品管课教育训练教材QC七大手法课件.ppt

1、ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu教育訓練資料教育訓練資料20052005年年4 4月月1111日日製作製作: :朱姝朱姝.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu一.何為品質?n品質就是客戶所需要的,能為客戶接受的.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu二二、公司的品質政策？、公司的品質政策？n品質最優先 Quality is the first priorityn過程是關鍵 Process is the keyn不良不後流 No defect to the next p

2、rocessn挑戰零缺點 Challenge zero defect.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu1.查檢表查檢表2.散佈圖散佈圖3.要因分析圖要因分析圖4.直方圖直方圖5.管制圖管制圖6.層別法層別法7.柏拉圖柏拉圖三三、品管七大手法？、品管七大手法？.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu1.查檢表查檢表查檢表是以簡單的資料用容易了解的方式制成圖或表格，只要記上檢查記錄，並加以統計整理，作為進一步分析或核對檢查用。.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu查檢表的

3、種類1.稽核用查檢表1.1高階查檢表封閉式問句，問句中有”是/否”二字。如：員工教育訓練是否依年度計劃進行。1.2低階查檢表開放式問句，收集更多可靠資訊用。如：員工之教育訓練是如何進行的。1.2紀錄用查檢表收集所想要的數據用，如：打孔工作日報表。(附件1)1.3點檢用查檢表確認作業之實施情形，如：機器之保養表。(附件2).ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu2.散布圖散布圖散佈圖是將互相有關聯的資料，以縱軸表示結果，以橫軸表示原因，點表示分布形態，根據分布的形態來判斷對應資料之間的相互關係。.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 Metho

4、dsJan.Zhu正相關負相關正相關不顯著負相關不顯著無相關曲線(高次)相關2.散布圖散布圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu3.要因分析圖要因分析圖要因分析圖就是我們常說的魚骨圖，一個問題的特性受到一些要因的影響時，我們將這些要求加以整理，成為相互關係而且有條理的圖形。界定可能原因之主要類別時，考慮5M等因素包括：數據與資訊系統。環境設備(Machine)物料(Material)量測(Measurement)方法(Method)人員(Man)人、機、料、法、度、境.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu3.

5、要因分析圖要因分析圖類別類別類別類別類別類別類別類別結果結果初步魚骨圖初步魚骨圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu類別類別類別類別類別類別類別類別結果結果發展後之魚骨圖發展後之魚骨圖一級原因一級原因二級原因二級原因三級原因三級原因3.要因分析圖要因分析圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu防焊上盤特性要因分析圖防焊上盤特性要因分析圖為為 何何 防防 焊焊 上上 盤盤首片未認真確認人 員氣孔未正確開啟未調好CCD即印刷機 器仰角.板距過大或過小整合點變形不良(整合誤差太大)CCD固定把手未鎖緊造成印刷中偏移

6、物 料刮刀未磨好網版變形基板表面太熱方 法刮膠硬度偏小基板壓到當板上線路與防焊印刷方向不一致刮刀壓力不均長時間不洗網版洗網版未吹干M-3擦紙擦網版后未確忍首片範例.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu4.直方圖直方圖直方圖是將所收集的資料、特性或結果值，用一定的范圍 在橫軸上加以區別成幾個相等的區間，測定值出現的次數累計起來的面積用直條圖的形式畫出來的圖形。.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu應用：直方圖係用於：顯示變異之型態。用視覺溝通有關製程狀況之資訊。決定何時需要加強改進。說明：用一系列等寬而高度有變化

7、之長方條形，將數據予以顯示。寬度代表數據所在範圍內之區間，高度代表在此區間內數據值出現之次數。由高度變化的型態可看出數據值之分配。4.直方圖直方圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu 測知製程能力 測知分配中心或平均值 測知分散範圍或差異 與規格比較計算不良率 了解製程能力4.直方圖直方圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu計算步驟：收集數據值。用最大值減去最小值得出數據之全距。直方圖之區間數(通常介於 6 與 12 之間)，並將全距步驟2除以區間數得出每一區間之寬度。在橫軸上劃出數據值之刻度。在縱軸上劃出

8、數據軸之刻度(觀察之次數或百分比)。1. 依每一區間內數據值所出現之次數，劃出其高度。4.直方圖直方圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu範例10111520201291314141516161515141416171718161519158.510.5 210.512.5 212.514.5 514.516.51016.518.5 318.520.5 3重量重量( (kg)kg)次數8.5 10.5 12.5 14.5 16.5 18.5 20.5.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu5.管制圖管制圖控制圖

9、是通過設置合理的控制界限，對引起品質異常的原因進行判定和分析，使工序處於正常、穩定的狀態。應用：管制圖係用於下列之目的：診斷：評估製程穩定性。管制：決定製程何時需要調整與何時不需調整。證實：證實製程改進。.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhun管制圖：製程管制的工具n應用步驟：n1. 收集資料：收集數據並描繪於管制圖上n2. 管制：由收集的製程數據計算管制界限，找 出變異的特殊原因，採取局部對策。n3. 解析及改善：計算製程能力，並改善製程系 統。n此三項步驟必須不斷重複遵行，以持續改善製程。5.管制圖管制圖.ACP ELECTRONICS CorpQ

10、C 7 MethodsJan.Zhu管制圖的種類：1. 依數據之性質來分類計量值管制圖 (Control Chart for Variables)計數值管制圖 (Control Chart for Attributes)2. 依數據之用途來分類 管制用管制圖 解析用管制圖5.管制圖管制圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu計量值管制圖：平均值與全距管制圖 (X - R Chart)2. 平均值與標準差管制圖 (X - Chart)3. 中位值與全距管制圖 (X - R Chart)4. 個別值與移動全距管制圖 (X - Rm Chart)5.管制圖管

11、制圖計數值管制圖：不良率管制圖 ( p Chart)2. 不良數管制圖 ( pn Chart)3. 缺點數管制圖 ( C Chart)4. 平均缺點數管制圖 ( u Chart).ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu製程準確度 Ca (Capability of accuracy)：各製程之規格中心值設定之目的，就是希望各工程製造出來之各個產品實績值，能以規格中心為中心，呈左右對稱之常態分配時，也應以規格中心值為目標。從生產過程中所穫得之資料其實績平均值(X)與規格中心值()之間偏差之程度，稱為製程準確度Ca。 實績中心值 - 規格中心值 (X - )

12、 Ca= % = % 規格許容差 T/2 T = SU - SL = 規格上限 - 規格下限 (或公差)5.管制圖管制圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu 12.5% 25% 50% 100%A級B級C級D級規格中心值規格上限(下限)(實績)(實績)(實績)5.管制圖管制圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu處置原則(Ca等級)：A級：作業員遵守作業標準操作並達到規格之要求須 繼續維持。B級：有必要儘可能將其改進為A級。C級：作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討 規格及作業標準。D級：應採取緊急措施，

13、全面檢討所有可能影響之因 素，必要時得停止生產。5.管制圖管制圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu製程精密度 Cp (Capability of precision)：雙邊規格 規格許容差 規格公差(T)Cp = = 3 6 從Cp值可知若 T 6時若大得愈多Cp值也愈大，也就是說在這種生產條件(人、機械、材料、管理等)，本製程非常適合於生產此種精密度之產品。反之若 T 6時則Cp值也愈小，說明了此製程在目前此種狀態下，不能適應此種精密度之產品。Cp與Ca之不同點是Ca值愈小愈好，Cp值是愈大愈好。5.管制圖管制圖.ACP ELECTRONICS

14、CorpQC 7 MethodsJan.Zhu製程精密度 Cp (Capability of precision)：單邊規格1. 上限規格(Su)的場合 Su - X (上限規格) - (平均值) Cp = = 3 3 x (標準差) 2. 下限規格(SL)的場合 X - SL (平均值) - (下限規格) Cp = = 3 3 x (標準差) 5.管制圖管制圖.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu6.層別法層別法層別圖是指某一個項目，按統計數據分類進行區別的方法，它是統計方法中最基礎的工具。時間別作業者別機械設備別作業方法/作業條件別原材料別測定別檢

15、查別環境/天候別其它例如:針對P-Chart,我們在管制時分為單面板/雙面板進行管控.針對Xbar-R圖,我們在管制時針對線別STH1/STH2進行管控.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu6.層別法層別法 例如:.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu7.柏拉圖柏拉圖柏拉圖是對不良原因，不良發生的位置 或不良狀況等加以區分，找出比率最大的專案依照大小的順序排列，加上累計的圖形。也就是對80%以上的項目加以原因分析。製作方式1. 決定分類項目 發生次數(不良數)較多的項目優先納入2. 決定數據收集期間3. 依數據

16、多寡排列劃出柱形圖4. 求算累積百分比並將各點連線 .ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu7.柏拉圖柏拉圖例如:我們在對終檢不良項目統計,外包不良項目分析的時候經常使用到.使用柏拉圖的目的是為了找出前三大,針對前三大進行改善.例如:050100150200250300350400雜質殘膠凹點凹陷凸出基面凹痕污染白斑凹痕刮傷異色其他0.00%20.00%40.00%60.00%80.00%100.00%不良數量累計不良率.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu附件一附件一.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.Zhu附件二附件二.ACP ELECTRONICS CorpQC 7 MethodsJan.ZhuThe End!Thanks!.