ICP发射光谱分析培训课件..ppt
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- ICP 发射光谱分析 培训 课件
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1、ICP发射光谱分析目 录 ICPICP发射光谱发射光谱分析原理分析原理 ICPICP发射光谱仪的构成发射光谱仪的构成 ICPICP发射光谱发射光谱分析分析方法方法 样品的前处理样品的前处理ICPICP发射光谱发射光谱分析分析原原 理理ICP-AES(OES)ICP-AES(OES) ICP Atomic Emission Spectrometry (Optical Emission Spectrometry) ICP发射光谱分析法元素分析元素分析溶液进样溶液进样ICP-AES可测定的元素等离子体等离子体磁力线磁力线高频耦合线圈高频耦合线圈样品样品粒子粒子ICP:Inductively Coup
2、led Plasma电感耦合等离子体等离子体等离子体“高温下电离气体(Ionizedgas)”“离子状态”“阳离子和电子数几乎相等阳离子和电子数几乎相等”等离子体的等离子体的最高温度最高温度10000K10000K元素元素被激发被激发(发发光源光源)ICPICP发射光谱发射光谱分析分析电感耦合等离子体光源(ICP)等离子体(Plasma)一般指电离度超过0.1%被电离了的气体,这种气体不仅含有中性原子和分子,而且含有大量的电子和离子,且电子和正离子的浓度处于平衡状态,从整体来看是出于中性的。 等离子体光源的分区NAZ-分析区IRZ- 初始辐射区PHZ-预热区尾焰9离子发射光谱的产生 E1E1
3、E2E2 离子化离子化( (游离游离) ) 激发状态激发状态 频率频率 电子电子 原子核原子核 E0E0 离子离子 能级能级 离子化离子化 在等离子体中元素原子化、离子化在等离子体中元素发射特征波长的光ICP发射光谱分析的基本原理 ICP发射光谱分析过程主要分为三步, 即激发、分光和检测.1.利用等离子体激发光源(ICP)使试样蒸发汽化, 离解或分解为原子状态,原子可能进一步电离成离子状态,原子及离子在光源中激发发光。2.利用光谱仪器将光源发射的光分解为按波长排列的光谱。3.利用光电器件检测光谱,按测定得到的光谱波长对试样进行定性分析,按发射光强度进行定量分析 I = Nmh=KNmN0e-E
4、m/ kT (1) 在一定的实验条件下: I = aC (2) a为常数,C为目的元素的浓度 考虑某些情况下有一定程度的谱线自吸, 对(2)加以修正 I = aCb (3) b为自吸系数, 一般情况下b1。在ICP光源中多数情况下b1。谱线强度与浓度的关系ICP-AES的特长溶液进样溶液进样、标准溶液易制备标准溶液易制备高灵敏度高灵敏度(亚亚ppbppb)高精度高精度(CV 1%CV 1%)化学干扰少化学干扰少线性范围宽线性范围宽(个数量级个数量级)可同时进行可同时进行多元素多元素的定性定量分析的定性定量分析可以分析的样品可以分析的样品1:1:金属金属( (钢铁钢铁, ,有色金属有色金属) )
5、2:2:化学化学, ,药品药品, ,石油石油, ,树脂树脂, ,陶瓷陶瓷3:3:生物生物, ,医药医药, ,食品食品4:4:环境环境( (自来水自来水, ,环境水环境水, ,土壤土壤, ,大气粉尘大气粉尘) )5:5:可以分析其他各种各样样品中的金属可以分析其他各种各样样品中的金属备注备注: :固体样品必须进行前处理固体样品必须进行前处理( (液化液化) )ICPICP发射光谱仪的构成发射光谱仪的构成ICP-AES光谱仪结构 ICP 分分光光器器 检检测测器器 数数据据处处理理 R R. .F F 发发生生器器 溶液-雾化 发光 元素 光-电信号 结果等离子火炬与频率关系R.F高频发生器27.
6、12MHz,40.68MHz高频发生器 输出功率稳定性好、点火容易、发热量小、火焰稳定、有效转换功率高、能对不同样品及不同浓度变化时抗干扰能力强。ICP-AES 样品导入部将样品溶液雾化连续导入ICP中高频线圈等离子炬管样品溶液雾室雾化器冷却气 (Ar)等离子(辅助)气 (Ar)ICP光源的气流1冷却气冷却气起冷却作用,保护石英炬管免被高温起冷却作用,保护石英炬管免被高温融化融化1辅助气辅助气“点燃点燃”等离子体等离子体1雾化气雾化气形成样品气溶胶形成样品气溶胶 将样品气溶胶引入将样品气溶胶引入ICP 对雾化器、雾化室、中心管起清洗对雾化器、雾化室、中心管起清洗作用作用Fassel炬管等离子炬
7、管等离子炬管等离子炬管分为输入载气Ar的内层管、输入辅助气Ar的中层管和输入等离子气Ar的外层管。 Q外层管:外层管:外层管通Ar气作为冷却气,沿切线方向引入,并螺旋上升,其作用:第一,将等离子体吹离外层石英管的内壁,可保护石英管不被烧毁;第二,是利用离心作用,在炬管中心产生低气压通道,以利于进样;第三,这部分Ar气流同时也参与放电过程Q中层管:中层管: 中层管通人辅助气体Ar气,用于点燃等离子体。 内层管:内层管:内层石英管内径为12mm左右,以Ar为载气,把经过雾化器的试样溶液以气溶胶形式引入等离子体中。冷却气冷却气 ( (等离子气等离子气)(9)(9L/min-20L/min)L/min
8、-20L/min)等离子气等离子气 ( (辅助气辅助气)(0.2)(0.2L/min-1.5L/min)L/min-1.5L/min)载气载气 ( (注入气注入气)(0.2)(0.2L/min-1.5L/min)L/min-1.5L/min)气动雾化器(同心型)气动雾化器气动雾化器的结构简单,通常分为同轴型气动雾化器的结构简单,通常分为同轴型雾化器和直角型雾化器。雾化器和直角型雾化器。 同轴型雾化器结构简单,易于制作,应用较为普遍。直同轴型雾化器结构简单,易于制作,应用较为普遍。直角型雾化器不易被悬浮物质堵塞。但雾化效率较低,喷嘴角型雾化器不易被悬浮物质堵塞。但雾化效率较低,喷嘴容易堵塞,进样
9、速度受载气压力的影响。改用蠕动泵驱动容易堵塞,进样速度受载气压力的影响。改用蠕动泵驱动雾化器,可避免载气压力对样品提升量的影响。雾化器,可避免载气压力对样品提升量的影响。 旋流雾室双筒雾室等离子炬观测位置PMT 检检测器测器光栅光栅等离子体等离子体矩管矩管球面球面准直镜准直镜UV 光谱光谱球面球面聚光镜聚光镜IR 光谱光谱ICP-AES分光器选择分辨出目的元素的特征谱线选择分辨出目的元素的特征谱线检测器-光电倍增管光电倍增管工作原理阴极计算机功能程序控制:仪器各部件的起动、关闭程序控制:仪器各部件的起动、关闭时实控制:时间监控、远程诊断、信息转移时实控制:时间监控、远程诊断、信息转移数据处理数
10、据处理谱线数据库专家系统谱线数据库专家系统ICP发射光谱分析方法定性分析定性分析定量分析定量分析半定量分析半定量分析需进行使样品溶液化的前处理需进行使样品溶液化的前处理ICP发射光谱分析方法定性分析定性分析定性分析要确认试样中存在某个元素,需要在试样光谱中找出三条或三条以上该元素的灵敏线,并且谱线之间的强度关系是合理的;只要某元素的最灵敏线不存在,就可以肯定试样中无该元素。定量分析定量分析工作曲线法标准样品的组成与实际样品一致在工作曲线的直线范围内测定使用无干扰的分析线定量分析标准加入法标准加入法测定范围的工作曲线的直线性溶液中干扰物质浓度必须恒定应有1-3个添加样品使用无干扰的分析线进行背景
11、校正定量分析定量分析内标法在试样和标准样品中加入同样浓度的某一元素(内标元素),利用分析元素和内标元素的谱线强度比与待测元素浓度绘制工作曲线,并进行样品分析。半定量分析半定量分析半定量分析有些样品不要求给出十分准确的分析数据,允许有较大偏差,但需要尽快给出分析数据,这类样品可采用半定量分析法。ICP光源的半定量分析尚无通用方法,因仪器类型和软件功能而异,应用不广泛。灵敏度 、检出限、背景等效浓度ICP发射光谱分析中的干扰物理干扰化学干扰电离干扰光谱干扰干扰的校正基体匹配 可消除物理、电离干扰。注意不纯物的混入。内标校正 可消除物理干扰。注意内标元素的选择(电离电位)。背景校正扣除光谱背景谱线干
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