材料研究方法课件:第6章:X射线衍射方法(1)(第一章).ppt
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- 材料 研究 方法 课件 射线 衍射 第一章
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1、中国地质大学中国地质大学( (武汉武汉) )材化材化学院学院The Faculty of Material Science & Chemistry ,China University of Geosciences1X X射线粉晶衍射射线粉晶衍射2第2章 晶体的微观对称第3章 X射线的产生及性质第4章 X射线的衍射方向主要内容第1章 晶体的宏观对称第5章 X射线的衍射强度第6章 X射线的衍射方法第7章 X射线粉晶衍射的应用3第六章第六章 X X射线衍射方法射线衍射方法6.1 粉晶粉晶X射线衍方法射线衍方法6.2 X衍射线条的指标化衍射线条的指标化6.1 6.1 粉晶粉晶X X射线衍射方法射线衍射
2、方法 46.1.1 6.1.1 德拜照相德拜照相亦称德拜雪莱法(谢乐法),(Debre一Scherrer method)样品:是多晶体(粉末晶体,200目),装在一个直径为0.3-0.6mm,长度15mm的柱子中。光源:单色X射线。垂直柱子照射在样品上。结果:用底片记录。底片环绕粉末柱安装。入射X射线So2110穿透样品的射线衍射产生的原理:a) 粉末柱中样品的颗粒无数多,并且去向是随机的b) 每个颗粒都含有面网间距不同的一系列面网。c) 对于任意一组面网,如(110)面网。当入射X射线照射到样品上时,必然有部分颗粒的取向正好使得(110)面网处在符合布拉格方程式的方位,即 =2d110sin
3、1105入射X射线So2 1101102 110110d) 同时还有部分颗粒的取向正好相反,也在另一个与入射线夹角为2 110 的方向产生了衍射。6入射X射线So4110e) 由于颗粒众多和取向随机,最终导致110面网的衍射分布在一个圆锥面上。圆锥顶角4。78f) 对于其他面网也是一样的,也形成顶角为4 的衍射圆锥。9h) 环形围绕样品(粉末柱)安装底片,即得到最终的衍射照片。10衍射线在底片上留下的形状:衍射线在底片上留下的形状:1011摄谱装置(粉末照相机)如下图所示,相机直径57.3mm或者114.6mm。(相当于周长180mm和360mm)12实验中多选用低角度区(正向区)数据;实验中
4、多选用低角度区(正向区)数据;若相机直径若相机直径 2R=57.3mm 则则 度度=s有如下关系有如下关系低角度区低角度区高角度区高角度区 136.1.2 粉晶粉晶X射线衍射仪射线衍射仪多晶粉末多晶粉末; ; 使用特征使用特征X X射线射线; ; 测定时使晶体保持转动测定时使晶体保持转动2入射线透射线依据基本方程为依据基本方程为Bragg方程方程 112sinsin ()2sin ()2hklh k lhklh k lhklhkldnndd 1415用摄谱仪时用摄谱仪时, 记录记录 l 2 的变化的变化16171、粉晶、粉晶X射线衍射仪组成射线衍射仪组成(1)X射线发生器射线发生器(2)单色器
5、)单色器(3)测角仪)测角仪(4)X射线强度测量系统射线强度测量系统(探测器探测器)(5)衍射仪自动控制与衍射数据采集、处理系统)衍射仪自动控制与衍射数据采集、处理系统 18D8-FOCUS 衍射仪主要部件19X X射线衍射仪的工作原理图射线衍射仪的工作原理图20(1 1)X X射线发生器:射线发生器: 由由X X射线管、高压发生器、管压管流稳定电路射线管、高压发生器、管压管流稳定电路和各种保护电路等部分组成。和各种保护电路等部分组成。 2020(2)测角仪:检测)测角仪:检测2(3)单色器:以确保入射)单色器:以确保入射X射线和衍射线为单色,以射线和衍射线为单色,以减小背底的影响。减小背底的
6、影响。(4)强度测量系统:把)强度测量系统:把X射线的强度信号转化成物理射线的强度信号转化成物理的数字信号。常用于的数字信号。常用于X射线检测的检测器有:射线检测的检测器有:Geiger - Muller检测器(检测器(GC)、正比检测器()、正比检测器(PC)和和NaI闪烁检测器(闪烁检测器(SC)。)。2122(5 5)衍射仪自动控制与衍射数据采集、处理系统:)衍射仪自动控制与衍射数据采集、处理系统:控制控制:扫描速度,扫描范围 角度校正,测角仪转动等。衍射数据处理分析系统衍射数据处理分析系统由一些常用的衍射图处理程序集成,主要有6项:1. 图谱处理; 2. 寻峰;3. 求面积、重心、积分
7、宽; 4. 去背景;5. 衍射图比较(多重衍射图的叠合显示);6. 平滑处理。 23衍射图谱处理过程示例衍射图谱处理过程示例(1)原始图谱(2)平滑以后(3)去掉背景(4)标注峰位2324衍射数据衍射数据: 面网间距面网间距(d),衍射强度,衍射强度(I) 但由于无法真正获得绝对的衍射强度数据,但由于无法真正获得绝对的衍射强度数据,因为不同的晶体尺寸、不同的光源特征、不同因为不同的晶体尺寸、不同的光源特征、不同的仪器种类,所获得的实测衍射强度是完全不的仪器种类,所获得的实测衍射强度是完全不可比较的,因此在记录衍射强度的时候,按相可比较的,因此在记录衍射强度的时候,按相对强度记录(对强度记录(I
8、/Io)。25照相方法:得到一张德拜图,并从德拜图可以获得如下数据:(1) d可测量计算得出;(2) I/Io用目测的方法估计得到2526衍射仪方法:衍射图谱和数据表。衍射仪方法:衍射图谱和数据表。2、试样的制备、试样的制备 (1)粒度要求:)粒度要求: 试样受光照体积中晶粒的取向是完全随机的,因此要求粒度为十分细小的粉末,具体对晶粒大小不同的样品要求也有差异。对于粉末衍射仪,适宜的晶粒大小为晶粒大小为0.1m10m。27(2 2)试片准备:)试片准备: 要求试片表面十分平整并避免择优取向要求试片表面十分平整并避免择优取向。 表面不规则、不平整、毛糙等会引起衍射线的宽化、位移以及使强度产生复杂
9、的变化。 另外,晶体都是各向异性,把粉末压平的过程很容易引起择优取向,尤其是片状、棒状的样品。择优取向严重影响衍射强度的正确测量。克服择优取向没有通用的方法,根据实际情况可具体采取一些措施。 但是为了研究试样的某一特征衍射,择优取向却是十分有用的。如研究粘土矿物的001面,可制作“定向试片”28(3)试片的厚度)试片的厚度试样对试样对X射线透明度的影响,会引起衍射峰的位移和不射线透明度的影响,会引起衍射峰的位移和不对称的宽化,此误差使衍射峰位移向较低的角度。对称的宽化,此误差使衍射峰位移向较低的角度。尤其对于线吸收系数值小的试样,在低角度引起的位移很显著。若厚度为Xt则2位移为: (2) Xt
10、cos/R因此,如果要求准确测量2或要求提高仪器分辨力,应该使用薄层粉末试样。试样的厚度应满足Xt ( / )(3.2/)sin(cm) / 分别为粉末的真正密度和表现密度。通常仪器所附的制作试样的样框厚度(12mm)对于所有试样的要求均已足够了。29(4 4)试样的制作方法)试样的制作方法通常采用的方法:通常采用的方法:压片法:压片法:涂片法:涂片法:制备无择优取向试片的专门方法:制备无择优取向试片的专门方法:喷雾法:喷雾法:塑合法:塑合法:303 3、X X射线衍射仪的检测步骤射线衍射仪的检测步骤(1 1)仪器条件的准备:)仪器条件的准备:(2 2)具体实验条件的选定:)具体实验条件的选定
11、: a a、狭缝的宽度的选择:发散狭缝(、狭缝的宽度的选择:发散狭缝(DS)DS)、接、接收狭缝收狭缝(RS)(RS)、防散射狭缝(、防散射狭缝(SS)SS)31发散狭缝(DS)的影响不同DS试样的照射情况32b b、扫描方式、扫描方式连续扫描方式:连续扫描方式:试样和接收狭缝以角速度试样和接收狭缝以角速度1 1:2 2的的关系匀速转动,在转动过程中,检测器连续地测量关系匀速转动,在转动过程中,检测器连续地测量X X射线的散射强度,各晶面的散射强度依次被接收。射线的散射强度,各晶面的散射强度依次被接收。33步进扫描方式:步进扫描方式:试样每转动一步(固定的试样每转动一步(固定的)就停下)就停下
12、来,测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。然来,测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。然后试样再转过一步,再进行强度测量。如此一步步进后试样再转过一步,再进行强度测量。如此一步步进行下去,完成制定角度范围内衍射图的扫描。行下去,完成制定角度范围内衍射图的扫描。34c、扫描速度、扫描速度 常采用常采用2/min4/min。提高扫描速度,可节约测提高扫描速度,可节约测试时间,但却会导致强度和分辩率下降,使衍射峰试时间,但却会导致强度和分辩率下降,使衍射峰位置向扫描方向偏移并引起衍射峰的不对称化。位置向扫描方向偏移并引起衍射峰的不对称化。d、扫描范围、扫描范围扫描范围根据测定试样而定,如铜靶对无
13、机物扫描范围根据测定试样而定,如铜靶对无机物进行物相分析,一般进行物相分析,一般2扫描范围为扫描范围为290,而对有,而对有机物和高分子,常用机物和高分子,常用260,也可根据具体范围设,也可根据具体范围设定更小。定更小。X射线的检测还有广角和小角之分,要根据具射线的检测还有广角和小角之分,要根据具体的样品要求选择。小角检测范围体的样品要求选择。小角检测范围为为0.55。35(3)图谱处理366.3 6.3 衍射线条的指标化衍射线条的指标化371 1、衍射线条指标化方法有两类:、衍射线条指标化方法有两类:一类是图解法:适用于立方晶系、四方一类是图解法:适用于立方晶系、四方晶系和六方晶系。不适于
14、低级晶轴。晶系和六方晶系。不适于低级晶轴。另一类是分析法,对所有晶系都适用。另一类是分析法,对所有晶系都适用。 2、分析法的基本原理、分析法的基本原理分析主要是通过理论分析,确定各晶系不同晶分析主要是通过理论分析,确定各晶系不同晶面与面与sin2之间的关系。如果衍射谱线满足某种关系之间的关系。如果衍射谱线满足某种关系,则说明就属于该晶系。,则说明就属于该晶系。(1)立方晶系:)立方晶系:a=b=c,=90根据布拉格方程和晶面计算公式有:根据布拉格方程和晶面计算公式有:382222222224/sinlkhAlkhahkl 立方晶系各衍射晶面(hkl)的sin2hkl除满足上式外,sin2hkl
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