测试方法西林电桥简介课件.ppt
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1、p 2 .测试方法 (1)西林电桥简介1三三 . .介质损耗因数测量介质损耗因数测量 介损的测量一般都是通过西林电桥测量的,西林电桥(图5)是一种交流电桥,配以合适的标准电容,可以在高压下测量材料和设备的电容值和介质损耗角。西林电桥有四个臂,两个高压臂:一个代表被试品的ZX,一个代表无损耗标准电容Cn,两个低压臂处在桥体体内,一个是可调无感电阻R3,另一个是无感电阻R4和可调电容C4的并联回路。调节R3、 C4,使检流计G的电流为零。则可计算如下: 设被试品阻抗Zx为Z1;Cn为Z2;R3为Z3;R4并联C4为Z4。 计算为:412334443413243241333444441;111Xnn
2、nnRZZZZR Zj cj c RUUZZZZZZj cRZcZZRRRZj c Rcj c R图5、西林电桥按复数相等的定义:虚部、实部分别相等。则:4433;nXXnc RcRR CcR通过ZX的串、并联的等效变换,无论串联还是并联,介损都为:44tgc R 试验试验 介质损耗因数测量的技术方法介质损耗因数测量的技术方法 (2)西林电桥的应用西林电桥在实际测量中得到广泛的应用,根据西林电桥的特点,它用于变压器、电机、互感器等高压设备的tan以及电容量的测量。西林电桥有正接法和反接法两种,正接法(图6)适用于两端绝缘的产品,在变压器tan测量中,套管介损采用此方法;反接法(图7)适用于一端
3、接地的产品,变压器tan测量中,绕组介损测量采用此方法。其中在正接法中,电压加在被试品上,电桥上电压相对较低,使用安全;反接法中,电压加在电桥上的,对操作人员有一定的危险性。随着技术的不断进步,现在tan的测量是通过单板机和一系列电子设备,将矢量电流通过自动模/数转换,求出介质损耗角和电容量,方便快捷且精度高。2三三 . .介质损耗因数测量介质损耗因数测量图6、西林电桥正接法图7、西林电桥反接法 试验试验 介质损耗因数测量的技术方法介质损耗因数测量的技术方法p 2 .测试方法3三三 . .介质损耗因数测量介质损耗因数测量l 一般的,当绝缘介质优良时,试验电压即使升到很高, tan值也基本上没有
4、变化。但是,当绝缘介质工艺不好、绝缘中残留气泡或绝缘老化时,电压升高,试验电压超过局部放电起始电压时,绝缘介质中发生局部放电, tan值会迅速增大。所以,为了能有效的验证变压器的绝缘水平,对试验电压有一定的要求: a、额定电压为6KV及一下的试品,取额定电压; b、额定电压为1035KV的试品,取10KV; c、额定电压为63KV及以上的试品,取10KV或者大于10KV,但不超过绕组线端较低 电压的60%。CTC产品的试验电压一般取10KV。表1、变压器介损的测量部位序列号序列号双线圈变压器双线圈变压器三线圈变压器三线圈变压器被测线圈接地部分被测线圈接地部分1低压高压、外壳低压高压、中压、外壳
5、2高压低压、外壳中压高压、低压、外壳3高压中压、低压、外壳4高压、低压外壳高压、中压低压、外壳5高压、中压、低压外壳6其他特别指示部分其他特别指示部分 试验试验 介质损耗因数测量的技术方法介质损耗因数测量的技术方法p 3 .介损的影响因数4三三 . .介质损耗因数测量介质损耗因数测量1、电压特性 (1)tan与施加的电压的关系决定了绝缘介质的性能、绝缘介质工艺处理的好坏和产品结构。当绝缘介质工艺处理良好时,外施电压与tan之间的关系近似一条水平直线,且施加电压上升和下降时测得的tan值是基本重合的。当施加电压达到某一极限值时,tan曲线才开始向上弯曲,见图13曲线1。 (2)如果绝缘介质工艺不
6、好、绝缘中残留气泡等,tan比良好时要大,而且会在电压比较低时而向上弯曲,施加电压上升和下降时测得的tan值不会重合,见图13曲线2。 (3)当绝缘老化时,tan反而比良好时要小,但tan曲线在较低的电压下向上弯曲,见图13曲线3 ;老化的的介质容易吸潮,一旦吸潮,tan随电压迅速增加,且施加电压上升和下降时测得的tan值是不会重合,见图13曲线4。2、温度特性 tan测量通常在1040 下进行,其值随温度上升而增加, 其与温度的关系:图13、绝缘介质tan的电压特性121021tantan1.3TT2211tan:tgtan:tgTT油温为时的的值,%油温为时的的值,%同样的,应对上述关系式
7、或其他一些换算系数采取谨慎使用的态度。 试验试验 介质损耗因数测量的技术方法介质损耗因数测量的技术方法p 4.测试注意点u 试验电源频率应为产品的额定频率,其偏差应不大于5%。试验电源的波形应为正弦波,在测量中应注意非正弦波的高次谐波分量给tan值及电容值带来的影响。u 测量过程中要注意高压连线可能的支撑物及产品外绝缘污秽,受潮等因素对测量结果带来的较大误差。u 测量通常在1040下进行,变压器产品测量结果一般不应超过下列值: a、35KV及以下的产品20 时不应大于2%; b、63KV220KV产品20 时不应大于1.5%; c、330KV及以上产品,在2025 时不应大于0.5%。u 变压
8、器产品在进行tan测量时,被试品均应短路,并应正确记录产品的油温。5三三 . .介质损耗因数测量介质损耗因数测量 试验试验 介质损耗因数测量的技术方法介质损耗因数测量的技术方法 空载损耗和空载电流测量是变压器的例行试验变压器的全部励磁特性是由空载试验确定的。 进行空载试验的目的是:测量变压器的空载损耗和空载电流,验证变压器铁心的设计计算、工艺制造是否满足标准和技术条件的要求;检查变压器铁心是否存在缺陷,如:局部过热、局部绝缘不良等。 变压器空载试验一般从电压较低的绕组(一般是低压绕组)施加波形为正弦波、额定频率的额定电压,其他绕组开路,在此条件下测量损耗和电流 变压器的声级测量也是空载励磁条件
9、下进行的。6空载试验的技术方法空载试验的技术方法4 4、空载损耗和空载电流测量、空载损耗和空载电流测量 一一. .概述概述 试验试验 p空载损耗空载损耗主要包括:磁滞损耗和涡流损耗,同时还包括一些附加损耗磁滞损耗主要取决于硅钢片的材质和铁心中磁密的幅值,当硅钢片材质一定时,磁滞损耗与磁密随时间变化无关,即与磁密波形无关;只与磁滞回线的面积有关,正比于磁滞回线的面积。涡流损耗分为经典涡流损耗和异常涡流损耗。经典涡流损耗与磁密幅值、频率和硅钢片的厚度的平方成正比;异常涡流损耗和硅钢片的材质有关。附加损耗包括漏磁在油箱中的损耗、空载电流在绕组上产生的电阻损耗以及由于铁心的接缝产生的旋转磁通而增加的损
10、耗等等,一般可以忽略。7二二. .空载损耗及空载电流介绍空载损耗及空载电流介绍p 空载电流 当在变压器低压侧绕组上施加正弦波形的额定电压时,在变压器铁心中产生的磁通 也为正弦波形,但由于铁心磁化曲线是非线性的,所以导致空载电流的波形也是非 正弦的。从而使空载电流的波形产生畸变,而产生高次谐波,如图(1)所示:图1、波形产生畸变原理图 试验试验 空载试验的技术方法空载试验的技术方法 由于非正弦波形空载电流的存在将造成发电机输出电压波形畸变,尤其当发电机输出的电压较低或发电机容量不足时,电压波形的畸变就更为严重,所以就破坏了正弦波的波形因数。由于铁心中的磁滞损耗与施加电压的平均值有关,即与电压波的
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