第五章-金属氧化物和金属硫化物催化剂及其催化作用2课件.ppt
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- 第五 金属 氧化物 硫化物 催化剂 及其 催化 作用 课件
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1、1第五章第五章 过渡金属氧化物和硫化物催化剂过渡金属氧化物和硫化物催化剂及其催化作用及其催化作用2主要内容主要内容金属催化剂的应用及其特性金属催化剂的应用及其特性1金属催化剂的化学吸附金属催化剂的化学吸附2金属催化剂的电子因素金属催化剂的电子因素3金属催化剂的晶体结构因素金属催化剂的晶体结构因素4负载型金属催化剂负载型金属催化剂5合金型金属催化剂合金型金属催化剂6金属催化剂典型实例金属催化剂典型实例73金属特性:1、 金属金属d d电子与被吸附物电子与被吸附物s s或或p p电子配对,电子配对,发生化学吸附,生成表面中间物种而活化发生化学吸附,生成表面中间物种而活化4.1.1金属催化剂的特性(
2、Characteristics of metal catalysts)2、金属催化剂可提供高密度吸附反应中心金属催化剂可提供高密度吸附反应中心。吸附中心的多样性,降低了催化剂的选择性4化学吸附电子转移和吸附态a.电子从反应物转移到金属,形成吸附正离子b.电子从金属转移到反应物,形成吸附负离子c.电子从难转移,形成吸附共价键,强吸附51、能带理论共有化能带不能保持原有单个能级,而是根据所含原子数分裂成和原子数相同的相互接近的能级62、 价键理论(Chemical Bond Theory)nd,(n+1)s ,(n+1)p能级接近能级接近30%70%Ni-A d占占 2/6 = 0.33Ni-B
3、d占占 3/7 = 0.43则则d% = 30% 0.33 + 70% 0.43 = 40%金属键的金属键的d百分数(百分数(d%):):d轨道参与成键的百分数。轨道参与成键的百分数。7 分子的活化是通过与催化剂表面的相互作用而实现的。即由化学吸附而形成活化络合物,再进一步反应。 要求催化剂原子和反应物分子结构在几何尺寸上接近的理论称之为几何对应理论。 独位吸附、双位吸附、多位吸附4.4.2 晶格结构对催化性能影响(Crystal Structure Effects on Metal atalysts Ability)8载体催化剂的影响 溢流氢现象:指被活化的物种从一相向另一相转移(另一相指被
4、活化的物种从一相向另一相转移(另一相是不能直接吸附活化产生该物种的相)是不能直接吸附活化产生该物种的相)如如Pt/Al2O3环己烷脱氢过程活性对环己烷脱氢过程活性对Pt负载的量变负载的量变化不太敏感现象可以用化不太敏感现象可以用“溢流氢溢流氢”解释。解释。溢流的作用使原来没有活性载体变成有活性的溢流的作用使原来没有活性载体变成有活性的催化剂或催化成份。溢流现象也不局限于氢,催化剂或催化成份。溢流现象也不局限于氢,氧也可以发生溢流。氧也可以发生溢流。如如Pt/Al2O3积炭反应有氧溢现象。积炭反应有氧溢现象。94.6.4. 合金的表面富集现象原因:原因:(1) 自由能差别导致表面富集自由能低(升
5、华自由能差别导致表面富集自由能低(升华热较低的)组份。热较低的)组份。(2) 表相组成与接触的气体性质有关,同气体表相组成与接触的气体性质有关,同气体作用有较高吸附热的金属易于表面富集。作用有较高吸附热的金属易于表面富集。特点:特点:(1) 合金催化剂对催化性能的影响比体相直接合金催化剂对催化性能的影响比体相直接(2) 几何效应大于电子效应几何效应大于电子效应10主要内容主要内容过渡金属氧过渡金属氧( (硫硫) )化物催化物的应化物催化物的应用及类型用及类型1金属氧金属氧( (硫硫) )化物中的缺陷及半导化物中的缺陷及半导体性质体性质2半导体催化的化学吸附与电子催半导体催化的化学吸附与电子催化
6、理论化理论3过渡金属氧化物催化剂的氧化过渡金属氧化物催化剂的氧化还原机理还原机理4过渡金属氧化物中晶体场的影响过渡金属氧化物中晶体场的影响5过渡金属氧化物催化剂典型案例过渡金属氧化物催化剂典型案例剖析剖析6115.1.1金属氧化物和硫化物概述金属氧化物 复合氧化物;固溶体、杂多酸、混晶等复合氧化物;固溶体、杂多酸、混晶等金属氧化物催化剂的应用: 氧化还原型催化反应过程氧化还原型催化反应过程金属氧化物催化作用和功能 主催化剂、助催化剂、载体等主催化剂、助催化剂、载体等所用催化剂主要分三类:1 1)过渡金属氧化物过渡金属氧化物,2 2)金属氧化物金属氧化物,3 3)原态原态为金属,但其表面吸附氧形
7、成氧化层为金属,但其表面吸附氧形成氧化层。 125.1.2. 过渡金属氧(硫)化物催化物的应用及类型A. 过渡金属氧(硫)化物催化物的应用及其特点a. 过渡金属氧(硫)化物催化物的应用过渡金属氧化物催化剂的工业应用过渡金属氧化物催化剂的工业应用 1314I. I. 金属氧化物催化剂金属氧化物催化剂主要是主要是VBVBVIIIVIII族和族和IBIB,IIBIIB族元素氧化物族元素氧化物II. II. 催化剂催化剂多由两种或多种多由两种或多种氧化物组成氧化物组成III. III. 氧化物氧化物具有半导体特性故为半导体催化剂具有半导体特性故为半导体催化剂IV. IV. 这些氧化物应用与这些氧化物应
8、用与氧化还原反应与过渡金属电子特性有关氧化还原反应与过渡金属电子特性有关。15b. 过渡金属氧(硫)化物催化物的电子特性I. I. 过渡金属氧化物中过渡金属氧化物中金属阳离子的金属阳离子的d d电子层容电子层容易得到或失去,具有较强氧化还原性易得到或失去,具有较强氧化还原性II. II. 过渡金属氧化物具有过渡金属氧化物具有半导体特性半导体特性。III. III. 其中金属氧化物中的金属离子内层轨道保其中金属氧化物中的金属离子内层轨道保留原子轨道特性,留原子轨道特性,与外来轨道相遇时,可重新与外来轨道相遇时,可重新组合成新轨道,利于化学吸附组合成新轨道,利于化学吸附IV. IV. 与过渡金属催
9、化剂相比,金属氧化物催化剂与过渡金属催化剂相比,金属氧化物催化剂耐热、抗毒、光敏。热敏、杂质敏感,耐热、抗毒、光敏。热敏、杂质敏感,适于调变适于调变。16B. 过渡金属氧(硫)化物催化物的结构类型a. M2O型和MO型氧化物I. M2O型: Cu2O,CO加H2制甲醛 Ag2O金属配位数为直线型2配位(sp杂化),O是配位数为四面体的4配位(sp3杂化)17II. MO型:NaCl型:以离子键为主,金属与氧原子配位数以离子键为主,金属与氧原子配位数均是均是6 6,为正八面体结构,为正八面体结构。典型例子:TiO、VO、MnO、FeO、CoO。属立方晶系,低温下偏离理想结构变为三方或属立方晶系,
10、低温下偏离理想结构变为三方或四方。四方。纤维锌矿型:金属离子与氧为四面体型结构,四金属离子与氧为四面体型结构,四个个M M2+2+-O-O2-2-不一定等价不一定等价。典型例子:ZnO、PdO、PtO、CuO、AgO、NbO。18b. M2O3型: C-M2O3型型:与萤石结构(CaF2)类似,取走其中1/4的O2-。M3+配位数是6。 典型例子:Mn2O3、Sc2O3、Y2O3、-Bi2O3(右图).刚玉型刚玉型:氧原子为六方密堆积,2/3八面体间隙被金属原子填充。M3+配位数是6,O2-配位数是4。 典型例子:Fe2O3、V2O3、Cr2O3、Rh2O3、Ti2O3M19c. MO2型:
11、萤石型萤石型:r(M4+)/r(O2-) 较大, 例子:ZrO2、HfO2、CeO2、ThO2、VO2。 金红石型金红石型: r(M4+)/r(O2-) 其次, 例子:TiO2、VO2、CrO2、MoO2、WO2、MnO2等。 硅石型硅石型: r(M4+)/r(O2-) 最小,20d. M2O5型和MO3型: I. M2O5型型:V2O5, 层状结构,V5+被六个O2-包围但实际只有5个,成扭曲三角双锥 21II. MO3型型:WO3、MoO3、ReO3。 MO3型形成6配位的八面体,常用作选择氧化催化剂,具有层状结构。22过渡金属氧过渡金属氧( (硫硫) )化物催化物的应化物催化物的应用及类
12、型用及类型1金属氧金属氧( (硫硫) )化物中的缺陷及半导化物中的缺陷及半导体性质体性质2半导体催化的化学吸附与电子催半导体催化的化学吸附与电子催化理论化理论3过渡金属氧化物催化剂的氧化过渡金属氧化物催化剂的氧化还原机理还原机理4过渡金属氧化物中晶体场的影响过渡金属氧化物中晶体场的影响5过渡金属氧化物催化剂典型案例过渡金属氧化物催化剂典型案例剖析剖析623导体、绝缘体、半导体的能带的结构 5.2.1. 半导体能带结构和类型24A. 半导体的能带结构:半导体能带不迭加,形成分立的带:满带、空带导带、禁带(能量宽度为Eg)。满带:凡是能被子电子完全充满的能带;导带:凡是能带没有完全被电子充满的;空
13、带:根本没有填充电子的能带;禁带:在导带(空带)和满带之间没有能级不能填充电子这个区间叫禁带。半导体的禁带宽度一般在0.2-3eV。25满带、空带或导带、禁带下面一部分密集的能级组成一个带,一般充满或部分充满价电子,称为满带;上面一部分密集的能带也组成一个带,在基态时往往不存在电子,只有处于激发态时才有电子进入此带,所以称为空带,又叫导带 ;3S能带与2P能带之间有一个间隙,其中没有任何能级,故电子不能进入此区,称之为禁带 ;(1)固体的能带结构固体的能带结构 26 导体 本征半导体 n-型半导体 p-型半导体 绝缘体各种固体的能带结构27本征半导体:不含杂质,具有理想的完整的晶体结构,有电子
14、和空穴两种载流子,例如Si、Ge、PbS、Fe3O4等。 N 型半导体:含有能供给电子的杂质,此杂质的电子输入空带成为自由电子,空带变成导带。该杂质叫施主杂质。 P型半导体:含有易于接受电子的杂质,半导体满带中的电子输入杂质中而产生空穴,该杂质叫受主杂质。半导体分类:28当金属氧化物引入杂质离子或原子。杂质是以原子、离子或集团分布在金属氧化物晶体中,存在于晶格表面或晶格交界处。这些杂质可引起半导体禁带中出现杂质能级。金属氧化物的非化学计量产生N型、P型半导体。金属氧金属氧(硫硫)化物中的缺陷化物中的缺陷非化学计量化合物具有半导体特性295.2.2. n型和p型半导体生成A. n型半导体的生成a
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