微电子制造概论教学课件PPT互连和封装.ppt
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- 关 键 词:
- 微电子 制造 概论 教学 课件 PPT 互连 封装
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1、1.保护使其免于外界环境与人工操作的破坏。2.信号进入芯片、从芯片输出的之内连线。3.对芯片实质上之固持。4.散热。 晶圆Wafer测试与分类 引线键合(wire Bounding) 晶粒分离 塑胶封装Packaging 成品封装与测试贴片图 20.1 四方扁平封装 (QFP)无管脚芯片载体(LCC)塑料电极芯片载体(PLCC)双列直插式封装 (DIP)薄小外形轮廓封装 (TSOP)单列直插式封装 (SIP)图 20.2 設計參數 設計限制 性能 RC 時間延遲 信號輸出入腳數(IOs) 焊線接合對凸塊接著之比較 信號上升時間 交換暫態 熱 功率散逸 輸出入阻抗 頻率響應 尺寸重量形體 晶片尺
2、寸 封裝體尺寸 接合墊尺寸及間距 封裝引腳尺寸及間距 基板載器墊尺寸及間距 散熱器之設計 材料 晶片基板(塑膠、陶瓷或金屬) 載器 (有機、陶瓷) 熱膨脹不匹配 引腳冶金 成本 與現有製程之整合 封裝材料 良率 裝配 晶粒接著之方法 封裝體接著(透過孔洞、表面固著或凸塊) 散熱器裝配 密封 表 20.1 第二层级封装:第二层级封装:印刷电路板装配 第一层级封装:第一层级封装:IC封装 最后的产品装配:最后的产品装配:电路板组入系统之成品装配 用以固着于印刷电路板的金属引脚 针脚针脚被插入针孔,继之焊着在PCB背面表面固着芯片被焊着在PCB上的铜垫顶端边缘的连接器插入主系统PCB副配件主电子装配
3、板引脚 图 20.3 背面研磨分片装架引线键合 旋转及振荡轴在旋转平盘上之晶圆下压力工作台仅在指示有晶圆期间才旋转图 20.4 晶圆 工作台刀刃 图 20.5 芯片 引脚 导线架 塑胶式DIP图 20.6 芯片环氧基树脂导线架图 20.7 芯片导线架连接带连接带移除线图 20.15 Si 金膜金/硅低共熔性合金Al2O3图 20.8 模塑化合物导线架接合垫芯片引线针尖脚图 20.9 照片 20.1 柱 元件接合垫图 20.10 焊线楔形工具(1)工具向上移 更多焊线馈入工具 (3)超声波能量 压力导线架(4)工具向上移 焊线在接合垫处切断(5)(2)铝接合垫超声波能量 压力 晶粒图 20.11
4、 (2)氢火源球(1)金线毛细管工具(5)压力与热形成垫导线架(6)工具往上移金线在接合垫处切断垫上之接合球压力与超声波能量晶粒(3)工具向上移并馈入更多的金线晶粒(4)图 20.12 柱元件 受测试芯片勾物品夹具图 20.13 塑胶封装陶瓷封装 图 20.14 图 20.16A 图 20.16B 图 20.16C 图 20.16D 图 20.16E 图 20.16F 图 20.16G 陶瓷性内连接层4层电路板图 20.17 (Photo courtesy of Advanced Micro Devices) 照片 20.2 陶瓷盖板玻璃密封物陶瓷基板金属引脚在树脂及导线架上之芯片 横切面 指
5、示性刻痕横切面之平面图 20.18 图 20.19 倒装芯片FlipChip球栅阵列 (BGA)板上芯片 (COB) 卷带式自动接合 (TAB) 多芯片模块 (MCM) 芯片尺寸级封装 (CSP) 晶圆级封装 在接合垫上之焊锡凸块硅芯片基板连接用针脚金属内连线介质孔图 20.20 图 20.21 再回流制程金属沈积与蚀刻2层金属沈积(3)焊接凸块形成于再回流期间(4)氧化物氮化物Al接合垫(1)3层金属积层铜-锡铬+铜铬(2)锡铅图 20.22 焊接凸块芯片环氧基树脂基板接合垫周边阵列覆晶凸块面积阵列图 20.23 照片 20.3 图 20.24 模塑遮盖芯片接合垫环氧基树脂热介质孔焊线基板金
6、属介质孔焊接球IC芯片印刷电路板图 20.25 高分子带铜引脚图 20.26 MCM基板个别晶粒图 20.27 199620011997 1998 1999 20000180060090012001500300芯片直接接着直接组于电路板之覆晶卷带式自动接合其他 年代Redrawn from S. Winkler, “Advanced IC Packaging Markets and Trends,” Solid State Technology (June 1998): p. 63.图 20.28 单位 (百万)一 般 CSP 方 式 CSP 封 裝 名 稱 公 司 廠 商 Area arra
7、y, bumped CSP Amkor/Anam Small outline no-lead/C-lead (SON/SOC) Fujitsu Bump chip carrier (BCC) Fujitsu Micro-stud-array (MSA) Hitachi Bottom leaded plastic (BLP) LG Semicon Quad flat no-lead (QFN) Matsushita Memory CSP TI Japan 定 製 導 線 架 Quad outline non-leaded Toshiba Enhanced flex CSP 3M FleXBGA
8、Amkor/Anam FBGA Fujitsu Chip-on-flex CSP GE Multi chip scale package (MCSP) Hightec MC AG CSP for memory devices Hitachi IZM flexPAC Fraunhofer Institute Molded Ball Grid Array Mitsubishi Electric Chip-on-flex Chip Size Package Motorola Singapore Fine-pitch BGA (FPBGA) NEC 晶 粒 與 基 板 間插 入 物 (具 內 連線 之
9、 彈 性 材 料 ) MicroBGA Tessera Chip Array Package (CABGA) Amkor/Anam CSP Cypress Semiconductor Ceramic mini-BGA IBM Molded array process CSP Motorola Plastic chip carrier National CSP Oki Electric Transformed grid array package Sony 剛 性 基 板 Ceramic/plastic fine-pitch BGA Toshiba 表 20.2 具C4凸块之单晶片图 20.29
10、 (Photo courtesy of Advanced Micro Devices) 照片 20.4 Redrawn from V. DiCaprio, M. Liebhard, and L. Smith, “The Evolution of a New Wafer-Level Chip-Size Package,” Chip Scale Review (May/June 1999).芯片 接合线焊接凸块图 20.30 WLP制作晶圆级原处预烧晶圆级功能测试切割 在配件板处之晶圆级拾取晶圆级封装之测试流程晶圆级封装之测试流程装载入自动带与卷轴晶圆探测晶圆切割封装个别之IC在封装级之插座预烧在
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