并行存储器课件.ppt
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1、1第三章第三章 内部存储器内部存储器3.1存储器概述3.2SRAM存储器3.3DRAM存储器3.4只读存储器和闪速存储器3.5并行存储器3.6Cache存储器返回23.1存储器概述存储器概述一、分类l按存储介质分类:磁表面/半导体存储器l按存取方式分类:随机/顺序存取(磁带)l按读写功能分类:ROM,RAMlRAM:双极型/MOSlROM:MROM/PROM/EPROM/EEPROMl按信息的可保存性分类:永久性和非永久性的l按存储器系统中的作用分类:主/辅/缓/控33.1存储器概述存储器概述二、存储器分级结构1、目前存储器的特点是: 速度快的存储器价格贵,容量小; 价格低的存储器速度慢,容量
2、大。 在计算机存储器体系结构设计时,我们希望存储器系统的性能高、价格低,那么在存储器系统设计时,应当在存储器容量,速度和价格方面的因素作折中考虑,建立了分层次的存储器体系结构如下图所示。43.1.2 存储器分级结构存储器分级结构2、分级结构l高速缓冲存储器简称cache,它是计算机系统中的一个高速小容量半导体存储器。l主存储器简称主存,是计算机系统的主要存储器,用来存放计算机运行期间的大量程序和数据。l外存储器简称外存,它是大容量辅助存储器。53.1.2 存储器分级结构存储器分级结构l分层存储器系统之间的连接关系63.1.3主存储器的技术指标主存储器的技术指标l字存储单元:存放一个机器字的存储
3、单元,相应的单元地址叫字地址。l字节存储单元:存放一个字节的单元,相应的地址称为字节地址。l存储容量:指一个存储器中可以容纳的存储单元总数。存储容量越大,能存储的信息就越多。l存取时间又称存储器访问时间:指一次读操作命令发出到该操作完成,将数据读出到数据总线上所经历的时间。通常取写操作时间等于读操作时间,故称为存储器存取时间。l存储周期:指连续启动两次读操作所需间隔的最小时间。通常,存储周期略大于存取时间,其时间单位为ns。l存储器带宽:单位时间里存储器所存取的信息量,通常以位/秒或字节/秒做度量单位。73.2 SRAM存储器存储器l主存(内部存储器)是半导体存储器。根据信息存储的机理不同可以
4、分为两类:l静态读写存储器(SRAM):存取速度快l动态读写存储器(DRAM):存储容量不如DRAM大。83.2 SRAM存储器存储器一、基本的静态存储元阵列1、存储位元2、三组信号线l地址线l数据线l行线l列线l控制线93.2 SRAM存储器存储器二、基本的SRAM逻辑结构lSRAM芯大多采用双译码方式,以便组织更大的存储容量。采用了二级译码:将地址分成x向、y向两部分如图所示。103.2 SRAM存储器存储器l存储体(2561288)l通常把各个字的同一个字的同一位集成在一个芯片(32K1)中,32K位排成256128的矩阵。8个片子就可以构成32KB。l地址译码器l采用双译码的方式(减少
5、选择线的数目)。lA0A7为行地址译码线lA8A14为列地址译码线113.2 SRAM存储器存储器l读与写的互锁逻辑控制信号中CS是片选信号,CS有效时(低电平),门G1、G2均被打开。OE为读出使能信号,OE有效时(低电平),门G2开启,当写命令WE=1时(高电平),门G1关闭,存储器进行读操作。写操作时,WE=0,门G1开启,门G2关闭。注意,门G1和G2是互锁的,一个开启时另一个必定关闭,这样保证了读时不写,写时不读。123.2 SRAM存储器存储器三、存储器的读写周期l读周期l读出时间Taql读周期时间Trcl写周期l写周期时间Twcl写时间twdl存取周期l读周期时间Trc=写时间t
6、wd13例例1P70:图:图3.5(a)是是SRA的写入时序图。其中的写入时序图。其中R/W是是读读/写命令控制线,当写命令控制线,当R/W线为低电平时,存储器按线为低电平时,存储器按给定地址把数据线上的数据写入存储器。请指出图给定地址把数据线上的数据写入存储器。请指出图3.5(a)写入时序中的错误,并画出正确的写入时序图。写入时序中的错误,并画出正确的写入时序图。解:点击上图143.3 DRAM存储器存储器一、DRAM存储位元的记忆原理 SRAM存储器的存储位元是一个触发器,它具有两个稳定的状态。而DRAM存储器的存储位元是由一个MOS晶体管和电容器组成的记忆电路,如图3.6所示。 153.
7、3 DRAM存储器存储器1、MOS管做为开关使用,而所存储的信息1或0则是由电容器上的电荷量来体现当电容器充满电荷时,代表存储了1,当电容器放电没有电荷时,代表存储了0。2、图(a)表示写1到存储位元。此时输出缓冲器关闭、刷新缓冲器关闭,输入缓冲器打开(R/W为低),输入数据DIN=1送到存储元位线上,而行选线为高,打开MOS管,于是位线上的高电平给电容器充电,表示存储了1。 3、图(b)表示写0到存储位元。此时输出缓冲器和刷新缓冲器关闭,输入缓冲器打开,输入数据DIN=0送到存储元位线上;行选线为高,打开MOS管,于是电容上的电荷通过MOS管和位线放电,表示存储了0。4、图(c)表示从存储位
8、元读出1。输入缓冲器和刷新缓冲器关闭,输出缓冲器/读放打开(R/W为高)。行选线为高,打开MOS管,电容上所存储的1送到位线上,通过输出缓冲器/读出放大器发送到DOUT,即DOUT=1。5、图(d)表示(c)读出1后存储位元重写1。由于(c)中读出1是破坏性读出,必须恢复存储位元中原存的1。此时输入缓冲器关闭,刷新缓冲器打开,输出缓冲器/读放打开,DOUT=1经刷新缓冲器送到位线上,再经MOS管写到电容上。注意,输入缓冲器与输出缓冲器总是互锁的。这是因为读操作和写操作是互斥的,不会同时发生。 163.3 DRAM存储器存储器二、DRAM芯片的逻辑结构下面我们通过一个例子来看一下动态存储器的逻辑
9、结构如图。l图3.7(a)示出1M4位DRAM芯片的管脚图,其中有两个电源脚、两个地线脚,为了对称,还有一个空脚(NC)。l图3.7(b)是该芯片的逻辑结构图。与SRAM不同的是:(1)增加了行地址锁存器和列地址锁存器。由于DRAM存储器容量很大,地址线宽度相应要增加,这势必增加芯片地址线的管脚数目。为避免这种情况,采取的办法是分时传送地址码。若地址总线宽度为10位,先传送地址码A0A9,由行选通信号RAS打入到行地址锁存器;然后传送地址码A10A19,由列选通信号CRS打入到列地址锁存器。芯片内部两部分合起来,地址线宽度达20位,存储容量为1M4位。(2)增加了刷新计数器和相应的控制电路。D
10、RAM读出后必须刷新,而未读写的存储元也要定期刷新,而且要按行刷新,所以刷新计数器的长度等于行地址锁存器。刷新操作与读/写操作是交替进行的,所以通过2选1多路开关来提供刷新行地址或正常读/写的行地址。173.3 DRAM存储器存储器183.3 DRAM存储器存储器三、读/写周期l读周期、写周期的定义是从行选通信号RAS下降沿开始,到下一个RAS信号的下降沿为止的时间,也就是连续两个读周期的时间间隔。通常为控制方便,读周期和写周期时间相等。193.3 DRAM存储器存储器203.3 DRAM存储器存储器四、 刷新周期 l刷新周期:DRAM存储位元是基于电容器上的电荷量存储,这个电荷量随着时间和温
11、度而减少,因此必须定期地刷新,以保持它们原来记忆的正确信息。l刷新操作有两种刷新方式:l集中式刷新:DRAM的所有行在每一个刷新周期中都被刷新。l例如刷新周期为8ms的内存来说,所有行的集中式刷新必须每隔8ms进行一次。为此将8ms时间分为两部分:前一段时间进行正常的读/写操作,后一段时间(8ms至正常读/写周期时间)做为集中刷新操作时间。l分散式刷新:每一行的刷新插入到正常的读/写周期之中。l例如p72图3.7所示的DRAM有1024行,如果刷新周期为8ms,则每一行必须每隔8ms1024=7.8us进行一次。213.3 DRAM存储器存储器五、存储器容量的扩充 1、字长位数扩展给定的芯片字
12、长位数较短,不满足设计要求的存储器字长,此时需要用多片给定芯片扩展字长位数。三组信号线中,地址线和控制线公用而数据线单独分开连接。 d=设计要求的存储器容量/选择芯片存储器容量 例例2 2 利用利用1M1M4 4位的位的SRAMSRAM芯片,设计一个存储容量芯片,设计一个存储容量为为1M1M8 8位的位的SRAMSRAM存储器。存储器。 解:所需芯片数量=(1M8)/(1M4)=2片223.3 DRAM存储器存储器2、字存储容量扩展 l给定的芯片存储容量较小(字数少),不满足设计要求的总存储容量,此时需要用多片给定芯片来扩展字数。三组信号组中给定芯片的地址总线和数据总线公用,控制总线中R/W公
13、用,使能端EN不能公用,它由地址总线的高位段译码来决定片选信号。所需芯片数仍由(d=设计要求的存储器容量/选择芯片存储器容量)决定。 例例33利用利用1M1M8 8位的位的DRAMDRAM芯片设计芯片设计2M2M8 8位的位的DRAMDRAM存储存储器器解:所需芯片数d=(2M8)/(1M8)=2(片)233.3 DRAM存储器存储器3、存储器模块条 l存储器通常以插槽用模块条形式供应市场。这种模块条常称为内存条,它们是在一个条状形的小印制电路板上,用一定数量的存储器芯片,组成一个存储容量固定的存储模块。如图所示。l内存条有30脚、72脚、100脚、144脚、168脚等多种形式。l30脚内存条
14、设计成8位数据线,存储容量从256KB32MB。l72脚内存条设计成32位数据总线l100脚以上内存条既用于32位数据总线又用于64位数据总线,存储容量从4MB512MB。 243.3 DRAM存储器存储器六、高级的DRAM结构 lFPM DRAM:快速页模式动态存储器,它是根据程序的局部性原理来实现的。读周期和写周期中,为了寻找一个确定的存储单元地址,首先由低电平的行选通信号RAS确定行地址,然后由低电平的列选信号CAS确定列地址。下一次寻找操作,也是由RAS选定行地址,CAS选定列地址,依此类推,如下图所示。 253.3 DRAM存储器存储器lCDRAM带高速缓冲存储器(cache)的动态
15、存储器,它是在通常的DRAM芯片内又集成了一个小容量的SRAM,从而使DRAM芯片的性能得到显著改进。如图所示出1M4位CDRAM芯片的结构框图,其中SRAM为5124位。 263.3 DRAM存储器存储器lSDRAM同步型动态存储器。计算机系统中的CPU使用的是系统时钟,SDRAM的操作要求与系统时钟相同步,在系统时钟的控制下从CPU获得地址、数据和控制信息。换句话说,它与CPU的数据交换同步于外部的系统时钟信号,并且以CPU/存储器总线的最高速度运行,而不需要插入等待状态。其原理和时序关系见下一页图和动画。27283.3 DRAM存储器存储器例4 CDRAM内存条组成实例。一片CDRAM的
16、容量为1M4位,8片这样的芯片可组成1M32位4MB的存储模块,其组成如下图所示。293.3 DRAM存储器存储器七、DRAM主存读/写的正确性校验 DRAM通常用做主存储器,其读写操作的正确性与可靠性至关重要。为此除了正常的数据位宽度,还增加了附加位,用于读/写操作正确性校验。增加的附加位也要同数据位一起写入DRAM中保存。其原理如图所示。303.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器一、只读存储器 ROM叫做只读存储器。顾名思义,只读的意思是在它工作时只能读出,不能写入。然而其中存储的原始数据,必须在它工作以前写入。只读存储器由于工作可靠,保密性强,在计算机系统中得到广泛的应用。
17、主要有两类:l掩模ROM:掩模ROM实际上是一个存储内容固定的ROM,由生产厂家提供产品。 l可编程ROM:用户后写入内容,有些可以多次写入。l一次性编程的PROMl多次编程的EPROM和E2PROM。313.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器1、掩模ROM掩模ROM的阵列结构和存储元 323.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器2、掩模ROM的逻辑符号和内部逻辑框图 333.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器3、可编程ROM lEPROM叫做光擦除可编程可读存储器。它的存储内容可以根据需要写入,当需要更新时将原存储内容抹去,再写入新的内容。l现以浮栅雪
18、崩注入型MOS管为存储元的EPROM为例进行说明,结构如右图所示。 343.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器l现以浮栅雪崩注入型MOS管为存储元的EPROM为例进行说明,结构如图(a)所示,图(b)是电路符号。l若在漏极D端加上约几十伏的脉冲电压,使得沟道中的电场足够强,则会造成雪崩,产生很多高能量电子。此时,若在G2栅上加上正电压,形成方向与沟道垂直的电场,便可使沟道中的电子穿过氧化层而注入到G1栅,从而使G1栅积累负电荷。l由于G1栅周围都是绝缘的二氧化硅层,泄漏电流极小,所以一旦电子注入到G1栅后,就能长期保存。 353.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器l
19、当G1栅有电子积累时,该MOS管的开启电压变得很高,即使G2栅为高电平,该管仍不能导通,相当于存储了“0”。反之,G1栅无电子积累时,MOS管的开启电压较低,当G2栅为高电平时,该管可以导通,相当于存储了“1”。图(d)示出了读出时的电路,它采用二维译码方式:x地址译码器的输出xi与G2栅极相连,以决定T2管是否选中;y地址译码器的输出yi与T1管栅极相连,控制其数据是否读出。当片选信号CS为高电平即该片选中时,方能读出数据。363.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器l这种器件的上方有一个石英窗口,如图(c)所示。当用光子能量较高的紫外光照射G1浮栅时,G1中电子获得足够能量,从
20、而穿过氧化层回到衬底中,如图(e)所示。这样可使浮栅上的电子消失,达到抹去存储信息的目的,相当于存储器又存了全“1”。373.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器l这种EPROM出厂时为全“1”状态,使用者可根据需要写“0”。写“0”电路如图(f)所示,xi和yi选择线为高电位,P端加20多伏的正脉冲,脉冲宽度为0.11ms。EPROM允许多次重写。抹去时,用40W紫外灯,相距2cm,照射几分钟即可。 383.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器lE2PROM存储元 EEPROM,叫做电擦除可编程只读存储器。其存储元是一个具有两个栅极的NMOS管,如图(a)和(b)所示
21、,G1是控制栅,它是一个浮栅,无引出线;G2是抹去栅,它有引出线。在G1栅和漏极D之间有一小面积的氧化层,其厚度极薄,可产生隧道效应。如图(c)所示,当G2栅加20V正脉冲P1时,通过隧道效应,电子由衬底注入到G1浮栅,相当于存储了“1”。利用此方法可将存储器抹成全“1”状态。393.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器l这种存储器在出厂时,存储内容为全“1”状态。使用时,可根据要求把某些存储元写“0”。写“0”电路如图(d)所示。漏极D加20V正脉冲P2,G2栅接地,浮栅上电子通过隧道返回衬底,相当于写“0”。E2PROM允许改写上千次,改写(先抹后写)大约需20ms,数据可存储
22、20年以上。lE2PROM读出时的电路如图(e)所示,这时G2栅加3V电压,若G1栅有电子积累,T2管不能导通,相当于存“1”;若G1栅无电子积累,T2管导通,相当于存“0”。 403.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器4、闪速存储器FLASH存储器也翻译成闪速存储器,它是高密度非失易失性的读/写存储器。高密度意味着它具有巨大比特数目的存储容量。非易失性意味着存放的数据在没有电源的情况下可以长期保存。总之,它既有RAM的优点,又有ROM的优点,称得上是存储技术划时代的进展。 413.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器lFLASH存储元在EPROM存储元基础上发展起来
23、的,由此可以看出创新与继承的关系。l如右图所示为闪速存储器中的存储元,由单个MOS晶体管组成,除漏极D和源极S外,还有一个控制栅和浮空栅。423.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器l“0”状态状态:当控制栅加上足够的正电压时,浮空栅将储存许多电子带负电,这意味着浮空栅上有很多负电荷,这种情况我们定义存储元处于0状态。l“1”状态状态:如果控制栅不加正电压,浮空栅则只有少许电子或不带电荷,这种情况我们定义为存储元处于1状态。l浮空栅上的电荷量决定了读取操作时,加在栅极上的控制电压能否开启MOS管,并产生从漏极D到源极S的电流。 433.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储
24、器l编程操作编程操作:实际上是写操作。所有存储元的原始状态均处“1”状态,这是因为擦除操作时控制栅不加正电压。编程操作的目的是为存储元的浮空栅补充电子,从而使存储元改写成“0”状态。如果某存储元仍保持“1”状态,则控制栅就不加正电压。l如图(a)表示编程操作时存储元写0、写1的情况。实际上编程时只写0,不写1,因为存储元擦除后原始状态全为1。要写0,就是要在控制栅C上加正电压。一旦存储元被编程,存储的数据可保持100年之久而无需外电源。 443.4 只读存储器和闪速存储器只读存储器和闪速存储器l读取操作:读取操作:控制栅加上正电压。浮空栅上的负电荷量将决定是否可以开启MOS晶体管。如果存储元原
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