显微分析技术PPT课件.ppt
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1、123光学显微镜光学显微镜(OM)(OM): (可见光光源)光束光源)光束经经玻璃透镜玻璃透镜放大成像放大成像透射电子显微镜透射电子显微镜(TEM)(TEM): (电子枪光源)电子束光源)电子束经经电磁透镜电磁透镜放大成像放大成像成像原理的共同特点:4超高真空变温扫描探针显微镜5扫描隧道显微镜扫描隧道显微镜(STM) (STM) : 扫描扫描探针为锐利的探针为锐利的钨丝针尖钨丝针尖原子原子力显微镜力显微镜(AFM) (AFM) : 扫描扫描探针为连接在灵敏探针为连接在灵敏的的微微悬臂悬臂上的上的Si Si或或Si Si3N N4材料的材料的锥形针尖锥形针尖成像原理的共同特点:6扫描电子显微镜扫
2、描电子显微镜(SEM) (SEM) : 扫描探针为电子束扫描探针为电子束扫描激光共聚焦显微镜扫描激光共聚焦显微镜(SLCM): (SLCM): 扫描探针为扫描探针为激光束激光束7人眼的最大分辨能力为人眼的最大分辨能力为 0.073 mm (0.2 mm)0.073 mm (0.2 mm)光学显微镜光学显微镜的分辨极限约为的分辨极限约为 0.2 0.2 m m透射电子显微镜透射电子显微镜的分辨极限的分辨极限 0.1 0.1 nmnmSTM STM 水平方向分辨率:水平方向分辨率:0.05 nm0.05 nm 垂直垂直方向分辨率:方向分辨率:0.01 nm0.01 nm;AFM AFM 水平方向分
3、辨率:水平方向分辨率:12 nm12 nm 垂直垂直方向分辨率:方向分辨率:0.01 nm0.01 nm 8Ernst RuskaElectron Microscopy, 1938Surface Science 1983, Vol 126, 236-244Gerd BinnigH.Rohrer1986 Nobel Prize1987荷兰科学家荷兰科学家 F. Zernike, 19351935年发现年发现相差原理并成功地用在显微镜上,相差原理并成功地用在显微镜上, 19411941年在年在ZeissZeiss公司制造出第一台商业公司制造出第一台商业相差显微镜,相差显微镜, 19531953年年
4、ZernikeZernike获得获得Nobel Nobel Prize(Prize(物理物理) )91011(a) vnsinsinvn112221=2) 反射定律和折射定律反射定律和折射定律:在光线射到两种各向同性均匀介质 的界面上时,可以产生反射和折射。n1sin = n1sin = n2sin折射定律 1) 光的直线传播定律光的直线传播定律:在均匀介质中光沿着直线传播。n1n2v1v2介质介质1介质介质2V: 转播速度 : 波长12Ex.Ex. 色散现象的实验观察色散现象的实验观察波长波长nm 色觉色觉 种类种类120380 不可见不可见 紫外光紫外光380430 紫紫 430460 蓝
5、蓝460500 靛靛500550 绿绿 可见光可见光550600 黄黄600660 橙橙660760 红红76010,000 不可见不可见 红外光红外光133) 光路的可逆性原理光路的可逆性原理:当光线的前行方向返转时,它将沿 同一原路径,向相反的方向传播。理想几何光学的基本定律是设计透理想几何光学的基本定律是设计透镜、反射镜和某些光学仪器的依据镜、反射镜和某些光学仪器的依据14S:物距 S:像距物像凸透镜fff :焦距 三条理想光线确定薄透镜成像的位置和大小三条理想光线确定薄透镜成像的位置和大小凸透镜成像:1/S + 1/S = 1/f放大倍数:=SMS=ABAB15凹透镜凸透镜只能用眼睛透
6、过凹透镜看到实物的同侧有一正立、缩小的虚像物物与像的关系与像的关系物的位置像的位置像的大小像的虚实像的正倒S = S = f缩成极小实倒立S 2ff S 2f缩小实倒立S = 2fS = 2f等大实倒立f S 2f放大放大实实倒立倒立S = f不成像S 03. 电磁透镜存在磁转角: 实像与物像之间的相对位相 为: 180 虚像与物像之间的相对位相 为: 2. 激磁电流改变, 电磁透镜的焦 距、放大倍数也相应变化.物距 L相距 L放大倍数 M像的虚实正反 2f2f L f L f 2f1实反 f 1虚正磁透镜的物像关系磁透镜的物像关系电磁透镜的特点:电磁透镜的特点:33 光学透镜中,已能把玻璃透
7、镜所造成的像缺陷减少到衍射引起的像缺陷的数值,但在电磁透镜中,由于只有正透镜,消除磁透镜的像差要比光学透镜难得多。电镜中的像差分为两类:1)几何像差几何像差:因旁轴条件不满足而引起的,是折射介质几何形状的函数。主要指球差球差、像散像散和像畸变像畸变。电磁透镜的像差电磁透镜的像差34正球差桶形畸变负球差枕形畸变磁转角旋转畸变 球差除了影响透镜分辨本领外,还会引起图像畸变。像像畸变畸变 球差球差透镜的旁轴区域与非旁轴区域的磁场对电子束的折射能力不同,具有最小直径散焦斑的位置为最佳聚焦点: 孔径半角S:球差引起的散焦斑直径rs 3Spherical aberrationdistortion 由于透镜
8、对边缘区域的聚焦能力比中心部分大,反映在像平面上,像的放大倍数将随离轴径向距离的不同而产生不同程度的位移,但图像仍然是清晰的。35电磁透镜的像畸变 像像散散透镜磁场的非旋转对称造成,由旁轴电子引起。可通过消像散器来消除rA astigmationA:像散引起的散焦斑直径图像在某些方向上发生了变形低倍下的菲低倍下的菲涅尔涅尔条纹观察:条纹观察:欠欠焦时为白色边缘,过焦时为黑色边缘,焦时为白色边缘,过焦时为黑色边缘,正焦则无衬度正焦则无衬度,如果如果有像散,会出现黑白混合有像散,会出现黑白混合边缘!边缘!欠焦欠焦过焦过焦正焦正焦像散像散36像散的校正像散的校正(Stigmatism)1947,Ja
9、mes Hillier等在透镜极靴的等在透镜极靴的间隙加入间隙加入8个轴对称分布的小螺钉个轴对称分布的小螺钉37 色差色差加速电压的稳定性: 3eV样品的非弹性散射: 550eV EErc 电子束中,电子的波长或能量不同而引起,与旁轴条件无关。chromatic aberrationC:色差引起的散焦斑直径2)色差:色差:由于电子光学折射介质的折射率随电子速率不同而造成的。38仪器仪器本身分辨本领的限制本身分辨本领的限制 a. 光学透镜的球差可通过玻璃透镜的形状改变或适当组合来消除, 而电磁透镜的球差球差随孔径半角的增大急剧增大,增大急剧增大,比较难消除。610sin6100.n.r磁透镜:
10、n1, 2 =35sin b. 电子束成像时也存在衍射效应,衍射引起的埃利斑埃利斑的大小是随孔 径半角的减小而增大减小而增大:3sr在电磁透镜里,对在电磁透镜里,对电镜分辨率影响最大的是衍射效应和球差。电镜分辨率影响最大的是衍射效应和球差。2.(c) 影响电磁透镜影响电磁透镜分辨率极限的因素分辨率极限的因素39远小于远小于理论极限理论极限! 样品厚度的限制:样品厚度的限制: 电子束受样品原子内、外层电子的非弹性散射,由此造成较大电子束受样品原子内、外层电子的非弹性散射,由此造成较大的色差的色差( rc )。只有在极薄区域成像,。只有在极薄区域成像, 色差引起的散焦斑色差引起的散焦斑 rc 才有
11、可才有可能小于能小于 rmin。磁透镜的球差系数,一般透射电镜 Cs 3mm, rmin 2.53 高分辨电镜 Cs B的区域,入射电子受晶体原子散射的机会较少。电子经过晶格间的通道深入到晶体内部才发生散射,使样品上方检测到的背散射电子信号较弱,尤其对于大的变形小、结构完善的单晶样品,可获得表层100的电子通道花样图,图上衬度带(亮带)的方位就是相应衍射晶面的方位,亮带的宽度取决于衍射晶面B角的大小,衬度带之间的夹角等于相应晶面之间的夹角,对其指数化,就可知道对于微区的晶体学取向及晶格完善性的资料。电位衬度:如果被观察表面不同微区的电位不同,能量较低的二次电子会从电位低的地方跑到邻近电位高的地
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