定定模式选择模式选择测测定定模式的模式的内容内容:面积面积重心重心:轮廓轮廓抽出抽出:面积面积重心重心孔型对照孔型对照:轮廓轮廓抽出抽出孔型对照孔型对照LDI曝光設備說明(日立DE-S)
22、a404. 对位孔登入对位孔登入 (2)轮廓轮廓抽出抽出孔型对照孔型对照用照相机观察对位孔用照相机观察对位孔 为了能观察到圆孔为了能观察到圆孔,设定扩散设定扩散&同同 轴轴照明照明的的光量光量孔型登入孔型登入画像上画像上按下按下始点始点,拖动到拖动到終点終点,设设定孔的区域定孔的区域( 粉色外框粉色外框 )指定文件指定文件名名 ( 例:例:test001 )登録登録选择选择表示、表示、(3)确认登入后的孔确认登入后的孔 根据选择按钮根据选择按钮、到这一步为止到这一步为止,登入后的孔有可能可以被读出登入后的孔有可能可以被读出LDI曝光設備說明(日立DE-S)a415. 对位孔登入对位孔登入 (3
23、)轮廓轮廓抽出抽出孔型对照孔型对照相关值相关值、搜索区域的设搜索区域的设定定 相关值相关值: 设定后的设定后的値値向下改动的话向下改动的话,会出会出现测现测定定失败失败 搜索区域搜索区域: 孔鉴别孔鉴别分解能分解能的选择的选择 (检查检查)数值越大数值越大处理时间越快、只能初步处理时间越快、只能初步的检出孔的检出孔。数值越小数值越小处理时间越慢、越能详细处理时间越慢、越能详细的检出孔的检出孔。LDI曝光設備說明(日立DE-S)a426. 对位孔登入对位孔登入 (4)轮廓轮廓抽出抽出孔型对照孔型对照轮廓轮廓抽出抽出的设的设定定(1)目标值目标值 (直径直径) :输入检测对象孔的直径输入检测对象孔
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