影响倒角加工效率的工艺研究-康洪亮.doc
- 【下载声明】
1. 本站全部试题类文档,若标题没写含答案,则无答案;标题注明含答案的文档,主观题也可能无答案。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
2. 本站全部PPT文档均不含视频和音频,PPT中出现的音频或视频标识(或文字)仅表示流程,实际无音频或视频文件。请谨慎下单,一旦售出,不予退换。
3. 本页资料《影响倒角加工效率的工艺研究-康洪亮.doc》由用户(淡淡的紫竹语嫣)主动上传,其收益全归该用户。163文库仅提供信息存储空间,仅对该用户上传内容的表现方式做保护处理,对上传内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知163文库(点击联系客服),我们立即给予删除!
4. 请根据预览情况,自愿下载本文。本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。
5. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007及以上版本和PDF阅读器,压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 影响 倒角 加工 效率 工艺 研究 洪亮
- 资源描述:
-
1、影响硅片倒角加工效率的工艺研究影响硅片倒角加工效率的工艺研究康洪亮 陶术鹤 张伟才一、引言在半导体晶圆的加工工艺中,对晶圆边缘磨削是非常重要的一环。晶锭材料被切割成晶圆后会形成锐利边缘,有棱角、毛刺、崩边,甚至有小的裂缝或其它缺陷,边缘的表面也比较粗糙。而晶圆的构成材料如 Si、Ge、InP、GaAs、SiC等均有脆性。 通过对晶圆边缘进行倒角处理可将切割成的晶圆锐利边修整成圆弧形,防止晶圆边缘破裂及晶格缺陷产生,,增加晶圆边缘表面的机械强度,减少颗粒污染。同时也可以避免和减少后面的工序在加工、运输、检验等等工序时产生的崩边。倒角后的晶圆由于有了一个比较圆滑的边缘,不易再产生崩边,使后面工序加
2、工的合格率大幅提高。在抛光工艺中,如果晶圆不被倒角,晶圆锋利的边缘将会给抛光布带来划伤,影响抛光布的使用寿命,同时也影响到产品的加工质量(如晶圆的划道)。如硅晶圆除用于太阳能电池制造还常用于制造集成电路。晶圆在制造集成电路的多个工序中,需要多次在 1000 多度的高温中进行氧化、扩散和光刻。如果晶圆边缘不好,如有崩边、或边缘没有被倒角,升温和降温的过程中,晶圆的内应力得不到均匀的释放。在高温中晶圆非常容易碎裂或变形,最终使产品报废,造成较大的损失。由于晶圆边缘不好,掉下来的晶渣,如果粘在硅晶圆的表面,将会给光刻工艺的光刻版造成损坏,同时造成器件的表面有针孔和曝光不好,影响产品的成品率。同时,通
3、过边缘倒角可以规范晶圆直径。通常晶圆的直径是由滚圆工序来控制的,由于滚圆设备的精度所限,表面的粗糙度和直径均无法达到客户的要求,倒角工序能很好的控制晶圆直径和边缘粗糙度。晶棒滚磨后,其表面十分粗糙,在后续的传递和切割过程中,边缘损伤会因为机械撞击向内延伸,晶圆切割成型后,边缘存在一圈微观的损伤区域1。在今年的目标责任书中,今年产量比去年增加 30%,此外,在今年的生产加工中, 多次由于倒角设备故障及检修影响整个生产线的进度,在不增加设备的情况下,如何挖掘现有设备及人员的潜力,提高倒角加工效率,是个重要的研究课题。二、实验原理目前国内半导体材料加工厂家, 大多使用的设备是日本东精精密产的 W-G
4、M系列倒角机和大途株式会社的 WBM 系列倒角机2,普遍采用八英寸倒角砂轮。当前国内倒角机设备使用的磨轮从制造方法上分主要有两种类型: 一种是电镀法的磨轮;一种是烧结法的磨轮。电镀法的磨轮主要是美国生产的Diamotec和Nifec等 , 烧 结 法 的 磨 轮 主 要 有 日 本 的Asahi(SUN)、KGW 等。倒角工艺主要是根据倒角设备的情况和所使用的磨轮磨削材料的粒度选定合适的磨轮转速、 硅片转速、 硅片去除量、倒角圈数、 磨轮型号、 切削液类型、 切削液流量等来生产出满足客户需求的产品。倒角机用于对晶圆边缘进行磨削,晶圆通常被真空吸附在承片台上旋转,通过控制晶圆运动,由带 V 型槽
5、的砂轮高速旋转对晶圆边缘进行磨削3。图 1 倒角机加工示意图我们单位自动倒角机最多的是大途株式会社的 WBM-2200 倒角机,其加工步骤是: 取片测厚对中移载到倒角吸盘倒角移载到甩干吸盘甩干测直径对位放回花栏。 其中取片 测厚 对中 移载 等加工步骤时间是比较固定的,只有 倒角和甩干时间是可以进一步挖掘潜力的。所以我们从这两方面进行分析。为了实验方便 我们只选用带一个参考面的晶圆进行分析三、实验部分3.1 设备和仪器WBM-2200 倒角机,秒表。3.2 原材料2、3、4、5 英寸硅切割片,2 寸晶圆主参 16mm,3 寸晶圆主参 22mm,4寸晶圆主参 32.5mm,5 寸晶圆主参 42m
6、m,厚度 260620um,晶片 TTV 值不大于 10um,Warp 值不大于 30um。槽半径 127um228.6um(22。、11。)的金刚石倒角砂轮。3.3 实验过程利用不同尺寸的晶圆, 不同的倒角吸盘转速, 不同甩干程序对晶片进行倒角,并记录加工 100 片的总时间。四、结果与讨论4.1 在相同的倒角清洗甩干程序(即图 2 所设程序)时,加工 100 片晶圆的实验数据为:硅片尺寸(英寸)吸 盘 转 速(mm/s)1215182 寸(50.8)3461345834573 寸(76.2)3473346434754 寸(100)3480347634725 寸(125)4230349234
展开阅读全文