微电子的规律课件.pptx
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- 微电子 规律 课件
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1、Moore定律定律Moore定律定律?1965年年Intel公司的创始人之一公司的创始人之一Gordon E. Moore预言集成电路产预言集成电路产业的发展规律业的发展规律集成电路的集成度每三年集成电路的集成度每三年增长四倍,增长四倍,特征尺寸每三年缩小特征尺寸每三年缩小 倍倍2Moore定律定律10 G1 G100 M10 M1 M100 K10 K1 K0.1 K19701980199020002010存储器容量存储器容量 60%/年年 每三年,翻两番每三年,翻两番1965,Gordon Moore 预测预测半导体芯片上的晶体管数目每两年翻两番半导体芯片上的晶体管数目每两年翻两番 1.E
2、+91.E+91.E+81.E+81.E+71.E+71.E+61.E+61.E +51.E +51.E+41.E+41.E+31.E+370 70 74 74 78 78 82 82 86 86 90 90 94 94 98 98 20022002芯片上的体管数目芯片上的体管数目 微处理器性能微处理器性能 每三年翻两番每三年翻两番Moore定律:定律:微处理器的性能微处理器的性能100 G10 GGiga100 M10 MMegaKilo19701980199020002010集成电路技术是近集成电路技术是近50年来发展最快的技术年来发展最快的技术微电子技术的进步微电子技术的进步 年年份份特
3、特征征参参数数19591970-19712000比比率率设设计计规规则则 m2580.18140电电源源电电压压VDD(伏伏)551.53硅硅片片直直径径尺尺寸寸(mm)53030060集集成成度度62 1032 1093 108DRAM密密度度(bit)1K1G106微微处处理理器器时时钟钟频频率率(Hz)750K1G103平平均均晶晶体体管管价价格格$100.310-6107 半半导导体体发发展展计计划划(S SI IA A 1 19 99 99 9年年版版) 年年 份份 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2008 2011 2014 特特征征尺尺寸寸(
4、nm) 180 165 150 130 120 110 100 70 50 35 存存贮贮器器生生产产阶阶段段产产品品代代 256M 512M 1G 2G 16G MPU芯芯片片功功能能数数(百百万万晶晶体体管管) 23.8 47.6 95.2 190 539 1523 4308 硅硅片片直直径径(mm) 200 200 300 300 300 300 300 300 300 450 在在 生生 产产 阶阶 段段DRAM封封装装后后单单位位比比特特价价(百百万万分分之之一一美美分分) 15 7.6 3.8 1.9 0.24 1999 Edition ( SIA美美 EECA欧欧 EIAJ日日
5、KSIA南南朝朝鲜鲜 TSIA台台) Moore定律定律 性能价格比性能价格比? 在过去的在过去的20年中,改进年中,改进了了1,000,000倍倍? 在今后的在今后的20年中,还将年中,还将改进改进1,000,000倍倍? 很可能还将持续很可能还将持续 40年年 信息技术发展的三大规律信息技术发展的三大规律q摩尔定律即电子定律:集成电路的集成摩尔定律即电子定律:集成电路的集成度每度每1818个月翻一番;个月翻一番;q超摩尔定律即光子定律:光纤传输的数超摩尔定律即光子定律:光纤传输的数据总量每据总量每9 9个月翻一番;个月翻一番;q迈特卡夫定律:网络的价值以联网设备迈特卡夫定律:网络的价值以联
6、网设备数的平方关系成正比数的平方关系成正比等比例缩小等比例缩小(Scaling-down)定律定律等比例缩小等比例缩小(Scaling-down)定律定律?1974年由年由Dennard?基本指导思想是:保持基本指导思想是:保持MOS器件器件内部电场不变:内部电场不变:恒定电场规律,恒定电场规律,简称简称CE律律等比例缩小器件的纵向、横向尺寸,等比例缩小器件的纵向、横向尺寸,以增加跨导和减少负载电容,提高以增加跨导和减少负载电容,提高集成电路的性能集成电路的性能电源电压也要缩小相同的倍数电源电压也要缩小相同的倍数?漏源电流方程:漏源电流方程:?由于由于VDS、(VGS-VTH)、W、L、tox
7、均缩小了均缩小了 倍,倍,Cox增大了增大了 倍,因此,倍,因此,IDS缩小缩小 倍。门延迟时间倍。门延迟时间tpd为:为:?其中其中VDS、IDS、CL均缩小了均缩小了 倍,所以倍,所以tpd也缩小也缩小了了 倍。标志集成电路性能的功耗延迟积倍。标志集成电路性能的功耗延迟积PW tpd则缩小了则缩小了 3倍。倍。ICWLVVVVdsoxsGSTHDSDS2oxoxoxtC0tVCIpdDSLDSoxLWLCC恒定电场定律的问题恒定电场定律的问题?阈值电压不可能缩的太小阈值电压不可能缩的太小?源漏耗尽区宽度不可能按源漏耗尽区宽度不可能按比例缩小比例缩小?电源电压标准的改变会带电源电压标准的改变
8、会带来很大的不便来很大的不便?恒定电压等比例缩小规律恒定电压等比例缩小规律(简称简称CV律律)保持电源电压保持电源电压Vds和阈值电压和阈值电压Vth不变,对其它不变,对其它参数进行等比例缩小参数进行等比例缩小按按CV律缩小后对电路性能的提高远不如律缩小后对电路性能的提高远不如CE律,而且采用律,而且采用CV律会使沟道内的电场大大增律会使沟道内的电场大大增强强CV律一般只适用于沟道长度大于律一般只适用于沟道长度大于1 m的器件,的器件,它不适用于沟道长度较短的器件。它不适用于沟道长度较短的器件。?准恒定电场等比例缩小规则,缩写为准恒定电场等比例缩小规则,缩写为QCE律律CE律和律和CV律的折中
9、,世纪采用的最多律的折中,世纪采用的最多随着器件尺寸的进一步缩小,强电场、高功随着器件尺寸的进一步缩小,强电场、高功耗以及功耗密度等引起的各种问题限制了按耗以及功耗密度等引起的各种问题限制了按CV律进一步缩小的规则,电源电压必须降低。律进一步缩小的规则,电源电压必须降低。同时又为了不使阈值电压太低而影响电路的同时又为了不使阈值电压太低而影响电路的性能,实际上电源电压降低的比例通常小于性能,实际上电源电压降低的比例通常小于器件尺寸的缩小比例器件尺寸的缩小比例器件尺寸将缩小器件尺寸将缩小 倍,而电源电压则只变为原倍,而电源电压则只变为原来的来的 / 倍倍参数参数 CE(恒场恒场)律律 CV(恒压恒
10、压)律律 QCE(准恒场准恒场)律律 器件尺寸器件尺寸L, W, tox等等 1/ 1/ 1/ 电源电压电源电压 1/ 1 / 掺杂浓度掺杂浓度 2 阈值电压阈值电压 1/ 1 / 电流电流 1/ 2/ 负载电容负载电容 1/ 1/ 1/ 电场强度电场强度 1 门延迟时间门延迟时间 1/ 1/ 2 1/ 功耗功耗 1/ 2 3/ 2 功耗密度功耗密度 1 3 3 功耗延迟积功耗延迟积 1/ 3 1/ 2/ 3 栅电容栅电容 面积面积 1/ 2 1/ 2 1/ 2 集成密集成密度度 2 2 2 微电子技术的微电子技术的三个发展方向三个发展方向?硅微电子技术的三个主要发展方向硅微电子技术的三个主要
11、发展方向特征尺寸继续等比例缩小特征尺寸继续等比例缩小集成电路集成电路(IC)将发展成为系统芯片将发展成为系统芯片(SOC)微电子技术与其它领域相结合将产生新微电子技术与其它领域相结合将产生新的产业和新的学科,例如的产业和新的学科,例如MEMS、DNA芯片等芯片等微电子技术的三个发展方向微电子技术的三个发展方向?第一个关键技术层次:微细加工第一个关键技术层次:微细加工目前目前0.25 m和和0.18 m已开始进入大生产已开始进入大生产0.15 m和和0.13 m大生产技术也已经完成开大生产技术也已经完成开发,具备大生产的条件发,具备大生产的条件 当然仍有许多开发与研究工作要做,例如当然仍有许多开
12、发与研究工作要做,例如IP模块模块的开发,为的开发,为EDA服务的器件模型模拟开发以及基服务的器件模型模拟开发以及基于上述加工工艺的产品开发等于上述加工工艺的产品开发等在在0.13-0.07um阶段,最关键的加工工艺阶段,最关键的加工工艺光光刻技术还是一个大问题,尚未解决刻技术还是一个大问题,尚未解决微电子器件的特征尺寸继续缩小微电子器件的特征尺寸继续缩小?第二个关键技术:互连技术第二个关键技术:互连技术铜互连已在铜互连已在0.25/0.18um技术代中使技术代中使用;但是在用;但是在0.13um以后,铜互连与以后,铜互连与低介电常数绝缘材料共同使用时的低介电常数绝缘材料共同使用时的可靠性问题
13、还有待研究开发可靠性问题还有待研究开发微电子器件的特征尺寸继续缩小微电子器件的特征尺寸继续缩小互连技术与器件特征尺寸的缩小互连技术与器件特征尺寸的缩小(资料来源:(资料来源:Solidstate Technology Oct.,1998) ?第三个关键技术第三个关键技术新型器件结构新型器件结构新型材料体系新型材料体系 高高K介质介质 金属栅电极金属栅电极 低低K介质介质 SOI材料材料微电子器件的特征尺寸继续缩小微电子器件的特征尺寸继续缩小 重掺杂多晶硅重掺杂多晶硅SiO2 硅化物硅化物 经验关系经验关系: L Tox Xj1/3对栅介质层的要求对栅介质层的要求 年年 份份 1999 2001
14、 2003 2006 2009 2012 技技 术术 0.18 0.15 0.13 0.10 0.07 0.05 等效栅氧化层厚度等效栅氧化层厚度(nm) 45 23 23 1.52 1.5 1nm + t栅介质层栅介质层 Tox t多晶硅耗尽多晶硅耗尽 t栅介质层栅介质层 t量子效应量子效应 : : t多晶硅耗尽多晶硅耗尽 0.5nm t量子效应量子效应 0.5nm 随着器件缩小随着器件缩小致亚致亚50纳米纳米SiO2无法适应亚无法适应亚50纳米器件的要求纳米器件的要求SiO2( 3.9)SiO2/Si 界面界面硅基集成电路硅基集成电路发展的基石发展的基石得以使微电得以使微电子产业高速子产业
15、高速和持续发展和持续发展SOI(Silicon-On-Insulator: 绝缘衬底上的硅绝缘衬底上的硅)技术技术SOI技术:优点技术:优点?完全实现了介质隔离完全实现了介质隔离, 彻底消除了体硅彻底消除了体硅CMOS集成电路中的寄生闩锁效应集成电路中的寄生闩锁效应?速度高速度高?集成密度高集成密度高?工艺简单工艺简单?减小了热载流子效应减小了热载流子效应?短沟道效应小短沟道效应小,特别适合于小尺寸器件特别适合于小尺寸器件?体效应小、寄生电容小,特别适合于体效应小、寄生电容小,特别适合于低压器件低压器件?SOI材料价格高材料价格高?衬底浮置衬底浮置?表层硅膜质量及其界面质量表层硅膜质量及其界面
16、质量SOI技术:缺点技术:缺点隧穿效应隧穿效应SiO2的性质的性质栅介质层栅介质层Tox1纳米纳米量子隧穿模型量子隧穿模型高高K介质介质? ?杂质涨落杂质涨落器件沟道区中的杂器件沟道区中的杂质数仅为百的量级质数仅为百的量级统计规律统计规律新型栅结构新型栅结构? ?电子输运的电子输运的渡越时间渡越时间碰撞时间碰撞时间介观物理的介观物理的输运理论输运理论? ?沟道长度沟道长度 L50纳米纳米L源源漏漏栅栅Toxp 型硅型硅n+n+多晶硅多晶硅NMOSFET 栅介质层栅介质层带间隧穿带间隧穿反型层的反型层的量子化效应量子化效应电源电压电源电压1V时,栅介质层中电场时,栅介质层中电场约为约为5MV/c
17、m,硅中电场约,硅中电场约1MV/cm考虑量子化效应考虑量子化效应的器件模型的器件模型? ? .可靠性可靠性0.1 m Sub 0.1 m稳定状态情况下的半导体增长率稳定状态情况下的半导体增长率 1997 稳定状态(稳定状态(2030) CMOS 技术技术 0.25m 0.035m 年平均增长率年平均增长率 16% 7% (约为约为 GDP 增长率的增长率的 2 倍倍) 半导体产业半导体产业/电子工业电子工业 17% 35% 半导体产业半导体产业/GDP 0.7% 3% From Chemming Hu, (U.C.Berkely) 2030年后,半导体加工技术走向成熟,年后,半导体加工技术走
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