大地测量学基础课件:第五章 大地测量技术-6.ppt
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- 大地测量学基础课件:第五章 大地测量技术-6 大地 测量学 基础 课件 第五 大地测量 技术
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1、大地测量学基础大地测量学基础 5.65.6 精密角度测量方法精密角度测量方法大地测量学基础大地测量学基础1)、)、外界条件的影响外界条件的影响 p大气层密度的变化对目标成像稳定性的影响大气层密度的变化对目标成像稳定性的影响早晨太阳升起时,目标成像也仅有轻微的波动; 日出以后,有一段时间,大约13h,成像较稳定;1215 h,成像波动较大;日落前有一段成像稳定而有利于观测的时间;夜间大气层一般是平衡的。 一、精密测角的误差来源及影响一、精密测角的误差来源及影响测角中误差按菲列罗公式计算,应达到的精度:测角中误差按菲列罗公式计算,应达到的精度: 等 级 一 二 三 四测角中误差0.71.01.82
2、.5精密测角方法精密测角方法大地测量学基础大地测量学基础p 水平折光的影响水平折光的影响 光线通过密度不均匀的空气介质时,经过连续折射后形成一条曲光线通过密度不均匀的空气介质时,经过连续折射后形成一条曲线,并向密度大的一方弯曲,当来自目标线,并向密度大的一方弯曲,当来自目标B B的光线进入望远镜时,的光线进入望远镜时,望远镜所照准的方向为这条曲线在望远镜望远镜所照准的方向为这条曲线在望远镜A A处的切线方向,弦线处的切线方向,弦线与切线交角与切线交角,称为,称为微分折光微分折光。精密角度误差来源及其影响精密角度误差来源及其影响微分折光可分解为垂直和水平两个分量,大气微分折光可分解为垂直和水平两
3、个分量,大气温度梯度主要发生在垂直面内,所以微分折光温度梯度主要发生在垂直面内,所以微分折光纵向分量是微分折光的主要部分:纵向分量是微分折光的主要部分:垂直折光差垂直折光差,大气折光在垂直面内的投影;大气折光在垂直面内的投影;水平折光(旁折水平折光(旁折光),光),大气折光在水平面内的投影,也大气折光在水平面内的投影,也叫旁折叫旁折光。光。减弱的措施:减弱的措施: 选择有利的观测时间:有微风的阴天最好,把测选择有利的观测时间:有微风的阴天最好,把测回分在不同的时间段观测(上午、下午、晚上);回分在不同的时间段观测(上午、下午、晚上); 视线超高地视线超高地面一定高度,旁离障碍物一定距离面一定高
4、度,旁离障碍物一定距离大地测量学基础大地测量学基础p 照准目标的相位差照准目标的相位差精密角度误差来源及其影响精密角度误差来源及其影响原因:在照准目标时原因:在照准目标时,由于受日光的照射由于受日光的照射,往往形成一边明一边暗往往形成一边明一边暗,在照在照准时准时:背景是暗的背景是暗的,偏向亮的一面偏向亮的一面;背景是亮的背景是亮的,偏向暗的一面偏向暗的一面.定义:望远镜纵丝照准的轴线与圆筒实际轴线间的角距叫照准目定义:望远镜纵丝照准的轴线与圆筒实际轴线间的角距叫照准目标的相位差。标的相位差。 影响规律:上、下午影响相反。影响规律:上、下午影响相反。 减弱的措施:减弱的措施: 采用微相位照准圆
5、筒;采用微相位照准圆筒; 上、下午测回数各半;上、下午测回数各半; 目标清晰时观测。目标清晰时观测。大地测量学基础大地测量学基础q温度变化对视准轴的影响 精密角度误差来源及其影响精密角度误差来源及其影响视准轴误差可通过盘左、盘右观测取中数来消除或削弱视准轴误差可通过盘左、盘右观测取中数来消除或削弱,条件是视准条件是视准轴在观测过程中不变化轴在观测过程中不变化,但实际上温度的变化会使视准轴发生变化。但实际上温度的变化会使视准轴发生变化。 减弱的措施:减弱的措施: “对称观测原则对称观测原则” 用伞和测橹幅挡住阳光和风力;用伞和测橹幅挡住阳光和风力; 尽可能地缩短一测回的观测时间;尽可能地缩短一测
6、回的观测时间; 假定在一个测回的短时间观测过程中,空气温度的变化与时间假定在一个测回的短时间观测过程中,空气温度的变化与时间成比例,那么可以采用按时间对称排列的观测程序来削弱这种误差成比例,那么可以采用按时间对称排列的观测程序来削弱这种误差对观测结果的影响(上下半测回照准次序相反)。对观测结果的影响(上下半测回照准次序相反)。假定在一测回的观测过程中,觇标内架或三脚架的扭转是匀速发假定在一测回的观测过程中,觇标内架或三脚架的扭转是匀速发 生的,因此采用按时间对称排列的观测程序也可以减弱这种误差生的,因此采用按时间对称排列的观测程序也可以减弱这种误差对水平角的影响。对水平角的影响。 q 外界条件
7、对觇标内架稳定性的影响外界条件对觇标内架稳定性的影响大地测量学基础大地测量学基础 水平度盘位移的影响;照准部旋转不正确的影响;照准部水平微水平度盘位移的影响;照准部旋转不正确的影响;照准部水平微动螺旋作用不正确的影响;垂直微动螺旋作用不正确的影响动螺旋作用不正确的影响;垂直微动螺旋作用不正确的影响 。精密角度误差来源及其影响精密角度误差来源及其影响2)仪器误差的影响)仪器误差的影响照准误差受外界因素的影响较大照准误差受外界因素的影响较大,与照准目标的形状和清晰度密切相关与照准目标的形状和清晰度密切相关。 3)照准和读数误差的影响)照准和读数误差的影响与观测者的技术水平、工作态度有关;照准误差受
8、外界因素的影与观测者的技术水平、工作态度有关;照准误差受外界因素的影响较大响较大,与照准目标的形状和清晰度等密切相关。与照准目标的形状和清晰度等密切相关。 仪器操作和读数时:仪器操作和读数时:“ 大胆、果断、仔细大胆、果断、仔细” 大地测量学基础大地测量学基础二、精密测角的一般原则二、精密测角的一般原则 q观测前应认真调好焦距,消除视差。在一测回的观测过程中不得观测前应认真调好焦距,消除视差。在一测回的观测过程中不得重新调焦,以免引起视准轴的变动。重新调焦,以免引起视准轴的变动。q 观测应在目标成像清晰、稳定的、有利于观测的时间进行,以观测应在目标成像清晰、稳定的、有利于观测的时间进行,以提高
9、照准精度和减小旁折光的影响。提高照准精度和减小旁折光的影响。q各测回的起始方向应均匀地分配在水平度盘和测微分划尺的不同各测回的起始方向应均匀地分配在水平度盘和测微分划尺的不同位置上,以消除或减弱度盘分划线和测微分划尺的分划误差的影位置上,以消除或减弱度盘分划线和测微分划尺的分划误差的影响。响。q在上下半测回之间倒转望远镜,以消除和减弱视准轴误差、水平轴在上下半测回之间倒转望远镜,以消除和减弱视准轴误差、水平轴倾斜误差等影响,同时可以由盘左、盘右读数之差求得两倍视准误差倾斜误差等影响,同时可以由盘左、盘右读数之差求得两倍视准误差2c2c,借以检核观测质量。,借以检核观测质量。精密测角方法精密测角
10、方法大地测量学基础大地测量学基础 q上下半测回照准目标的次序应相反,其目的在于消除或减弱与时间上下半测回照准目标的次序应相反,其目的在于消除或减弱与时间成比例均匀变化的误差影响,如觇标内架或三脚架的扭转等。成比例均匀变化的误差影响,如觇标内架或三脚架的扭转等。q为了克服或减弱在操作仪器的过程中带动水平度盘位移的误差,为了克服或减弱在操作仪器的过程中带动水平度盘位移的误差,要求每半测回开始观测前,照准部按规定的转动方向先预转要求每半测回开始观测前,照准部按规定的转动方向先预转1 12 2周。周。q使用照准部微动螺旋和测微螺旋时,其最后旋转方向均应为旋进。使用照准部微动螺旋和测微螺旋时,其最后旋转
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